Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Физические основы оптоэлектроники. Светодиоды. Учебное пособие

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
07.09.2026
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
Bell Laboratories в начале 1960-х гг. GaP относится к
непрямозонным полупроводникам, в которых вероятность межзонных переходов, происходящих с сохранением импульса, пренебрежимо мала, поэтому излучательная рекомбинация в них проходит, как правило, через примесные центры. Введение в GaP оптически активной изоэлектронной примеси, например азота, позволило значительно повысить вероятность излучательной рекомбинации в полупроводнике.
В 1971 г. было опубликовано сообщение о явлении электролюминесценции, наблюдаемом на образце из пленки GaN [6]. Исследуемый образец, состоявший из сильно легированного цинком слоя GaN с двумя поверхностными электродами, излучал голубой свет с длиной волны 475 нм. Затем вместо цинка применили магний, в результате удалось получить структуру, излучающую голубое и фиолетовое свечение, центральная длина волны которого составляла 430 нм
[7].
В 1972 г. был получен светодиод желтого свечения, структура которого представляла собой выращенные на подложках GaAs эпитаксиальные слои GaAsP, легированные азотом [8].
В конце 80-х гг. XX века благодаря работам Ж. Алферова были созданы светодиоды на гетероструктурах.
В 1992 г. Акасаки опубликовал статью о создании первого светодиода из GaN с гомогенным p-n-переходом. Светодиод излучал свет в ультрафиолетовом и синем спектральном диапазонах и был выращен на сапфировой подложке.
В 1990 году, работая в Nichia, С. Накамура изобрел дешевый синий светодиод. Он исследовал пленки нитрида галлия, которые осаждал из металлорганических соединений. Ему удалось вырастить многослойные гетероструктуры на основе нитрида галлия с добавками индия, которые давали
31
яркий синий цвет. К 1993 году компании Nichia первой в мире удалось начать индустриальный выпуск синих светодиодов.
2.2. Основные характеристики и параметры
светодиодов
2.2.1. Параметры светодиодов
Сила света IV – излучаемый диодом световой поток, приходящийся на единицу телесного угла в направлении, перпендикулярном к плоскости излучающего кристалла. Указывается при заданном значении прямого тока и измеряется в канделах.
Яркость излучения L – величина, равная отношению силы света к площади светящейся поверхности. Она измеряется в канделах на квадратный метр (кд/м2) при заданном значении прямого тока, протекающего через диод.
Постоянное прямое напряжение Uпр – напряжение на светодиоде при протекании постоянного прямого тока.
Максимально допустимый постоянный прямой ток
I
– максимальное значение постоянного прямого тока, при
пр max
котором обеспечивается заданная надежность при длительной работе диода.
Максимально допустимое обратное напряжение U
обр max
–
максимальное значение постоянного напряжения, приложенного к диоду, при котором обеспечивается заданная надежность при длительной работе.
Максимально допустимое обратное импульсное напряжение U
обр. и mах
– максимальное пиковое значение
обратного напряжения на светодиоде, включая как однократные выбросы, так и периодически повторяющиеся.
Максимум спектрального распределения Х
– длина
max
волны излучения, соответствующая максимуму спектральной характеристики излучения светодиода.
32
2.2.2. Вольт-амперные характеристики светодиодов
2
ln
AD
D
i
NN
kT
V
en
Рассмотрим резкий р-n-переход с концентрациями доноров ND и акцепторов NA. Все примеси считаем полностью ионизированными, т.е. концентрация свободных электронов
n = ND, а концентрация свободных дырок р = NA.
В равновесии в окрестности p-n-перехода электроны со стороны материала n-типа диффундируют от доноров в область р-типа, где они, встречая дырки в больших концентрациях, рекомбинируют с ними. Аналогичные процессы происходят с дырками, диффундирующими в область n-типа. В результате этого область в окрестности р-п-перехода оказывается обедненной свободными носителями, поэтому она так и называется – обедненная область.
При отсутствии свободных носителей в обедненной области единственными заряженными центрами в ней являются ионизированные доноры и акцепторы. Эти легирующие примеси образуют заряженные области: донорную – на стороне n-типа и акцепторную – на стороне р-типа. Такая область пространственного заряда формирует разность потенциалов, называемую контактной разностью потенциалов VD [5]:
, (2.1)
где ni – собственная концентрация носителей в полупроводнике.
На рис. 2.2 показаны зонные диаграммы p-n-перехода при нулевом и прямом смещениях. При прямом смещении p-n­перехода неосновные носители тока диффундируют в нейтральные области, где рекомбинируют с основными носителями.
Ширина обедненной области, ее заряд и контактная разность потенциалов связаны уравнением Пуассона. Зная контактную разность потенциалов, можно определить ширину обедненного слоя [5]:
33
2 1 1
DD
AD
W V V
e N N

 
, (2.2)
p-тип
n-тип
EC-E
F
EF-E
V
eV
D
E
C
E
F
E
V
W
D
E
C
E
Fn
E
V
eVD-eV
eV
E
Fp
где ε – диэлектрическая проницаемость полупроводника, а V – напряжение на диоде.
а
Рис. 2.2. Состояние p-n-перехода: а – при нулевом смещении,
Обедненная область обладает высоким сопротивлением, поскольку в ней мало свободных носителей. Внешнее напряжение в зависимости от приложенной полярности позволяет либо увеличить, либо уменьшить потенциальный барьер p-n-перехода. При прямом смещении электроны и дырки
б
б – при прямом смещении
34
инжектируются в области с проводимостями противоположных
22
1
eV
p
i n i
kT
p D n A
D
n D n
I eA e
NN








()
D
e V V
p
n
kT
AD
pn
D
D
I eA N N e



  
типов, что приводит к увеличению тока. Носители диффундируют в области с противоположным типом проводимости, где они рекомбинируют, испуская фотоны (в случае излучательной рекомбинации).
Первым вольт-амперную характеристику (ВАХ) p-n­перехода описал Шокли, поэтому выражение для I-V- характеристики тонкого резкого p-n-перехода иногда называют уравнением Шокли. Для диода с площадью поперечного сечения А оно имеет вид [5]
, (2.3)
где D
n,p
и τ
– коэффициенты диффузии и времена жизни для
n,p
электронов и дырок – неосновных носителей.
При обратном смещении диод входит в режим насыщения по току. Величина тока насыщения определяется коэффициентом, стоящим в уравнении Шокли перед экспоненциальной функцией.
При прямом смещении p-n-перехода напряжение V на диоде обычно намного больше величины kT/e, поэтому [exp(eV/kT)-1]≈ ≈ exp(eV/kT). Тогда уравнение Шокли для диода при прямом смещении имеет вид [5]
Показатель экспоненциальной функции в формуле (2.4) свидетельствует о том, что при приближении напряжения на диоде к контактной разности потенциалов, т.е. при V≈VD, ток через переход резко возрастает. Напряжение, при котором
. (2.4)
35
происходит резкое увеличение тока, называется пороговым
ln
CF
C
n
E E kT
N
 
ln
FV
V
p
E E kT
N
 
0
D g F V C F
eV E E E E E
g
ПОР D
E
VV
e

напряжением.
Из зонной диаграммы невырожденного p-n-перехода (см. рис. 2.2) величина разности энергий между уровнем Ферми и границами этих зон определяется статистикой Больцмана:
, (2.5)
. (2.6)
Из зонной диаграммы также следует, что сумма энергий равна нулю [5]:
. (2.7)
В легированных полупроводниках расстояние между уровнем Ферми и границами соответствующих зон намного меньше ширины запрещенной зоны, то есть со стороны области n-типа ЕС – ЕF<< Еg, а со стороны области р-типа ЕF – ЕV<< Еg. Кроме того, из выражений (2.5) и (2.6) следует, что эти величины почти не зависят от концентрации примесей (логарифмическая зависимость). Поэтому можно пренебречь третьим и четвертым слагаемыми в уравнении (2.7) и для оценки контактной разности потенциалов (и порогового напряжения) использовать следующее выражение [5]:
На рис. 2.3 представлены типичные вольт-амперные характеристики p-n-переходов некоторых полупроводниковых материалов.
. (2.8)
36
Рис. 2.3. Вольт-амперные характеристики p-n-переходов
некоторых полупроводниковых материалов, полученные при
комнатной температуре [5]
Различия прямых ветвей ВАХ связаны с разницей в ширине запрещенной зоны применяемых материалов. Чем меньше длина волн излучения, тем больше прямое падение напряжения на светодиоде и потери электрической энергии в нем. Обратные ветви ВАХ имеют малое допустимое обратное напряжение, так как ширина p–n-перехода в светодиодах невелика. При работе в схемах с большим обратным напряжением последовательно со светодиодом необходимо включать обычный диод.
2.2.3. Оптические характеристики светодиодов
Спектральная характеристика светодиода – это зависимость интенсивности излучения от длины волны излучаемого света. Спектральная характеристика определяет цвет свечения светодиода. В таблице приведены основные полупроводниковые материалы, позволяющие получить различные цвета излучения светодиодов.
37
Полупроводниковые материалы для изготовления
Цвет
Длина
волны, нм
Материал полупроводника
И/к
λ > 760
GaAs, AlGaAs, InP
Красный
610 < λ < 760
AlGaAs, GaAsP, AlGaInP, GaP, CdSe, ZnCdSe, CdSeS, CdTeS, GaInAsP, GaAlAsP
Оранжевый
590 < λ < 610
GaAsP, AlGaInP, GaP, ZnCdSe, CdSeS, CdTeS, GaInAsP, GaAlAsP
Жёлтый
570 < λ < 590
GaAsP, AlGaInP, GaP, ZnCdSe, CdSeS, CdTeS, GaInAsP, GaAlAsP
Зелёный
500 < λ < 570
InGaN, GaN, GaP, AlGaInP, AlGaP, InN, ZnTe, ZnCdSe, CdSeS, CdTeS
Синий
450 < λ < 500
ZnSe, InGaN, CdSeS, CdTeS
Фиолетовый
400 < λ < 450
InGaN, CdS, ZnCdS, ZnSeS, SiC
У/ф
λ < 400
Алмаз [9], BN [10], AlN, AlGaN,
AlGaInN, CuAlS2, ZnS, GaS, ZnCdS, ZnSeS
светодиодов
Излучательная (яркостная) характеристика светодиода – это зависимость потока излучения Ф от прямого тока IПР (рис. 2.4). Она характеризует эффективность работы светодиода. Выбор прямого тока через светодиод в качестве параметра электрического режима обусловлен тем, что у светодиода p-n­переход включен в прямом направлении и его электрическое сопротивление мало.
38
Ф
I
ПР
Рис. 2.4. Излучательная характеристика светодиода
При низком токе IПР велика доля рекомбинации составляющей тока и мал коэффициент инжекции. С ростом прямого тока поток излучения сначала быстро увеличивается до тех пор, пока в токе диода не становится преобладающей диффузионная составляющая. Дальнейшее увеличение IПР приводит к постепенному насыщению центров люминесценции и сопровождается ростом ударной рекомбинации. Поэтому при определенном токе излучательная характеристика достигает максимума. Максимальная сила излучения зависит от площади и геометрии излучающего p-n-перехода и размеров электрических контактов [1].
2.3. Конструкции светодиодов
На рис. 2.5 представлены основные типы конструкций светодиодов. Излучающая активная область может быть по­разному размещена в кристалле. Обычно ее площадь стремятся сделать минимальной, чтобы достичь требуемых значений параметров при меньших значениях инжектируемого тока.
Для уменьшения потерь при выходе излучения из кристалла и улучшения диаграммы направленности иногда используют кристалл, отличный по форме от параллелепипеда. Поскольку полупроводник оптически значительно плотнее воздуха, большая часть световых лучей не выходит наружу, а отражается
39
от поверхности внутрь кристалла и в конечном счете
а
б
в
г
д
е
поглощается. По сравнению с плоским кристаллом можно получить выигрыш по оптической эффективности при использовании полупроводниковой полусферы (рис. 2.5, г) в
15...25 раз, пластмассовой линзы – в 3...4 раза (рис. 2.5, д), усеченного конуса (рис. 2.5, е) — в 4...6 раз.
Рис. 2.5. Конструкции светодиодов: а, б, в – с плоской
излучающей поверхностью; г, д – с полусферической
излучающей поверхностью; е – с торцевой излучающей
поверхностью [1]
Конус, изображенный на рис. 2.5, е, улучшает диаграмму направленности торцевого излучения структур с широкой активной областью. Конструкции, приведенные на рис. 2.5, г, е, сложны, дорогостоящи и непригодны для многих микроэлектронных устройств из-за больших габаритов [1].
2.4. Светодиоды белого света
Острая потребность в широкой номенклатуре информационных экранов, дисплеев, осветительных приборов обусловливает необходимость создания особо ярких
40
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]