2.5. Определение класса чистоты обработанных поверхностей методом светового сечения на двойном микроскопе мис-11

Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для контроля в лабораторных условиях чистоты поверхности от 3-го до 9-го классов чистоты включительно.

Контроль чистоты поверхности производится по методу светового сечения, который заключается в следующем: пучок лучей направляется под углом 45⁰ через узкую щель в объективе осветительного тубуса на контролируемую поверхность. Так как эта поверхность имеет следы обработки, световая полоса будет искривляться по форме самой поверхности.

2.5.1. Описание мис-11

На основании установлена колонка, на которой перемещается кронштейн с держателем тубусов. В нижней части тубусов ввинчены объективы. В верхней части проецирующего микроскопа расположен патрон с электролампой. Лампа осветителя питается через трансформатор от сети переменного тока 127/220 в.

В верхней части микроскопа наблюдения установлен винтовой окулярный микрометр 6 для производства визуальных измерений.

Держатель тубусов вместе с микроскопами может быть грубо установлен по высоте путём перемещения вдоль колонки посредством гайки и закреплён в нужном положении винтом. Для фокусировки микроскопов на объект служит барабанчик. Для установки перемещения изучаемых объектов служит предметный столик. Столик с объектом перемещается в двух взаимно-перпендикулярных направлениях с помощью микрометренных винтов и поворачивается вокруг вертикальной оси.

Изображение щели, спроектированной на поверхность исследуемой детали, будет представлять профиль поверхности как бы в разрезе.

Величина деформации щели зависит от высоты неровностей поверхности.

Полученное изображение рассматривается в окуляр под углом 45⁰ к изделию. Таким образом, тубусы расположены под углом 90⁰ друг к другу.

1. Осветительная лампа;	2. линзы конденсатора;
3. светофильтр;	4. щель;
5. выравнивающая линза;	6. объектив осветительного тубуса;
7. исследуем. Объектив;	8. объектив визуальн. Тубуса;
9. выравнивающая линза;	10. плоскость перекрытия;
11. окуляр визуального тубуса;	12.

Рис. 4. Оптическая схема микроскопа МИС-11

2.6. Определение величины неровностей (высоты) профиля

На рис. 5 показан ход лучей и изображение щели в окуляре микроскопа,

где "" – точка отражения луча от плоскости выступов;

"" – точка отражения луча от плоскости впадин;

- высота неровности;

- величина смещения изображения щели на поверхности детали, и – перекрестие в окуляре микроскопа.

Из . (1)

Рассматривая величину "" в плоскости перекрытия окуляра визуального тубуса, мы видим её увеличенной до размера .

Соотношение величин и определяется увеличением оптической системы микроскопа и может быть выражено в виде формулы:

,

где - увеличение оптической системы микроскопа;

- величина смещения изображения щели в плоскости перекрестия окуляра микроскопа.

Подставляя значение "" в формулу (1), получим .

Рис. 5. Ход лучей и изображение в окуляре микроскопа

Обозначим , где масштаб цены деления барабана визуального тубуса.

Тогда . (2)

Величина смещения изображения щели , измеряется микроскопом на визуальном тубусе повёрнутым так, что ось его винта располагается под углом 45⁰ к изображению щели, при этом одна из линий перекрестия становится параллельно этому изображению.

Таким образом, смещение происходит под углом 45⁰ к щели (рис. 5)

Тогда

где – перемещение винта микрометра.

Подставляя в формулу (2)

. (3)

Определение величины производится для каждой смены объективов.