- •Лекция 1 методы и средства экологического контроля. Цели и задачи эк, структура, нормирование, методы эк, средства эк.
- •Нормативы образования и лимиты размещения отходов
- •Классификация опасности химических веществ на основе пдк их в почве
- •Службы экологического контроля.
- •Службы экологического контроля
- •Лекция 2
- •Процедуры и операции технологического цикла экоаналитического контроля загрязнения окружающей среды
- •Выбор места контроля загрязнения и поиск его источника с целью первичной оценки и/или отбора проб
- •Отбор проб почвы
- •Отбор проб донных отложений
- •Отбор проб растительности
- •Отбор проб животного происхождения
- •Стабилизация, хранение, и транспортировка проб для анализа
- •Лекция 3
- •Технические характеристики анализатора nо/ nОх модели ррм 252
- •Газоанализаторы
- •Газоанализаторы теплопроводности
- •Магнитные газоанализаторы
- •Электрохимические газоанализаторы
- •Оптические газоанализаторы
- •Газоанализатор уг-2.
- •Лекция 4 и 5
- •Спектры поглощения
- •Метод градуировочного графика.
- •Метод сравнения оптических плотностей стандартного и исследуемого растворов.
- •Оборудование для фотометрических измерений.
- •Спектрофотометры.
- •Лекция 6
- •Атомно-эмиссионныи спектральный анализ (аэса)
- •Качественный анализ
- •Количественный анализ
- •Лекция 7
- •Лекция 8
- •1. Глобальный уровень.
- •1. Общие сведения о мониторинге
- •Мониторинг природных сред организация мониторинга атмосферы
- •1. Источники загрязнения атмосферного воздуха
- •2. Организация наблюдений и контроля загрязнения атмосферного воздуха
- •3. Посты наблюдений загрязнения атмосферного воздуха
- •4. Автоматизированная система наблюдений и контроля окружающей среды
- •5. Отбор проб атмосферного воздуха для анализа
- •6. Сбор и обработка данных о загрязнении атмосферного воздуха
- •7. Математическое моделирование процессов рассеяния вредных веществ в атмосферном воздухе
Качественный анализ
Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию последних линий определяемого элемента в спектре исследуемой пробы. Спектры многих элементов содержат характерные группы линий, появление которых сразу решает вопрос о присутствии данного элемента в образце. Так, для магния характерны пять линий: 278,29, 278,14, 277,98, 277,82 и 277,66 нм, для ванадия — три линии: 318,54, 318,39 и 318,34 нм, для кальция характерен дуплет 396,84 и 393,36 нм и т. д. Чтобы сделать вывод о наличии данного элемента в образце, необходимо идентифицировать две-три его линии, оценив при этом их относительные интенсивности.
Есть специальные каталоги спектров веществ.
Определение длины волны спектральной линии. Если предполагается проводить определение длин волн спектральных линий в спектре исследуемой пробы, то на спектрограмме должен присутствовать стандартный спектр железа. Во время проведения съемки обычно используют прием наложения спектров (рис.).
Для идентификации элемента по его эмиссионному спектру берут, как правило, 3—5 наиболее интенсивных линий и рассчитывают их длины волн по приведенной формуле. Затем при помощи спектральных таблиц проводят отождествление спектральных линий.
Количественный анализ
При количественном анализе мерой содержания данного элемента в пробе служит интенсивность характеристических линий. Интенсивность излучения зависит не только от действительной концентрации примеси, но и от других факторов, связанных с условиями испарения пробы и возбуждения атомов (температуры, плотности частиц, геометрии аналитического промежутка и т. д.).
Количественная зависимость не может быть установлена теоретически в общем виде, поскольку точный учет всех факторов, влияющих на интенсивность спектральных линий, практически невозможен. Почти все количественные определения основаны на сопоставлении интенсивностей линий анализируемой пробы и линий стандартных образцов.
Эмпирически (опытным путем) было установлено, что между концентрацией элемента в анализируемой пробе и интенсивностью его линий существует определенное соотношение. Эта корреляция описывается уравнением Шайбе—Ломакина:
/ = nАС,
где / — интенсивность спектральной линии; С — концентрация элемента; А и п — эмпирические константы.
Аппаратура для спектрального анализа. В методах атомно-эмиссионной спектроскопии атомизация и возбуждение образующихся атомов определяемого элемента осуществляются в источнике возбуждения (источнике света). К ним предъявляются следующие требования: 1) получение наибольшей интенсивности излучения аналитической линии от минимального количества определяемого элемента при возможно меньшей интенсивности излучения фона; 2) обеспечение достаточной стабильности излучения как аналитической линии, так и фона. Первым источником света, которым воспользовались основоположники атомно-эмиссионного анализа Бунзен и Кирхгоф, было пламя газовой горелки. Позднее для возбуждения спектров стали пользоваться электрическими дуговыми разрядами, газоразрядными трубками низкого давления, лазерами и т. д. В настоящее время в атомно-эмиссионной спектроскопии используются около 10 видов источников света и их многочисленные модификации.
Как эмиссионные источники пламена обладают многими достоинствами. Они просты, недороги в эксплуатации и с их помощью можно определить десятки элементов на уровне микрограммовых и меньших количеств в 1 мл. Для образования пламени используют газ-окислитель и горючие газы. Анализируемую пробу (чаще всего раствор) вводят в источник в виде аэрозоля, используя для распыления газ-окислитель. Когда аэрозоль попадает в пламя, раствор испаряется, оставляя мельчайшие частицы сухой соли, которые диссоциируют на атомы и ионы. За счет тепловой энергии пламени частицы возбуждаются и испускают фотоны. Пламена характеризуются довольно широким диапазоном температур от 2000 до 5000 °С. Ниже приведены температуры, °С, пламен некоторых газовых смесей: пропан—воздух 1920, ацетилен — воздух 2250, водород—кислород 2600, ацетилен—кислород 3150. Пламена как источники не применяются для определения трудновозбудимых и тугоплавких элементов. Благодаря высокой стабильности пламени воспроизводимость аналитического сигнала составляет 1—2%. Современные пламенные фотометры для эмиссионного анализа растворов просты в эксплуатации, недороги и высокопроизводительны.
Электрическая дуга постоянного тока является широкоупотребительным источником вследствие простоты, экономичности и универсальности. Ее успешно используют для любых твердых веществ, в том числе тугоплавких и не проводящих электрический ток.
С помощью этого источника выполняются анализы проб на 65 элементов в интервале содержаний 10~5—10~' %. Дуговой разряд возникает между электродами при подаче на них высокого напряжения вследствие термоионной эмиссии. Возможность эффективного возбуждения атомных спектров элементов с потенциалами возбуждения от 5 до 10 эВ объясняется высокими температурами разряда от 4500 до 8000 °С. Вещества, не проводящие ток, обычно анализируют в дуге, возникающей между угольными электродами. Анализируемые вещества истирают в порошок, смешивают с углем и помещают в канал угольного электрода или вносят в разряд другим путем. Абсолютные пределы обнаружения большинства элементов, возбуждаемых в дуге, составляют 10~8—10~9 г. Минимальная анализируемая в дуге масса твердой пробы — доли миллиграмма. Большие пространственно-временные флуктуации свободного дугового разряда обусловливают сравнительно низкую воспроизводимость аналитического сигнала. Несмотря на это, ценность аналитических данных высока, и на предприятиях металлургической промышленности выполняется в год около 100 миллионов элементоопределений методом дугового эмиссионного спектрального анализа.
Конденсированная искра является наиболее распространенным источником при выполнении количественных анализов металлов. В отличие от дугового разряда конденсированная искра действует на электроды локально кратковременными импульсами большой энергии. Средняя температура разряда искры ~10 000 °С, что позволяет получать спектры элементов с высокими потенциалами возбуждения. Искровой источник применяется чаще всего для серийного анализа металлов и сплавов. Для искрового разряда характерна высокая степень ионизации элементов, в связи с чем в конденсированной искре образуются атомные и ионизационные спектры. Искровой разряд может быть применен для локального анализа поверхности металлических образцов.
Индукционная плазма (индуктивно-связанная плазма) является в настоящее время одним из наиболее перспективных средств аналитического контроля. Производство спектрометров с индукционной плазмой в качестве источника увеличивается намного быстрее, чем производство всех других видов аналитических приборов. Основными достоинствами этого источника излучения являются высокая пространственно-временная стабильность, низкий уровень фона (на 1—2 порядка ниже, чем в других источниках), высокая эффективная температура возбуждения, достаточная для определения 70 элементов, широкий линейный интервал зависимости интенсивности спектральных линий от содержания элементов в пределах 4—6 порядков, отсутствие электродов (возможная причина загрязнений). В аналитическую практику высокочастотная индукционная плазма стала активно внедряться в конце 70-х годов.
Лазерное возбуждение удобно для анализа очень малых проб или для исследования очень малых площадей образцов. Схематическое изображение лазерного микрозонда представлено на рис. 31. Луч от импульсного рубинового лазера фокусируется с помощью оптического микроскопа на заданную точку поверхности образца. Интенсивный лазерный импульс испаряет небольшое количество образца, оставляя полусферический кратер диаметром ~50 мкм. Образовавшиеся пары пробы находятся между двумя близко расположенными электродами. Электроды соединены с конденсатором большой емкости, заряженным до высокого напряжения. Пары образца вызывают пробой межэлектродного промежутка, и в результате этого раз ряда происходит возбуждение спектра пробы.
Эффективным средством для разложения излучения в спектр является дифракционная решетка, представляющая собой стеклянную или металлическую пластинку, на которую нанесено большое количество, до нескольких тысяч на миллиметр, параллельных штрихов, расположенных на одинаковом расстоянии друг от друга. Световой поток, попадая на решетку, претерпевает дифракцию. Лучи света с разными длинами волн отражаются от дифракционной решетки под разными углами.
Дифракционные решетки обладают более высокой разрешающей способностью, чем призмы. Кроме того, их можно использовать в тех областях спектра, где нет прозрачных материалов для изготовления призм. Обычно изготавливают решетки, имеющие 600 или 1200 штрихов на миллиметр. Часто применяют вогнутые дифракционные решетки, которые не только разлагают свет, но и фокусируют его.
Приемники света. В зависимости от способа наблюдения и регистрации спектра методы атомно-эмиссионного спектрального анализа подразделяют на визуальные, фотографические и фотоэлектрические.
Наиболее простым вариантом является визуальный способ. Приборы в которых осуществляется визуальное наблюдение образующегося спектра, называют спектроскопами. Рабочая область ограничена видимой областью спектра. Вывод нужной области спектра в окуляр осуществляется вращением диспергатора (призмы). Метод широко применяется для полуколичественны.\ экспрессных анализов в любых условиях. Приборы просты в работе и имеют малую стоимость. Спектроскопы делают легкими и переносными. Их используют для сортировки сплавов (легированных сталей) на складах материалов или в цехах при неблагоприятных условиях.
Использование фотопластин в качестве систем регистрации спектров осуществляется в приборах, называемых спектрографами. Под действием излучения в светочувствительном слое (основа бромид серебра) возникает почернение. Плотность почернения является функцией интенсивности падающего на пластинку света. Фотографическая регистрация позволяет получить одновременно всю спектрограмму, что представляет особый интерес для обзорного анализа. Фотографичекая пластинка является интегрирующим устройством, поскольку накапливает регистрируемое излучение.
Спектрографы позволяют регистрировать излучение в области 200— 10000 нм. Отечественная промышленность выпускает спектрографы ИСП-28, ИСП-30 со средней разрешающей способностью, КС-55, КСА-1 с высокой разрешающей способностью. К дифракционным спектрографам относятся приборы ДФС-1, ДФС-13. Диспергирующим элементом в них являются дифракционные решетки. Замена призмы на решетку существенно расширяет рабочую область спектра. В количественном анализе для промера почернения спектральных линий на спектрограммах используют микрофотометры (денситометры). Спектрографы относительно простые, дешевые и надежные приборы. Широко применяются для массовых анализов однотипной продукции на металлургических предприятиях.
Фотоэлектрические методы регистрации спектров начали интенсивно развиваться в 60-е годы. Применение спектральных приборов с электрометрической регистрацией (спектрометров) позволяет не только повысить скорость и точность анализа, но и эффективно использовать вычислительную технику для обработки результатов и управления процессом анализа.
Для регистрации интенсивности спектральных линий в спектрометрах обычно используют фотоэлектрический приемник (или приемники) излучения, например, фотоумножитель, который преобразует излучение в электрический сигнал.
В одноканальных спектрометрах излучение, разложенное на составляющие диспергатором (дифракционной решеткой), последовательно направляется на выходную щель, позади которой расположен фотоэлемент. Последовательная регистрация спектральных линий достигается либо вращением дифракционной решетки, либо сканированием, вращением приемника излучения вокруг диспергатора в фокальной поверхности прибора.
АТОМНО-АБСОРБЦИОННЫИ АНАЛИЗ (А А А)
Атомно-абсорбционный метод (А – А – М) анализа является одним из важнейших методов определения малых содержаний элементов в различных объектах — металлах, сплавах, рудах, шлаках, в объектах геохимии, сельского хозяйства, медицины, в особо чистых веществах, образцах воды, минералах и др. Широкое применение метода обусловлено тем, что с его помощью можно определять более 80 элементов, чувствительность атомно-абсорбционного метода часто превышает чувствительность атомно-эмиссионной спектроскопии, аппаратура проста, методики экспрессны. Для атомно-абсорбционной спектроскопии характерна высокая избирательность, взаимные влияния элементов при определении не велики. Для проведения анализа вещество необходимо атомизировать или в ацетиленовом пламени, или в графитовой печи, или электроатомизацией т.е. превратить в пар. Температура 1500, 1800, 2000 º и выше используется для превращения в пар атомов Cu, Fe, Wa.
Атомно-абсорбционный анализ (А А А) основан на способности свободных атомов, образующихся при испарении исследуемых проб, селективно поглощать излучение определенной для каждого элемента длины волны. Атомы поглощают излучение тех длин волн, которые соответствуют переходу электронов атомов с основного энергетического уровня Е на более высокие возбужденные состояния. Частота излучения, которое поглощается резонансно атомами, соответствует разнице в энергии между основным состоянием и возбужденным. Необходимую для поглощения атомами определенного элемента (лампа) спектральную линию обычно получают от монохроматического источника излучения. При прохождении такого излучения через парообразное вещество количественная зависимость степени поглощения света от концентрации атомов описывается законом Бугера—Ламберта— Бера, математическое выражение которого имеет вид: Cu+2 524нм.
It = Iо K ℓ С, где К = ε λ
где Iо и It — интенсивности падающего и прошедшего через поглощающий слой пучка света; k — коэффициент поглощения, зависящий от природы атомов, длины волны и условий съемки; ℓ— длина пути света в поглощающем слое атомов; с—концентрация поглощающих атомов в паре; ε – природа вещества; λ – длина волны.
Из формулы следует, что зависимость между светопоглощением и концентрацией линейна. Наиболее высокие значения k соответствуют переходу электрона с основного на более близкий к нему уровень, так называемая резонансная линия. Если с выразить в молях на литр, то почти для всех элементов &=107-^109
+109. Чем больше значения коэффициента k, тем выше чувствительность методики. В атомно-абсорбционной спектроскопии требования к стабильности температуры атомизатора (пламени или графитовой печи) менее строги, чем в атомно-эмиссионной спектроскопии к стабильности источника излучения. Это связано с тем, что аналитический сигнал в атомно-абсорбционном методе зависит от числа невозбужденных атомов, которое мало меняется с температурой.
В современных приборах пробы подвергают атомизации двумя методами: пламенным и непламенным (путем быстрого испарения в специальных нагревателях). В первом случае проба, предварительно переведенная в раствор, вводится в пламя путем пневматического распыления. В пламени растворитель испаряется, а мельчайшие твердые частицы вещества диссоциируют на атомы. Требуются пламена прозрачные для излучения в спектральном диапазоне 200—850 нм, со слабым собственным излучением. Эффективность атомизации в них должна быть высокой, а степень ионизации атомов пробы — низкой. В зависимости от состава анализируемых проб используют пламена: воздух—водород, воздух—ацетилен, кислород—ацетилен, оксид азота—ацетилен и др. Для каждой комбинации сконструированы соответствующие горелки, подобраны оптимальные соотношения компонентов газовых смесей. В большинстве случаев температура пламенной атомизации составляет 2000— 3000 °С.
Второй способ создания поглощающего слоя атомов анализируемого вещества заключается в испарении проб в трубчатых графитовых печах. Печь нагревается сильным электрическим током малого напряжения. Поглощаемый световой луч от источника проходит по оси трубчатой печи. Пробы вносятся в нагреватель на графитовых подложках — платформах, нагревающихся за счет термического излучения самой печи. При испарении пробы пространство внутри печи заполняется парами. Существует множество модификаций непламенных атомизаторов. Основным их достоинством по сравнению с пламенными является длительное время пребывания атомов в зоне поглощения (до 1,0—1,5 с), что позволило снизить пределы обнаружения элементов до 10~12—Ю-15 г. В графитовых трубчатых печах можно анализировать твердые, жидкие и газообразные пробы.
После атомизации лишь небольшая доля атомов возбуждается (<10 %). Большая их часть остается в основном состоянии. Атомы, находящиеся в основном состоянии, способны возбуждаться вследствие поглощения излучения, но энергия квантов поглощаемого излучения должна в точности соответствовать разности между двумя энергетическими уровнями атома. Строгое требование к энергии квантов лучше всего удовлетворяется, если использовать в качестве источника характеристическое излучение атомов исследуемого элемента.
Источники излучения. Во многих атомно-абсорбционных спектрофотометрах в качестве монохроматического источника излучения используют электроразрядные лампы с полым катодом. В спектре свечения этой лампы наблюдаются линии элемента, из которого изготовлен катод. Эмиссионный спектр материала катода получается при электрическом тлеющем разряде. Этот разряд осуществляется в атмосфере инертного газа при пониженном давлении. Для определения каждого элемента требуется «своя» лампа с полым катодом. Обычно спектрофотометры имеют устройства для быстрой смены ламп.
Монохроматор. Из совокупности линий, испускаемых источником, лишь некоторые эффективно поглощаются атомами. Для отделения спектральной линии, интенсивность которой необходимо измерить, используется монохроматор. Его основные детали—щели, линзы, зеркала и диспергирующие элементы (призмы, дифракционные решетки).
В современных приборах используют главным образом дифракционные решетки, которые представляют собой хорошо отражающую поверхность с большим числом начерченных или вытравленных равноотстоящих штрихов (от 300 до 2000 линий на 1 мм). При попадании света на решетку в результате интерференции лучи различной длины волны отклоняются на разные углы 6 в соответствии с условием:
Детектор. В атомно-абсорбционной спектрофотометрии в основном работают с излучением, относящимся к видимой и ультрафиолетовой области спектра. Для регистрации и измерения интенсивности этих видов излучения удобно использовать электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители. С их помощью световая энергия преобразуется в электрические сигналы. Пределы определения тысячные и десятитысячные доли Г. (0,0043мг/л).
На металлургических предприятиях широко используют отечественные приборы «Сатурн», спектрофотометры, выпускаемые в ГДР AAS-1, а также приборы фирмы «Перкин—Эльмер» (США) , Спираль – 17.