
2009 Методы контроля и анализа
.pdf
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Таблица |
8.2 |
|||
|
|
Расчет толщины покрытия |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
А |
|
В |
AxBy* |
Iб/покр |
Iпокр |
|
ln |
Iб/покр |
|
|
Θ, |
|
t, |
|
|
|
Iпокр |
|
|
град |
|
мкм |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Атомный (моле- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
кулярный*) вес |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ci |
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
μmi (μпокрm), см2/г |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ρпокр, г/см3 |
– |
|
– |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
μпокр, см-1 |
– |
|
– |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
* AxBy ― стехиометрическая формула основной фазы материала покрытия (А и В ― химические элементы, входящие в состав покрытия).
Р А Б О Т А 9
Количественный фазовый анализ бинарных систем
Определение количества какой-либо одной или нескольких фаз в многофазной композиции основано на том, что интенсивность дифракционных линий данной фазы пропорциональна объемной доле ее в веществе. Для решения этой задачи необходимо сравнить интегральные интенсивности линий разных фаз друг с другом или с интенсивностью соответствующих линий эталона, снятых в сопоставимых условиях.
Цель работы: освоение методики количественного фазового анализа на примере двухкомпонентной системы.
Интегральная интенсивность определяется по площади, ог-
раниченной профилем дифракционной кривой и линией фона. При наличии дублета измеряют суммарную площадь всего дублета.
Существует несколько разновидностей рентгеновского количественного фазового анализа. Однако в любом из них происходит
61

сравнение интенсивности выбранных так называемых аналитических линий каждой из фаз, свободных от взаимного наложения.
Наиболее распространенным методом количественного фазового анализа является метод построения градуировочной зависи-
мости.
Интегральная интенсивность отражения HKL некоторой фазы (при съемке на дифрактометре с фокусировкой по Бреггу−Брентано) выражается следующим образом:
I α = k LP (Θ)α F 2 0,5μ−1 pα V −2 C
HKL HKL α α HKL α α ,
где k ― величина, постоянная для всех линий рентгенограммы (ее величина определяется интенсивностью и сечением первичного пучка лучей, длиной волны излучения, характеристикой элемента и
т. д.); |
LP(Θ)αHKL ― угловой |
фактор |
интенсивности |
(см. Приложе- |
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
F |
|
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
μ |
|
― коэффициент линей- |
|||||||||||||||||||
ние П.4); |
|
|
― структурный фактор; |
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
α |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
pHKLα |
|
|
|
α |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
ного |
поглощения |
образца; |
|
|
|
― множитель |
повторяемости; |
||||||||||||||||||||||||||||
Vα ― объем элементарной ячейки α-фазы; |
Сα ― объемная доля α- |
||||||||||||||||||||||||||||||||||
фазы. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
Для двухфазной системы Сβ= 1 – Сα . |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
I α |
|
|
|
LP(Θ)α |
|
|
|
|
|
F |
|
2 |
0,5μ−1 |
|
p |
α |
|
|
V |
−2 |
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
HKL |
= |
|
HKL |
|
|
|
|
|
|
|
α |
|
α |
|
|
HKL |
|
α |
|
|
Cα |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
. (9.1) |
|||||||
|
|
I β |
|
|
|
LP(Θ)β |
|
|
|
|
F |
|
|
2 |
0,5μ−1 |
|
pβ |
|
|
|
|
V −2 |
|
1−Cα |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
H |
K L |
|
|
H |
K L |
|
|
|
|
|
|
|
|
β |
|
β |
|
H |
K |
L |
1 |
β |
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||
|
1 |
1 |
1 |
|
|
1 |
1 |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
Таким образом, отношение интегральных интенсивностей выбранных аналитических линий α- и β-фаз линейно зависит от вели-
чины Cα / (1-Cα):
I |
α |
|
|
= Kαβ |
|
C |
α |
|
|
|
HKL |
|
|
|
. |
||||
|
|
|
|
|
|
||||
IHβ |
1 |
K |
L |
1−Cα |
|||||
|
1 |
|
1 |
|
|
|
|
|
62

Значение коэффициента Кαβ можно определить экспериментально, снимая рентгенограммы эталонных образцов с известным содержанием α- и β-компонентов. По полученным данным строится градуировочный график зависимости отношения объемных долей исследуемых фаз от отношения интегральных интенсивностей выбранных аналитических линий α- и β-фаз (рис. 9.1).
Коэффициент Кαβ можно рассчитать теоретически (если структура и состав каждой фазы известны). В этом случае необходимо по справочным данным определить величины всех факторов интенсивности выбранных аналитических линий.
Для веществ с кубической решеткой структурный фактор интенсивности определяется как:
F 2 = f 2 (в случае примитив-
ной решетки);
F 2 =4 f 2 (для ОЦК решетки);
F 2 =16 f 2 (для ГЦК решетки);
F 2 =32 f 2 (для ГЦК-решетки,
структурный тип алмаза),
где f ― атомный фактор интенсивности, может быть принят равным порядковому номеру z элемента в периодической таблице.
Iα/Iβ
Cα/Cβ
Рис. 9.1. Вид градуировочного графика для количественного анализа двухфазного образца
Коэффициент линейного поглощения вещества μ [см-1] может быть определен экспериментально или взят из справочных данных. Обычно в справочниках содержатся сведения о значениях массовых коэффициентов поглощения (см. Приложение П.3), которые связаны с плотностью вещества ρ зависимостью:
μm = μ |
[см2/г]. |
ρ |
|
63
Плотности некоторых веществ при комнатной температуре можно посмотреть в Приложении П.5. данного пособия.
Значения факторов повторяемости для веществ с кубической решеткой представлены в таблице 9.1.
Т а б л и ц а 9.1
Значения множителя повторяемости для кристаллов кубической сингонии
HKL |
H00 |
HHH |
HH0 |
HHL |
HK0 |
HKL |
|
|
|
|
|
|
|
pHKLα |
6 |
8 |
12 |
24 |
24 |
48 |
В анализируемой пробе по найденному отношению интенсивностей определяется объемная доля каждой из фаз.
Метод годен как для порошковых, так и для компактных образцов. Его можно также использовать для определения относительного содержания каких-либо двух фаз в многофазных композициях, если содержание остальных фаз остается неизменным.
Данным методом можно определять относительное количество всех фаз в n-фазной структуре. Если измерить интенсивности выбранных аналитических линий для всех фаз, то можно составить систему из n уравнений, решая которую найдем объемную долю каждой фазы:
I1 |
= K1,2 |
C1 ; |
I 2 |
= K 2,3 |
C 2 ; … |
I n-1 |
= K n-1,n |
Cn-1 ; |
|
I 2 |
I 3 |
I n |
|||||||
|
C2 |
|
C 3 |
|
Cn |
n
∑ Ci = 1 .
i =1
Существует несколько других методов количественного анализа, например:
− метод внутреннего стандарта (метод подмешивания) основан на сравнении интенсивности линий определяемой фазы с интенсивностью линий эталонного вещества (добавляемого в иссле-
64
дуемую смесь), количество которого точно известно. Обычно этот метод применяют для порошковых проб;
− метод внешнего стандарта используют в том случае, если анализируемый образец невозможно превратить в порошок. Определяют интенсивности линий исследуемого образца и эталона попеременно. По отношению интенсивностей линий фазы и эталона с помощью предварительно построенного градуировочного графика находят содержание анализируемой фазы в веществе;
− метод гомологических пар (метод Нечволодова) используют при фотографическом способе регистрации. Этот метод основан на подборе пары линий, принадлежащих разным фазам и имеющих одинаковую интенсивность. Процентное содержание фазы определяют с помощью предварительно составленных таблиц для гомологических пар в серии составов исследуемой системы.
Последовательность выполнение работы:
1 ― выбрать аналитические линии и рассчитать величины брегговских углов отражения каждого из двух компонентов исследуемого образца для заданного излучения;
2 ― записать дифракционные пики;
3 ― определить интегральные интенсивности полученных отражений (с помощью планиметра);
4 ― воспользовавшись справочными данными, рассчитать факторы интенсивности для соответствующих отражений анализируемых фаз и вычислить с помощью формулы (9.1) процентное содержание фаз в образце;
5 ― рассчитать величину погрешности.
Содержание отчета:
1― указать исследуемое вещество, его состояние, тип дифрактометра, вид излучения, режимы и параметры съемки;
2― представить справочные данные об аналитических линиях фаз (индексы HKL, интенсивности, значения межплоскостных рас-
стояний d), рассчитать углы Θ.
3 ― в отчет вложить рентгенограмму и указать результаты расчетов интегральных интенсивностей пиков;
65
4 ― представить значения факторов интенсивности для аналитических линий фаз;
5 ― рассчитать количество фаз в процентах.
Р А Б О Т А 10 Количественный фазовый анализ закаленных сталей
Цель работы:
Освоение рентгеновских методик для характеристики структурного состояния термически обработанной стали
1.Определение количества остаточного аустенита в стали
Для определения количества остаточного аустенита в стали можно использовать металлографический метод, метод определения магнитных характеристик или рентгеновский метод. Наименее трудоемок и наиболее чувствителен рентгенографический анализ, позволяющий при тщательно проведенном эксперименте определять до ± 0,3 % остаточного аустенита.
Определение количества остаточного аустенита в закаленной стали является частным случаем задачи по количественному фазовому анализу. В этом случае удобно использовать метод внутреннего стандарта.
Особенность определения количества остаточного аустенита состоит в том, что коэффициенты ослабления рентгеновских лучей μ для основных фазовых составляющих стали (аустенита и мартенсита, имеющих одинаковый химический состав) практически одинаковы. Таким образом, определение количества остаточного аустенита сводится к определению величин интегральных интенсивностей линий исследуемых фаз и сравнению их между собой.
В качестве аналитических линий выбираются самые интенсивные дифракционные линии аустенита (линия с индексами 111 для γ−фазы) и мартенсита (линия 110 для α−фазы).
66

Чтобы по относительной интегральной интенсивности I110/I111 этих линий определить количество остаточного аустенита, необходимо предварительно построить графическую зависимость интегральных интенсивностей выбранных линий обеих фаз от их содержания. При этом считается, что интегральная интенсивность I с некоторым приближением пропорциональна количеству фазы.
Для построения графика используют образцы−эталоны, пред-
ставляющие |
|
|
собой |
|
|
|
|
|
|
|||
сталь |
в |
|
α- |
|
и γ- |
I110 |
|
|
|
|
I111 |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
состояниях. |
Наиболь- |
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|||||||
шая |
|
точность |
может |
M |
|
|
|
|
N |
|||
быть получена, |
если ис- |
|
|
|
|
|
||||||
пользуются |
материалы, |
|
|
|
|
|
|
|||||
близкие по составу и со- |
|
|
|
|
|
|
||||||
стоянию к исследуемым. |
|
|
|
|
|
|
||||||
С эталонных образцов в |
|
|
|
|
|
|
||||||
хромовом или железном |
|
|
|
|
|
|
||||||
излучении |
|
записывают |
|
|
|
|
|
A, % |
||||
интерференционные |
|
|
|
|
|
|||||||
013 7 10 |
25 |
50 |
100 |
|||||||||
максимумы линий 110 и |
|
|
|
а) |
|
|
||||||
111 |
α−фазы |
и |
γ−фазы |
|
|
|
|
|
||||
I110 |
|
|
|
|
|
|||||||
соответственно. |
Инте- |
I111 |
|
|
|
|
|
|||||
гральная |
интенсивность |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|||||||
линий |
пропорциональна |
|
|
|
|
|
|
|||||
площади, |
ограниченной |
|
|
|
|
|
|
|||||
профилем |
дифракцион- |
|
|
|
|
|
|
|||||
ной |
кривой |
и |
линией |
|
|
|
|
|
|
|||
фона. |
Замеры |
каждой |
|
|
|
|
|
|
||||
площади |
производятся |
|
|
|
|
|
|
|||||
планиметром 3−5 раз с |
|
|
|
|
|
|
||||||
подсчетом |
|
среднего |
|
|
|
|
|
A, % |
||||
|
0 13 7 10 |
25 |
50 |
|
||||||||
арифметического значе- |
|
|
||||||||||
|
|
|
б) |
|
|
|||||||
ния. |
|
По |
полученным |
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
Рис. 11.1 |
|
|
||||||
данным строится |
гра- |
|
|
|
|
|
||||||
Рис. 10.1. Построение градуировочного |
||||||||||||
фик, где по оси абсцисс |
|
графика для определения количества |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
остаточного аустенита |
|
|
67
откладывается процентное содержание аустенита, а на двух осях ординат в произвольном масштабе величины площадей интерференционных максимумов (точка M ― соответствует интегральной интенсивности дифракционного отражения 110 эталона α-фазы, точка N ― соответствует интенсивности линии 111 эталона γ-фазы) (рис. 10.1.а). Полученные точки соединяют с нулевыми точками, так как интегральная интенсивность с некоторым приближением пропорциональна количеству фазы. На основании этого графика строят эталонную зависимость отношения интегральных интенсивностей дифракционных максимумов от содержания аустенита (рис. 10.1.б). Пользуясь графиком, можно определить количество остаточного аустенита в стали.
В некоторых случаях, когда нет необходимости в очень высокой точности определения количества остаточного аустенита, можно рекомендовать другой способ. Он основан на использовании эмпирической формулы В. А. Ланда:
|
A = |
|
3X |
|
100%; |
(10.1) |
|
|
X + |
2 |
|||||
|
|
|
|
|
|||
где |
X = |
|
I111 |
. |
(10.2) |
||
|
I111 + I110 |
|
|
2. Определение содержания углерода в закаленных сталях
При исследовании закаленных сталей часто представляют интерес данные о количестве углерода, растворенного в мартенсите. Пусть, например, после закалки углеродистой стали, содержащей около 1,2 % углерода, оказалось, что в мартенсите растворено около 0,6 % С. Очевидно, что оставшаяся часть углерода оказалась нерастворенной, т. е. связанной в виде карбида Fe3C. На этом основании можно сделать следующие предположения: либо температура нагрева под закалку, либо выдержка при этой температуре, либо и температура, и выдержка недостаточны для полного растворения карбидов. Изучая затем изменения состава мартенсита в зависимости от температуры, а также от выдержки, можно установить законо-
68
мерность растворения карбидов и выбрать наиболее правильный режим закалки.
Определение содержания углерода в мартенсите основано на зависимости параметра решетки мартенсита от количества растворенного в нем углерода. Мартенсит ― это твердый раствор углерода в α-железе с такой же концентрацией, как и у исходного аустенита. Так как максимальная растворимость углерода в α-железе равна всего лишь 0,02 %, мартенсит является пересыщенным твердым раствором. Количество углерода значительно превышает растворимость его при комнатной температуре. В решетке мартенсита атомы железа находятся в узлах решетки, а атомы углерода располагаются в центре грани между ними, т. е. мартенсит ― твердый раствор внедрения. Превращение аустенита в мартенсит является бездиффузионным процессом. Перестройка гранецентрированной решетки аустенита в центрированную тетрагональную решетку мартенсита не требует обмена атомов местами, а осуществляется лишь смещением одних атомов относительно других на расстояния, не превышающие межатомные. Поэтому количество содержащегося в мартенсите углерода равно количеству углерода, содержащегося в аустените перед закалкой.
Исследования Г. В. Курдюмова показали, что параметры решетки мартенсита находятся в следующей зависимости от количе-
ства содержащегося в нем углерода: |
|
a=a0-0,015p; |
|
c=a0+0,118p; |
(10.4) |
c/a=1+0,0467p; |
|
где a0 =2,861 Å ― параметр решетки чистого α-железа; р ― весовой процент углерода в мартенсите. Соотношение осей с/а (степень тетрагональности) прямо пропорциональна содержанию углерода и составляет от 1 до 1,08. Необходимо иметь в виду, что соотношения (10.4) справедливы только для углеродистых сталей. В сильно легированных сталях возможно изменение параметров решеток твердых растворов как за счет растворения углерода, так и за счет растворения легирующих элементов.
69

|
|
|
|
Отличие кристалличе- |
|||
|
|
|
|
ской решетки мартенсита от |
|||
|
|
|
|
||||
110 |
101 |
|
кубической |
решетки |
α- |
||
|
железа |
обуславливает |
раз- |
||||
|
110 |
|
|||||
|
|
личие |
вида |
рентгенограмм |
|||
|
002 |
|
|||||
200 |
|
указанных фаз. |
|
||||
|
200 |
|
Дифракционные линии, |
||||
|
|
|
|
||||
|
112 |
|
присутствующие на рентге- |
||||
211 |
211 |
|
нограмме |
α-железа |
|||
220 |
202 |
|
(рис. 10.2.а) расщепляются |
||||
|
220 |
|
на несколько линий при пе- |
||||
310 |
103 |
|
реходе |
к |
рентгенограмме |
||
|
мартенсита (рис. 10.2.б). Так |
||||||
|
301 |
|
310линия (110) α-железа в случае мартенсита расщепляет-
222 |
|
222 |
|
ся на две линии с индексами |
|
|
|
(101 или 011) и (110). Линия |
|||
|
|
|
|
||
|
|
|
|
(211) α-железа ― на |
линии |
|
а) |
|
б) |
||
|
|
(211, 121) и (112), и т. д. По- |
|||
|
|
|
|
||
|
Рис. 10.2. Вид рентгенограмм |
скольку множитель |
повто- |
||
|
α-Fe (а) и мартенсита (б) |
ряемости одной из этих со- |
|||
|
|
|
|
вокупностей в два |
раза |
больше множителя повторяемости другой, то и интенсивности соответствующих отражений отличаются в два раза:
I101,011 = I211,121 = 2.
Число линий, образующихсяI110 I112при расщеплении, и соотношение их интенсивности не одинаковы для различных дифракционных отражений. Например, линия (310) расщепляется на три линии, линия (200) ― на две, линия (222) ― совсем не расщепляется. Расстояние между линиями дублета зависит от отношения с/а. Чем больше степень тетрагональности, тем дальше отстоят друг от друга линии дублета. Расчет удобнее проводить по тем линиям, которые образуют мартенситный дублет ― (110), (200), (211). Замерив по рентге-
70