
- •Введение.
- •Классификация приборов
- •Конструирование приборов. Основные понятия.
- •Сущность процесса конструирования.
- •Классификация приборов
- •Методология конструирования приборов.
- •Классификация приборов по среде применения и объекту установки
- •Методы конструирования рэс и приборов.
- •Основные определения и свойства графов.
- •Переход от электрических схем к графам и матрицам.
- •Методы размещения элементов.
- •Стадии разработки приборов системы
- •Конструкционные системы. Унифицирование конструкции.
- •Структура и состав конструкционных систем.
- •Технологичность конструкционных систем.
- •Выбор модулей конструкционных систем.
- •Основные конструкционные системы
- •Преимущества реализации рэс на конструкционных системах.
- •Система унифицированных типовых конструкций (утк).
- •Система бнк
- •Конструкционная система электронных измерительных приборов.
- •Характеристика систем несущих конструкций.
- •Элементная база
- •Конструкторско-технологическая классификация и обозначение резисторов
- •Конструкторско-технологическая классификация и обозначение конденсаторов
- •Конструкторско-технологическая классификация и обозначение полупроводниковых приборов
- •Система условных обозначений ис
- •Корпуса интегральных схем
- •Печатные платы Классификация и конструкция.
- •Инженерное обеспечение качества изображения.
- •Классы точности
- •Методы изготовления печатных плат.
- •Выбор метода изготовления печатных плат.
- •Многослойные печатные платы
- •Габариты печатных плат
- •Этапы конструирования печатных плат
- •Печатные узлы с поверхностным монтажом компонентов.
- •Конструирование электронных модулей 1-го уровня (эм1)
- •Требования к эм1
- •Конструкция эм-1 на основе убнк1
- •Система обозначений убнк-1
- •Конструирование электронных модулей 2-го уровня (эм2)
- •Требования к эм2:
- •Задачи, решаемые при конструировании эм2
- •Основные компоновочные схемы блока (эм2)
- •Анализ вариантов расположения межузловой коммутационной зоны
- •Конструкции электронных модулей 3-го уровня (эм3)
- •Защита конструкций рэс от дестабилизирующих воздействий
- •Категории рэс в зависимости от условий эксплуатации
- •Климатические воздействия:
- •Тепловые воздействия и их характеристики. Тепловые модели блоков
- •Тепловая модель блока.
- •Способы охлаждения рэс
- •Защита конструкций рэс от механических воздействий
- •Разработка конструкции рэс по вибрационной и ударной нагрузке
- •Защита от воздействия помех
- •Конструирование электрических экранов.
- •Конструирование магнитных экранов.
- •Конструирование электромагнитных экранов.
- •Электромагнитные связи в конструкциях рэс
- •Анализ электростатических связей
- •Анализ магнитных связей
- •Анализ электромагнитных связей
- •Вопросы специальной технологии рэс
- •Исходные данные для разработки рабочих технологических процессов (ртп)
- •Содержание:
Система бнк
При конструировании сложных РЭС различного назначения широкое распространение получила отраслевая КС унифицированных базовых конструкций, структура построения которой приведена на рис. 6.5. Базовой несущей конструкцией называется унифицированная или стандартизованная несущая конструкция, предназначенная для размещения конструкций низших уровней.
В систему входят РЭМ четырех уровней разукрупнения. Но, строго говоря, отнесенные ко второму уровню УБНК-П фактически соответствуют частичным каркасам УТК.
Некоторые размеры РЭМ в системе УБНК не соответствуют ГОСТ 20504—81, так как УБНК применяют для построения не только стационарных, но и возимых, наземных, морских и самолетных РЭС, на которые действие стандарта не распространяется. Кроме того, унифицированные ячейки УБНК-I устанавливают в УБНК-П и БНКЗ, хотя и вертикально, но в большинстве случаев не перпендикулярно, как предусматривает ГОСТ 20504—81, а параллельно лицевой панели унифицированных блоков. Такой способ установки ячеек удобен в транспортируемых РЭС при ограниченных размерах аппаратных отсеков, а на стационарные РЭС распространен с целью межвидовой унификации конструкций на первом и втором уровнях разукрупнения. Действительно, УБНК-I и УБНК-П, которые могут быть использованы в РЭС для различных объектов установки, представляют собой модификации, полученные за счет установки на универсальные шасси разных передних и задних панелей, узлов присоединения и фиксации.
В то же время условные размеры унифицированных УБНК-I различных типоразмеров и модификаций соответствуют ГОСТ 20504—81, а некоторые отличия наружных и внутренних размеров обусловлены разницей в принятых значениях допусков на входимость. Базовые каркасы, по размерам соответствующие блочным каркасам УТК, позволяют размещать УБНК-I в БНКЗ рядами с шагом по высоте 200 мм.
Специфику объектов установки учитывают главным образом конструкции третьего уровня разукрупнения БНКЗ, хотя для некоторых видов РЭС, например для автомобильных, разработаны также и универсальные шасси специальной конструкции. Напомним, что ГОСТ 20504—81 не распространен на размеры конструкций третьего уровня разукрупнения в пыле-, водо- и виброзащищенном исполнениях, применяемых в транспортируемых РЭС, но наружные и внутренние размеры БНКЗ стационарных РЭС полностью соответствуют его требованиям, что обеспечивает их совместимость с другими КС.
По построению и размерам к УБНК РЭС близка распространенная отраслевая система «База-3» (ОСТ 4.410.017-82 и др.).
-
3й
БНК-3
ЭМ-3
Шкафы, стойки, пульты
2й
БНК-2
ЭМ-2
БЛОКИ
1й
БНК-1
ЭМ-1
Функциональные узлы
ПЕЧАТНЫЕ
ПЛАТЫ
ЭЛЕМЕНТНАЯ БАЗА
0й
Основание
микросборок
Структурные уровни определяют иерархию конструкции РЭС. На верхнем третьем уровне находятся наиболее сложные конструкции, построенные на основе БНК-3 (БНК – базовые несущие конструкции). БНК-1 рамочные и безрамочные ячейки на основе унифицированного ряда ПП. На основе БНК-1 выполняются электронные модули первого уровня (ЭМ-1);
БНК-2 несущие основания герметичных и негерметичных блоков разъемной и книжной конструкции в составе электронных модулей второго уровня (ЭМ-2);
БНК-3 несущие конструкции шкафов, стоек и пультов, объединяющих ЭМ-1 и
ЭМ-2 в различных вариантах компоновки.
Иногда в конструкцию шкафов и стоек входят не только блоки, но также функциональные узлы. Разделение на структурные уровни ограничивается неделимостью нижнего уровня, хотя для разработки микроэлектронных устройств подуровень нулевого уровня является высшим уровнем.
В основе построения систем – все размеры конструктивных элементов должны быть кратны определенной величине ( например, 20 мм – УТК20). Есть разновидности систем, которые учитывают международные стандарты, в дюймах УТК19.
В системе БНК-1 модуль построен – 2,5 мм, БНК- 2 (3) – 25 мм.
Рассмотренные КС содержат все характерные элементы других систем, а система УБНК принята в качестве основы для рассмотрения особенностей конструирования РЭС при дальнейшем изложении материала.
*************************************************************************