
- •Рабочая программа
- •1. Цели и задачи дисциплины, её место в учебном процессе
- •1.3 Место и преемственность изучения дисциплины
- •2.Содержание дисциплины
- •Тема 1 Введение – 0,5 часа (срс- 4 часа) 8 сем.
- •Тема 2Конструкции элементов полупроводниковых интегральных микросхем (имс)– 1.5 час (срс- 18 часов).
- •Тема 3 Расчёт параметров конструктивных элементов и разработка топологии биполярных имс – 2,5 часа (срс- 30 часов).
- •Тема 4 Конструирование имс на биполярных структурах – 0,5 часа (срс- 6 часов).
- •Тема 5 Разработка конструкции и расчёт параметров элементов имс на полевых структурах – 1 часа (срс- 20 часов).
- •Тема 6 Конструирование плат гибридных интегральных схем
- •Тема 7Проектирование топологии больших интегральных схем (бис)– 0,5 часа (срс- 6 часов)
- •Тема 8 Конструирование имс и мсб– 1 час (срс- 12 часов)
- •Тема 9Техническая документация на имс и мсб
- •Тема 10 Перспективные конструкции изделий микроэлектроники
- •Тема 1Оценка параметров технологического слоя - 2 часа (8 сем.)
- •Тема 2Проектирование топологии бпт – 2 часа (8 сем.).
- •Тема 3.Проектирование резисторов п/п ис – 2 часа (9 сем.).
- •Тема 4Анализ защиты ис от внешних воздействий -2 часа (9 сем.)
- •2.4 Самостоятельная работа
- •3 Учебно-методические материалы дисциплины
- •3.1 Основная литература
- •3.2 Дополнительная литература
- •3.3. Учебно-методические пособия и программное обеспечение
- •3.4 Базы данных, информационно-справочные и поисковые системы
- •3.5 Материально-техническое обеспечение дисциплины:
Тема 4 Конструирование имс на биполярных структурах – 0,5 часа (срс- 6 часов).
Кристаллы БП ИМС. План кристалла. Потери активной площади. Способы сокращения потерь. Принципы функциональной интеграции. Соединения и контакты на кристаллах. Дополнительные знаки и фигуры. Показатели качества компоновки кристалла. Схемная организация БПТ ИМС. Схемная организация ТТЛШ. Проектирование топологии биполярных микросхем.
Тема 5 Разработка конструкции и расчёт параметров элементов имс на полевых структурах – 1 часа (срс- 20 часов).
Полевые эффекты в планарных структурах на п/п пластинах (p-nпереходы, эффекты модуляции проводимости поверхностных слоев). Структура и топология полевого транзистора (ПТ) с индуцированным и встроенным каналами. Параметры ПТ для цифровых ИМС. Расчетные соотношения для параметров ПТ. Выбор форм и расчёт размеров ПТ.
Полевой транзистор как базовый элемент схем и конструкций цифровых ИС. Схема замещения транзистора с элементами физико-топологической модели ПТ. Разработка топологии и конструирование ИМС на полевых структурах. Специфика проектирования топологии ИМС на полевых структурах. Схемная организация и конструирование ИМС с ПТ одного и разных типов канала.
Выбор форм и размеров базовых логических вентилей ИС. Конструирование ИМС на биполярно-полевых структурахКомпозиции ПТ и БПТ. Приборы функциональной интеграции на полевых приборов (БИМОП элементы, цифровые элементы инжекционно-полевой логики (ИПЛ), преобразователи с зарядовой связью, элементы и устройства памяти). Кристаллы полевых ИМС.
Тема 6 Конструирование плат гибридных интегральных схем
(ГИС)– 2 часа (срс- 24 часа) 9 сем.
Состав конструкций ГИС. Платы толсто- и тонкопленочных ГИС. Резисторы ГИС. Конструирование и расчёт плёночных резисторов ГИС. Расчетные критерии и соотношения. Параметры. Выбор форм и размеров без подгонки и с подгонкой сопротивления. Специфика конструкций толстопленочных элементов.
Конденсаторы ГИС. Параметры. Конструирование и расчёт плёночных конденсаторов ГИС. Выбор форм, расчет без подгонки и с подгонкой емкости.Конструирование и расчёт плёночных проводников и контактных площадок гибридных ИМС. Микросборки. Состав конструкций микросборок (МСБ). Коммутационные основания и платы МСБ.Конструирование микросборок (МСБ) цифровых устройств.
Индуктивности ГИС. Параметры. Конструирование и расчёт плёночных индуктивностей ГИС. Выбор форм и размеров. Расчетные соотношения.Компоненты гибридных интегральных схем (ГИС). Параметры компонент. Конструкции активных и пассивных компонент.Разработка, расчёты конструкции и топологии ГИСс учетом монтажа компонент.Разработка конструкции и топологии ГИС и МСБ.План платы ГИС.
Влияние частоты на выбор материалов плат и слоев, форм и размеров элементов. Гибридные ИМС СВЧ диапазона. Платы, соединения, контакты, формы элементов СВЧ ГИС. Размерные ограничения. Расчетные соотношения. Конструирование СВЧ ГИС. Конструкции биполярных транзисторов, диодов и резисторов СВЧ ГИС. План платы ГИС СВЧ.
Тема 7Проектирование топологии больших интегральных схем (бис)– 0,5 часа (срс- 6 часов)
Большие (БИС) и сверхбольшие ИС (СБИС). Классификация БИС и базовые матричные кристаллы (БМК).Функциональный и конструктивный состав БМК. Состав этапов проектирования конструкций БИС. Микросборки цифровых БИС. Системы автоматизации проектирования БИС (САПР БИС) в проектировании БИС и СБИС. Специализированные библиотеки элементов, узлов.Кремниевая компиляцияв проектировании БИС и СБИС. Пакеты и технические средства поддержки САПР БИС.