
- •Лабораторна робота №1 Дослідження властивостей амплітудних растрів
- •Теоретична частина
- •1. Растрові процеси. Способи растрування
- •2. Параметри растра
- •2.1. Лініатура растра
- •2.2. Кути растрової структури
- •2.3. Форма растрової точки
- •3. Розрахунок освітленості за растром за напівтіньовою теорією
- •3.1. Растровий коефіцієнт.
- •Хід виконання роботи
- •Вимоги до звіту:
- •Контрольні запитання
- •Перелік рекомендованої літератури
3.1. Растровий коефіцієнт.
Співвідношення
між розмірами D
і d
та відстанями R
і r
в кожному з випадків називається
растровою ситуацією. Розглянемо три
типових варіанти, що представлені на
рис.10. В лівій частині (а) кожної з трьох
схем показані центральні проекції
растрової комірки на площину діафрагми
при певних ситуаціях (б) і справа (в) –
графіки розподілу освітленості по
перерізу світлового елементу. Пунктиром
задані лінії центральної проекції
растрової комірки з центру світлового
елементу в площину діафрагми. Перший
випадок коли центральна проекція
вписується в діафрагму будемо вважати
вихідним. В цьому випадку максимальну
освітленість має тільки центр світлового
елементу – точка. Будь-яке зміщення
точки світлового елементу відносно
центру призводить до зміщення проекції
растрової комірки, і відповідно до
падіння освітленості. З рис.10 видно, що
ситуація, в якій ядро при максимальній
освітленості (
)
являється точкою, і описується
співвідношенням:
.
Рис.10. Розподіл освітленості в світлових елементах при різних растрових відстанях.
Розглянемо
іншу ситуацію. Зменшимо, в порівнянні
з попереднім випадком, растрову відстань.
При цьому площа центральної проекції
растрової комірки стане більше діафрагми.
Світло з всієї площі буде отримувати
не тільки центр світлового елемента,
але і сусідні точки. Як наслідок ядро
перетвориться в площадку, розмір якого
тим більше, чим більша растрова відстань.
В граничному випадку коли
зменшиться до нуля, ядро буде займати
весь елемент. Область напівтіні
зменшується, в граничному випадку вона
буде прямувати до нуля, зменшується і
загальна площа світлового елемента.
Сусідні елементи, в цьому випадку тепер
виявляються розділеними проміжками з
нульовою освітленістю – областю тіні.
До
подібного результату приводить не
тільки зменшення растрової відстані
при постійному значенні інших, але і
збільшення
,
зменшення діаметра діафрагми
або збільшення
растрової комірки. У всіх цих випадках:
або
,
де
.
Збільшення растрової відстані приводить до наступних змін: площа проекції растрової комірки стає менше площі діафрагми, це призводить до падіння освітленості в центрі світлового елемента. Проекцію комірки можна бачити з різних точок, що знаходяться поблизу центра елемента, а це призводить до того, що зростає область рівної освітленості.
Хід виконання роботи
Мікроскопічно дослідити структуру трьох запропонованих амплітудних растрів. Використовуючи об’єкт-мікрометр, оцінити їх лініатури.
Визначити кут повороту растрів при якому муарові смуги перестають бути роздільними візуально. Оцінити роздільну здатність Вашого ока, використовуючи ф-лу (1).
Зібрати оптичну схему, зображену на рис. 11. В якості об’єкту-оригіналу використати (а) білий та сірий папір, що забезпечують різні рівні освітленості; (б) напівтоновий чорно-білий діапозитив.
Оптичне випромінювання від джерела 1 (лампа розжарювання) потрапляє об’єкт-оригінал 2. За допомогою лінзи 3 формується зображення оригіналу у площині 6. Діафрагма 4 слугує для контрольованого обмеження апертури. Досліджуване зображення отримується із використанням растру 5.
Рис. 11. Оптична схема експерименту: 1 – джерело випромінювання; 2 – об’єкт-оригінал (біло-сірий папір або напівтоновий чорно-білий слайд); 3 – зображаюча лінза; 4 – діафрагма; 5 – растрова гратка; 6 – зображення оригіналу (площина отримання растрового зображення та розташування фотоматеріалу; 7 – око спостерігача.
Для
цих двох випадків дослідити і якісно
описати розподіл освітленості у площині
6 для растрів із різною лініатурою в
залежності від растрової відстані
при фіксованих діаметрі діафрагми
,
відстані
та розмірі растрового елемента
при заданій лініатурі растру (див. Рис.
10). Для одного з растрів виконати
спостереження для усього інтервалу
.
Пояснити результати спостереження (а)
в термінах діафрагм оптичних систем;
(б) контактного та проекційного растрів;
(в) на основі напівтіньової теорії
растрового процесу.
Обчисліть параметри растрової ситуації з
і експериментально дослідіть, для обраної фіксованої растрової відстані , як змінюється растрове зображення при зміні діаметру діафрагми .