Лабораторная работа № 58 изучение вентильного фотоэффекта Цель работы:
1. Ознакомиться с явлением вентильного фотоэффекта.
2. Исследовать характеристики вентильного фотоэлемента.
Теоретическое введение
Вентильный фотоэффект заключается в возникновении фото-ЭДС в выпрямляющем контакте при его освещении. Наибольшее практическое применение имеет вентильный фотоэффект, наблюдаемый в р-n переходе.
В области границы раздела полупроводников р-типа и n-типа образуется так называемый запирающий слой, обедненный основными носителями заряда - электронами со стороны электронного полупроводника и дырками - со стороны дырочного полупроводника. Ионы донорных и акцепторных примесей этого слоя соответственно создают положительный объемный заряд в n-области и отрицательный - в р-области. Между р- и n- областями возникает контактная разность потенциалов, препятствующая движению основных носителей.
При освещении р-n перехода, например, со стороны р-области светом, энергия кванта которого достаточна для образования пары электрон-дырка, вблизи границы р-n перехода образуются так называемые фотоэлектроны и фотодырки (внутренний фотоэффект). Образовавшиеся в р-области носители участвуют в тепловом движении и перемещаются в различных направлениях, в том числе и к р-n переходу. Однако из-за наличия контактной разности потенциалов дырки не перейдут в n-область. Электроны же, напротив, будут затягиваться полем в n-область (рис.1).

Если цепь фотоэлемента разомкнута (Rн = ∞, режим холостого хода), то накопление фотоэлектронов в n-области и фотодырок в р-области приводит к появлению дополнительной разности потенциалов между электродами фотоэлемента. Эта разность потенциалов носит название фото-ЭДС (Uф хх). Накопление неравновесных носителей в соответствующих областях не может продолжаться беспредельно, так как одновременно происходит понижение высоты потенциального барьера на величину возникшей фото-ЭДС. Уменьшение же высоты потенциального барьера или уменьшение результирующей напряженности электрического поля ухудшает "разделительные" свойства p-n перехода.
Если замкнуть электроды фотоэлемента накоротко (R н = 0), то образованные светом носители заряда будут циркулировать в цепи фотоэлемента, создавая фототок короткого замыкания I ф кз. Величина фото-ЭДС холостого хода Uф хх и сила фототока короткого замыкания I ф кз определяются концентрацией образованных светом носителей заряда, которая, в свою очередь, зависит от освещенности фотоэлемента Е .
З
ависимости
фототокаI ф
кз и
фото-ЭДС Uф
хх от
освещенности фотоэлемента E
(или от светового потока Ф
= E ∙S, где
S
- площадь приемной поверхности
фотоэлемента) называются световыми
характеристиками фотоэлемента (рис.2).
Из сказанного выше следует, что вентильный фотоэлемент позволяет осуществить непосредственное превращение лучистой энергии в электрическую. Для того, чтобы использовать полученную электрическую энергию, нужно включить в цепь фотоэлемента нагрузочное сопротивление Rн. На этом сопротивлении будет выделятся полезная мощность
P = I∙U = I2∙Rн, (1)
где I - сила тока в цепи фотоэлемента (I < Iф кз), А,
U - напряжение на контактах фотоэлемента (U< Uф хх), В.
Сила тока I, напряжение U, а следовательно, и мощность P при постоянной освещенности определяется величиной нагрузочного сопротивления Rн. Изменяя сопротивление Rн от ∞ до 0, можно получить зависимость U(I), которая носит название нагрузочной характеристики вентильного фотоэлемента (рис.3).
У
меньшение
напряжения на выводах фотоэлемента с
ростом тока нагрузки связано с потерей
напряжения на внутреннем сопротивлении
фотоэлемента. В режиме короткого
замыкания, когда
Rн
равно нулю, все развиваемое фотоэлементом
напряжение Uф
хх падает
на внутреннем сопротивлении, и напряжение
на выходе фотоэлемента также равно
нулю.
На практике нагрузочное сопротивление подбирают таким образом, чтобы выделяемая на нем мощность была максимальной. При этом максимального (для данной освещенности) значения достигает и коэффициент полезного действия вентильного фотоэлемента, который определяется соотношением
η = P ∙Ψ / Ф = P∙Ψ / (E∙S), (2)
где Ψ - так называемая световая отдача, которая для волны длиной λ = 535 нм
равна 628 лм/Вт.
В
ентильные
фотоэлементы изготовляют из селена,
кремния, германия, сернистого серебра
и других полупроводниковых материалов.
Они находят широкое применение в
автоматике, измерительной технике,
счетно-решающих механизмах и других
устройствах. Например, селеновые
фотоэлементы, спектральная чувствительность
которых близка к спектральной
чувствительности человеческого глаза,
используются в фотометрических приборах
(экспонометрах, фотометрах и др.).
Кремниевые фотоэлементы находят широкое применение в качестве преобразователей солнечной энергии в электрическую. КПД кремниевых фотоэлементов составляет ≈ 12 %. Большое количество фотоэлементов, соединенных между собой, образуют солнечную батарею. Напряжение солнечных батарей достигает десятков вольт, а мощность - десятков киловатт. Солнечные батареи служат основным источником энергопитания космических летательных аппаратов.
