
- •Глава 1
- •Глава 2
- •2.1 Идеальная вольт-амперная характеристика диода
- •2.2 Результаты изучения вах идеального диода
- •2.3 Отличие реальной вах диода от идеальной
- •2.3.1 Прямое включение (прямая ветвь)
- •2.3.2 Обратное включение (обратная ветвь)
- •2.4 Туннельный пробой
- •2.5 Лавинный пробой
- •2.6 Тепловой пробой
- •2.7 Ёмкости p-n-перехода
- •2.8 Разновидности диодов
- •2.8.1 Выпрямительные диоды
- •2.8.2 Импульсные диоды
- •2.8.3 Диоды с выпрямляющим контактом металл-полупроводник (диоды Шотки)
- •2.8.4 Стабилитроны и стабисторы
- •2.8.5 Варикапы
- •2.8.6 Туннельные диоды
- •2.8.7 Обращённые диоды
- •2.9 Маркировка диодов
- •Глава 3
- •3.1 Основные схемы включения транзисторов
- •3.2 Распределение потока носителей заряда в биполярном транзисторе
- •3.2.1 Активный режим работы
- •3.2.2 Режим насыщения
- •3.2.3 Режим отсечки
- •3.3 Статические характеристики транзистора
- •3.3.1 Статические характеристики транзисторов в схеме с общей базой
- •3.3.2 Статические характеристики транзисторов в схеме с общим эмиттером
- •3.3.3 Отличия статических характеристик транзисторов в схеме с об от статических характеристик транзисторов в схеме с оэ
- •3.4 Пробой в транзисторе
- •3.5 Зависимость коэффициента усиления от режима работы транзистора
- •3.6 Малосигнальные параметры транзисторов (система “h-параметров”)
- •3.7 Частотные характеристики
- •3.9 Работа на импульс по схеме с оэ Этот пункт предназначен для домашнего рассмотрения.
- •Глава 4
- •4.1 Полевые транзисторы с управляющим p-n-переходом
- •4.1.1 Принцип действия полевого транзистора с p-n-переходом
- •4.1.2 Статические характеристики полевого транзистора с p-n-переходом
- •4.2 Полевые транзисторы с изолированным затвором (мдп-транзисторы)
- •4.2.1 Принцип действия транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом
- •4.2.2 Статические характеристики транзистора с изолированным затвором
- •4.2.3 Полевой транзистор с изолированным затвором и встроенным каналом
- •4.3 Полевые транзисторы со статической индукцией (сит)
- •4.4 Частотные свойства полевых транзисторов
- •4.5 Работа полевых транзисторов на прямоугольный импульс
- •4.6 Полупроводниковые приборы с зарядовой связью
- •4.6.1 Основные характеристики (параметры) приборов с зарядовой связью
- •4.6.2 Разновидности приборов с зарядовой связью
- •Глава 5
- •5.1 Динистор
- •5.2 Тиристор с управляющим электродом (тринистор)
- •5.3 Симметричные тиристоры (симисторы)
- •5.4 Способы переключения. Процесс включения тиристора
- •5.5 Основные параметры и конструкция тиристоров
- •5.6 Icbt-транзисторы
- •Глава 6
- •6.1 Полупроводниковые приёмники излучения
- •6.1.1 Фоторезисторы
- •6.1.2 Фотодиоды
- •6.1.2.1 Спектральная характеристика фотодиодов
- •6.1.2.2 Фотодиоды на основе контакта металл-полупроводник
- •6.1.2.3 Фотодиоды на основе гетероперехода
- •6.1.3 Полупроводниковые фотоэлементы
- •6.1.4 Фототранзисторы
- •6.1.5 Фототиристоры
- •6.2 Полупроводниковые излучатели света
- •6.2.1 Светодиоды
- •6.2.1.1 Параметры светодиодов
- •6.2.1.2 Кпд или эффективность светодиодов
- •6.2.2 Полупроводниковые лазеры
- •6.2.2.1 Конструкция и принцип действия инжекционного лазера
- •6.2.2.2 Структура полупроводникового лазера
- •6.2.2.3 Основные отличия
- •6.2.3 Электролюминесцентные порошковые излучатели
- •6.2.4 Плёночные люминесцентные излучатели
- •6.3 Оптоэлектронные приборы
- •6.3.1 Оптроны
- •6.3.2 Варисторы
3.7 Частотные характеристики
Важной характеристикой
является возможность усиливать переменное
напряжение заданной частоты. Для
транзистора этой зависимостью является:
=
или
=
Коэффициент передачи тока зависит от структуры и параметров транзистора. На него влияют ёмкость эмиттера, время пролёта носителей через базу, через область объёмного заряда, постоянная времени в цепи коллектора.
1) Влияние ёмкости в цепи эмиттера.
Чем больше ток эмиттера, тем больше задержка.
=
;
(3.8)
=
,
(3.9)
где
=const.
Модуль будет показывать изменение величины, а угол (аргумент) – изменение угла вектора данной величины.
=
.
(3.10)
Граничная
частота – частота,
на которой коэффициент передачи тока
эмиттера падает в
раз.
− зависит от частоты.
=
;
=
;
(3.11)
=
;
(3.12)
=
;
(3.13)
=
;
=
.
- предельная частота, на которой может
работать транзистор.
= 1.
Частотные свойства
схемы с ОБ существенно лучше, чем схемы
с ОЭ. Это связано с тем, что с увеличением
частоты между током эмиттера и током
коллектора возникает фазовый сдвиг.
будет меняться незначительно;
− значительно.
<
<
.
Наиболее полно частотные свойства транзистора характеризуются максимальной частотой генерации – той частотой, на которой возможна работа транзистора при автоколебаниях.
Коэффициент по мощности больше 1. При дальнейшем увеличении частоты коэффициент усиления меньше 1.
Частота связана с другими параметрами транзистора:
=
,
(3.14)
где
− постоянная цепи коллектора;
− барьерная ёмкость коллекторного
перехода;
− граничный коэффициент усиления в
схеме ОБ.
3.8 Работа транзистора на импульс
При работе на импульс транзистор находится в двух устойчивых состояниях:
1) режим отсечки;
2) режим насыщения.
В активной области транзистор находится лишь во время переключения.
Рассмотрим схему с ОБ.
Пусть на эмиттер нашего транзистора мы подаём импульс тока. Вначале положительный, а после выключения – отрицательный.
В момент
времени
на эмиттер транзистора подаётся импульс
тока. Ток коллектора появляется не
сразу, а с некоторой задержкой. Эта
задержка объясняется перезарядкой
ёмкости эмиттерного перехода, а также
временем пролёта носителей через область
базы. Начинает формироваться прямой
фронт. Происходит накопление носителей
в области базы. Концентрация в области
базы достигает предельного значения.
При этом в цепи устанавливается ток
насыщения:
≈
.
(3.15)
Дальнейшее увеличение количества носителей в базе транзистора приводит к небольшому уменьшению его сопротивления. Чем больше избыточная концентрация неосновных носителей в базе по сравнению с необходимым количеством для насыщения, тем в более насыщенном режиме будет работать транзистор. Это характеризует коэффициент насыщения.
Начиная
с 4-го режима, транзистор находится в
режиме насыщения.
В момент времени
на эмиттер транзистора подаётся
отрицательный импульс тока. Ток будет
вначале в режиме насыщения. Длительность
времени
зависит от накопленных в базе носителей.
Скачок тока при переходе от включенного
режима определяется падением напряжения
на объёмном сопротивлении базы
транзистора:
=
;
(3.16)
'
=
.
(3.17)
После окончания времени рассасывания идёт формирование фронта импульса.
Выходной фронт определяется ёмкостью перехода.
Величины
и
можно уменьшить за счёт увеличения
соответствующих амплитуд фронта. Время
зависит только от степени насыщения
транзистора. Контролировать степень
насыщения транзистора достаточно
сложно.
Другой способ уменьшения времени рассасывания – создание присадок (создание ловушек). При этом полупроводник легируется золотом.
Включение параллельно к коллекторному переходу диода с малым прямым падением напряжения.
При изготовлении специальных импульсных транзисторов диод Шотки формируется в структуре в процессе производства. Получается транзистор с барьером Шотки.