- •Процеси виготовлення мікросхем
- •Практичні рекомендації
- •1 Вступ
- •2 Основна частина
- •Послідовність формування та схема технологічного процесу дифузійно - планарних імс
- •2.2 Послідовність формування та схема технологічного процесу епітаксійно - планарних імс
- •2.3 Послідовність формування та схема технологічного процесу V - канальних німс
- •2.4 Послідовність формування та схема технологічного процесу виготовлення німс з діелектричною ізоляцією
- •1 Фотолітогра-фія на SiO
- •2 Фото-літографія на Si
- •Впровадження домішки у напівпровідники шляхом термічної дифузії
- •Практичні способи проведення дифузії
- •2.6 Впровадження домішки у напівпровідники шляхом іонної імплантації
- •2.7 Автоепітаксія кремнію як базовий технологічний процес виготовлення imc
- •2.7.1 Хлоридний та силановий методи
- •2.7.2 Молекулярно – променева епітаксія
- •2.8 Загальна характеристика фотолітографічного процесу
- •2.8.1 Технологічні процеси фотолітографії
- •2.8.3 Електронно-променева літографія
- •2.8.4 Іонна і голографічна літографія
- •2.9 Схема технологічного процесу виготовлення товсто- плівкових гімс. Характеристика та трафаретний друк товстоплівкових елементів
- •2.9.1 Технологічні особливості товстоплівкових мікросхем
- •2.9.2 Трафаретний друк елементів
- •2.10 Загальна характеристика методів та етапів складання імс
- •2.10.1 Операції до складання
- •2.10.2 Монтаж кристалів
- •2.10.3 Приєднання виводів
- •2.10.4 Герметизація мікросхем
- •Список рекомендованої літератури
2.7 Автоепітаксія кремнію як базовий технологічний процес виготовлення imc
Епітаксійним нарощуванням або епітаксією називається процес орієнтованого нарощування шару речовини на початковий ( вихідний ) монокристал – підкладку.
Автоепітаксією ( гомоепітаксією ) називається орієнтоване нарощування речовини шару, що відрізняється від підкладки лише домішками. Орієнтоване нарощування речовини на інородні підкладки називається гетероепітаксією.
Напівпровідникові шари, одержані епітаксією, мають значно кращі електрофізичні властивості, ніж підкладка ( не містять домішок кисню і вуглецю, які є в монокристалах кремнію ).
Епітаксійне нарощування напівпровідникових шарів може проводитися з використанням процесів : 1) осадження з газової фази; 2) осадження з парової фази; 3) осадження з розчинів ( рідинна епітаксія ). При цьому використовують хлоридний метод, силановий метод та молекулярно – променеву епітаксію ( МПЕ ).
2.7.1 Хлоридний та силановий методи
Велике розповсюдження в промисловості одержав хлоридний метод автоепітаксії. При цьому методі проводиться осадження кремнію з газової фази з використанням реакції відновлення воднем тетрахлориду кремнію:
Автоепітаксія кремнію здійснюється на установці, яка складається з реакційної камери і газової системи, що забезпечує подачу в камеру водню, азоту, їх суміші та хлористого водню ( рис.1 ).
Рисунок 1 - Установка для епітаксійного нарощування хлоридним методом
1 – реакційна камера; 2 – індуктор (нагрівальний електромагнітний пристрій); 3 - підставка для підкладок; 4 – підкладки ; 5 – вентилі.
Подача азоту передбачена необхідністю видалення повітря з газової системи та реакційної камери: суміш водню і хлористого водню вводиться в реакційну камеру для газової очистки поверхні підкладок безпосередньо перед епітаксійним нарощуванням.
Процес приєднання атомів кремнію, що утворюється в результаті реакції, до підкладки залежить від швидкості газового потоку та температури. Максимальний вихід кремнію спостерігається при температурі біля 1200˚ С.
В технологічному процесі створення мікросхем використовують підкладки кремнію з епітаксійними шарами, які мають різні питомі опори та типи провідності. Для одержання епітаксійних шарів з заданими властивостями використовується процес легування елементами III і V груп.
При утворенні епітаксійних шарів відбувається інтенсивне впровадження домішки, яка є в підкладці, - в епітаксійний шар. Це особливо помітно при нарощуванні високоомних шарів на сильноліговані підкладки. Прикладом можуть слугувати біполярні мікросхеми, в яких епітаксійний шар n- типу нарощується на сильнолігований «скритий» n+- шар.
При автолегуванні впровадження домішки з підкладки обумовлено травленням підкладки ( при реакції з хлористим воднем ). В результаті такого травлення утворюються не тільки хлориди кремнію, але й хлориди домішок.
На рис.2 показано розподіл домішки в епітаксійному шарі, вирощеному на підкладці n+ - типу.
Рисунок 2 - Розподіл домішки в епітаксійному шарі товщиною , вирощеному на підкладці - типу.
Хлориновий ( хлоридний ) метод обмежує одержання тонких епітаксійних шарів. Для вирішення цієї задачі використовується силановий метод, в основі якого лежить реакція піролітичного розкладання моносилану:
При силановому методі використовують установки, аналогічні тим, що застосовуються при хлоридному методі. Реакція піролітичного розкладу починається при температурі . Ріст якісних шарів проходить при температурі біля . Переваги силанового методу: більш низька температура процесу. Крім того, при силановому методі не утворюється ніяких галогенідів, здатних травити підкладку і, тим самим, переносити домішку через газову фазу в зростаючий епітаксійний шар.