- •В. Е. Поляков
- •Предисловие
- •Введение
- •Глава 1. Основы взаимодействия различных видов излучений с веществом
- •1.1. Ядерное взаимодействие
- •1.1.1. Взаимодействие нейтронов с веществом
- •1.1.2. Взаимодействие заряженных частиц
- •1.1.3. Ядерные реакции при взаимодействии гамма-излучения
- •Пороги фотоядерных реакций для изотопов некоторых химических
- •Максимальные значения сечений фотоядерной реакции для ряда
- •1.2. Электромагнитное взаимодействие
- •1.2.1. Взаимодействие гамма-излучения
- •Энергия k-краев поглощения для ряда химических элементов
- •Взаимодействие рентгеновского излучения
- •Взаимодействие излучения ультрафиолетового, инфракрасного и видимого спектральных диапазонов
- •Взаимодействие излучения видимого спектрального диапазона с веществом
- •Взаимодействие инфракрасного излучения с веществом
- •Взаимодействие излучения радиочастотного диапазона
- •Глава 2. Метод масс-спектроскопии в задачах контроля металлов, сплавов и лома
- •2.1. Физическая сущность метода масс-спектроскопии с лазерной ионизацией вещества
- •Масс-спектрографе с двойной фокусировкой, и фотометрическая кривая этой спектрограммы (б) и области массового числа
- •2.2. Принципы взаимодействия импульсного лазерного излучения с веществом мишени
- •2.3. Типы лазеров и их параметры
- •2.4. Метод масс-спектроскопии с лазерной ионизацией вещества
- •2.5. Масс-спектрометры – средства контроля металлов, сплавов и лома
- •2.6. Типы масс-анализаторов, используемые в масс-спектрометре
- •2.7. Основы методики идентификации элементного состава вещества с использованием лазерного ионизатора и время-пролетного динамического масс-анализатора
- •2.8. Эмиссионные спектроскопы для экспертного спектрального анализа черных и цветных металлов
- •2.8.1. Многоканальный эмиссионный спектрометр дсф-71 (ls-1000)
- •Составные части прибора имеют следующие особенности:
- •Технические характеристики
- •2.8.2. Многоканальный эмиссионный спектрометр серии мфс
- •Технические характеристики:
- •Источник возбуждения спектра – универсальный генератор угэ-4:
- •Унифицированная система управления и регистрации:
- •Источники питания:
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 2
- •Глава 3. Физические основы γ-флуоресцентного контроля металлов, сплавов, лома
- •3.1. Рентгеновские лучи
- •3.2. Рентгеновские спектры
- •Рентгеновская спектроскопия
- •Рентгеновская аппаратура. Рентгеновская камера и рентгеновская трубка
- •Рентгеновский гониометр
- •3.6. Рентгеновский дифрактометр
- •3.7. Рентгенофлуоресцентный кристаллдифракционный сканирующий вакуумный «Спектроскан-V»
- •3.8. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан»
- •3.9. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан-lf»
- •3.10. Основы методики идентификации элементного состава неизвестного вещества и определение концентрации ингредиентов с использованием метода гамма-флуоресцентного анализа
- •3.11. Методика безэталонного рентгеноспектрального анализа сталей
- •3.11.1. Методика анализа углеродистых сталей
- •3.11.2. Методика определения содержании металлов в питьевых, природных и сточных водах при анализе на сорбционных целлюлозных дэтата-фильтрах
- •3.11.3. Методика определения содержания металлов в порошковых пробах почв
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 3
- •Глава 4. Приборы и методы таможенного контроля состава металлов, сплавов, лома с использованием методов вихревых токов
- •4.1. Основы теории вихревых токов
- •4. 2. Распределение вихревых токов
- •4.3. Характеристики вещества и поля
- •4.4. Физические принципы метода вихревых токов (вт)
- •4.5. Области применения и классификация методов вихревых токов
- •Датчики и характерные физические процессы
- •4.7. Некоторые типовые конструкции датчиков
- •Контроль и влияние примеси на электропроводность некоторых металлов
- •Меди (б)
- •Электропроводность и температурный коэффициент некоторых
- •4.9. Методы и приборы измерения электропроводности немагнитных металлов
- •4.10. Общие положения. Порядок проведения измерений
- •4.11. Элементы методики исследования и выбор материала для контроля
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 4
- •Глава 5. Ультразвуковые методы контроля металлов, сплавов, лома и руд
- •5.1. Классификация акустических методов контроля
- •5.2. Ультразвуковая аппаратура
- •Подготовка к контролю
- •Порядок проведения контроля
- •5.3. Ультразвуковая аппаратура в неразрушающем контроле
- •5.4. Ультразвуковые преобразователи
- •5.5. Определение типа металла, сплава, лома по измерению скорости распространения упругих волн
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 5
- •Глава 6. Классификация радиометрических методов контроля состава руд
- •6.1. Методы определения элементного состава полезных ископаемых по спектрометрии вторичных излучений
- •6.2. Методы, основанные на взаимодействии гамма- или рентгеновского излучения с электронными оболочками атомов или ядрами атомов элементов
- •6.3. Методы, основанные на спектрометрии гамма-излучения, возникающего при различных ядерных реакциях нейтронов с веществом
- •Методы определения естественной радиоактивности пород, содержащих радиоактивные элементы
- •6.5. Люминесцентные методы контроля состава руд
- •6.6. Фотометрические методы контроля состава руд
- •6.7. Радиоволновые методы контроля руд
- •6.8. Технология сортировки руды
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 6
- •Заключение
- •Список используемой литературы:
- •Предметный указатель
- •Оглавление
- •191186, Санкт-Петербург, ул. Миллионная, 5
Глава 2. Метод масс-спектроскопии в задачах контроля металлов, сплавов и лома
2.1. Физическая сущность метода масс-спектроскопии с лазерной ионизацией вещества
Масс-спектральный анализ или масс-спектроскопия, метод исследования вещества путем определения масс ионов этого вещества (чаще отношение масс ионов к их зарядам). Совокупность значений масс и их относительное содержание называется масс-спектром (рис.2.1.1).

Рис.2.1.1. Масс-спектрограмма (а), полученная на
Масс-спектрографе с двойной фокусировкой, и фотометрическая кривая этой спектрограммы (б) и области массового числа
В масс-спектроскопии используется разделение в вакууме ионов разных масс под воздействием электрических и магнитных полей. В этой связи исследуемое вещество, прежде всего подвергается ионизации.
Процесс ионизации исключается при изучении ионного состава уже ионизированных веществ, например в электрическом разряде или в ионосферах планет.
В случае жидких или твердых веществ их либо предварительно испаряют, а затем ионизируют, либо применяют поверхностную ионизацию, при которой образовавшиеся ионы вылетают в вакуум.
Чаще исследуются положительные ионы, так как существующие методы ионизации позволяют получать их более простыми путями и в больших количествах. Однако, в ряде случаев исследуют отрицательные ионы.
Первые масс-спектры были получены Дж. Томсоном в 1910 году (Великобритания). Вначале масс-спектроскопия применялась преимущественно для определения изотопного состава элементов и точного измерения атомных масс [29].
Масс-спектроскопия до настоящего времени является одним из основных методов с помощью которого получают данные о массе ядер и атомных масс-элементов. Высокая точность и чувствительность масс-спектроскопии как метода изотопного анализа привели к ее применению и в других областях науки и техники.
В геологии и в геохимии масс-спектральное определение изотопного состава ряда элементов (свинца, аргона и т.д.) лежит в основе методов определения горных пород и рудных образований.
Масс-спектроскопия эффективно используется в химии для элементного и молекулярного структурного анализа. Масс-спектральный анализ элементного состава вещества особенно точен, когда вещество испаряется в виде исходных нераспавшихся молекул. В этом случае применяется масс-спектрометры с высокой разрешающей способностью, можно однозначно определить число атомов С, Н, О и др. в молекуле органического вещества по массе молекулярного иона. Для определения элементного состава труднолетучих веществ применяют ионизацию методом вакуумной искры. Качественный молекулярный масс-спектральный анализ смесей основан на том, что масс-спектры молекул разного строения различны, а количественный – на том, что ионные токи от компонент смеси пропорциональны содержанию этих компонент. Точность количеств молекулярного анализа в лучшем случае достигает точности изотопного анализа. Однако часто количественный молекулярный анализ затруднен из-за совпадения по массе различных ионов, образующихся при обычной и диссоциативной ионизации разных веществ.
Для преодоления этих трудностей в масс-спектрометрах используют мягкие способы ионизации, дающие мало осколочных ионов, либо комбинируют масс-спектроскопию с другими методами, особенно часто с газовой хроматографией.
Молекулярный структурный масс-спектральный анализ основан на том, что при ионизации вещества некоторая доля молекул превращается в ионы не разрушаясь, а другая – распадается на осколки (фрагменты) – диссоциативная ионизация, фрагментация. Измерение масс и относительного содержания молекулярных и осколочных ионов (молекулярного масс-спектра) дает информацию не только о молекулярной массе, но и о структуре молекулы.
Теория молекулярно-структурного масс-спектрального анализа при наиболее часто применяемом способе ионизации электронным ударом (электроны с энергией в несколько раз превосходящей энергию ионизации) основана на представлении об образовании при таком ударе возбужденного молекулярного иона, распадающегося затем с разрывом более слабых связей в молекуле. Состояние теории не дает нам возможности количественно предсказать масс-спектр молекулы и необходимые для количественного анализа коэффициенты чувствительности прибора к разным веществам.
Для определения неизвестной структуры молекулы, в этом случае, и для качественного анализа используют корреляционные данные по масс-спектрам веществ разных классов, а для грубой оценки коэффициенты чувствительности практически линейную связь между суммарной вероятностью ионизации и молекулярной массой.
Поэтому при молекулярном масс-спектральном анализе, когда это возможно, всегда проводят градуировку прибора по известным веществам или смесям известного состава.
В физико-химических исследованиях масс-спектроскопия применяется при исследованиях процессов ионизации, возбуждения частиц, определении потенциалов ионизации и химической кинетики, теплот испарения, энергий связи атомов и молекул.
В последнее время наиболее часто проводят исследования элементного состава вещества с использованием масс-спектроскопии с лазерной ионизацией [30].
