- •Содержание
- •Предисловие
- •Газовые ионизационные детекторы Введение
- •Ионизационные камеры
- •Токовый режим работы ионизационной камеры (ик).
- •Импульсный режим работы ионизационной камеры.
- •Назначение и особенности ик
- •Особенности и область использования сгм
- •Коронные счетчики медленных нейтронов
- •Пропорциональные счетчики
- •Самогасящиеся счетчики Гейгера - Мюллера (сгм)
- •Особенности и область использования снм
- •Работа 1.1 Изучение ионизационной камеры деления.
- •Содержание лабораторной работы.
- •Порядок выполнения работы
- •1. Изучение шумов в счетном тракте.
- •Построение счетной и дискриминационной характеристик камеры кнт-31-1м.
- •Расчет δn/n
- •Определение разрешающее время счетного канала методом двух источников.
- •2. Спектрометрия гамма-излучения
- •Физические основы гамма спектрометрии
- •Определение энергии гамма кванта
- •Структура и функции спектрометра гамма излучения
- •Основные параметры спектрометра
- •Работа 2.1 Сцинтилляционный спектрометр гамма излучения
- •Введение
- •Неорганические сцинтилляторы
- •Некоторые неорганические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.1
- •Органические сцинтилляторы
- •Некоторые органические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.2
- •Фотоэлектронные умножители (фэу)
- •Качественная оценка предельной разрешающей способности спектрометра со сцинтилляционным детектором
- •Калибровка спектрометра со сцинтилляционным детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.2 Полупроводниковый спектрометр гамма излучения
- •Общие положения
- •Способы увеличения удельного электрического сопротивления (уменьшения проводимости) полупроводниковых материалов
- •Типы полупроводниковых детекторов
- •Энергетическое разрешение полупроводниковых спектрометров
- •Электронные блоки спектрометра с ппд
- •Основные особенности ппд
- •Калибровка спектрометра с полупроводниковым детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.3 Оптимизация электронного тракта полупроводникового спектрометра гамма излучения
- •Введение
- •Задание 1. Изучение зависимости энергетического разрешения спектрометра с ппд детектором от величины постоянной времени формирования импульса в луф
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 2. Определение загрузочной способности спектрометра
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 3. Изучение зависимости энергетического разрешения ппд от рабочего напряжения
- •Порядок выполнения работы
- •3. Детектирование нейтронов активационным методом Введение
- •Основные понятия и соотношения
- •Измерение активности образцов
- •Работа 3.1. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов активационным методом
- •Введение
- •Задание. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов в графитовой призме
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 3.2 Возмущение поля тепловых нейтронов образцами
- •Введение
- •Введение поправок на эффекты возмущения нейтронного поля
- •Возмущение образцом поля тепловых нейтронов
- •Учет возмущения спектра облучающих образец нейтронов
- •Задание 1 Экспериментальное изучение эффектов возмущения поля тепловых нейтронов образцами
- •Изучение депрессии нейтронного поля вследствие введения в него поглотителя.
- •Порядок выполнения работы
- •Приложение Компьютерные программы для сопровождения практикума Программа аср
- •Программа eff
- •Программа dwlpeff
- •Программа tip
- •Программа line
- •Список литературы
- •"Детектирование нейтронов"
- •115409, Москва, Каширское шоссе 31.
Работа 3.1. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов активационным методом
Цель работы - знакомство с активационным методом измерения абсолютной активности насыщения облученных образцов с помощью сцинтилляционного спектрометра энергий гамма квантов и определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов в графитовой призме.
Введение
В задачу настоящей работы входит измерение активности индиевого образца, облученного в потоке тепловых нейтронов. Такие образцы часто используют для исследований нейтронных полей. Ниже показана схема активации 115 In (n, ) тепловыми нейтронами и распада образовавшихся радиоактивных атомов.
116m1In
T1/2
= 2,18 сек
, T1/2 = 54,15 мин
115 In
(n, ) 116m2In
, T1/2 = 42,3 сек
116In
В таблице 3.1.1 приведены данные о продуктах реакций захвата нейтронов в 115 In.
Задание. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов в графитовой призме
Для определения интегральной плотности потока тепловых нейтронов используем образец из индия. Предполагаем, что плотность потока эпитепловых нейтронов исчезающе мала.
Облучение образца длится 30 - 60 мин, после чего образец извлекают и переносят на предварительно откалиброванный сцинтилляционный гамма-спектрометр (см. стр. 23). Измерить пики полного поглощения в аппаратурном амплитудном спектре облученного детектора.. Используя программу TIP (см. стр. 60) рассчитать для всех измеренных пиков поправленную на возмущение поля тепловых нейтронов активность насыщения образца массой 1 грамм в состоянии насыщения.
Свойства реакции 115 In(n, γ) Tаблица 3.1.1
Ядерная реакция
|
Микросечение, барн, при v = 2200 м/с |
Нуклид продукт |
Т 1/2 |
Энергия, кэВ, (выход, %) |
||
Акти-вации |
Погло-щения |
Бета частицы |
Гамма кванты |
|||
115 In (n, ), g(293K)=1,012 |
162,3±0,7 |
202±2 |
116м2In |
54,15 мин |
1000(52) 870(37) 600(10) |
1293,5(84,4) 1097,3(56,2) 416,9(29,2) |
Теперь для каждого измеренного пика полного поглощения по формуле (3.11) можно определить интегральную плотность потока тепловых нейтронов (и её погрешность):
(3.1.1)
где: - усредненное по спектру плотности потока нейтронов (3.3b) микросечение активации индия тепловыми нейтронами;
N = NA/115 - число ядер в образце 115In массой в 1 г;
NA - число Авогадро.
Объяснить полученные результаты.
Порядок выполнения работы
Установить индиевый образец в Al чехле на облучение. Записать в журнал время начала облучения., номер и массу образца.
Измерить генераторный пик в отсутствие источника гамма квантов. Результаты измерений занести в таблицу Ф3.1.1.
Произвести калибровку спектрометра с источниками из комплекта ОСГИ. Использовать 241Am, 22Na, 137CS, 60Co. Результаты измерений занести в таблицу Ф3.1.2.
С помощью программы EFF рассчитать эффективность для каждого измеренного в процессе калибровки пика полного поглощения. Результаты измерений также занести в таблицу Ф3.1.2
По истечении 30-40 минут после начала облучения перенести образец из установки на спектрометр. В журнал записать время окончания облучения образца в Al чехле.
Установить на облучение индиевый образец в Cd чехле. Записать в журнал время начала облучения., номер и массу образца.
Подготовить программу ACP к измерениям спектра в течение 5 минут. По завершению очередной минуты запустить спектрометр на измерения спектра. Записать в журнал время начала измерений образца.
Обработать все пики полного поглощения и генераторный пик в измеренном спектре индия. Результаты занести в таблицу Ф3.1.3.
С помощью программы LINE по данным таблицы Ф3.1.2 рассчитать градуировочную зависимость спектрометра и определить энергию пиков в спектре образца. Результаты занести в таблицу Ф3.1.3
С помощью программы DVLPEFF рассчитать эффективность при энергии пиков полного поглощения в спектре образца. Результаты занести в таблицу Ф3.1.3.
По истечении 30-40 минут после начала облучения образца в Cd фильтре перенести его из установки на спектрометр. В журнал записать время окончания облучения образца в Al чехле.
Повторить пп. 6 - 9 с индиевым образцом, активированным в Cd чехле.
С помощью программы TIP рассчитать активность насыщения образцов для каждого пика. Результаты занести в таблицу Ф3.1.3.
Используя формулу (3.1.1) сделать расчет Ф и его погрешности по результатам измерений каждого пика в спектрах образцов. Результаты занести в таблицу Ф3.1.3.
Подготовить отчет по выполненной работе. Прокомментировать результаты определения интегральной плотности потока нейтронов Ф.
Генераторный пик без источника.. Таблица Ф3.1.1
Параметр |
Генераторный пик |
Генераторный пик |
Генераторный пик |
Время изм., с |
|
|
|
Площадь SГ0 |
+- |
+- |
+- |
Центр |
+- |
+- |
+- |
ПШПВ |
+- |
+- |
+- |
Калибровка спектрометра Таблица Ф3.1.2
Нуклид |
22Na1 |
22Na2 |
60Co1 |
60Co1 |
241Am |
137Cs |
Еγ, кэВ |
511 |
1274,5 |
1173,2 |
1332,5 |
59,54 |
661,7 |
tизм, с |
|
|
|
|
|
|
Т1/2, лет |
2,602 |
5,271 |
432,1 |
30,17 |
||
А0, Бк |
|
|
|
|
|
|
t0, лет |
|
|
|
|
|
|
W, отн. ед.. |
0,9044 |
0,9994 |
0,9989 |
0,9998 |
35,75 |
0,8508 |
SГ |
± |
± |
± |
± |
||
Площадь S |
± |
± |
± |
± |
± |
± |
Центр, к |
± |
± |
± |
± |
± |
± |
ПШПВ, к |
± |
± |
± |
± |
± |
± |
ε(Еγ), отн.ед. |
± |
± |
± |
± |
± |
± |
Параметры градуировочной зависимости Е = А + В * К
А = + - ; В = + - ;
Измерения индиевых образцов (5 мин) Таблица Ф3.1.3
-
В Al чехле
Начало облучения
Конец облучения
Начало измерений
Еγпасп, кэВ
416,9
1097,3
1293,5
Еγкалиб, кэВ
W, отн. ед..
0,9044
0,9994
0,9989
SГ
±
Площадь S
±
±
±
Центр, к
±
±
±
ПШПВ, к
±
±
±
ε (Еγ), отн.ед.
±
±
AS, Бк/г
±
±
±
Ф, н/(см2.с)
±
±
±
