- •1 Активность радионуклида. Закон радиоактивного распада. Расчёт цепочки распада. Среднее время жизни. Период полураспада. Постоянная распада.
- •2 Потоковые и токовые характеристики поля излучения
- •3 Дозиметрические характеристики поля излучения. Поглощённая доза. Эквивалентная доза.
- •4 Эффективная доза. Экспозиционная доза.
- •5 Дозиметрические характеристики поля излучения. Мощность поглощенной дозы. Мощность эквивалентной дозы. Мощность эффективной дозы. Мощность экспозиционной дозы.
- •6 Гамма- и керма-постоянные.
- •7 Керма-эквивалент.
- •8 Радиевый гамма-эквивалент
- •9 Классификация источников излучения
- •10 Механизмы взаимодействия гамма-излучения с веществом. Фотоэффект. Томпсоновское рассеяние гамма-квантов. Эффект Комптона. Эффект образования пар и ядерный фотоэффект.
- •11. Сечения взаимодействия гамма-излучения. Полный коэффициент ослабления гамма-квантов. Средняя энергия ионообразования.
- •12 Закон ослабления узкого и широкого пучка
- •13 Факторы накопления фотонного излучения. Факторы накопления гомогенных сред.
- •14 Факторы накопления гетерогенных сред.
- •15 Механизм воздействия ионизирующего излучения на живые организмы. Взвешивающие коэффициенты для отдельных видов излучения.
- •16 Основные нормативные требования, устанавливаемые нрб-99/2009. Пределы допустимых доз для всех категорий облучаемых лиц.
- •17 Требования, устанавливаемые оспорб 99/2010 для радиационно-опасных объектов.
- •18 Требования к выполнению работ с открытыми источниками излучения, согласно оспорб 99/2010
- •19 Классификация рао, устанавливаемая оспорб 99/2009
- •20 Основные эффекты воздействия облучения на людей. Механизмы воздействия излучения на людей.
- •21 Естественные источники ионизирующих излучений
- •22 Искусственные источники ионизирующих излучений
- •24 Источники альфа-излучения. Взаимодействие альфа-частиц с веществом.
- •25 Источники бета-излучения. Взаимодействие электронов с веществом.
- •26 Взаимодействие нейтронов с веществом.
- •27 Деление нейтронов по группам по характеру взаимодействия с веществом.
- •28 Рассеяние нейтронов. Среднелогарифмическая потеря энергии нейтронов. Основные вещества-замедлители.
- •29 Методы обращения с рао
- •30 Понятия критичности.
- •31 Факторы, влияющие на критичность
- •32 Основные принципы обеспечения ядерной безопасности
- •33 Средства защиты и ограничения последствий от аварий, связанных с самоподдерживающейся реакцией деления.
- •34 Инженерные методы расчета защиты от первичного гамма-излучения радионуклидов
- •35 Методы и средства индивидуальной защиты при работе с источниками ионизирующих излучений. Задачи службы радиационной безопасности.
- •36 Фоновое облучение от внешнего фотонного излучения воздуха, радионуклидов земного происхождения.
11. Сечения взаимодействия гамма-излучения. Полный коэффициент ослабления гамма-квантов. Средняя энергия ионообразования.
Полное микроскопическое сечение взаимодействия γ-излучения с веществом,
,
Макроскопические сечения взаимодействия излучения с веществом получаются из микроскопических (см2/атом) умножением на число ядер в единице объемаN. Поэтому:
Для фотоэффекта: ;
Для комптоновского взаимодействия: ;
Для образования пар;
Макроскопические сечения μф, μк и μп называются линейными коэффициентами фотоэффекта комптоновского взаимодействия и образования пар соответственно.
Сумму этих парциальных макроскопических сечений называют линейным коэффициентом ослабления γ-излучения в веществе:
Объяснение:
При прохождении через вещество γ-излучение испытывает поглощение и рассеяние. Как при поглощении, так и при рассеянии γ-квант выбывает из падающего пучка в результате единичного акта. Число γ-квантов, удаляемых из пучка при прохождении поглотителя толщиной dx, пропорционально dx и числу γ-квантов N, падающих на слой dx. Таким образом, уменьшение числа γ-квантов в пучке равно –dN = μNdx.
Коэффициент пропорциональности μ, называется полным линейным коэффициентом ослабления. Как вытекает из приведенного уравнения, линейный коэффициент ослабления μ = −dN/Ndx
имеет следующий физический смысл: μ есть относительное ослабление пучка γ-лучей, приходящееся на единицу длины (пути в веществе)
Три коэффициента зависят от Z атомов вещества и энергии гамма-излучения:
Экспоненциальный закон ослабления гамма-излучения веществом для узкого пучка:
,
Где: х - толщина слоя, поглощающего вещества, μ - линейный коэффициент ослабления.
Средняя энергия ионообразования – это величина, равная отношению W = E/N, где N – среднее число пар ионов, образованных, когда начальная кинетическая энергия Е заряженных частиц полностью расходуется в газе (единица: Дж(эВ)).
Линейный коэффициент ослабления µ
Величину называют макроскопическим сечением или линейным коэффициентом ослабления излучения, где:
- коэффициент пропорциональности, представляющий вероятность рассеяния или поглощения кванта одним атомом;
n- количество атомов в единице объёма.
Линейный коэффициент ослабления µопределяет скорость убывания первичных (не рассеянных) фотонов и численно равен доле рассеивавшихся фотонов на единице пути излучения в веществе т.е.:
,
где x–толщина материала.
Линейный коэффициент ослабления зависит от энергии фотонов, плотностии порядкового номера вещества Z:
Размерность µ:см-1.
Массовый коэффициент ослабления Σ
Величину Σ называют массовым коэффициентом ослабления. Он определяет долю рассеянных фотонов на единицу массы вещества при прохождении излучения через это вещество.
Массовый коэффициент ослабления можно вычислить по формуле:
Σ = µ / ρ, где:
µ – линейный коэффициент ослабления;
ρ– плотность вещества.
Массовый коэффициент ослабления зависит только от Z и .
Размерность Σ: .
12 Закон ослабления узкого и широкого пучка
Закон ослабления определяет число нерассеянных фотонов в пучке, проходящих через слой защиты (вещества).
Закон ослабления фотонного излучения для узкого (моноэнергетического) пучка имеет следующий вид:
, где:
N – число нерассеянных фотонов,
N0 – начальное число фотонов в пучке,
µ – линейный коэффициент ослабления,
x – толщина слоя вещества.
Закон ослабления фотонного излучения для широкого (немоноэнергетического) пучка имеет следующий вид (излучение от точечного источника):
, где:
N – число нерассеянных фотонов,
N0 – начальное число фотонов в пучке,
Σ – массовый коэффициент ослабления,
x – толщина слоя вещества,
r– расстояние от источника до слоя вещества.