- •§ 1. Температура сверхпроводящего перехода 3
- •§ 1. Температура сверхпроводящего перехода
- •§ 2. Нулевое сопротивление
- •§ 3. Контур без сопротивления
- •§ 4.Сопротивление переменному току
- •Идеальный диамагнетизм
- •§ 1 Магнитные свойства идеального проводника
- •§ 2 Специфические магнитные свойства сверхпроводника
- •§ 3 Поверхностные токи
- •§ 4 Глубина проникновения
- •Некоторые значения глубины проникновения при 0 к
- •Критическое магнитное поле
- •§ 1 Намагниченность сверхпроводников
- •Промежуточное состояние
- •§ 1 Размагничивающий фактор
- •§ 2. Переход в магнитном поле при п 0
- •Сверхпроводимость II рода Смешанное состояние
- •Высокотемпературные сверхпроводники
- •Техника эксперимента Измерение магнитных свойств и Тк сверхпроводников
- •Определение Тс индукционным методом
- •Порядок выполнения лабораторной работы
- •Литература
Определение Тс индукционным методом
Индукционный метод определения Тс основан на фундаментальном свойстве сверхпроводимости - выталкивании магнитного поля из объема сверхпроводника приТ < Тс.
Рассмотрим две одинаковые катушки, намотанные друг на друга на измерительной кювете (см. рис. 25а). Взаимоиндукция такой системыдо сверхпроводящего перехода, когда магнитное поле проникает в образец, равна
= kN1N2S/l, (2)
где S — площадь одного витка,l— длина катушек,N1, N2 — число витков в катушках,k~1 - коэффициент связи, показывающий,
Рис. 25. Измерительная кювета (а) и схема компенсационного измерения(б)
какая доля магнитного потока одной катушки пронизывает другую. Считая, что площадь образца равна Sоби после перехода в сверхпроводящее состояние магнитное поле не проникает в образец, получаем
=(1-Sо//S) (3)
Пропуская через одну из катушек переменный ток I = I0sin(t), мы можем зарегистрировать ЭДС, наводимую в другой катушке, -U0 =U0cos(t), где
U0=I0R=0I0 (4)
Часто по разным причинам оказывается, что So6 < S (небольшой образец, небольшая доля сверхпроводящей фазы в неоднородном керамическом образце и т. д.). В этих случаях легче зарегистрировать эффект измененияL12по компенсационной схеме, как это показано на рис. 25 б. Принцип компенсации ясен из рисунка. Величина тока в катушках1 и3 подбирается такой, чтобы в приемной катушке2 отсутствовал индуцированный сигнал (поля от катушек1 и3 противоположны по направлению в месте расположения катушки 2). Как только магнитные свойства образца, расположенного в катушке3, изменяются, нарушается баланс полей, и в катушке2 появляется ЭДС. Измеряемые величины бывают зачастую малы, и поэтому в данной работе для регистрации сигнала используется синхронный детектор.
Зная все геометрические размеры образца и кюветы, можно из измерений оценить удельный объем сверхпроводящей фазы образца.
Порядок выполнения лабораторной работы
Состав оборудования: низкотемпературная вставка, образец ВТСП - Yba2Cu3O7-x, мост переменного тока Wayner Kerr, цифровой вольтметр Datron.
Конструкция низкотемпературной вставки
Ознакомиться с низкотемпературной вставкой и измерительной установкой.
Нарисовать блок схему измерительной установки.
Монтаж ВТСП образца (Yba2Cu3O7-x) в низкотемпературной вставке.
Подсоединить кабель к измерительной установке, включить измерительные приборы, установить ток через НТ термометр – 90 мка.
При Ткомн начать автоматические измерения индуктивности катушки.
Начать плавное погружение измерительной вставки в азотный дюар, следя за скоростью охлаждения, которая не должна превышать 0.5 К/c.
При понижении температуры произвести регистрацию зависимости UL(t) в области Тс. Повторить регистрацию UL(t) в области Тс при повышении температуры, стараясь минимизировать температурный гистерезис. С этой целью необходимо обеспечить минимальную скорость нагрева исследуемого образца.
Сохранить экспериментальные данные на HD для их дальнейшей обработки.
Обработка экспериментальных данных:
определить величину Тс по середине сверхпроводящего перехода;
определить ширину сверхпроводящего перехода на уровнях 10% и 90% сверхпроводящего скачка;
описать аналитически функцию UL(t) степенным полиномом и по максимуму производной определить величину Тс.