Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Тg угла.doc
Скачиваний:
3
Добавлен:
04.05.2019
Размер:
749.06 Кб
Скачать

Министерство общего и профессионального образования

Российской Федерации

Саратовский государственный технический университет

Определение тангенса угла диэлектрических потерь

и диэлектрической проницаемости твердых диэлектриков на частоте 50 Гц

Методические указания к выполнению лабораторной работы

по курсам «Материаловедение.ТКМ» и «Материаловедение»

для студентов дневной, заочной и очно-заочной форм обучения

специальностей ЭТУС-180500 и ЭПП - 10.04.00.

Одобрено

редакционно-издательским

советом

Саратовского государственного технического университета

Саратов – 2005

Цель работы:

1. Освоить методику определения тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости твердых и жидких диэлектриков с помощью высоковольтного моста переменного тока Р 525 на частоте 50 Гц.

2. Установить зависимость тангенса угла диэлектрических по­терь в диэлектрической проницаемости от величины приложенного к образцу напряжения.

1. Основные понятия

Относительная диэлектрическая проницаемость, или диэлектрическая проницаемость εr, — один из важнейших макроскопических электрических параметров диэлектрика.

Диэлектрическая проницаемость ε количественно характеризует способность диэлектрика поляризоваться в электрическом поле, а также оценивает степень его полярности; ε является константой диэлектрического материала при данной температуре и частоте электрического напряжения и показывает, во сколько раз заряд конденсатора с диэлектриком больше заряда конденсатора тех же размеров с вакуумом.

Диэлектрическая проницаемость определяет величину электрической емкости изделия (конденсатора, изоляции кабеля и т.п.). Для плоского конденсатора электрическая емкость С, выражается формулой

С= ε0 εr S/ h (1)

где S — площадь измерительного электрода, м2; h — толщина диэлектрика, м; ε0 – диэлектрическая проницаемость вакуума.

Из формулы (1) видно, что чем больше величина ε используемого диэлектрика, тем больше электрическая емкость конденсатора при тех.же габаритах.

В свою очередь, электрическая емкость С является коэффициентом пропорциональности между поверхностным зарядом Qк, накопленным конденсатором, и приложенным к нему электрическим напряжением U:

Qк U =U ε0 ε S/ h (2)

Из формулы (2) следует, что электрический заряд Qк, накопленный конденсатором, пропорционален величине ε диэлектрика. Зная Qк и геометрические размеры конденсатора, можно определить ε диэлектрического материала для данного напряжения

Рассмотрим механизм образования заряда Qк на электродах конденсатора с диэлектриком и из каких составляющих складывается этот заряд. Для этого возьмем два плоских конденсатора одинаковых геометрических размеров: один - с вакуумом, другой - межэлектродным пространством, заполненным диэлектриком, и подадим на них одинаковое электрическое напряжение U (рис. 1).

На электродах первого конденсатора образуется заряд Q0, на электродах второго- Qк. В свою очередь, заряд Qк является суммой зарядов Qо и Q:

Qк = С U = Qо + Q = εr Qо. (3)

Диэлектрическую проницаемость рассматриваемого диэлектрика можно представить как отношение заряда Qк конденсатора, заполненного диэлектриком, к заряду Qо такого конденсатора с вакуумом:

(4)

Таким образом, получаем важнейшую характеристику диэлектрика - относительную диэлектрическую проницаемость εr.

Рис.1. Электрические заряды ( □ – свободные, O - связанные) на электродах конденсатора при подаче напряжения

Диэлектрическая проницаемость εr - скалярная безмерная величина, характеризующая способность диэлектрика образовывать емкость и равная отношению поверхностной плотности электрического заряда на электродах при наличии между ними данного диэлектрика к плотности зарядов на этих же электродах, помещенных в вакууме.

Диэлектрическая проницаемость характеризует способность вещества накаливать электростатическую энергию, вместе с относительной магнитной проницаемостью εr определяет условия распространения электромагнитных волн в различных средах.

Значения и характер зависимости εr для жидких диэлектриков сильно зависит от типа молекул /полярные или неполярные/. Так значения εr неполярных жидкостей невелики /не более 2,5/, не зависят от частоты, а зависимость от температуры связана с уменьшением числа молекул в единице объема при повышении температуры. Для полярных жидкостей зависимость εr более сложная как от температуры, так и от частоты изменения внешнего электрического поля.

На частоте 50 Гц диэлектрическая проницаемость материала (объекта) может быть найдена по измеренной емкости конденсатора с исследуемым диэлектриком.

Емкость плоского конденсатора рассчитывается по формуле (1).

Произведение (Ф/м) называется абсолютной диэлектрической проницаемостью.

Емкость цилиндрического конденсатора рассчитывается по формуле:

(3)

где – толщина диэлектрика; и – диаметры измерительного и токозадающего электродов.

Диэлектрическая проницаемость твердых диэлектриков зависит от структурных особенностей твердого тела, являясь мерой поляризации диэлектриков. В твердых телах возможны все виды поляризаций.

Диэлектрическими потерями называют мощность, поглощаемую в диэлектрике под действием приложенного напряжения. Потери мощности вызываются электропроводностью и медленными поляризациями. Если в диэлектрике имеют место газовые включения (поры), то при работе его на высоких напряжениях и высоких частотах происходит ионизация газа в порах, что вызывает потери на ионизацию.

При включении на постоянное напряжение конденсатора, между электродами которого находится диэлектрик, через него протекает падающий со временем ток, равный

I = Iс +Iабс + Iск (рис. 2, б).

Ток смещения (емкостный ток) Iс вызван смещением электронных оболочек атомов, ионов, молекул, т. е. процессом установления быстрых, упругих поляризаций; он спадает в течение ~ 10-15 с, поэтому практически не вызывает рассеяния энергии в диэлектрике.

Спадающий со временем ток абсорбции Iабс обусловлен смещением связанных зарядов в ходе медленных поляризаций и вызывают рассеяние энергии в диэлектрике, диэлектрические потери.

Сквозной ток утечки Iск вызван перемещением свободных зарядов в диэлектрике в процессе электропроводности, не изменяется со временем и вызывает потери, аналогичные потерям по закону Джоуля — Ленца в проводниках.

Следовательно, на постоянном напряжении потери, вызванные током абсорбции, имеют место только в период, когда происходит процесс медленных поляризаций, т. е. при включении конденсатора.

При переменном напряжении мощность, рассеиваемая в диэлектрике под воздействием электрического поля, обусловлена токами Iск и Iабс, наблюдаются в течение всего времени приложения напряжения.

а б

Рис.2. Зависимость тока утечки через диэлектрик от времени на постоянном напряжении (а) и векторная диаграмма токов, протекающих через диэлектрик на переменном напряжении (б)

На рис. 2, б приведена диаграмма токов, протекающих через конденсатор с диэлектриком на переменном напряжении. Емкостный ток Iс опережает напряжение U по фазе на угол 900 и поэтому не создает потерь мощности в диэлектрике. Ток абсорбции Iабс определяется поляризациями, процесс установления которых связан с потерями энергии. Поэтому он имеет реактивную Iра и активную Iаа составляющие. Сквозной ток Iск совпадает по фазе с приложенным напряжением. Суммарный ток имеет реактивную Iр = Iра +Iс и активную Iа = Iаа + Iск составляющие и опережает напряжение на угол φ< 900. Угол δ, дополняющий до 900 угол фазового сдвига между током и напряжением в емкостной цепи, называют углом диэлектрических потерь.

Из векторной диаграммы токов следует, что

, (4)

где tgδ - тангенс угла диэлектрических потерь, который является важным параметром, характеризующим качество диэлектрика при работе на переменном напряжении.

Для диэлектриков, применяемых в технике высоких частот и высоких напряжений, значение tgδ не должно превышать 10-3 – 10-4. Значение tgδ диэлектриков, предназначенных для работы в менее ответственных условиях, допускается много большей.

Если емкость конденсатора С (Ф), то реактивный ток равен

Iр = U ω C,

где U—приложенное напряжение, В; ω =2π f - угловая частота, рад/с; f — частота приложенного напряжения, Гц.

Следовательно, активная составляющая суммарного тока Iа равна

Iа = Iр tgδ = U ω C tgδ.

Тогда мощность Ра = U Iа (Вт), выделяющихся в конденсаторе диэлектрических потерь равна

Ра = U2 ω C tgδ. (5)

Подставив в (5) значение емкости плоского конденсатора, |^и считываемой по (1), и приняв S = 1 м2, h = 1 м, получим формулу для расчета удельных диэлектрических потерь (Вт/м3):

Руд = k Е2 εr f tgδ , (6)

где Е - напряженность электрического поля, В/м; εr tgδ = εr׳ -коэффициент диэлектрических потерь.

Диэлектрические потери газообразных диэлектриках. В слабых электрических полях диэлектрические потери в газах обусловливаются электропроводностью.

Если диэлектрическим материалом в конденсаторе служит диэлектрик с газовыми включениями, то при росте напряжения в них начинается ионизация газа. Энергия, затрачиваемая на ионизацию, называется потерями на ионизацию.

Чтобы изучить диэлектрические потери какого-либо материала, необходимо рассмотреть конденсатор с этим материалом в цепи переменного напряжения. Конденсатор с исследуемым диэлектриком, имеющий емкость, рассеиваемую мощность Р и угол сдвига фаз между током и напряжением φ, заменим эквивалентной схемой, в которой к идеальному конденсатору активное сопротивление подключено либо параллельно — параллельная эквивалентная схема, либо последовательно — последовательная эквивалентная схема. Эти эквивалентные схемы замещения диэлектрика с потерями должны быть выбраны так, чтобы расходуемая в них активная мощность была равна мощности Р, которая рассеивается в конденсаторе с исследуемым диэлектриком, а ток опережал бы напряжение на тот же угол φ. Эквивалентные схемы вводятся условно и не объясняют механизма диэлектрических потерь. Величины емкости идеального конденсатора и активного сопротивления для параллельной и последовательной схем замещения обозначим соответственно Ср и R, Сs, и r.

Активная мощность, как известно, равна:

P = U I cosφ (7)

Для последовательной схемы с использованием векторной диаграммы (рис. 3) и учетом того, что

tgδ = ω Cs rs …… ……(8)

получаем

Аналогично для параллельной схемы

Ра = U2 ω C tgδ.,……………

так как

(9)

Условием эквивалентности обеих схем является равенство активной мощности, из которого можно получить соотношение, выражающее связь между параметрами двух схем

(10)

Согласно (4) диэлектрическую проницаемость изоляционного материала εr вычисляют из полученных величин по формуле

(11)

В

Сs

соответствии с примененной схемой измерения получаемые значения емкости испытываемого материала будут соответствовать последовательной или параллельной схемам замещения.

Рис.3. Векторные диаграммы и эквивалентные схемы диэлектрика с потерями