
- •Введение
- •1. Общие сведения о датчиках физических величин
- •1.1. Основные характеристики датчиков
- •1.2. Классификация датчиков
- •2. Датчики деформации
- •2.1. Принцип действия
- •2.2. Конструкции тензодатчиков и их параметры
- •2.2.1. Конструкции металлических датчиков
- •2.2.2. Конструкции полупроводниковых датчиков
- •2.2.3. Основные параметры тензорезисторов
- •2.2.4. Тензодиоды и тензотранзисторы
- •2.3. Области применения и типы датчиков
- •Контрольные вопросы
- •3. Датчики температуры
- •3.1. Принцип действия
- •3.1.1. Термопары
- •3.1.2. Металлические термометры сопротивления
- •3.1.3. Термисторы
- •3.1.4. Позисторы
- •3.1.5. Измерение температуры с помощью диодов и транзисторов
- •3.2. Конструкции и параметры датчиков температуры
- •3.2.1. Термопары
- •3.2.2. Металлические термометры сопротивления
- •3.2.3. Термисторы
- •3.2.4. Позисторы
- •3.3. Области применения и типы датчиков
- •3.4. Термоанемометрический метод измерения скоростей потока газов и жидкостей
- •Контрольные вопросы
- •4. Твердотельные датчики газов
- •4.1. Принцип действия твердотельных датчиков газов
- •4.1.1. Термокондуктометрические датчики
- •4.1.2. Термохимические (каталитические) ячейки
- •4.1.3. Электрохимическая (топливная) ячейка
- •4.1.4. Полупроводниковые датчики газов
- •4.2. Конструкции и параметры датчиков
- •4.2.1. Термокондуктометрическая измерительная ячейка
- •4.2.2. Термохимическая (каталитическая) ячейка
- •4.2.3. Конструкция и параметры топливных элементов
- •4.2.4. Конструктивные и технологические особенности твердотельных датчиков газов
- •Контрольные вопросы
- •5. Датчики магнитного поля
- •5.1. Принцип действия
- •5.2. Преобразователи Холла
- •5.2.1. Технология изготовления и конструкции
- •5.2.2. Основные параметры и свойства
- •5.2.3. Применение преобразователей Холла
- •5.3. Полупроводниковые магниторезисторы
- •5.4. Магниторезисторы из ферромагнетиков
- •5.5. Магнитодиоды
- •5.6. Биполярные магнитотранзисторы
- •Контрольные вопросы
- •6. Оптические датчики
- •6.1. Принцип действия полупроводниковых приемников излучения
- •6.2. Основные характеристики фотоприемников
- •6.3. Фоторезисторы
- •6.3.1. Технология изготовления и конструкция
- •6.3.2. Характеристики и параметры
- •6.4. Фотодиоды
- •6.5. Полупроводниковые фотоэлементы
- •6.6. Фототранзисторы
- •6.7. Датчики ик-излучения
- •Контрольные вопросы
- •7. Датчики влажности
- •7.1. Единицы измерения влажности
- •7.2. Методы измерения влажности
- •7.3. Конденсационные датчики
- •7.4. Психрометрические датчики
- •7.5. Сорбционные датчики влажности
- •7.5.1. Кулонометрические датчики
- •7.5.2. Пьезосорбционные датчики
- •7.5.3. Импедансные датчики
- •Контрольные вопросы
- •8. Датчики микроэлектромеханических систем
- •Контрольные вопросы
- •Заключение
- •Библиографический список
6.5. Полупроводниковые фотоэлементы
Полупроводниковый фотоэлемент – это прибор с выпрямляющим переходом для непосредственного преобразования световой энергии в электрическую.
Рассмотрим p-n переход при освещении при прямом напряжении (рис. 6.6). Такой режим называется режимом генерации фотоэдс, т.к. происходит генерация носителей заряда. Электрическое поле их разделяет, в результате накопления электронов в n-области и дырок в р-области возникает дополнительная разность потенциалов – фотоэдс.
Фотоэлементы применяют в виде солнечных батарей. Обычно для этого используется Si. В p-Si p-n переход создается диффузией P или Sb.
Характеристики фотоэлементов:
– точка пересечения ВАХ с осью напряжения соответствует значениям фотоэдс или напряжениям холостого хода при разных освещенностях ( у Si это 0,5 – 0,55 В);
– точка пересечения с осью тока соответствует токам короткого замыкания ( у Si это 20 – 25 мА/см2);
– световая характеристика – зависимость фотоэдс и тока короткого замыкания от светового потока или освещенности;
– спектральная характеристика – зависимость тока короткого замыкания от длины волны. Спектральная зависимость фотоэлементов аналогична спектральным характеристикам фотодиодов, изготовленных из того же полупроводника. Максимум спектральной зависимости кремниевых фотоэлементов соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света. Поэтому именно фотоэлементы из Si используют для создания солнечных батарей;
– коэффициент полезного действия – это отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность. К.п.д. кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечной энергии не превышает 12 %. Его можно повысить, если вместо Si использовать CdTe, GaAs или другие материалы с большей шириной запрещенной зоны, чем у Si, или используя фотоэлементы с гетеропереходами.
6.6. Фототранзисторы
Структура биполярного транзистора изображена на рис. 6.7. Транзистор включают по схеме с общим эмиттером. Базовый вывод не подключают (IБ = 0). Неосновные носители заряда (дырки в n-базе и электроны в р-коллекторе) втягиваются в коллекторный переход, проходят через него и создают фототок IФ . Накопленные в базе неравновесные основные носители понижают высоту потенциальных барьеров эмиттерного и коллекторного переходов. Увеличивается инжекция дырок из эмиттера в базу. Возрастает и ток коллектора. Накопленный в базе дополнительный заряд неравновесных основных носителей обеспечивает усиление фототока. Поэтому фототранзистор можно рассматривать как фотодиод, соединенный с транзистором: первый выдает фототок IФ базы, а второй обеспечивает усиление.
Рис. 6.7. Структура биполярного фототранзистора
При подключении вывода базы к внешней схеме часть неравновесных носителей уходит из базы, что ведет к понижению фототока. Поэтому наибольшая чувствительность к облучению светом базовой области будет при включении по схеме с общим эмиттером и отключенной базой. В связи с этим в первых конструкциях биполярных фототранзисторов вывод базы отсутствовал. В настоящее время его делают для электрического управления работой, для компенсации внешних воздействий.
Основные параметры фототранзисторов определяются аналогично параметрам фотодиодов. Например, параметры германиевого транзистора ФТ-1: Uраб = 3 В, Iт = 300 мкА, К = 170 – 500 мА/лм, τс = 200 мкс, светочувствительная площадка 2 мм2.