
- •5. Структура материалов
- •6. Элементарные ячейки решеток Бравэ
- •7. Кристаллографические индексы Миллера (кубич. Структура).
- •8. Кристаллографические индексы Миллера-Бравэ (гексаг. Структура).
- •9. Кристаллохимический анализ решёток.
- •10. Способы представления сложных кристаллических структур.
- •11. Описание элементарной ячейки решёткой Бравэ и базисом.
- •12. Описание кристаллической структуры взаимопроникающими решётками
- •13. Описание в терминах плотнейших упаковок
- •14. Тетраэдрические и октаэдрические пустоты.
- •15. Кристаллическая структура типа алмаз
- •16. Кристаллическая структура типа сфалерит
- •17. Кристаллическая структура типа вюрцит
- •18.Классификация дефектов в кристаллах. Точечные дефекты.
- •27. Проводящие материалы
- •28. Проводящая разводка ис на основе Al
- •29.Проводящая разводка ис на основе меди.
- •30. Выпрямляющие контакты металл-п/п
- •31. Барьерные слои, конденсаторы, резисторы, контактные площадки ис
- •32. Разводка в корпусе ис. Применение проводящих материалов на основе оксидов.
- •33. Классификация полупроводниковых материалов
- •34. Классификация легирующих примесей. Назначение лег-их примесей.
- •37. Свойства кремния
- •40.Фоновые примеси в монокристаллическом кремнии.
- •41.Микродефекты монокристаллического кремния.
- •44. Свойства поликристаллического кремния
- •48. Влияние легирования на проводимость а-Si:н
- •51.Классификация диэлектрических материалов
- •52. Стекла.
- •53. Строение стекол.
37. Свойства кремния
По распространенности в земной коре кремний занимает второе место после кислорода. В свободном состоянии в природе он не встречается. Наиболее распространенным соединением этого элемента является диоксид кремния в основном в виде кварца. В элементарном виде кремний был получен еще в 1811 г., однако как материал полупроводниковой электроники он стал широко применяться только во второй половине XX века после разработки эффективных методов его очистки.
Элементы IV группы Периодической системы, в которой находится Si, образуют чисто ковалентные связи с низким координационным числом, равным 4
(в ллотнейшей упаковке оно равно 12). Особенностями строения кремния (сильная ковалентная связь и рыхлая структура) объясняются многие его физико-химические свойства: низкая концентрация свободных носителей заряда и высокая предельная рабочая температура, что обусловлено оптимальным значением ширины запрещенной зоны;
малая плотность и низкий КТЛР; большой диапазон реально достижимых удельных электросопротивлений; высокая удельная теплопроводность; высокая растворимость примесей без существенного искажения кристаллической решетки
В настоящее время монокристаллический кремний – этот самый совершенный кристаллический материал созданный человеком
Ширина запрещенной зоны при 300 К, эВ = 1,12 эВ
Собственная концентрация носителей заряда при 300 К = 1,45*1010 см-3
Диэлектрическая проницаемость=12
Тип кристаллической решетки - алмаз
В видимой области спектра Si сильно поглощает свет, в ИК области практически прозрачен.
В химическом отношении кристаллический кремний при комнатной температуре является довольно инертным веществом. Он не растворим в воде, не реагирует со многими кислотами. Хорошо растворим лишь в смеси азотной и плавиковой кислот и в кипящих щелочах. Устойчив на воздухе до температуры 900 °С. Выше этой температуры начинает интенсивно окисляться с образованием SiO2. Несмотря на это, на поверхности кремния всегда имеется тонкий слой (~50 А) так называемого естественного оксида. . Кремний обладает сравнительно высокой температурой плавления и в расплавленном состоянии имеет высокую химическую активность, поэтому возникают большие трудности с подбором тигельного материала при выращивании монокристаллов.
38. Получение монокристаллического кремния методом Чохральского.
Выращивание монокрист кремния в пром условиях оуществл методом Чохральского- без тигельной зонной плавки. Тут рис .
1.- тигель 2. –кварц. Вкладыш. 3.- расплав кремния 4.- выращен.крист 5.- шток для крепления тигеля.6.- шток для крепления , вращ. Затравки и монокрист. 7.- нагреватель 8.-теплоизолирован экран, 9.-рабочая камера 10.-смотр окно. Очищенный поликристаллический кремний –(остатки от монокриталла ) помещают в тигель , производится вакуумирование камеры и плавление кремня . Выращивание осуществляется в потоке инертного газа(Ar или He). Увеличение диаметра монокристалла достигается за чет снижения температурного расплава или уменьшения скорости вытягивания . Практически 100% монокрист.выращивают с бездислокац структурой.
Для этого после ведения в контакт затворного кристалла с раствором . После этого происходит выращивание тонкой (3мм) шейки монокристалла. Затем скорость подьема снижается и происходит разрастание кристалла до необходимого диаметра. Исчезновение дислокаций при выращивании тонкой шейки связано с : основные дислокации в кремнии – линейные и смешные перемещаются в плоск(111) поскольку эта плоскость имеет наибольшую ретикулярную плотность в кремнии. Если направление вытягивания онокристалла не лежит в плоскости (111) , то дислокация зародившаяся на границе раздела ТВ тела с жидкостью обязательно выйдет на поверхность выращивания кристалла . Чем тоньше диаметр тем ранше это произойдет. По этой причине предпочтительно напрвление выращивания монокристалла [111] и [100]После того как все дислокации удалены дальнейшее их распространение под дйствием тепловых условий ростя не происходит. Дислокации могут образовываться в момнт орыва от кристалла и при попадании инородных частиц. По методу Чохральского в настоящее время выращиваютяс кристаллы диаметром до 200 мм длиной до 3 м , отклонение по диаметру до 3 мм В ближайшее время будет освоен выпуск пластин до 300 мм . Основная часть разрезается или отправляется на переделку.
39 . Получение монокристаллического кренмния бестигельной зонной плавкой.
Для выращивания высокочистых монокрист кремния с малым содержанием О . применяют метод вертикальной бестигельной зонной плавки. Схема установки для выращивания крист.
1.Держатель для крепления .2- затравка 3.- Монокристалл. 4.- Расплавл зона. 5.- высокочасотный индуктор. 6.- Исходный поликрист кремний. 7- Держатель для поликристалла 8.- Рабочая камера.
Узкая расплавленная зона сздается высокочастотным индуктором и удерживается между твердыми частями за счет поверхн натяжения(до 1.5 см высоты) Вначале производится плавление конца заготовки , к ней подводится затравка и далее вытягивается тнкаяя шейка , а затем оснвная часть монокристалла . Основной задачей бестигельной зонной плавки является получение очень чистых кристаллов кремния ю Дополнительный ряд примеси удаляется за счет испарения с поверхности расплава. В результате удается резко уменьшить концентрацию примеси в кристалле . Методом БЗП могут быть получены кристаллы с предельновысоким удельным p до 10(5) Ом*см. Скорость выращивания таким методом вдвое выше чем методу Чохральского. Диаметр выращивания слитков достигает 0.15м недостаток-серьезные технические прблемы , затрудн. Получение монокрист большого диаметра.