Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лабораторные по кристаллооптике 2008 / Лабораторная работа Поляризационный микроскоп.doc
Скачиваний:
42
Добавлен:
25.03.2015
Размер:
664.58 Кб
Скачать

6. Применение фазовоконтрастного устройства

Для установки устройства КФ-4 (в комплект не входит) необходимо снять кронштейн 55 (рис. 3.4) вместе с корпусом 49 конденсоров, предварительно отжав винт 56 (рис. 3.2), и на место снятого установить дополнительный кронштейн из комплекта, в кольцо которого вставить устройство КФ-4. В щипцовое устройство устанавливают фазовые объективы из комплекта устройства КФ-4. Работу ведут при выключенной линзе 3 (рис. 3.1).

Устройство КФ-4 применяют на поляризованном микроскопе для измерения коэффициентов преломления мелкодисперсных веществ и при изучении тонких структур (сростков), так как их не удается рассмотреть при обычных исследованиях.

При работе в поляризованном свете с помощью устройства КФ-4 производятся измерения оптической плотности минералов при различной их ориентировке. Для этих работ применяют по­ляроид в оправе, который устанавливают в расточку фланца 58 (рис. 3.2).

Работу с устройством КФ-4 следует проводить, руководствуясь его описанием.

7. Определение цены деления окулярной шкалы (или сетки)

Цена деления окулярной шкалы (или сетки) определяется для каждого объектива в отдельности. Перед определением этой величины следует вставить в насадку 23 окуляр 5" со шкалой (или сеткой) и совместить круговую риску на окулярной трубке 46 с верхним срезом неподвижной втулки 47 для установки длины тубуса 160 мм. Затем нужно установить объект-микрометр на столик микроскопа, сфокусировать тубус и повернуть объект-микрометр так, чтобы его штрихи расположились параллельно штрихам шкалы (или сетки) окуляра. Один из штрихов объект-микрометра совместить с одним из штрихов окулярной шкалы (или сетки) и определить, сколько делений объект-микрометра укладывается в каком-либо выбранном количестве делений шкалы (или сетки) окуляра.

Цену делений окулярной шкалы (или сетки) вычисляют по формуле

,

где Z — число делений объект-микрометра; Т цена деления объект-микрометра; А число делений окулярной шкалы (или сетки).

8. Смена шкалы (или сетки) окуляра

Для смены шкалы (или сетки), установленной в окуляр Гюйгенса 7", необходимо вывернуть из корпуса окуляра (снизу) оправу коллективной линзы, отвернуть гайку в верхней части этой оправы и вынуть путем опрокидывания шкалу (или сетку). После этого следует вынуть из полистиролового футляра сетку (или шкалу), вложить ее делениями вверх в выточку оправы, завернуть гайку и ввернуть оправу коллективной линзы в корпус окуляра 9. Измерение показателей преломления прозрачных минералов методом кольцевого экранирования в белом свете

Метод кольцевого экранирования — это вариант иммерсионного метода определения показателей преломления прозрачных минералов. При исследовании этим методом вещество в виде порошка помещают в иммерсионную жидкость с известным показателем преломления. Установив объектив 9х0,20 в щипцовое устройство, вещество рассматривают последовательно в ряде жидкостей, и подбирают жидкость с показателем преломления, равным показателю преломления исследуемого вещества. В случае равенства показателей преломления наблюдается цветная каемка (дисперсный эффект) по краю зерен минерала. Цвет каемки определяет область спектра, в которой совпадают показатели преломления. Таблица для определения показателя преломления прилагается к набору иммерсионных жидкостей.

Для работы методом кольцевого экранирования следует вывести конденсор из хода лучей, направить изображение источника света в зрачок выхода объектива, прикрыть рукояткой 28 ирисовую диафрагму фонаря почти до предела и сфокусировать микроскоп на объект. После этого необходимо прикрыть диафрагму объектива 9х0,20 так, чтобы окраска цветных каемок вокруг зерен была хорошо видна.

На этом заканчивается настройка освещения для работы методом кольцевого экранирования. Точность измерения показателей преломления этим методом — 0,002. Метод кольцевого экранирования может быть применен для определения осности кристаллов.i