- •Моделируемый технологический маршрут:
- •Ручной расчёт Rs и Xj
- •Автоматический расчёт с помощью инструмента Measure
- •Результаты проведенного расчета для заданного маршрута.
- •Результаты проведенного расчета для заданного маршрута.
- •Графики зависимости поверхностного сопротивления от корня времени разгонки с разными значениями энергии.
- •График зависимости глубины p-n-перехода от квадрата времени разгонки с разными значениями энергии.
- •Двумерные профили распределения в зависимости от длины затвора с учётом напряжения в cap-слое.
- •Двумерные профили распределения в зависимости от длины затвора без учёта напряжения в cap-слое.
Министерство образования и науки РФ
НГТУ
Кафедра ППиМЭ
Лабораторная работа №2
« Технологическое моделирование двумерной структуры МОП-транзисторов на напряженном кремнии »
Факультет: РЭФ
Группа: РМС7-81
Преподаватель: Чебанов М.А.
Студент: Малюгин П.С.
Группа: 1
Новосибирск, 2011г.
Цель работы – освоение методик одномерных и двумерных технологических расчетов, анализа и графического представления результатов в TCAD Sentaurus на основе фрагментов реальных технологических маршрутов.
Содержанием работы является подготовка командного файла для SProcess в текстовом редакторе ОС Windows с последующим его переносом в оболочку SWB, исследование зависимости параметров реального p-n-перехода от режимов технологических операций, моделирование 2D структуры и профилей легирования в ней для n- и p- МОП нанотранзисторов на напряженном кремнии.
ЧАСТЬ A.
Моделируемый технологический маршрут:
№ п/п |
Описание операции |
А |
||||
Сценарий part1 |
Сценарий part2 |
|||||
1 |
Исходная подложка |
КЭФ-1 (100) |
КЭФ-1 (111) |
КЭФ-4.5 (100) |
||
2 |
Ионная имплантация |
Бор D=112мкКл/cм2 E=50 кэВ |
Бор D=112мкКл/cм2 E=50 кэВ |
Бор D=80, 800 мкКл/cм2 E=100 кэВ |
||
3 |
Термический отжиг |
Атмосфера |
Инертный отжиг в азоте Т=1050 0С t=4, 9, 16, 25, 36, 49, 64, 81, 100, 121, 144, 169, 196 |
|||
O2 N2 |
O2 N2 |
|||||
100% 0% 10% 90% 1% 99% 0% 100% |
100% 0% 10% 90% 1% 99% 0% 100% |
|||||
T=1150 0C t=60 мин |
T=1150 0C t=60 мин |
PART 1.
Ручной расчёт Rs и Xj
Узел |
Толщина окисла, нм |
Глубина Xj, мкм |
Поверхностное сопротивление Rs, кОм/□ |
1 |
142.66 |
2.963 |
128.8 |
12 |
42.52 |
2.732 |
109.1 |
15 |
13.83 |
2.645 |
103.1 |
18 |
-0.00 |
2.600 |
101.2 |
26 |
158.81 |
2.881 |
152.3 |
29 |
49.57 |
2.654 |
120.1 |
32 |
-0.00 |
2.500 |
106.2 |
35 |
16.87 |
2.568 |
109.4 |
Автоматический расчёт с помощью инструмента Measure
Командный файл:
# Моделирование NPN Биполярного транзистора (1D процесс моделирования)
# Выключаем графический режим используемый Tecplot
graphics off
# Функция расчёта параметров оксидной плёнки
defineproc OxiTh { Sign YY } {
set LAYERS [layers y=$YY]
set FirstColumn [list]
foreach Row $LAYERS {
lappend FirstColumn [lindex $Row 0]
}
#Устанавливаем значение толщины оксидной плёнки параметру Tox
set Tox [expr [lindex $FirstColumn 2] - [lindex $FirstColumn 1]]
puts ""
puts "------------------------------------------------------------------------"
puts "The thickness of the grown oxide is [format %.2f [expr 1e3*$Tox]] <nm>"
puts "------------------------------------------------------------------------"
puts ""
# ----- Экстрактор параметров из выходного файла SProcess -----
puts "DOE: $Sign [format %.2f [expr 1e3*$Tox]]"
}
# ///////////////////////////// PROCESS HEADER \\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\
# Выбираем модель.
pdbSet Silicon Dopant DiffModel Pair #Упрощённая 3-потоковая модель многочастичной диффузии
# Параметры сетки
mgoals on min.normal.size=10<nm> max.lateral.size=50<nm> \
normal.growth.ratio=1.2 accuracy=1<nm>
# ----- Создаём сетку -----------------
line x location=0 spacing=0.1 tag=SiTop
line x location=15 spacing=0.1 tag=SiBottom
# ----- Создаём подложку --------------------
region Silicon xlo=SiTop xhi=SiBottom
init field=Phosphorus resistivity=@Res@ wafer.orient=@Orient@
# ///////////////////////////////// PROCESS \\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\
# ----- Ионная имплантация Бора (P-Buried Layer). ---------------------------
implant Boron energy=@Energy@ dose=@<B_Dose*1e-6/1.6022e-19>@
# ----- Термический отжиг -------------------------------
# Задаём параметры окисляющей атмосферы
gas_flow name=Anneal flows= { O2=@<Oxi/100.>@ N2=@<Nit/100.>@ }
diffuse temperature=@Temp@ time=@Time@ gas_flow=Anneal
# ----- Сохраняем профили легирования. --------------
SetPlxList { Phosphorus }
WritePlx n@node@_Phosphorus
SetPlxList { Boron }
WritePlx n@node@_Boron
SetPlxList { NetActive }
WritePlx n@node@_NetActive
# -----Пример использования функции. -------------
OxiTh dox_nm 0
# -----Рассчитываем поверхностное сопротивление. -----------------
SheetResistance
# \\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\ THE END ///////////////////////////////////
Основное отличие командного файла sprocess_fps.cmd с sprocess_lig.cmd состоит в методе ввода. В файл sprocess_lig.cmd мы добавляли команды с помощью графического интерфейса, а в sprocess_fps.cmd команды мы записываем вручную, поэтому файл получается более компактным.