
-
Выводы.
-
Выбраны две системы для синтеза терморезистивных материалов (NiO–CoO и NiO–Li2O)и в этих системах синтезированы пять составов полупроводниковых материалов для терморезисторов с большим отрицательным температурным коэффициентом сопротивления (ТКС).
-
Изготовлены образцы и исследованы физические и электрофизические свойства синтезированных терморезистивных материалов.
-
Определены зависимости температурного коэффициента сопротивления (ТКС), коэффициента температурной чувствительности (В), сопротивления при комнатной температуре (R20) чип-терморезисторов от состава материала, толщины терморезистивной пленки, от условий измельчения исходного порошка и температуры спекания терморезистивной пленки. Показано, что паста №3 (на основе порошка NiO–CoO с помолом 70 мин и вжиганием и слоев 750 С) наиболее полно удовлетворяет предъявленным требованиям по температурному коэффициенту сопротивления, коэффициенту температурной чувствительности и сопротивлению при комнатной температуре.
-
Исследована температурно-временная стабильность характеристик чип-терморезисторов, изготовленных на основе пасты №3. Показано, что защита чип-терморезисторов пленкой легкоплавкого стекла увеличивает температурно-временную стабильность температурного коэффициента сопротивления, коэффициента температурной чувствительности и сопротивления при комнатной температуре.
-
Проведен поиск и определены составы материалов, позволяющих получать методом трафаретной печати чип-терморезисторы с характеристиками полностью удовлетворяющими предъявленным к ним требованиям:
-
Номинальное сопротивление: (0,5…5)107 Ом;
-
ТКС: менее –2,3 %/град;
-
Коэффициент температурной чувствительности: более 2000 К;
-
Рабочий интервал температур: 20…250 С;
-
Толщина резистивного слоя: до 100мкм;
-
Габаритные размеры: 12 мм.