- •Глава III. Организация памяти эвм
- •1. Классификация и параметры запоминающих устройств
- •2. Постоянные и полупостоянные запоминающие устройства
- •3. Оперативные запоминающие устройства
- •4. Характеристики обмена и типы оперативной памяти
- •Озу Nx1 a1... А10 wcasras d0 озу Nx1 a1... А10 wcasras d8 озу Nx1 a1... А10 wcasras d0 ... D7 d8
- •6. Логическая организация памяти
- •7. Сегментация памяти
- •8. Страничная организация памяти
- •9. Озу современных эвм
3. Оперативные запоминающие устройства
Для построения ОЗУ большой емкости используются элементы статической или динамической памяти, которые строятся на простейших элементах транзисторно-транзисторной логики (ТТЛ), инжекционной логики (И2Л), эмиттерносвязной логики (ЭСЛ) и других технологий [5].
В основе динамических ОЗУ (DRAM) используется заряд межэлектродных конденсаторов Cijемкостью менее 0.1 пФ и током заряда менее 10-10А. Схемаi-го разряда ячейки памяти динамического ОЗУ (DRAM) представлена на рис. 3.3. Для записи логической “1” в элемент памяти активизируются информационная шинаDjи адресная шинаАi. При этом униполярный (полевой) транзистор открывается и через него конденсаторCijзаряжается. При отсутствии открывающего напряжения на шинеАiтранзистор закрыт, конденсаторCijзаряжен и хранит информацию. При подаче напряжения чтения на шинуАiтранзисторVTijоткрывается и напряжение конденсатораCijподается на шинуDj, и он разряжается. Ток разрядаCijусиливается и фиксируется в информационном регистре ОЗУ.
Dj VTij Cij Ai
Рис. 3.3. Элемент динамического ОЗУ
Для устранения искажений информации в результате утечки заряда с конденсатора элементы памяти периодически, через 2 мс или более, в зависимости от типа ИС, необходимо перезаряжать в цикле регенерации. Преимуществом динамических ОЗУ является высокая степень интеграции элементов памяти и малая потребляемая мощность. Недостатком их является большое время доступа 50-70 нс по сравнению со статической памятью, где оно равно менее 15 нс.
Статическая оперативная память (SRAM)
строится на быстродействующих биполярных
транзисторах, например, двухэмиттерных
транзисторах TTL (рис. 3.4). В режиме хранения
информации между шинами АxиАyподдерживается
минимальное напряжение (около 0.2 В),
сохраняя один из транзисторов открытым
(логический “0”), другой закрытым
(логическая “1”). На обоих проводах
информационной парафазной шины (
)
устанавливается положительное напряжение,
которое обеспечивает нулевой ток через
эмиттеры Э2. Элемент памяти (ЭП)
находится в пассивном режиме хранения
информации с наименьшим уровнем
потребления энергии.

Рис. 3.4. Элемент статического ОЗУ
В режиме чтения информации шины АxиАyвозбуждаются и на них подаются потенциалы, обеспечивающие быстрое чтение разных токов, поступающих с эмиттеров Э2на провода в усилитель чтения. В зависимости от величины токов в проводах, после их усиления триггер Т2(см. рис. 3.5,а) информационного регистра ОЗУ устанавливается в “1” или “0”. При этом состояние ЭП не изменяется и он может быть переведен в режим хранения предыдущего состояния.
Для записи информации в бистабильный
ЭП возбуждаются адресные шины АxиАy и соответствующий
один провод
или
под действием управления с усилителя
записи. Противоположный возбужденному
проводу
(
)
транзисторVT1(VT2)
открывается, т.к. через его эмиттер Э2протекает больший ток под действием
большей разности потенциалов
.
ЭП переходит в устойчивое состояние:VT1открыт, аVT2закрыт.
На статических и динамических ЭП изготавливают ИС различной емкости и разрядности. На рис. 3.5, б приведена типичная ИС емкостью
N= 2L=mn(бит).
Массив ЭП состоит из nстрок иmстолбцов. Каждый ЭП хранит один бит информации.

а б
Рис. 3.5. Структура ИС ОЗУ: а – 1- битная схема ОЗУ, б – обобщенная схема ОЗУ
Адрес ЭП, участвующего в операции чтения /записи, определяется L-разрядным двоичным кодом, поступающим с шины адреса ША в регистр адреса RGA. Младшиеl1разряда адреса в режиме чтения или записи информации в ОЗУ с появлением сигнала выборки строки RAS поступают на дешифратор строкDCx. Старшиеl2разряда адреса с появлением сигнала выборки столбца CAS поступают на дешифратор столбцовDCy.
В соответствии с двоичным кодом адреса
каждый из дешифраторов возбуждает
только одну выходную шину. На пересечении
возбужденных шин АxиАyсоответствующий ЭП подключается к
внутренней информационной парафазной
шине
.
В режиме записи (W=0, CAS=0, RAS=0) УУ включает
усилитель записи (УЗ) и подсоединяет
его к шине
.
Одновременно к шине
дешифраторамиDCx иDCyподключается один ЭП,
который УЗ устанавливается в устойчивое
состояние, задаваемое триггеромТ1.
ТриггерТ1перед началом записи
воспринимает один бит информации через
коммутатор К с внешней шины данных ШД.
В режиме чтения (W=1, RAS=0, CAS=0) УУ отключает
УЗ от шины
и подключает к ней усилитель чтения
(УЧ). Одновременно выход триггераТ2через К подсоединяется к ШД. В соответствии
с кодом адреса усилителем чтения (УЧ)
устанавливается состояние триггераТ2, соответствующее состоянию
возбужденному ЭП дешифраторамиDCx
иDCy. В следующий момент
времени информация с триггераТ2передается на ШД.
При хранении информации (CAS=RAS=1) коммутатор
К отключает от ШД ОЗУ. На всех шинах Аx,Аy,
устанавливаются потенциалы, обеспечивающие
пассивный режим сохранения состояний
ЭП.
