Добавил:
ivanov666
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда. Лабораторная работа. Учебное пособие.pdf
X
- •Введение
- •1. Основы анализа полного профиля дифракционного спектра
- •4.1. Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Discover
- •4.2. Программный комплекс DIFFRAC.TOPAS
- •Выходной контроль
- •5. Порядок выполнения лабораторной работы
- •5.1. Запись спектра порошкового образца
- •5.2. Обработка экспериментальных данных
- •Содержание отчета
- •Входной контроль
- •Рекомендуемая литература

15. Выведите соотношения, описывающие уширение
дифракционной линии Δ(2θ) из-за мелкодисперсности и
микронапряжений.
16. Вычислите структурный множитель |F
|2 для кристаллов с
HKL
ОЦК-, ГЦК-решеткой и с ГПУ-структурой.
17. Какие дифракционные максимумы присутствуют на
рентгенограммах структуры типа алмаза?
18. Вычислите структурный множитель |F
|2 для кристаллов со
HKL
структурой типа сфалерита ZnS.
19. Вычислите множитель Лоренца L(θ) для монокристалла.
20. В чем заключается кинематическая интерпретация
множителя Лоренца для монокристалла?
21. Вычислите комбинированный угловой множитель L(θ)P(θ)
для поликристалла.
–2M
22. Выведите температурный множитель e
в соответствии с
принципом эргодичности.
23. Вычислите множитель поглощения A(μ, θ) для случая
симметричного отражения от бесконечно толстого плоского
образца.
24. Дайте физическую интерпретацию первичной и вторичной
экстинкции.
25. Дайте геометрическую интерпретацию интерференционного
уравнения для метода порошков (поликристаллов).
26. Объясните правило выбора излучения в методе порошков.
27. Как провести индицирование рентгенограмм кристаллов
кубической сингонии?
28. Рассмотрите рентгенооптическую схему дифрактометра для
исследования радиоактивных материалов.
29. Какие особенности размытия дифракционных линий
изучаются при ω-сканировании и при (θ – 2θ)-сканировании?
30. Рассмотрите статистические погрешности при регистрации
дифракционных линий.
31. Дайте геометрическую интерпретацию интерференционного
уравнения в энергодисперсионной дифрактометрии.
32. Каковы особенности порошковой дифрактометрии на
синхротронном излучении?
31

33. Рассмотрите понятия прецизионности и точности в
дифракционных методах.
34. Проведите сравнительное рассмотрение графических и
аналитических методов определения параметров решетки.
35. Что такое рентгеновская характеристика вещества?
36. От чего зависит чувствительность рентгеновского
качественного фазового анализа?
37. Какие существуют методы рентгеновского количественного
фазового анализа?
38. В чем заключается рентгенографический метод определения
типа твердого раствора?
Рекомендуемая литература
1. Pecharsky V.K., Zavalij P.Y. Fundamentals of Powder Diffraction
and Structural Characterization of Materials. Second Edition. Springer,
2009. 741 p.
2. Русаков А.А. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977,
гл. 19.
3. Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.:
МИСИС, 1994, раб. 15, 16, 17 и 18.
4. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
/ Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Р. Иванов, Л.М. Расторгуев. М.:
Металлургия, 1982, гл. 10.
5. Физическое материаловедение. Т. 3. Методы исследования
структурно-фазового состояния материалов. М.: НИЯУ МИФИ,
2012. 802 с.
6. Шамрай В.Ф. Использование метода Ритвельда при
исследовании материалов на основе неорганических соединений.
М.: НИЯУ МИФИ, 2000. 48 с.
32
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]
