- •Глава 1
- •Глава 2
- •2.1 Идеальная вольт-амперная характеристика диода
- •2.2 Результаты изучения вах идеального диода
- •2.3 Отличие реальной вах диода от идеальной
- •2.3.1 Прямое включение (прямая ветвь)
- •2.3.2 Обратное включение (обратная ветвь)
- •2.4 Туннельный пробой
- •2.5 Лавинный пробой
- •2.6 Тепловой пробой
- •2.7 Ёмкости p-n-перехода
- •2.8 Разновидности диодов
- •2.8.1 Выпрямительные диоды
- •2.8.2 Импульсные диоды
- •2.8.3 Диоды с выпрямляющим контактом металл-полупроводник (диоды Шотки)
- •2.8.4 Стабилитроны и стабисторы
- •2.8.5 Варикапы
- •2.8.6 Туннельные диоды
- •2.8.7 Обращённые диоды
- •2.9 Маркировка диодов
- •Глава 3
- •3.1 Основные схемы включения транзисторов
- •3.2 Распределение потока носителей заряда в биполярном транзисторе
- •3.2.1 Активный режим работы
- •3.2.2 Режим насыщения
- •3.2.3 Режим отсечки
- •3.3 Статические характеристики транзистора
- •3.3.1 Статические характеристики транзисторов в схеме с общей базой
- •3.3.2 Статические характеристики транзисторов в схеме с общим эмиттером
- •3.3.3 Отличия статических характеристик транзисторов в схеме с об от статических характеристик транзисторов в схеме с оэ
- •3.4 Пробой в транзисторе
- •3.5 Зависимость коэффициента усиления от режима работы транзистора
- •3.6 Малосигнальные параметры транзисторов (система “h-параметров”)
- •3.7 Частотные характеристики
- •3.9 Работа на импульс по схеме с оэ Этот пункт предназначен для домашнего рассмотрения.
- •Глава 4
- •4.1 Полевые транзисторы с управляющим p-n-переходом
- •4.1.1 Принцип действия полевого транзистора с p-n-переходом
- •4.1.2 Статические характеристики полевого транзистора с p-n-переходом
- •4.2 Полевые транзисторы с изолированным затвором (мдп-транзисторы)
- •4.2.1 Принцип действия транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом
- •4.2.2 Статические характеристики транзистора с изолированным затвором
- •4.2.3 Полевой транзистор с изолированным затвором и встроенным каналом
- •4.3 Полевые транзисторы со статической индукцией (сит)
- •4.4 Частотные свойства полевых транзисторов
- •4.5 Работа полевых транзисторов на прямоугольный импульс
- •4.6 Полупроводниковые приборы с зарядовой связью
- •4.6.1 Основные характеристики (параметры) приборов с зарядовой связью
- •4.6.2 Разновидности приборов с зарядовой связью
- •Глава 5
- •5.1 Динистор
- •5.2 Тиристор с управляющим электродом (тринистор)
- •5.3 Симметричные тиристоры (симисторы)
- •5.4 Способы переключения. Процесс включения тиристора
- •5.5 Основные параметры и конструкция тиристоров
- •5.6 Icbt-транзисторы
- •Глава 6
- •6.1 Полупроводниковые приёмники излучения
- •6.1.1 Фоторезисторы
- •6.1.2 Фотодиоды
- •6.1.2.1 Спектральная характеристика фотодиодов
- •6.1.2.2 Фотодиоды на основе контакта металл-полупроводник
- •6.1.2.3 Фотодиоды на основе гетероперехода
- •6.1.3 Полупроводниковые фотоэлементы
- •6.1.4 Фототранзисторы
- •6.1.5 Фототиристоры
- •6.2 Полупроводниковые излучатели света
- •6.2.1 Светодиоды
- •6.2.1.1 Параметры светодиодов
- •6.2.1.2 Кпд или эффективность светодиодов
- •6.2.2 Полупроводниковые лазеры
- •6.2.2.1 Конструкция и принцип действия инжекционного лазера
- •6.2.2.2 Структура полупроводникового лазера
- •6.2.2.3 Основные отличия
- •6.2.3 Электролюминесцентные порошковые излучатели
- •6.2.4 Плёночные люминесцентные излучатели
- •6.3 Оптоэлектронные приборы
- •6.3.1 Оптроны
- •6.3.2 Варисторы
6.1.2.3 Фотодиоды на основе гетероперехода
Гетеропереход– переход между полупроводниками с различной шириной запрещённой зоны.
Если гетеропереход освещается со стороны полупроводника с более широкой запрещённой зоной, причём энергия квантов света меньше ширины запрещённой зоны первого полупроводника и больше ширины запрещённой зоны второго полупроводника с более узкой зоной, то эти кванты будут поглощаться в полупроводнике с более узкой зоной, а первый полупроводник будет прозрачным для этих квантов. В результате будет возникать фототок. С уменьшением длины волны падающего на полупроводник света увеличивается коэффициент поглощения вторым полупроводником, за счёт чего увеличивается фототок. При дальнейшем увеличении длины волны фотоны будут поглощаться и первым полупроводником.
6.1.3 Полупроводниковые фотоэлементы
Если осветить фотодиод, не включенный в электрическую цепь, то в p-n-переходе и в областях, прилегающих кp-n-переходу, происходит генерация носителей заряда. За счёт диффузионного электрического поля происходит разделение заряда: дырки – вp-область, а электроны – вn-область. В результате на границеp-n-перехода создаётся неравновесная концентрация неосновных носителей заряда. Если закоротить, то на выводах фотодиода возникает фотоэлектродвижущая сила (ФЭДС). Величина ФЭДС определяется высотой потенциального барьера, т. к. накопление основных носителей заряда приводит к уменьшению потенциального барьера. Наиболее выгодно использовать фотоэлементы с максимально большой высотой потенциального барьера. Наиболее часто используют кремниевые пластины. В среднем ФЭДС на один кремниевый элемент составляет 0,5 – 0,7 В (это в режиме холостого хода).
Важной характеристикой фотоэлементов является квантовый выход, который показывает, какая доля падающего светового потока преобразуется в ток. Для обычных кремниевых фотоэлементов квантовый выход составляет 12 %. Соответственно и КПД – приблизительно 12 %.
Наиболее эффективно в качестве фотоэлементов использовать полупроводники с более широкой запрещённой зоной, т. к. в этом случае и высота потенциального барьера больше, а также на базе гетероперехода – в этом случае в энергию превращается весь спектр солнечного излучения.
6.1.4 Фототранзисторы
Фототранзистор– фоточувствительный полупроводниковый приёмник излучения.
По структуре подобен транзистору: биполярному, полевому, однопереходному. Обеспечивает внутреннее усиление сигнала.
Наиболее распространены биполярные фототранзисторы (БФТ). С помощью БФТ можно получит более высокие коэффициенты усиления. Поэтому мы рассмотрим БФТ. Принцип действия остальных транзисторов подобен.
В БФТ делают выводы от коллектора и эмиттера. Базовый вывод либо вообще не формируют, либо закорачивается внутри структуры на какое-то сопротивление.
При освещении БФТ в базовой области возникает пар носителей заряда. При этом неосновные носители заряда в области базы вытягиваются в область коллектора. Основные носители понижают потенциал базы. При этом на эмиттерном переходе создаётся положительное смещение, вызывающее инжекцию неосновных носителей заряда в область коллектора, увеличивая ток коллектора.
Выходные характеристики:

(световые потоки).
Для фототранзисторов световой поток можно рассматривать как ток базы:
,
(6.5)
где
− фототок, возникающий в аналогичном
фотодиоде при том же световом потоке.
Коэффициент передачи тока в БФТ в
раз больше, чем в обычном фотодиоде.
Величина этого фототока зависит от сопротивления R. Максимально возможный коэффициент передачи может быть получен при полном отключении базы. Однако при этом очень сильно ухудшаются частотные свойства фототранзистора, т. к. неравновесный заряд в базе может измениться за счёт рекомбинации. Если включено сопротивление, то неравновесный заряд в базе будет в основном уменьшаться за счёт ухода неравновесных носителей заряда через базовый вывод. В этом случае уменьшается чувствительность фототранзистора, однако улучшаются частотные свойства.
Чем выше коэффициент усиления, тем хуже частотные свойства.
Для большинства фототранзисторов время задержки колеблется от сотен наносекунд до сотен микросекунд.
Существуют фототранзисторы на базе однопереходных транзисторов. Эти устройства являются устройствами-ключами. Могут находиться или во включенном, или в выключенном состоянии.
