
- •5. Структура материалов
- •6. Элементарные ячейки решеток Бравэ
- •7. Кристаллографические индексы Миллера (кубич. Структура).
- •8. Кристаллографические индексы Миллера-Бравэ (гексаг. Структура).
- •9. Кристаллохимический анализ решёток.
- •10. Способы представления сложных кристаллических структур.
- •11. Описание элементарной ячейки решёткой Бравэ и базисом.
- •12. Описание кристаллической структуры взаимопроникающими решётками
- •13. Описание в терминах плотнейших упаковок
- •14. Тетраэдрические и октаэдрические пустоты.
- •15. Кристаллическая структура типа алмаз
- •16. Кристаллическая структура типа сфалерит
- •17. Кристаллическая структура типа вюрцит
- •18.Классификация дефектов в кристаллах. Точечные дефекты.
- •27. Проводящие материалы
- •28. Проводящая разводка ис на основе Al
- •29.Проводящая разводка ис на основе меди.
- •30. Выпрямляющие контакты металл-п/п
- •31. Барьерные слои, конденсаторы, резисторы, контактные площадки ис
- •32. Разводка в корпусе ис. Применение проводящих материалов на основе оксидов.
- •33. Классификация полупроводниковых материалов
- •34. Классификация легирующих примесей. Назначение лег-их примесей.
- •37. Свойства кремния
- •40.Фоновые примеси в монокристаллическом кремнии.
- •41.Микродефекты монокристаллического кремния.
- •44. Свойства поликристаллического кремния
- •48. Влияние легирования на проводимость а-Si:н
- •51.Классификация диэлектрических материалов
- •52. Стекла.
- •53. Строение стекол.
30. Выпрямляющие контакты металл-п/п
Применение диодов на р-n переходах в быстродействующих ИС оказывается недостаточно эффективным из-за сравнительно большого времени их переключения и большой занимаемой площади. Во многих случаях предпочтение отдается диодам Шоттки. Диод Шоттки - это выпрямляющий контакт металл - полупроводник. Такие приборы найти широкое применение в качестве ограничительных элементов, препятствующих насыщению тока транзистора, и дискретных элементов логических и запоминающих матриц. Наиболее важным параметром диодов Шоттки при их использовании в схемах является падение напряжения на диоде при некотором определенном уровне прямого тока. Требуемое падение напряжения достигается изменением высоты барьера диода. Для этого подбирают тот или иной металл.
Основной недостаток диодов Шоттки заключается в том, что их электрические характеристики весьма чувствительны к состоянию границы раздела металл - полупроводник. Загрязнения, оксидные слои вызывают существенные изменения свойств диодов.
Для образования диодов Шоттки используют большой набор металлов (Ni, Тi,W, Мо,Pt, Рd) и их силицидов. Алюминий также может служить для формирования диода Шоттки (высота барьера 0,7 эВ), но воспроизводимость его параметров низкая. Наибольшей высотой барьера обладает силицид платины (0,84 эВ). Диоды с гораздо меньшими высотами барьера получают при использовании Ti (0,53 эВ) и W (0,59 эВ).
При использовании Аl в качестве основной разводки возникает проблема стабилизации контакта металлизации к другим металлам и силицидам, так как Аl образует интерметаллические соединения. Так, при нагреве уже до -300 "С начинается взаимодействие Аl с РtSi и образуется интерметаллическое соединение РtАl2, в результате чего изменяются характеристики диода Шоттки. Для исключения этого вводятся диффузионные барьеры между Аl и диодом Шоттки. Чаще всего используется сплав W (90 %)-Ti (10 %). Титан вводится для улучшения адгезии барьерного слоя, так как чистый W обладает низкими адгезионными свойствами.
31. Барьерные слои, конденсаторы, резисторы, контактные площадки ис
Из чистых химически стойких металлов (Та, Rе) изготавливают металлопленочные резисторы. Использование в качестве пленочных резисторов слоев из Сг, W, Мо позволяет получать сопротивление до 500 -600 Ω/□, но при этом такие резисторы обладают более высоким температурным коэффициентом сопротивления, чем резисторы на основе Та и Re. Широко используются резистивные сплавы никеля и хрома (называемые нихромом), содержащие 80 % Ni и 20 % Сr. Резисторы на основе нихрома обладают высокими значениями электросопротивления, стабильностью свойств и совместимостью с планарной технологией.
Металлические слои используются для формирования обкладок конденсаторов. В качестве обкладок обычно используют Аl или Та. В первом случае диэлектриком служит А12О3, во втором - Та2О5.
Контактные площадки интегральной схемы - это металлизированные участки на кристалле, служащие для присоединения внешних выводов и контроля электрических параметров. Их изготавливают обычно из А1 или Аи. Существенным преимуществом Аи является его коррозионная стойкость.
Для выполнения разводки в корпусе может применяться проволока из Аl или Аи диаметром 25 - 50 мкм.
При соединении проволокой из Аl может произойти ее разрушение непосредственно в месте контакта из-за пониженной механической прочности. Соединение золотой проволокой выполняется с меньшими затруднениями благодаря ее высокой пластичности, однако при этом могут формироваться интерметаллические соединения (так называемая "пурпурная чума" – АuАl2), ослабляющие контакт. Для предотвращения образования интерметаплических соединений следует сводить к минимуму время, в течение которого Аu и Аl находятся в контакте при высокой температуре