Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

2009 Методы контроля и анализа

.pdf
Скачиваний:
91
Добавлен:
21.03.2016
Размер:
1.56 Mб
Скачать

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица

8.2

 

 

Расчет толщины покрытия

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

А

 

В

AxBy*

Iб/покр

Iпокр

 

ln

Iб/покр

 

 

Θ,

 

t,

 

 

 

Iпокр

 

 

град

 

мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Атомный (моле-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

кулярный*) вес

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ci

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

μmi (μпокрm), см2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ρпокр, г/см3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

μпокр, см-1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

* AxBy стехиометрическая формула основной фазы материала покрытия (А и В ― химические элементы, входящие в состав покрытия).

Р А Б О Т А 9

Количественный фазовый анализ бинарных систем

Определение количества какой-либо одной или нескольких фаз в многофазной композиции основано на том, что интенсивность дифракционных линий данной фазы пропорциональна объемной доле ее в веществе. Для решения этой задачи необходимо сравнить интегральные интенсивности линий разных фаз друг с другом или с интенсивностью соответствующих линий эталона, снятых в сопоставимых условиях.

Цель работы: освоение методики количественного фазового анализа на примере двухкомпонентной системы.

Интегральная интенсивность определяется по площади, ог-

раниченной профилем дифракционной кривой и линией фона. При наличии дублета измеряют суммарную площадь всего дублета.

Существует несколько разновидностей рентгеновского количественного фазового анализа. Однако в любом из них происходит

61

сравнение интенсивности выбранных так называемых аналитических линий каждой из фаз, свободных от взаимного наложения.

Наиболее распространенным методом количественного фазового анализа является метод построения градуировочной зависи-

мости.

Интегральная интенсивность отражения HKL некоторой фазы (при съемке на дифрактометре с фокусировкой по Бреггу−Брентано) выражается следующим образом:

I α = k LP (Θ)α F 2 0,5μ1 pα V 2 C

HKL HKL α α HKL α α ,

где k ― величина, постоянная для всех линий рентгенограммы (ее величина определяется интенсивностью и сечением первичного пучка лучей, длиной волны излучения, характеристикой элемента и

т. д.);

LP(Θ)αHKL ― угловой

фактор

интенсивности

(см. Приложе-

 

 

F

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

μ

 

― коэффициент линей-

ние П.4);

 

 

― структурный фактор;

 

 

 

 

 

 

 

α

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

pHKLα

 

 

 

α

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ного

поглощения

образца;

 

 

 

― множитель

повторяемости;

Vα ― объем элементарной ячейки α-фазы;

Сα ― объемная доля α-

фазы.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для двухфазной системы Сβ= 1 – Сα .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I α

 

 

 

LP(Θ)α

 

 

 

 

 

F

 

2

0,5μ1

 

p

α

 

 

V

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

HKL

=

 

HKL

 

 

 

 

 

 

 

α

 

α

 

 

HKL

 

α

 

 

Cα

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

. (9.1)

 

 

I β

 

 

 

LP(Θ)β

 

 

 

 

F

 

 

2

0,5μ1

 

pβ

 

 

 

 

V 2

 

1Cα

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

H

K L

 

 

H

K L

 

 

 

 

 

 

 

 

β

 

β

 

H

K

L

1

β

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1

1

 

 

1

1

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1

 

 

 

 

 

 

 

Таким образом, отношение интегральных интенсивностей выбранных аналитических линий α- и β-фаз линейно зависит от вели-

чины Cα / (1-Cα):

I

α

 

 

= Kαβ

 

C

α

 

 

HKL

 

 

 

.

 

 

 

 

 

 

IHβ

1

K

L

1Cα

 

1

 

1

 

 

 

 

 

62

Значение коэффициента Кαβ можно определить экспериментально, снимая рентгенограммы эталонных образцов с известным содержанием α- и β-компонентов. По полученным данным строится градуировочный график зависимости отношения объемных долей исследуемых фаз от отношения интегральных интенсивностей выбранных аналитических линий α- и β-фаз (рис. 9.1).

Коэффициент Кαβ можно рассчитать теоретически (если структура и состав каждой фазы известны). В этом случае необходимо по справочным данным определить величины всех факторов интенсивности выбранных аналитических линий.

Для веществ с кубической решеткой структурный фактор интенсивности определяется как:

F 2 = f 2 (в случае примитив-

ной решетки);

F 2 =4 f 2 (для ОЦК решетки);

F 2 =16 f 2 (для ГЦК решетки);

F 2 =32 f 2 (для ГЦК-решетки,

структурный тип алмаза),

где f ― атомный фактор интенсивности, может быть принят равным порядковому номеру z элемента в периодической таблице.

Iα/Iβ

Cα/Cβ

Рис. 9.1. Вид градуировочного графика для количественного анализа двухфазного образца

Коэффициент линейного поглощения вещества μ [см-1] может быть определен экспериментально или взят из справочных данных. Обычно в справочниках содержатся сведения о значениях массовых коэффициентов поглощения (см. Приложение П.3), которые связаны с плотностью вещества ρ зависимостью:

μm = μ

[см2/г].

ρ

 

63

Плотности некоторых веществ при комнатной температуре можно посмотреть в Приложении П.5. данного пособия.

Значения факторов повторяемости для веществ с кубической решеткой представлены в таблице 9.1.

Т а б л и ц а 9.1

Значения множителя повторяемости для кристаллов кубической сингонии

HKL

H00

HHH

HH0

HHL

HK0

HKL

 

 

 

 

 

 

 

pHKLα

6

8

12

24

24

48

В анализируемой пробе по найденному отношению интенсивностей определяется объемная доля каждой из фаз.

Метод годен как для порошковых, так и для компактных образцов. Его можно также использовать для определения относительного содержания каких-либо двух фаз в многофазных композициях, если содержание остальных фаз остается неизменным.

Данным методом можно определять относительное количество всех фаз в n-фазной структуре. Если измерить интенсивности выбранных аналитических линий для всех фаз, то можно составить систему из n уравнений, решая которую найдем объемную долю каждой фазы:

I1

= K1,2

C1 ;

I 2

= K 2,3

C 2 ;

I n-1

= K n-1,n

Cn-1 ;

I 2

I 3

I n

 

C2

 

C 3

 

Cn

n

Ci = 1 .

i =1

Существует несколько других методов количественного анализа, например:

− метод внутреннего стандарта (метод подмешивания) основан на сравнении интенсивности линий определяемой фазы с интенсивностью линий эталонного вещества (добавляемого в иссле-

64

дуемую смесь), количество которого точно известно. Обычно этот метод применяют для порошковых проб;

− метод внешнего стандарта используют в том случае, если анализируемый образец невозможно превратить в порошок. Определяют интенсивности линий исследуемого образца и эталона попеременно. По отношению интенсивностей линий фазы и эталона с помощью предварительно построенного градуировочного графика находят содержание анализируемой фазы в веществе;

− метод гомологических пар (метод Нечволодова) используют при фотографическом способе регистрации. Этот метод основан на подборе пары линий, принадлежащих разным фазам и имеющих одинаковую интенсивность. Процентное содержание фазы определяют с помощью предварительно составленных таблиц для гомологических пар в серии составов исследуемой системы.

Последовательность выполнение работы:

1 ― выбрать аналитические линии и рассчитать величины брегговских углов отражения каждого из двух компонентов исследуемого образца для заданного излучения;

2 ― записать дифракционные пики;

3 ― определить интегральные интенсивности полученных отражений (с помощью планиметра);

4 ― воспользовавшись справочными данными, рассчитать факторы интенсивности для соответствующих отражений анализируемых фаз и вычислить с помощью формулы (9.1) процентное содержание фаз в образце;

5 ― рассчитать величину погрешности.

Содержание отчета:

1― указать исследуемое вещество, его состояние, тип дифрактометра, вид излучения, режимы и параметры съемки;

2― представить справочные данные об аналитических линиях фаз (индексы HKL, интенсивности, значения межплоскостных рас-

стояний d), рассчитать углы Θ.

3 ― в отчет вложить рентгенограмму и указать результаты расчетов интегральных интенсивностей пиков;

65

4 ― представить значения факторов интенсивности для аналитических линий фаз;

5 ― рассчитать количество фаз в процентах.

Р А Б О Т А 10 Количественный фазовый анализ закаленных сталей

Цель работы:

Освоение рентгеновских методик для характеристики структурного состояния термически обработанной стали

1.Определение количества остаточного аустенита в стали

Для определения количества остаточного аустенита в стали можно использовать металлографический метод, метод определения магнитных характеристик или рентгеновский метод. Наименее трудоемок и наиболее чувствителен рентгенографический анализ, позволяющий при тщательно проведенном эксперименте определять до ± 0,3 % остаточного аустенита.

Определение количества остаточного аустенита в закаленной стали является частным случаем задачи по количественному фазовому анализу. В этом случае удобно использовать метод внутреннего стандарта.

Особенность определения количества остаточного аустенита состоит в том, что коэффициенты ослабления рентгеновских лучей μ для основных фазовых составляющих стали (аустенита и мартенсита, имеющих одинаковый химический состав) практически одинаковы. Таким образом, определение количества остаточного аустенита сводится к определению величин интегральных интенсивностей линий исследуемых фаз и сравнению их между собой.

В качестве аналитических линий выбираются самые интенсивные дифракционные линии аустенита (линия с индексами 111 для γ−фазы) и мартенсита (линия 110 для α−фазы).

66

Чтобы по относительной интегральной интенсивности I110/I111 этих линий определить количество остаточного аустенита, необходимо предварительно построить графическую зависимость интегральных интенсивностей выбранных линий обеих фаз от их содержания. При этом считается, что интегральная интенсивность I с некоторым приближением пропорциональна количеству фазы.

Для построения графика используют образцы−эталоны, пред-

ставляющие

 

 

собой

 

 

 

 

 

 

сталь

в

 

α-

 

и γ-

I110

 

 

 

 

I111

 

 

 

 

 

 

состояниях.

Наиболь-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

шая

 

точность

может

M

 

 

 

 

N

быть получена,

если ис-

 

 

 

 

 

пользуются

материалы,

 

 

 

 

 

 

близкие по составу и со-

 

 

 

 

 

 

стоянию к исследуемым.

 

 

 

 

 

 

С эталонных образцов в

 

 

 

 

 

 

хромовом или железном

 

 

 

 

 

 

излучении

 

записывают

 

 

 

 

 

A, %

интерференционные

 

 

 

 

 

013 7 10

25

50

100

максимумы линий 110 и

 

 

 

а)

 

 

111

α−фазы

и

γ−фазы

 

 

 

 

 

I110

 

 

 

 

 

соответственно.

Инте-

I111

 

 

 

 

 

гральная

интенсивность

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

линий

пропорциональна

 

 

 

 

 

 

площади,

ограниченной

 

 

 

 

 

 

профилем

дифракцион-

 

 

 

 

 

 

ной

кривой

и

линией

 

 

 

 

 

 

фона.

Замеры

каждой

 

 

 

 

 

 

площади

производятся

 

 

 

 

 

 

планиметром 3−5 раз с

 

 

 

 

 

 

подсчетом

 

среднего

 

 

 

 

 

A, %

 

0 13 7 10

25

50

 

арифметического значе-

 

 

 

 

 

б)

 

 

ния.

 

По

полученным

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 11.1

 

 

данным строится

гра-

 

 

 

 

 

Рис. 10.1. Построение градуировочного

фик, где по оси абсцисс

 

графика для определения количества

 

 

 

 

 

 

 

 

 

остаточного аустенита

 

 

67

I110 /I111

откладывается процентное содержание аустенита, а на двух осях ординат в произвольном масштабе величины площадей интерференционных максимумов (точка M ― соответствует интегральной интенсивности дифракционного отражения 110 эталона α-фазы, точка N ― соответствует интенсивности линии 111 эталона γ-фазы) (рис. 10.1.а). Полученные точки соединяют с нулевыми точками, так как интегральная интенсивность с некоторым приближением пропорциональна количеству фазы. На основании этого графика строят эталонную зависимость отношения интегральных интенсивностей дифракционных максимумов от содержания аустенита (рис. 10.1.б). Пользуясь графиком, можно определить количество остаточного аустенита в стали.

В некоторых случаях, когда нет необходимости в очень высокой точности определения количества остаточного аустенита, можно рекомендовать другой способ. Он основан на использовании эмпирической формулы В. А. Ланда:

 

A =

 

3X

 

100%;

(10.1)

 

X +

2

 

 

 

 

 

где

X =

 

I111

.

(10.2)

 

I111 + I110

 

 

2. Определение содержания углерода в закаленных сталях

При исследовании закаленных сталей часто представляют интерес данные о количестве углерода, растворенного в мартенсите. Пусть, например, после закалки углеродистой стали, содержащей около 1,2 % углерода, оказалось, что в мартенсите растворено около 0,6 % С. Очевидно, что оставшаяся часть углерода оказалась нерастворенной, т. е. связанной в виде карбида Fe3C. На этом основании можно сделать следующие предположения: либо температура нагрева под закалку, либо выдержка при этой температуре, либо и температура, и выдержка недостаточны для полного растворения карбидов. Изучая затем изменения состава мартенсита в зависимости от температуры, а также от выдержки, можно установить законо-

68

мерность растворения карбидов и выбрать наиболее правильный режим закалки.

Определение содержания углерода в мартенсите основано на зависимости параметра решетки мартенсита от количества растворенного в нем углерода. Мартенсит ― это твердый раствор углерода в α-железе с такой же концентрацией, как и у исходного аустенита. Так как максимальная растворимость углерода в α-железе равна всего лишь 0,02 %, мартенсит является пересыщенным твердым раствором. Количество углерода значительно превышает растворимость его при комнатной температуре. В решетке мартенсита атомы железа находятся в узлах решетки, а атомы углерода располагаются в центре грани между ними, т. е. мартенсит ― твердый раствор внедрения. Превращение аустенита в мартенсит является бездиффузионным процессом. Перестройка гранецентрированной решетки аустенита в центрированную тетрагональную решетку мартенсита не требует обмена атомов местами, а осуществляется лишь смещением одних атомов относительно других на расстояния, не превышающие межатомные. Поэтому количество содержащегося в мартенсите углерода равно количеству углерода, содержащегося в аустените перед закалкой.

Исследования Г. В. Курдюмова показали, что параметры решетки мартенсита находятся в следующей зависимости от количе-

ства содержащегося в нем углерода:

 

a=a0-0,015p;

 

c=a0+0,118p;

(10.4)

c/a=1+0,0467p;

 

где a0 =2,861 Å ― параметр решетки чистого α-железа; р ― весовой процент углерода в мартенсите. Соотношение осей с/а (степень тетрагональности) прямо пропорциональна содержанию углерода и составляет от 1 до 1,08. Необходимо иметь в виду, что соотношения (10.4) справедливы только для углеродистых сталей. В сильно легированных сталях возможно изменение параметров решеток твердых растворов как за счет растворения углерода, так и за счет растворения легирующих элементов.

69

 

 

 

 

Отличие кристалличе-

 

 

 

 

ской решетки мартенсита от

 

 

 

 

110

101

 

кубической

решетки

α-

 

железа

обуславливает

раз-

 

110

 

 

 

личие

вида

рентгенограмм

 

002

 

200

 

указанных фаз.

 

 

200

 

Дифракционные линии,

 

 

 

 

 

112

 

присутствующие на рентге-

211

211

 

нограмме

α-железа

220

202

 

(рис. 10.2.а) расщепляются

 

220

 

на несколько линий при пе-

310

103

 

реходе

к

рентгенограмме

 

мартенсита (рис. 10.2.б). Так

 

301

 

310линия (110) α-железа в случае мартенсита расщепляет-

222

 

222

 

ся на две линии с индексами

 

 

(101 или 011) и (110). Линия

 

 

 

 

 

 

 

 

(211) α-железа ― на

линии

 

а)

 

б)

 

 

(211, 121) и (112), и т. д. По-

 

 

 

 

 

Рис. 10.2. Вид рентгенограмм

скольку множитель

повто-

 

α-Fe (а) и мартенсита (б)

ряемости одной из этих со-

 

 

 

 

вокупностей в два

раза

больше множителя повторяемости другой, то и интенсивности соответствующих отражений отличаются в два раза:

I101,011 = I211,121 = 2.

Число линий, образующихсяI110 I112при расщеплении, и соотношение их интенсивности не одинаковы для различных дифракционных отражений. Например, линия (310) расщепляется на три линии, линия (200) ― на две, линия (222) ― совсем не расщепляется. Расстояние между линиями дублета зависит от отношения с/а. Чем больше степень тетрагональности, тем дальше отстоят друг от друга линии дублета. Расчет удобнее проводить по тем линиям, которые образуют мартенситный дублет ― (110), (200), (211). Замерив по рентге-

70