- •Калужский филиал а.А. Столяров
- •Часть 1
- •1. Общие сведения
- •2. Описание установки
- •3. Порядок работы
- •4. Задание по работе
- •5. Содержание отчета
- •6. Литература
- •1. Общие сведения
- •1.1. Внутренний фотоэффект
- •1.2. Фотопроводность
- •1.3. Фотопроводимость при наличии поверхностной рекомбинации
- •1.4. Примесная фотопроводность
- •1.5. Другие виды поглощения света,
- •1.6. Фотосопротивления
- •2. Описание установки
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Задание по работе
- •5. Содержание отчёта
- •6. Литература
- •1. Общие сведения
- •1.1. Контакт электронного и дырочного полупроводников
- •1.2. Равновесное состояние p-n-перехода
- •1.3. Зонная диаграмма р-n-перехода при наложении внешнего поля
- •1.4. Вах тонкого р-n-перехода
- •1.5. Особенности вольт-амперной характеристики реального диода.
- •1.6. Барьерная емкость р-n-перехода
- •2. Описание установки
- •3. Порядок работы
- •3.1. Измерение вах при комнатной температуре
- •3.2. Измерение зависимости емкости диода от обратного смещения при комнатной температуре
- •3.3. Измерение зависимости обратного тока насыщения от температуры
- •4. Задание по работе
- •5. Содержание отчёта
- •1. Общие сведения
- •1.2. Дрейф импульса неосновных носителей заряда
- •1.3. Методика измерения дрейфовой подвижности
- •2. Описание установки
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Задание по работе
- •5. Содержание отчёта
- •6. Литература
МИНИСТЕРСТВО ОБЩЕГО И ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ Н.Э.БАУМАНА
Калужский филиал а.А. Столяров
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ
к лабораторным работам по курсу
“ЭЛЕКТРОНИКА И МИКРОЭЛЕКТРОНИКА”
Часть 1
Калуга 1999
Данные методические указания издаются в соответствии с учебным планом, рассмотрены и одобрены кафедрой П1-КФ 21.01.99 года и методической комиссией КФ МГТУ им. Н.Э. Баумана 17.02.99 года.
Рецензент: д.т.н. Прасицкий В.В. - НИИ материалов электронной техники.
Р А Б О Т А № 1
Определение концентрации и холловской подвижности основных носителей заряда
Цель работы - ознакомление с определением концентрации и холловской подвижности основных носителей заряда в полупроводнике с помощью эффекта Холла.
1. Общие сведения
В полупроводниках тепловое движение перебрасывает часть электронов из валентной зоны в зону проводимости. При этом в свободной зоне проводимости появляются электроны, а в заполненной валентной зоне - свободные, незаполненные состояния (“дырки”). Концентрация носителей заряда в полупроводниках сильно зависит от температуры, экспоненциально увеличиваясь с ее повышением.
Химически чистые полупроводники обладают проводимостью, которая связана с электронами в зоне проводимости и таким же числом дырок в валентной зоне. Такая проводимость называется собственной - она не связана с примесями. Добавка примесей к полупроводнику, называемая легированием, может существенно изменить его электрические свойства. Одни примеси резко увеличивают концентрацию электронов в зоне проводимости по сравнению с концентрацией дырок в валентной зоне, другие наоборот, увеличивают количество дырок. Первые из полупроводников называются электронными или полупроводниками n- типа, а вторые - дырочными или полупроводниками p- типа. В процессе электрической проводимости участвуют как электроны, так и дырки. Удельная электропроводность полупроводника в этом случае определяется формулой:
= q×(n×mn + p×mp), (1.1)
где n и p – концентрации электронов и дырок;
mn и mp – их подвижности – величины численно равные средней упорядоченной скорости движения носителей заряда в электрическом поле напряженностью 1 В/м;
q= 1,6´10-19 Кл – заряд электрона.
В случае примесной проводимости, когда концентрация носителей заряда одного типа на несколько порядков превышает концентрацию носителей другого типа, в формуле (1.1) одним из слагаемых можно пренебречь.
Для электронного полупроводника:
=q×n×mn. (1.2)
Формула (1.2) показывает, что измерение электропроводности полупроводника позволяет определить произведение n×mn. Концентрацию носителей n можно определить из исследований эффекта Холла, а затем и их подвижность mn. Таким образом, одновременное исследование электрической проводимости и эффекта Холла позволяет экспериментально находить важнейшие параметры, определяющие состояние электронов в полупроводниках и металлах.
Эффект Холла является одним из гальваномагнитных эффектов, возникающих в полупроводниках и металлах при одновременном воздействии на носители заряда электрического и магнитного полей.
Пусть по полупроводниковой пластине, имеющей ширину а и толщину b, течет ток силой I. Если пластину поместить в магнитное поле с индукцией B, то появится поперечная разность потенциалов UB, называемая холловской:
, (1.3)
где RX – коэффициент пропорциональности, называемый постоянной Холла. Она имеет размерность [м3/Кл].
Рассмотрим физическую природу эффекта Холла. На электрон движущийся справа налево со скоростью действует сила Лоренца Fл (рис. 1.1), равная в случае ^ B:
Fл= q ×n× B. (1.4)
Под действием силы Лоренца электроны отклоняются к краю пластины, заряжая его отрицательно. На противоположной грани пластины накапливаются нескомпенсированные положительные заряды. Такое отклонение электронов под действием магнитного поля приводит к возникновению поперечного электрического поля, направленного от стороны D к стороне C и равного
. (1.5)
Электрическое поле Е воздействует на электроны с силой FE=qE, направленной против силы Лоренца. При FE=Fл поперечное электрическое поле уравновешивает силу Лоренца, и дальнейшее накопление зарядов на гранях пластины прекращается.
В этом случае:
qB = qЕ, (1.6)
Е= B. (1.7)
Умножим обе части уравнения (1.7) на ширину полупроводниковой пластины a:
a ×Е = Ba. (1.8)
Таблица 1.1
-
Cu
Zn
Bi
Ge
Si
RX
1011 М3/Кл
5,5
3,3
103
1016
1019
Поскольку E=UB/a, то:
UB= Ba. (1.9)
Учитывая, что j=qn из (1.9) можно получить:
(1.10)
Таким образом, мы получили выражение аналогичное (1.3). Постоянная Холла оказывается при этом равной:
(1.11)
Теоретический расчет, учитывающий распределение электронов по скоростям показывает, что для полупроводников постоянная Холла является функцией заряда носителей тока q и их концентрации n:
(1.12)
Знак постоянной Холла и полярность UB определяются знаком носителей тока.
Значения постоянной Холла для некоторых металлов и полупроводников приведены в таблице 1.1.