![](/user_photo/2706_HbeT2.jpg)
- •Технологические основы производства интегральных схем
- •4. Технологические основы производства полупроводниковых интегральных схем (ис) 3
- •Технологические основы производства полупроводниковых интегральных схем (ис)
- •Структуры кристаллов полупроводниковых ис. Основные конструктивные элементы. Принципы интегральной технологии
- •Базовые техпроцессы изготовления полупроводниковых ис
- •Получение полупроводниковых материалов для подложек ис. Оценка качества
- •Основные способы определения качества кремния
- •Окончательная обработка кремния
- •Механическая обработка слитка:
- •Термическое окисление полупроводниковых пластин
- •Литография
- •Электронолитография
- •Рентгенолитография
- •Ионно-лучевая литография
- •Травление
- •Эпитаксия
- •Легирование
- •Высокотемпературная диффузия
- •Радиационно-стимулированная диффузия
- •Ионное легирование
- •Элементы полупроводниковых ис
- •Изоляция элементов полупроводников ис
- •Общие сравнительные характеристики методов изоляции
- •Интегральный n-p-n транзистор
- •Интегральные диоды и стабилитроны
- •Полупроводниковые резисторы и конденсаторы
- •Моп и кмоп транзисторы
Литография
Литография – процесс создания защитной маски на поверхности полупроводникового кристалла, необходимой для локальной обработки при формировании интегральной структуры И.C. по планарной технологии.
В зависимости от длины волны применяемого облучения различают:
оптическую/ультрафиолетовую литографию (=100450 нм);
рентгеновскую литографию (=0,11 нм);
электронную литографию (=0,1 нм);
ионно-лучевую литографию (=0,050,1 нм).
Варианты методов литографии в зависимости от способов получения топологических конфигураций на шаблоне и поверхности полупроводниковой пластины приведены на рис. 6.
Ведущую роль в технологии ИС занимает фотолитография (см. главу 2). Разрешающая способность УФ фотолитографии характеризуют часто значением - минимальной шириной линии, мкм. Принципиальным физическим фактором, ограничивающим , является дифракция УФ-излучения, не позволяющая получить меньше длины волны . На практике может быть более по ряду причин, например, из-за рассеяния УФ-излучения в фоторезисте при экспонировании, набухания фоторезиста при проявлении и его последующей усадки при высушивании, несоответствия размеров отверстий в фоторезистивной и основной масках.
Литография с разрешающей способностью <<1 мкм, необходимая для создания ИС с высокой степенью интеграции, основывается на применении излучений с меньшей длиной волны, чем в фотолитографии.
Электронолитография
Метод основан на нетермическом взаимодействии электрона с электронорезистами. Электронорезист – полимерный материал, который изменяет свои свойства при взаимодействии с электроном.
Н
а
практике наибольшее распространение
получила – обработка сфокусированным
пучком электронов (сканирующая ЭЛ) и
электронная проекция всего изображения
(проекционная ЭЛ) на пластину с
электронорезистом.
М етодом достигается формирование топологических конфигураций с размерами элементов 0,1…0,2мкм. (Теоретически возможно получить 0,1нм). Особенность ЭЛ- отсутствие необходимости оригинала топологии в увеличенном масштабе.
Рентгенолитография
Метод основан на взаимодействии характеристического рентгеновского излучения ( = 0,110нм) с рентгенорезистом, приводящим к изменению их свойств - увеличение или уменьшение стойкости к проявителям.
Проекционный метод (1:1): шаблон состоит из кремниевой подложки, тонкой мембраны из, пропускающей рентгеновское излучения и слоя материала (хром, золото) хорошо поглощающего рентгеновское излучение. Зазор между шаблоном и пластиной составляет порядка 310 мкм, время экспонирования – 1 сек 20 мин.
Достоинства - высокая разрешающая способность, отсутствие влияния загрязнений, большой срок службы шаблона, относительная простота оборудования.
Ионно-лучевая литография
Основана на использовании ионов гелия для экспонирования поверхности пластин, покрытых резистом.
Существуют:
сканирующая ИЛЛ (разрешающая способность – 0,30,03мкм);
проекционная ИЛЛ с (разрешающая способность – 0,5мкм);
Для формирования рисунка топологии ИС возможно воздействие на пленку электронного, ионного и лазерного пучка с высокой плотностью энергии , достаточной для термического испарения материала. Для этого необходимы плотность мощности больше >106 Вт/см2 и время 1мкс. Применение ограничено возможным возникновением дефектов из-за механического напряжения и ударных волн.
Для сравнения эффективности методов литографии используются обобщенные оценки. В качестве критерия выбран показатель качества, определяемый как:
Производительность
(
1+0,15плотность
дефектов )
стоимость оборудования
(ширина линий)
Сравнение эффективности методов литографии приведено в таблице 1.
Таблица 1
Метод литографии |
Мин. ширина линии, мкм |
Плот-ность дефектов на 1 см |
Производитель-ность, пластин/ч |
Стоимость оборудования, отн. ед. |
Эффектив- ность 10 |
Контактная фотолитография |
3 |
2,5 |
50 |
1 |
14 |
Проекционная фотолитография |
2 |
1 |
65 |
6 |
29 |
Проекционная фотолитография с применением коротковолнового УФ-излучения |
1 |
1 |
50 |
7 |
82 |
Проекционная фотолитография с использованием повторителей |
1 |
1 |
20 |
12 |
19 |
Электронолитография |
0,5 |
0,5 |
10 |
50 |
15 |
Рентгенолитография |
0,3 |
1 |
20 |
10 |
218 |
Ионно-лучевая литография |
0,5 |
- |
30 |
- |
- |