ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

САНКТ – ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ МЕХАНИКИ И ОПТИКИ

Факультет – Оптико-информационных систем и технологий

Кафедра – Компьютеризации и проектирования оптических приборов

Дисциплина – Метрология, стандартизация и сертификация

МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ ПО ВЫПОЛНЕНИЮ КОМПЛЕКСА ЛАБОРАТОРНО – ПРАКТИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ

МЕТРОЛОГИЧЕСКАЯ АТТЕСТАЦИЯ И ПОВЕРКА

ПОГРЕШНОСТИ ПОВЕРКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ

ВЛИЯНИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПОВЕРКИ НА ОЦЕНКУ ГОДНОСТИ

ПОСТРОЕНИЕ ОПЕРАТИВНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОВЕРКИ

КРИТЕРИИ КАЧЕСТВА ПОВЕРКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ

(на примере двойного микроскопа МИС-11)

Авторы: доцент к.т.н. Назаров В.Н

магистр техники и технологии

Баринова О.А.

Санкт-Петербург

2010

СОДЕРЖАНИЕ

1. Цель исследований----------------------------------------------------------------------- 3

2. Задачи исследований--------------------------------------------------------------------- 3

3. Устройство микроскопа МИС-11------------------------------------------------------ 4

4. Описание оптической схемы двойного микроскопа МИС-11------------------- 4

5. Контроль дефектов поверхностей методом светового сечения----------------- 5

6. Определение цены деления окулярного микрометра------------------------------ 6

7. Порядок работы---------------------------------------------------------------------------- 7

8. В отчете представить…------------------------------------------------------------------ 8

9. Вопросы для подготовки к защите исследований---------------------------------- 9

10. Список литературы---------------------------------------------------------------------- 10

1. Цель исследований

1.1. Получение знаний и понимание:

- основных положений законодательной метрологии ;

- метрологической аттестации и поверки средств измерений (СИ) ;

- влияния погрешности поверки на оценку годности СИ ;

- критериев качества поверки СИ.

1.2. Приобретение интеллектуальных навыков, связанных с умением обрабатывать и анализировать результаты измерений при поверке СИ.

1.3. Приобретение практических навыков:

- умение применять методики точечной и интервальной оценки параметров законов распределений погрешностей измерений для решения задач поверки СИ, представлять результаты поверки в соответствии со стандартами ;

- построение оперативной характеристики поверки СИ и установление критерия качества поверки (на примере двойного микроскопа МИС-11).

1.4. Приобретение переносимых навыков, связанных с умением проводить математическое моделирование и обработку результатов исследований при решении технических задач оптотехники в среде MathCAD.

2. Задачи исследований

1. Ознакомиться с устройством микроскопа МИС-11, его оптической схемой и краткой инструкцией по эксплуатации.

2. Познакомиться с методом светового сечения для контроля дефектов поверхностей.

3. Изучить порядок работы и получить разрешение преподавателя на ее проведение.

4. После исследований оформить отчет в соответствии с Приложением 1, используя изложенные в нем теоретические сведения.

5. Подготовиться к защите лабораторных исследований на следующем занятии, ответив предварительно на предложенные в конце настоящего описания вопросы.

3. Устройство микроскопа мис-11

Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для измерения параметров шероховатости в соответствии с ГОСТ 9847-79 методом светового сечения. Устройство микроскопа показано на рис. 1. По колонке, закрепленной в основании 8 микроскопа, перемещается кронштейн 6 с держателем 9 тубусов проецирующего 1 и наблюдательного 2 микроскопов. Их оси расположены под углом , а биссектриса угла перпендикулярна к контролируемой поверхности. Перемещение кронштейна осуществляется при освобожденном винте кронштейна с помощью гайки 10. В верхней части микроскопа 1 установлен осветитель, а у микроскопа 2 - окулярный винтовой микрометр 7. Для фокусировки микроскопов на контролируемое изделие служит маховик 11 грубой подачи и маховик 12 точной (микрометрической) подачи. С помощью двух микрометрических головок 13 столик 4 с изделием может передвигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях, а также поворачиваться вокруг вертикальной оси и фиксироваться винтом 14.

Рис.1. Двойной микроскоп МИС-11

4. Описание оптической схемы двойного микроскопа мис-11.

Оптическая схема двойного микроскопа Линника указана на рис. 2. Источник 1 с помощью конденсора 3 освещает щель 4 (0,1 х 1 мм). Линзы 6,7 и микрообъектив 9 проектируют щель на изделие. Изображение щели наблюдается в микроскоп, состоящий из микрообъектива 9, линзы 7 и окуляра 10 с измерительным устройством (окулярный винтовой микрометр).

Рис. 2. Оптическая схема двойного микроскопа.

1 – источник света; 2 – защитное стекло; 3 – конденсор; 4 – щель; 5 – фильтр; 6,7 – линзы; 8 – объект контроля; 9 – микрообъективы; 10 – окуляр; 11 – измерительный нож (в приборах теневого свечения)