10. Просветление оптики.
Интерференция при отражении от тонких пленок лежит в основе просветления оптики. Прохождение света через каждую преломляющую поверхность линзы сопровождается отражением примерно 4% падающего света. В сложных объективах такие отражения совершаются многократно и суммарная потеря светового потока достигает заметной величины. Кроме того, отражения от поверхностей линз приводят к возникновению бликов. В просветленной оптике для устранении отражения света на каждую свободную поверхность линзы наносится тонкая пленка вещества с показателем преломления иным, чем у линзы. Толщина пленки подбирается так, чтобы волны, отраженные от обеих ее поверхностей, погашали друг друга. Особенно хороший результат достигается в том случае, если показатель преломления пленки равен корню квадратному из показателя преломления линзы. При этом условии интенсивность обеих отраженных от поверхностей пленки волн одинакова.
Применение интерференции.
Явление интерференции применяется для обнаружения дефектов либо для определения показателя преломления с очень высокой точностью. Для этих целей применяются интерферометры.
10. Метод зеркал Френеля для наблюдения итнтерференции света. Расчёт интерференционной картины.
Для получения когерентных световых волн с помощью обычных (не лазерных источников) применяют метод разделения света от одного источника на две или несколько систем волн. В каждой из них представлено излучение одних и тех же атомов источников, так что из-за общности происхождения эти системы волн когерентны между собой и интерферируют при наложении. Разделение света на когерентные системы волн можно осуществить путем его отражения или преломления.
Бизеркало Френеля
Свет
от точечного источника S
падает на два плоских зеркала m1C
m2C
расположенных перпендикулярно плоскости
рисунка и соединенных по линии С. Угол
между плоскостями зеркал очень мал.
Свет от источника S
распространяется после отражения от
зеркал в виде двух пучков с центрами в
точках S1
и S2
являющихся мнимыми изображениями
источника S
в зеркалах. Эти пучки когерентны и при
наложении дают на экране интерференционную
картину (область ВС, называемая полем
интерференции). Результат интерференции
в некоторой точке О экрана зависит от
длины волны света λ
и разности
хода волн от когерентных мнимых источников
S1
S2
до точки M:
Начальные фазы колебания источников
S1
S2
одинаковы, поэтому условия интерференционных
максимумов и минимов имеют вид:
максимум m-го
порядка
минимум
m-го
порядка
Расчет интерференционной картины
;
AB=2aφ
(длина хорды);
l=a+b; d=S’S’’=2bφ
CO=a; SC=b=S’C=S’’C
