- •Содержание
- •Предисловие
- •Газовые ионизационные детекторы Введение
- •Ионизационные камеры
- •Токовый режим работы ионизационной камеры (ик).
- •Импульсный режим работы ионизационной камеры.
- •Назначение и особенности ик
- •Пропорциональные счетчики
- •Самогасящиеся счетчики Гейгера - Мюллера (сгм)
- •Особенности и область использования сгм
- •Коронные счетчики медленных нейтронов
- •Особенности и область использования снм
- •Работа 1.1 Изучение ионизационной камеры деления.
- •Содержание лабораторной работы.
- •Порядок выполнения работы
- •1. Изучение шумов в счетном тракте.
- •Построение счетной и дискриминационной характеристик камеры кнт-31-1м.
- •Расчет δn/n
- •Определение разрешающее время счетного канала методом двух источников.
- •2. Спектрометрия гамма-излучения
- •Физические основы гамма спектрометрии
- •Определение энергии гамма кванта
- •Структура и функции спектрометра гамма излучения
- •Основные параметры спектрометра
- •Работа 2.1 Сцинтилляционный спектрометр гамма излучения
- •Введение
- •Неорганические сцинтилляторы
- •Некоторые неорганические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.1
- •Органические сцинтилляторы
- •Некоторые органические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.2
- •Фотоэлектронные умножители (фэу)
- •Качественная оценка предельной разрешающей способности спектрометра со сцинтилляционным детектором
- •Калибровка спектрометра со сцинтилляционным детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.2 Полупроводниковый спектрометр гамма излучения
- •Общие положения
- •Способы увеличения удельного электрического сопротивления (уменьшения проводимости) полупроводниковых материалов
- •Типы полупроводниковых детекторов
- •Энергетическое разрешение полупроводниковых спектрометров
- •Электронные блоки спектрометра с ппд
- •Основные особенности ппд
- •Калибровка спектрометра с полупроводниковым детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.3 Оптимизация электронного тракта полупроводникового спектрометра гамма излучения
- •Введение
- •Задание 1. Изучение зависимости энергетического разрешения спектрометра с ппд детектором от величины постоянной времени формирования импульса в луф
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 2. Определение загрузочной способности спектрометра
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 3. Изучение зависимости энергетического разрешения ппд от рабочего напряжения
- •Порядок выполнения работы
- •3. Детектирование нейтронов активационным методом Введение
- •Основные понятия и соотношения
- •Измерение активности образцов
- •Работа 3.1. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов активационным методом
- •Введение
- •Задание. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов в графитовой призме
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 3.2 Возмущение поля тепловых нейтронов образцами
- •Введение
- •Введение поправок на эффекты возмущения нейтронного поля
- •Возмущение образцом поля тепловых нейтронов
- •Учет возмущения спектра облучающих образец нейтронов
- •Задание 1 Экспериментальное изучение эффектов возмущения поля тепловых нейтронов образцами
- •Изучение депрессии нейтронного поля вследствие введения в него поглотителя.
- •Порядок выполнения работы
- •Приложение Компьютерные программы для сопровождения практикума Программа аср
- •Программа eff
- •Программа dwlpeff
- •Программа tip
- •Программа line
- •Список литературы
- •"Детектирование нейтронов"
- •115409, Москва, Каширское шоссе 31.
Основные понятия и соотношения
Активация - процесс образования радиоактивных атомов в результате поглощения нейтронов в образце .
Скорость реакции активации R - число радиоактивных ядер, образующихся за 1 секунду в образце помещенном в поле тепловых нейтронов:
. (3.1)
где: act (Е)=γσact(Е) - макроскопическое сечение реакции активации;
σаct(Е) - микросечение реакции активации;
γ - плотность ядер в образце;
К1 - поправка на возмущение нейтронного поля образцом (см. также стр. 52 );
Ф(Е,Т)-дифференциальное энергетическое распределение плотности потока тепловых нейтронов (спектр Максвелла);
Т – температура нейтронов в спектре Максвелла;
V – объем облучаемого образца;
N0 = γV - число атомов в образце.
Скорость реакции (3.1) можно переписать тождественным образом:
, (3.2)
где: - усредненное по спектру плотности потока нейтронов микросечение реакции активации;
- интегральная плотность потока нейтронов;
n - плотность нейтронов;
- средняя скорость нейтронов;
- усредненное по спектру плотности потока нейтронов макросечение реакции активации.
Соотношение (3.2) выражает скорость реакции R через интегральную плотность потока нейтронов Ф и усреднённое по спектру плотности потока нейтронов микросечение . Оно может быть использовано для определения интегральной плотности потока нейтронов Ф(Т).
Усреднённое по спектру плотности потока нейтронов сечение может быть выражено через σact(v0) – сечение реакции активации при наиболее вероятной скорости нейтронов v0 = 2200 м/с в спектре Максвелла при Т=293,6 К:
. (3.3b)
Наряду с накапливанием в образце радиоактивных атомов происходит их распад. Изменение числа радиоактивных атомов в образце описывается уравнением:
, (3.4)
где: N(t) – число образовавшихся в образце радиоактивных атомов;
= ln(2) / Т1/2- постоянная распада образовавшихся атомов;
N(t) - скорость распада накопившихся в образце атомов.
Интегрируя уравнение (3.4) c нулевыми начальными условиями можно получить выражение для числа радиоактивных атомов, накопившихся в образце за время облучения t:
. (3.5)
Активность образца А(t0,t) равна отношению числа самопроизвольных распадов радиоактивных ядер dN(t) в образце за малый интервал времени dt к этому интервалу времени:
. (3.6)
В системе СИ единица активности – Беккерель (Бк). 1 Бк равен одному ядерному превращению за 1 с.
Ранее широко использовалась другая единица активности – Кюри (Кu). 1 Кu равен 3.7*1010 ядерных превращений за 1 с.
Активность образца в момент окончания облучения to:
. (3.6a)
Если время облучения t >> 1/, то А(t) приближается к асимптотическому значению AS
, (3.7)
называемому активность насыщения. Активность насыщения обычно используют для представления и сопоставления результатов измерений активности образцов.
Если сравнить (3.2) и (3.6), то можно заключить, что в состоянии насыщения скорость образования радиоактивных ядер равна скорости их распада. Практически, состояние насыщения достигается через (5 - 6 ) Т1/2 .
С учетом (3.7) выражение (3.6а) принимает вид:
. (3.8)
Между моментом окончания облучения образца и началом измерения его активности проходит некоторое время, называемое временем высвечивания tв, в течение которого часть радиоактивных атомов распадается. Активность образца на момент начала измерений равна
. (3.9)
Зарегистрированное за время измерений tи число продуктов распада радиоактивных ядер в образце выражается соотношением
. (3.10)
где: ;
w - абсолютная интенсивность (выход) регистрируемого излучения на 1 распад;
К1 - поправка на возмущение нейтронного поля образцом;
КС - поправка на поглощение детектируемого излучения образцом (см. (3.13));
К2 – поправка, учитывающая потери информации в электронном тракте (см. стр. 21);
К3 - коэффициент, учитывающий накапливание и распад нестабильных ядер в радиаторе;
- эффективность регистрирующего устройства.
Выражение (3.10) позволяет вычислить AS и Ф, если известны все использованные в нем параметры:
, (3.11)
, (3.12)
где N0 – число ядер в образце.
Приведенные формулы позволяет выявить характерные особенности метода:
накапливание радиоактивных ядер ограничено величиной активности насыщения, более 99% которой достигается за время 5 Т1/2;
половину информации о накопившихся ядрах можно получить за время измерений равное Т1/2 и более 99% за время 5 Т1/2.
Существуют задачи, для решения которых требуется определение абсолютной активности образцов, например, для определения абсолютной величины интегральной плотности потока нейтронов. При решении других задач достаточно проследить за относительными изменениями потока в пространстве или во времени.