Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Вейко В.П. - Лазерная микрообработка 2007

.pdf
Скачиваний:
135
Добавлен:
21.03.2016
Размер:
7.32 Mб
Скачать

– 31 –

ТРЕБУЕМЫЕ ПАРАМЕТРЫ ЛАЗЕРОВ ДЛЯ МИКРООБРАБОТКИ (5)

5. Пространственные характеристики модовой структуры (TEMmn) лазерного пучка

– 32 –

ТРЕБУЕМЫЕ ПАРАМЕТРЫ ЛАЗЕРОВ ДЛЯ МИКРООБРАБОТКИ (6)

6. Расходимость пучка

α = A

λ

 

(3.9)

 

д b

 

 

д

 

где α — полный угол расходимости пучка, λ — длина волны, bд

— характерный размер выход-

ного окна лазера, ответственного за дифракцию, Aд — коэффициент, отвечающий за распреде-

ление интенсивности в поперечном сечении пучка.

Величины bд и Aд, и α для разных лазерных пучков приведены в таблице 2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 2

Тип лазерного пучка

bд

Aд

Полный

Комментарии

 

 

 

угол

 

 

Одномодовый (Гауссово рас-

2w0

3

1.26

 

 

λ

 

D ≈ 2w0 , w0 — радиус перетяжки Га-

пределение)

 

 

 

 

D

 

уссова пучка

Многомодовый

D

1.26

1.26

λ

N

Nb — число отдельных пучков в по-

 

N

 

 

 

 

перечном сечении

 

 

D

Дифракционно ограниченный

D

2.44

2.44

λ

 

 

 

 

 

D

 

 

– 33 –

ТИПИЧНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ЛАЗЕРОВ ДЛЯ МИКРООБРАБОТКИ (1)

 

 

Основные импульсные твердотельные лазеры

 

Таблица 3

 

Длина

Энергия

 

 

 

 

 

Частота

 

 

 

Эффективность

 

Тип лазера

волны

Продолжительность

повторения

Расходимость

Примечания

λ,

импульса.

импульса τ, с

 

импульсов

луча α, мрад

η, %

 

 

мкм

Дж

 

 

 

 

 

f , Гц

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Nd–YAG, свободная

1.060

1

 

10–3

 

 

 

102

 

 

1–10

1–3

 

 

генерация

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Nd–YAG, акусто–

 

10–3

 

10–7

 

 

 

104

 

 

1

 

 

 

оптическая моду-

1.060

 

 

 

 

 

 

≤1

 

 

ляция добротности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Nd–YAG, электро-

1.060

1(10–3

10

–3

(10

–8

)

10

2

(10

5

)

1

≤1

 

 

оптическая модуля-

10–4)

 

 

 

 

 

 

ция добротности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Nd–YAG, диодная

 

10–2

 

10–8

 

 

 

104

 

 

1–10

10

 

 

накачка

1.060

10–3

 

10–8

 

 

 

104

 

 

1–10

больше 20

 

 

Nd–Волоконный

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Будущее

Ti–сапфир

0.6–

10–8

 

10–13

 

 

 

108

 

 

0.5

<1

 

применение

 

 

 

 

 

 

 

(перспективен

 

1.1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

для повыше-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ния качества)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Будущее

Полупроводниковые

0.75–

Средняя мощность до 100 Вт и более

 

 

250х150

>10

 

применение

 

 

 

(эффективен

линейки

0.98

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

для снижения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

стоимости

– 34 –

ТИПИЧНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ЛАЗЕРОВ ДЛЯ МИКРООБРАБОТКИ (2)

Основные импульсные газовые лазеры

Таблица 4

Cu–пары

0.510–

10–3

10–8

104

1

1

 

 

0.570

 

 

 

 

 

 

 

 

Эксимеры

 

 

 

 

XeCl

0.308

0.1–

10–

 

 

 

Размер луча 10x30 mm

KrF

0.249

10–500

1x3

1

Средняя мощность

100

50

ArF

0.193

 

 

 

до150 Вт

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

CO2–RF с радиочастотной

10.6

5 10

–4

100–

4

≤10

 

накачкой

2

10

2500

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

CO2–TEA

10.6

10–1

10–5

102

2.5

≤10

Некоммерческий

20

10–6

200

10

≤10

– 35 –

ТИПИЧНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ЛАЗЕРОВ ДЛЯ МИКРООБРАБОТКИ (3)

 

Основные лазеры непрерывного режима

Таблица 5

 

Длина

Мощность

 

Расходимость

Эффективность

 

Тип лазера

волны

 

Примечания

P , Вт

 

луча α, мрад

η, %

 

λ, мкм

 

 

Nd–YAG, ламповая накачка

1.06

10–2000

 

1–10

3

Возможна бóльшая мощ-

 

ность

 

 

 

 

 

 

Nd–YAG, диодная накачка

1.06

20

 

1–10

10

До 10 кВт в исследовании

Nd–YAG волоконный —

1.06

50

 

1

больше 20

До 10 кВт (2004 г.)

диодная накачка

 

 

 

 

 

 

 

CO2, с медленной осевой

10.6

100–1000

 

1

10

 

прокачкой

 

 

 

 

 

 

 

 

CO2, мощный

10.6

200

 

 

 

 

С медленной осевой про-

 

 

 

 

 

 

качкой, диффузионно–

 

 

 

До 3 кВт/м

 

 

охлаждаемый, многопучко-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вый

 

 

 

 

 

 

С быстрой осевой прокачкой

 

 

 

 

 

Обычно не для точного мик-

и конвективным охлаждени-

 

 

 

До 5 кВт/м

 

 

 

 

 

роформообразования

ем

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С поперечной прокачкой и

 

 

 

До 100 кВт/м

 

 

конвективным охлаждением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Газодинамический с конвек-

 

 

Более 100 кВт/м

 

 

тивным охлаждением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ar–ион

0.50

20

 

0.5–1

<1

 

– 36 –

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ТРЕБОВАНИЯ

Высокая однородность и стабильность параметров излучения

Эффективность (кпд)

Высокие эксплуатационные характеристики

Достаточный ресурс и надежность Минимальный вес и размер Простая конструкция

Экономическая эффективность

37 –

4.ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ ЛАЗЕРНОЙ МИКРООБРАБОТКИ

Любая оптическая система для ЛМ должна обеспечить три основные группы требований:

Энергетические :

плотность мощности излучения, достаточную для выполнения заданного типа поверхностной обработки,

максимальное использование энергии лазера, с учетом потерь на диафрагмах (виньетирование) и на оптических компонентах (Френелевское отражение и остаточное поглощение)

К точностным параметрам относятся:

необходимость формирования зоны обработки заданной и строго очерченной формы,

необходимость формирования изображения зоны воздействия с минимальной неровностью края

При рассмотрении требований к ОС в части рабочего поля наиболее важные вопросы:

как перекрыть полную рабочую зону посредством сканирующих оптико–механических систем или проекционных оптических систем с приемлемой точностью, производительностью и самым простым путем

– 38 –

ФОКУСИРУЮЩАЯ ТЕХНИКА ДЛЯ ЛМ

Основные пространственно–геометрические модели лазерных источников Гауссова модель лазерного источника (одномодовый режим)

θ = α2

в перетяжке d0 = 2ω0

Телецентрическая модель лазерного источника (многомодовый режим)

(оси всех пучков || оптической оси, все направления внутри α равноценны)

фокальное пятно d0 = αF , глубина резкости l = 2d0F D

теоретические пределы: d0 = λFD ≈ λ; L ≈ 2d02 λ ≈ 2d0 Пример: при α =10−3 рад, F =1 см, d0 =10 мкм, l0 = 20 мкм

– 39 –

ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЛАЗЕРНЫХ ПУЧКОВ В ФОКАЛЬНОЙ ПЛОСКОСТИ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 6

Тип лазерного пучка (по-

Теоретические параметры лазерного луча

 

Полный угол

Фокальный

 

 

перечного распределе-

расходимости

диаметр пят-

Фокальное рас-

Примечания

ния интенсивности)

луча

 

на

пределение пятна

 

 

α = 2θ

d0 = αF

 

 

Гауссовый — одномодо-

1.26

 

λ

1.26

 

 

λ

 

вся энергия в

 

 

 

 

 

вый

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F

 

фокальном

 

D

 

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

пятне

Супергауссовый — мно-

 

λ

 

 

λ

 

 

вся энергия в

 

 

 

фокальном

гомодовый

1.26 D N

1.26 D NF

 

 

пятне

Однородный — дифрак-

 

 

 

 

λ

 

 

 

 

λ

 

в центральном

2.44

2.44

 

 

максимуме

ционно ограниченный

 

 

 

 

F

 

84% энергии

D

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Теоретические (дальне-

~

 

λ

 

~ λ

 

 

польные) пределы

 

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Но что такое d0 — минимальный размер воздействия?

Что будет если интенсивность воздействия на материал внутри d0 будет на уровне q > qп?

Ответ смотри далее

– 40 –

ДОСТОИНСТВА И НЕДОСТАТКИ ФОКУСИРУЮЩЕЙ ТЕХНИКИ

Фокусирующая техника характеризуется простотой, полным использованием лазерной энергии и оптическим разрешением (размером светового пятна), определяемым расходимостью пучка и фокусным расстоянием линзы.

Дальнейшее уменьшение размера пятна может быть достигнуто размерщением перед объективом телескопического расширителя пучка с увеличением Γ (сокращение расхождениия в Γ раз). При этом можно либо уменьшать d0 , либо увеличивать фокусное расстояние объектива f

без изменения d0 (d0 = αлf Γ).

Использование расширителя пучка в рабочей станции «КВАНТ–3» приводит к получению пятна диаметром 5 мкм с рабочим отрезком объектива объектива 70 мм. Такая большая величина рабочего отрезка обеспечивает размещение (если необходимо) образца с различными зондами, контактных измерительных и других устройств.

Главные недостатки фокусирующей техники:

неоднородное распределение интенсивности в фокальном пятне и отсутствие постоянного размера зоны воздействия, который зависит от порога чувствительности материала,

сложность обеспечения достаточной точности краев зоны воздействия при сканировании