- •1. Общие сведения о полупроводниках. Собственная и примесная проводимость полупроводников.
- •2. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводниках.
- •3.Электронно-дырочный переход. Образование и свойства p-n перехода.
- •4. Неравновесное состояние p-n перехода.
- •6. Контакт металл-полупроводник.
- •7. Полупроводниковые диоды. Выпрямительные диоды. Основные характеристики.
- •8.Диоды. Выпрямительные диоды. Устройство, вах. Применение.
- •9. Полупроводниковые диоды. Туннельный диод. Основные характеристики.
- •10. Полупроводниковые диоды. Импульсные и точечные диоды. Основные характеристики.
- •11. Биполярный транзистор. Устройство, принцип действия.
- •12. Схемы включения транзистора. Сравнительный анализ.
- •13. Статические вольт-амперные характеристики транзистора.
- •14. Эквивалентная схема замещения транзистора.
- •15. Представление транзистора в виде четырехполюсника.
- •16. Составной транзистор.
- •17. Полевые транзисторы. Полевой транзистор с управляемым p-n переходом. Принцип действия, характеристики.
- •18. Полевые транзисторы. Мдп-транзистор. Принцип действия, характеристики.
- •19. Тиристор. Структура, принцип действия, вольт-амперная характеристика.
- •20. Частотные свойства биполярного транзистора.
- •II. Усилители. Генераторы.
- •1. Назначение и классификация усилителей.
- •2. Основные показатели работы усилителей (коэффициент усиления, коэффициент допустимых искажений, амплитудная и частотная характеристики, коэффициент полезного действия).
- •3. Классы усилителей. Задание точки покоя (режим по постоянному току).
- •4. Классы усилителей. Стабилизация точки покоя.
- •5. Каскад предварительного усилителя на биполярном транзисторе, включенном по схеме оэ. Схема замещения.
- •6. Каскад предварительного усилителя на биполярном транзисторе, включенном по схеме оэ. Анализ работы на средней частоте.
- •7. Каскад предварительного усилителя на биполярном транзисторе, включенном по схеме оэ. Анализ работы на нижней частоте.
- •8. Каскад предварительного усилителя на биполярном транзисторе, включенном по схеме оэ. Анализ работы на верхней частоте.
- •9. Каскад усилителя на биполярном транзисторе, включенном по схеме об. Схема замещения. Анализ работы.
- •10. Обратные связи в усилителях. Виды обратной связи (ос). Влияние ос на коэффициент усиления.
- •11. Обратные связи в усилителях. Виды обратной связи (ос). Влияние ос на входное и выходное сопротивление усилителя.
- •12. Усилительный каскад с оос (эммитерный повторитель).
- •18. Интегральные операционные усилители (оу).
- •24. Интегральные операционные усилители (оу). Антилогарифмирующее звено на оу.
- •25. Генераторы гармонических колебаний. Lc генераторы.
- •26. Генераторы гармонических колебаний. Rc генераторы. C- , r- в параллель.
- •27. Генераторы гармонических колебаний. Rc генераторы. Генератор с мостом Вина.
- •28. Мультивибратор на оу.
- •III. Цифровые и импульсные устройства
- •8. Регистры. Параллельные регистры.
- •9. Регистры. Сдвиговые регистры.
- •10. Счетчики. Последовательный суммирующий двоичный счетчик с непосредственными связями.
- •11. Счетчики. Последовательный вычитающий двоичный счетчик с непосредственными связями.
- •12. Последовательные счетчики со сквозным переносом.
- •13. Параллельные (синхронные) счетчики. Разновидности. Параллельные счетчики на синхронных триггерах.
- •14. Параллельные (синхронные) счетчики. Разновидности. Параллельные счетчики на асинхронных триггерах.
- •15. Реверсивные счетчики.
- •16. Кольцевые счетчики.
- •17. Комбинационные устройства. Шифраторы.
- •18. Комбинационные устройства. Дешифраторы.
- •19. Комбинационные устройства. Мультиплексоры.
- •20. Комбинационные устройства. Демультиплексоры.
- •20. Демультиплексоры.
- •21. Комбинационные устройства. Сумматоры.
- •22. Мультивибратор на дискретных элементах.
- •Мультивибраторы на дискретных элементах
- •23. Мультивибраторы на логических элементах.
2. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводниках.
Электрический ток может возникнуть в полупроводнике только при направленном движении носителей заряда, которое создается либо под воздействием электрического поля (дрейф), либо вследствие неравномерного распределения носителей заряда по объему кристалла (диффузия).
Направленное движение носителей заряда под действием сил электрического поля называют дрейфом, а вызванный этим движением ток - дрейфовым током. При этом характер тока может быть электронным, если он вызван движением электронов, или дырочным, если он создается направленным перемещением дырок.
Средняя скорость носителей заряда в электрическом поле прямо пропорциональна напряженности электрического поля:
v= µ E.
Коэффициент пропорциональности µ называют подвижностью электронов µn или дырок µp. Свободные электроны движутся в пространстве между узлами кристаллической решетки, а дырки - по ковалентным связям, поэтому средняя скорость, а следовательно, и подвижность электронов больше, чем дырок. У кремния подвижность носителей заряда меньше, чем у германия.
Направленное движение носителей заряда из слоя с более высокой их концентрацией в слой, где концентрация ниже, называют диффузией, а ток, вызванный этим явлением, - диффузионным током. Этот ток, как и дрейфовый, может быть электронным или дырочным.
Степень неравномерности распределения носителей заряда характеризуется градиентом концентрации; его определяют как отношение изменения концентрации к изменению расстояния, на котором оно происходит. Чем больше градиент концентрации, т.е. чем резче она изменяется, тем больше диффузионный ток.
Электроны, перемещаясь из слоя с высокой концентрацией в слой с более низкой концентрацией, по мере продвижения рекомбинируют с дырками, и наоборот, диффундирующие в слой с пониженной концентрацией дырки рекомбинируют с электронами. При этом избыточная концентрация носителей заряда уменьшается.
3.Электронно-дырочный переход. Образование и свойства p-n перехода.
Электрическим переходом в полупроводниках называют границу между двумя областями с резко различными физическими свойствами (типом проводимости, величиной проводимости и др.) и прилегающими к этой границе тончайшими слоями полупроводника.
Электронно-дырочным переходом (илир-п переходом) называют границу между электронной и дырочной областями в кристалле полупроводника с прилегающими неравновесными слоями. Кристаллическая структура на границе электронной и дырочной областей не должна быть нарушенной. Это означает, что р-п переход нельзя получить механическим соединением пластинок р- и n-типа. Граница раздела проводимостей р- и n-типа должна быть получена в едином кристалле. Электронно-дырочные переходы составляют основу всех полупроводниковых приборов. С учетом ряда упрощений образование р-п перехода может быть объяснено сравнительно просто /2/. Пусть в едином кристалле германия получена резкая граница d между областями р- и n-типа, как показано на рис.3.1 (границу d называют металлургическим переходом). В области p дырки с концентрацией pp являются основными, а электроны np - неосновными носителями. В n-области основными носителями являются электроны с концентрацией nn, неосновными – дырки pn . На границе d образовалась резкая разница в концентрациях дырок pp >> pn и электронов nn >> np , т.е. имеет место градиент концентрации свободных носителей.
Дырки из приграничного слоя области p под воздействием градиента концентрации диффундируют в область n. В результате диффузионного перехода дырок из области p в область n нарушается электрическая нейтральность областей p и n. Слева, в приграничном слое области р остаются нескомпенсированные отрицательные заряды ионов акцептора, находящиеся в узлах решетки и образующие неподвижный объемный отрицательный заряд. Справа от границы d, в приграничном слое области р пришедшие из области р дырки рекомбинируют с электронами, оставляя нескомпенсированные положительные заряды ионов донора. Точно так же под воздействием градиента концентрации электроны диффузируют справа, из приграничного слоя области n, налево, в область p. Не скомпенсированные (неподвижные) объемные заряды создают внутреннее электрическое поле Ei, направленное от области п в область р. Сила воздействия поля Ei на электрические заряды дырок и электронов противоположна силам диффузии и препятствует дальнейшей диффузии. Таким образом, выравнивание концентрации дырок и электронов по всему объему не происходит. Процесс заканчивается установлением динамического равновесия. В новой системе (р-область, р-п переход, n-область) в следствие термодинамического равновесия устанавливается общий для всей системы уровень Ферми , на котором выравнивается уровни областейи. Узкая обедненная область (ширинойh0 ) называется электронно-дырочным переходом, или р-п переходом. Ширина р-n перехода измеряется микрометрами и долями микрометра /2/. В области р-п перехода полупроводник неоднородный, а концентрация - неравновесная. Например, в n-области концентрация основных носителей – электронов изменяется от минимальной на границе a (равной ni) до равновесной nn на границе перехода с равновесной n-областью. В соответствии с (2.13) изменяться положение уровня Ферми на протяжении перехода от (на границеa) до (на границе перехода с равновеснойn-областью). Так как уровень Ферми системы постоянен, то искривляются энергетические уровни (зоны) вп-области вверх на величину (рис. 3.2). Аналогично, в соответствии с (2.15) изменяется положение уровня Ферми в левой половинер-п перехода от (на границеa) до (на границе перехода с равновеснойр-областью) и искривляются энергетические уровни (зоны) в р-области вниз на величину . В областиp точно так же, как и в области n, за исключением приграничного слоя, входящего в р-п переход, условия остались неизменными: концентрация равновесная, полупроводник однородный.
P-n переход при прямом и обратном смещении.
При подключении к р-п переходу внешнего напряжения Ua (называемого внешним смещением) равновесие потоков носителей через переход нарушается и результирующий ток Ia через переход уже не равен нулю
Обратное направление. Если внешнее напряжение Ua подключить плюсом к п-области, а минусом - к р-области (рис.3.4, а), то поле внешнего источника Eсм в переходе будет совпадать по направлению с внутренним полем Ei, а потенциальный барьер на переходе будет равен сумме внутреннего потенциального барьера 0 и внешнего смещения Ua: = 0 + Ua. Диффузионный поток дырок и электронов прекращается (исчезает диффузионная составляющая I0диф). Условия же для образования и протекания теплового тока I0 при этом не изменяются, а ток термогенерации несколько увеличивается из-за увеличения ширины h. Значит, через переход будет протекать результирующий ток Ia, в обратном направлении, превышающий немного I0: .
Такое направление внешнего смещения называют обратным или непроводящим, а ток перехода - обратным током Iа обр. Величина очень мала, что позволяет приравнивать к нулю обратный ток перехода (Iа обр = 0). Итак, в обратном направлении через р-п переход протекает ничтожно малый ток при высоком обратном напряжении. Поэтому обратно смещенный р-п переход можно представить разомкнутыми контактами ключа (ключ отключен), что часто используют на практике.
Прямое направление. Инжекция носителей. Если внешнее напряжение Ua подключить плюсом к р-области, а минусом - к п-области, как показано на рио.3.4, б, то поле внешнего источника Eсм в переходе будет направлено против внутреннего поля Ei перехода. Потенциальный барьер на переходе будет уменьшен на величину смещения Ua: .
Через переход резко возрастет диффузионный ток I0диф. Такое направление внешнего смещения называют прямым, а ток перехода - прямым током Ia. Поскольку потенциальный барьер в переходе остается (он будет только понижен), то условия для прохождения теплового тока I0 остаются неизменными, только уменьшается ток термогенерации и прямой ток будет равен разности токов диффузии Iдиф и теплового I0:. Необходимо хорошо уяснить, что внешнее напряжениеUa только понижает потенциальный барьер 0. При этом потенциальный барьер никогда не может быть уменьшен до нуля (согласно теории градиент концентрации носителей в резком переходе при отсутствии 0 обусловил бы плотность тока около 20 000 А/мс2. Поэтому переход разрушился бы еще до исчезновения потенциального барьера). Это означает, что величина Ua в прямом направлении не превышает нескольких десятых долей вольта, что позволяет на практике часто приравнивать его к нулю, например по сравнению с сотней вольт в обратном направлении. Итак, в прямом направлении через р-п переход протекает большой ток при очень малом (почти нулевом) напряжении. Поэтому прямосмещенный р-п переход можно представить замкнутыми контактами ключа (включен ключ), что часто используется на практике. Дырки, перешедшие через пониженный потенциальный барьер в n-область, увеличивают концентрацию неосновных носителей pn (сверх равновесной) на границе n-области с p-n переходом, т.е. имеют место возмущения неосновных носителей. Процесс введения неосновных носителей через пониженный потенциальный барьер называют инжекцией (впрыскиванием), а неравновесные носители, появившиеся в результате инжекции, именуют инжектированными носителями. Точно также электроны инжектируются из п-области в р-область, где они тоже являются неосновными носителями. Ширина р-п перехода h при прямом смещении уменьшается по сравнению с равновесной шириной h0, но это явление не играет существенной роли. В несимметричных переходах, например при pp >> nn, область с более высокой концентрацией (p-область) называют эмиттером, а область с меньшей концентрацией - базой. ВАХ p-n перехода. Вольт-амперная характеристика p-n перехода, представляющая зависимость плотности полного тока на границе перехода от напряжения смещения:
где ; S - площадь перехода.Соотношение тоже является одним из важнейших в теории полупроводников. В этом соотношении количественно отражены все те процессы, о которых упоминалось выше. Например, в равновесии (Ua = 0) результирующий ток равен нулю, но его составляющие +I0 и - I0 порознь не равны нулю и являются тепловым (-I0) и диффузионным ( + I0 ) токами в равновесном переходе. Диффузионный ток является следствием теплового и всегда равен ему по величине и противоположен по направлению. Количественно величина теплового тока определяется выражением (3.8), и для распространенного случая несимметричного германиевого перехода при Т=300КТепловой ток I0 сильно зависит от температуры:
(3.10)где - ширина запрещенной зоны в масштабе потенциалов (напряжений);- тепловой ток при заданной (комнатной) температуре.
Рис. 3.6
При прямом смещении диффузионный ток, определяемый экспоненциальным членом, быстро возрастает уже при малых Ua, например, при Ua = +0,1 В ( Т = 300 К, T= 25 мВ) ток через переход уже возрастет до 54 I0,а при Ua = +0,2 В – уже до 2980 I0.При обратном смещении экспоненциальный член в (3.9) уже при Ua -4T(0,1В) близок к нулю и ток через переход становится равным ‑I0, т.е. остается только обратный тепловой ток