Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
309.pdf
Скачиваний:
11
Добавлен:
31.05.2015
Размер:
521.41 Кб
Скачать

Белорусский национальный технический университет

Кафедра «Техническая физика»

Лаборатория оптики и атомной физики

Лабораторная работа № 309

«Дифракция света»

Составители методических указаний: Кононова Т. С., Мартинович В. А., Атрашевский Ю. И.

Минск 2009

Цель работы:

Изучить дифракцию Фраунгофера на одной щели и дифракционной решетке.

Определить длины волн излучения ртутной лампы с помощью дифракционной решетки.

Рассчитать угловую дисперсию дифракционной решетки для желтого дублета в спектре излучения ртутной лампы и сравнить с ее теоретическим значением.

Приборы и принадлежности:

Дифракционная решетка, гониометр, ртутная лампа.

Контрольные вопросы и задания:

1. В чем заключается явление дифракции?

2.Сформулируйте принцип Гюйгенса-Френеля.

3.Дифракция Фраунгофера на одной щели. В каких направлениях получаются минимумы и максимумы на одной щели? Изобразить распределение интенсивности света при дифракции на щели.

4.Что такое дифракционная решетка? Что такое период дифракционной решетки?

5.Как записывается условие главных максимумов на дифракционной решетке? Изобразите распределение интенсивности при дифракции на решетке.

6.Дифракционные спектры и различия между дисперсионным и дифракционными спектрами.

7.Дифракционная решетка как спектральный прибор. Критерий Рэлея. Разрешающая сила и угловая дисперсия дифракционной решетки.

Литература:

1. Саржевский, А.М. Оптика. Полный курс. Изд. 2-е. - М.: Едиториал УРСС, 2004. – 608 с.

2.Трофимова, Т.И. Курс общей физики. – М.: Высшая школа, 2003. – 542 с.

3.Детлаф, А.А., Яворский, Б.М. Курс общей физики. – М.: Издательский центр «Академия», 2003. – 720 с.

 

 

Основные положения дифракции света

 

Дифракция света – это совокупность явлений, наблюдаемых при

распространении света сквозь малые отверстия, вблизи границ непрозрачных

тел и т.д., обусловленных волновой природой света. При прохождении

световой волны в таких случаях наблюдается отклонения распространения

волны от законов геометрической оптики, в частности, закона прямолинейного

распространения света. В узком смысле, дифракция представляет собой

огибание световыми волнами препятствий и проникновение света в область

геометрической тени. При дифракции за препятствием наблюдается

перераспределение светового потока, т.е. дифракционная картина в виде

тёмных и светлых полос (максимумы и минимумы). Дифракция света наблю-

дается, если размеры препятствия или неоднородности соизмеримы с длиной

световой волны.

 

 

 

 

 

Распределение

интенсивности

при дифракции света

можно рассчитать с

помощью принципа Гюйгенса-Френеля. Он состоит из двух частей.

 

 

 

1) Каждая точка, до которой доходит волна,

б)

V∆t

в момент времени t, служит источником

 

излучения вторичных сферических волн, а

 

 

 

 

 

 

огибающая этих волн даёт положение

 

 

 

волнового фронта в последующий момент

 

 

 

времени t+∆t (принцип Гюйгенса).

 

 

 

На рисунке 1 показан способ построения

 

 

 

волнового фронта S(t+∆t)

(а) плоской и (б)

 

 

S(t)

сферической

волн в момент времени t+∆t по

 

 

 

известному фронту S(t) в момент времени t.

S(t)

S(t+t)

S(t+∆t)

Однако принцип Гюйгенса ничего не говорит

 

 

об амплитуде (т.е. интенсивности) волн,

а)

 

б)

Рис.1

распространяющихся

в

различных направле-

 

 

ниях.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2) Вторичные волны являются когерентными и испытывают взаимную

интерференцию (принцип Френеля). Согласно этому принципу в результате

интерференции вторичных волн на экране будет происходить

перераспределение интенсивности светового потока в пространстве.

Разделяют два вида дифракции – дифракцию Френеля и дифракцию

Фраунгофера.

 

 

 

 

 

 

Дифракция Френеляэто дифракция в сходящихся лучах, т.е. когда препятствие

и экран, на котором наблюдается дифракционная картина, находятся на

конечном расстоянии друг от друга.

 

 

 

 

Дифракция Фраунгофера – это дифракция в параллельных лучах, т.е. источник

света и точка наблюдения бесконечно удалены от

препятствия, вызвавшего

дифракцию. Для практического осуществления этого условия нужно источник

поместить в фокусе собирающей линзы, установленной перед препятствием, а

дифракционная картина наблюдается в фокальной плоскости второй линзы,

установленной за препятствием, или с помощью зрительной трубы, настроенной на бесконечность.

Многолучевая интерференция

Дифракция - это интерференция большого числа когерентных вторичных волн, поэтому рассмотрим многолучевую интерференцию.

Для нахождения амплитуды А результирующих колебаний и интенсивности света (I=A2) в произвольной точке F интерференционной картины воспользуемся методом векторных диаграмм для сложения одинаково направленных колебаний.

В этом методе каждое колебание с амплитудой А1 изображается вектором длиной А1, а сдвиг фаз δ0 между данным колебанием и другим колебанием изображается углом δ0 между векторами, соответствующими данным колебаниям. Сумма этих векторов представляет собой вектор, соответствующий результирующему колебанию.

r

δ

Ar

6

δ

r

 

 

AN 1

 

 

 

 

A5

 

 

 

 

 

δ

δ

 

 

 

 

r

r

 

 

 

 

 

 

 

 

A4

r

 

 

 

 

AN

 

 

 

 

δ0

 

 

 

 

 

 

β

 

 

 

Ar3

A

 

 

 

 

 

δ

 

 

δ

 

 

 

 

 

0

 

 

 

δ

Ar2

 

 

Ar1

0

 

 

 

 

Рис. 2

На рисунке 2 показана векторная диаграмма сложения колебаний при интерференции N волн, возбуждающих в рассматриваемой точке F одинаково направленные когерентные колебания с амплитудами Аi1 и не зависящим от i сдвигом фаз между (i+1)-м и i-м колебаниями (δ0).

Из рисунка видно, что амплитуда результирующих колебаний равна:

А = 2 OO

 

β

 

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

2

 

 

 

А1

 

где β= 2π-Nδ0

и ОО1 =

. (1)

2sin

 

δ0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

Поэтому для амплитуды (a) и интенсивности (б) можно записать выражение:

 

sin

Nδ0

 

 

 

sin2

Nδ0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A = A

 

2

 

 

а), I = I

1

2

 

 

б),

(2)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

sin

δ0

 

 

 

sin

 

δ0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Главные максимумы интерференции N волн наблюдаются при условии:

δ0 = ±2mπ , где m = 0,1,2,….. - порядок максимума.

Можно показать, что отношение синусов в данных формулах в этом случае равно N. Поэтому амплитуда и интенсивность колебаний в главных

максимумах равны: Amax = NA1 и Imax = N2I1.

Интерференционные минимумы (А=0) удовлетворяют условию:

δ0 = 2Nπk , где κ принимает любые положительные значения, кроме

кратных N. При этом условии в формулах (2) равен нулю только числитель, но не знаменатель.

Рис.3

Характер зависимости интенсивности от δ0 показан на рисунке 3. Между каждой парой соседних интерференционных минимумов находится один максимум – либо главный, либо побочный.

При больших N интенсивности побочных максимумов пренебрежимо малы по сравнению с интенсивностью главных максимумов. Двум минимумам, ограничивающих главный максимум n - го порядка, соответствуют значения

δ0= ± (2πm ± 2Νπ ). Поэтому «ширина» главного максимума равна 4π/N, обратно

пропорциональна числу N интерферирующих волн, а его интенсивность пропорциональна N2.

Дифракция Фраунгофера на одной щели

Пусть параллельный пучок монохроматического света с длиной волны λ падает нормально на прозрачный экран (рис.4а), в котором прорезана прямоугольная щель шириной b = BC и длиной l>>b. Дифракционную картину

наблюдают на экране, расположенном в фокальной плоскости линзы.

В соответствии с принципом Гюйгенса-Френеля каждая точка щели является источником вторичных когерентных волн. Так как плоскость щели совпадает с фронтом падающей волны, вторичные волны колеблются в одной фазе.

Параллельные лучи, идущие от щели под углом дифракции φ к направлению лучей падающего света, собираются линзой в побочном фокусе Fφ на экране. Оптическая разность хода между крайними лучами BM и CN, идущими от краёв щели, равна:

∆ =

 

CD

 

= b sinϕ ,

(3)

 

 

где CD – основание перпендикуляра, опущенного из точки B на луч CN. При этом разность фаз δ между колебаниями, создаваемыми в точке Fφ крайними лучами

δ =

2π

∆ =

2π

bsinϕ .

(4)

λ

 

 

 

λ

 

Для решения задачи о дифракции Фраунгофера щель разбивается на очень большое число N одинаковых, очень узких полосок, параллельных ребру В. Вторичные волны, излучаемые этими элементами щели, возбуждают в точке Fφ

экрана колебания с одинаковой амплитудой Аφ, которые сдвинуты по фазе от предыдущего колебания на одну и ту же малую величину δ0, зависящую от угла дифракции φ. Таким образом, на экране имеет место интерференция многих волн. Разность фаз между этими колебаниями

 

 

 

δ0

=

δ

 

 

=

2π

bsinϕ .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

λN

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Подставляя δ0 в (2) и учтя, что δ0 – мало, (sin

δ0

δ0

 

=

 

πb sinϕ

), получим:

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

λN

 

 

sin

πb sinϕ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

sin2 πb sinϕ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

= A

 

λ

 

 

 

а), I

 

 

= I

 

 

 

 

λ

 

 

б),

(5)

πbsinϕ

 

 

0 πbsin

ϕ 2

 

 

ϕ

0

 

 

 

 

ϕ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

λ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

λ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где А0=А1N – алгебраическая сумма амплитуд колебаний, создаваемых всеми элементами щели, которая прямо пропорциональна b;

I0=А02= (A1N)2=N2I1 – интенсивность в центре дифракционной картины (φ=0), создаваемая всей щелью. Распределение интенсивности при дифракции Фраунгофера на одной щели представлено на рисунке 4б.

 

sin x

 

 

x =

πbsinϕ

 

Формулы (5) содержат функцию типа

 

, где

. Минимум

x

λ

 

 

 

 

 

данной функции будет при условии sinx=0, при этом x≠0.

Таким образом, положение минимумов можно получить из условия x=±πm,

где m = 1,2,3,..

Положения максимумов данной функции получают из условия равенства

нулю первой

производной данной функции по х, т.е.

d

 

sin x

 

= 0 , откуда

dx

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

sin x

 

=1, что соответствует

 

tg(x)=x. При

х→0, функция

 

центральному

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

максимуму, по обе стороны от которого расположены меньшие по величине вторичные максимумы.

Таким образом, условие дифракционных минимумов при дифракции Фраунгофера на одной щели будет следующим:

b sinϕ = ±mλ ,

(6)

где m = 1,2,3,…..- порядок дифракционных минимумов.

Условие дифракционных максимумов на одной щели будет следующим:

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]