Change
of Phase Due to Reflection
In general, an electromagnetic wave undergoes a phase change of 180° upon reflection from a medium that has a higher index of refraction than the one in which the wave is traveling.
Change
of Phase Due to Reflection
Change
of Phase Due to Reflection
Interference in Thin Films
Interference in Thin Films
Newton’s Rings
опыт Поля 
Division of wave front on amplitude – the boundaries of the film reflect practically the same fraction of the incident light.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
«Чистое» |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
деление |
||
(4) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
волнового |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
фронта по |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
амплитуде |
||
2d n |
2 |
sin |
2 |
|
|
|
|
(5) |
|
2d n |
2 |
sin |
2 |
|
||||||||
|
|
|
2 |
|
|
|
(6) |
|||||||||||||||
|
|
|
|
|||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
kr |
2 |
r r |
|
Аргумент |
Порядок m |
|
|
|
|
|||||||||||||
|
интерфер |
интерференции |
|
|
|
|||||||||||||||||
|
|
|
|
|
v(1) |
|
енционно |
увеличивается |
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
го |
|
при уменьшении |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
косинуса |
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
угла падения |
|
|
|
|||||||
kr 2 n r n r |
|
|
|
|
||||||||||||||||||
|
|
0 |
|
|
|
|
c |
|
(2) |
излучения |
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
N |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
LN |
ni |
|
ri |
|
(3) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
i 1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Длина оптического пути луча, имеющего N участков траектории,
каждый с длиной ri в
среде с показателем преломления ni .
Интерференционные полосы равного наклона
Протяжённый источник излучения формирует лучи, падающие на плёнку под разными углами. Лучи, чей угол падения удовлетворяет условиям максимума* формирует максимумы интенсивности P, P’, … в фокальной плоскости линзы. Если бы не было линзы, интерференционная картина проявлялась бы на бесконечности. Принято считать, что в такой системе формируются интерференционные полосы равного наклона
локализованные в бесконечности (все лучи одинакового наклона
|
|
|
|
|
|
|
терференционной полосе). |
|
2 |
2d |
n2 |
sin2 |
|
||||
m |
2 |
|||||||
|
2 |
|
|
|
|
|
||
`
Интерференционные полосы равной толщины
Свет от удалённого точечного источника практически плоским фронтом падает на тонкий клин с углом между поверхностями. Отражённые от разных граней лучи сходятся (расходятся ) вблизи плёнки – локализованы вблизи плёнки**.
Интерференционная полоса порядка m соответствует одной толщине. Расстояние между максимумами (минимумами) х
2 n b cos ' |
|
' 2 n b' cos ' |
|
|
2 |
|
2 |
b b' x sin
'