
razdel_3
.pdf
|
|
|
|
|
61 |
стороны |
осветителя |
ввести |
поперек |
оптическосий |
микроскопа |
непрозрачный экран (диск) с прозрачной кольцевой диафрагмой(2) таким образом, чтобы свет не заполнял в плоскости микрообъекта(3) апертуры объектива (4), то поле зрения микроскопа в отсутствие микрообъекта будет соответственно темным.
Рис.69. Принципиальная оптическая схема темнопольного микроскопа
Но если в препарате имеются микроструктуры, свет на них будет
рассеиваться |
и |
дифрагированный |
свет |
от |
таких |
микроструктур буд |
||||
попадать в объектив. |
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Рассеивание света происходит вследствие того, что элементы структуры |
||||||||||
отличаются |
от окружающей их среды показателем |
преломления. |
В этом |
|||||||
случае на темном фоне будет видно светлое изображение объекта. |
|
|||||||||
Интенсивность |
света |
от |
объекта |
при |
таком |
микроскопировании |
||||
невысокая, но тем не менее этот |
метод |
позволяет |
визуализировать |
|||||||
мелкие структуры, |
недоступные |
по разрешению для обычного микроскопа, |
||||||||
которые трудно |
увидеть |
на |
светлом |
фоне. |
В |
связи |
с этим, |
иногда |
микроскопию в темном поле называют ультрамикроскопией.
В цито- и гистохимии этот метод микроскопирования применяется
крайне редко (практически не используется). |
|
|
||
|
3.5.2. Метод фазового контраста |
|
|
|
Метод фазового контраста дает |
возможность |
преобразовывать |
||
"фазовые" микрообъекты в "амплитудные", |
следовательно, заменить |
|||
фазовый |
рельеф структур амплитудным. |
Не |
останавливаясь детально на |
|
теории |
метода фазового контраста, |
необходимо |
отметить, что |
62
голландский физик Ф.Цернике развил теорию метода, разработал удобное геометрическое представление о методе и осуществил его на практике в
30-х годах прошлого века (Zernike F., Physica,9,656,914,1942).
Известно, что различия в показателях преломления между внутриклеточными структурами и окружающей их средой незначительные, в
связи с чем сдвиг между фазами света, прошедшими через внутриклеточные микроструктуры и среду, практически не приводит при их сложении
(интерференции) к изменению амплитуды суммированной волны. Ф.Цернике показал, что если фазу прямого света(света, прошедшего через среду)
сдвинуть искусственно на90 градусов относительно света, прошедшего через объект ("отклоненного", дифрагированного света), то фазовые различия между светом, прошедшим через объект и среду, будут практически равны четверти длины волны и в этом случае их интерференция будет приводить к изменению амплитуды световой волны, а
сами структуры будут видны при микроскопическом анализе, за счет увеличения их контраста относительно окружающей их среды.
На практике это реализуется следующим образом(рис.70). Свет от источника попадает на кольцевую диафрагму(1), изображение которой строится конденсором (2) в фокальной плоскости объектива(3). В этой плоскости устанавливается фазовая пластинка (4), представляющая диск с кольцевой канавкой (или напылением), создающая опережение(или отставание) по фазе равное π / 2.

63
Рис.70. Метод фазового контраста
Размер изображения фазового кольца должен точно совпадать с кольцевой диафрагмой конденсора. Таким образом, весь прямой свет, прошедший через
кольцевую диафрагму конденсора, проходя через |
фазовую |
пластинку, |
изменяет свою фазу наπ / 2. Свет, дифрагированный на объекте (5), будет |
||
проходить через остальную апертуру объектива |
и не претерпевать н |
|
фазовых, ни амплитудных изменений. При интерференции прямого света, |
||
сдвинутого по фазе на π / 2, и света, дифрагированного структурами объекта, |
||
будет приводить к изменению амплитуды , |
светапроходящего |
через |
микроструктуры анализируемого препарата, вследствие чего в плоскости (6)
получается контрастное изображение, в котором структурам с большим показателем преломления будут соответствовать более темные участки
("позитивный контраст"). Для получения "негативного контраста", когда структурам с большим показателем преломления будут соответствовать более светлые участки изображения, фазовая кольцевая пластинка в фокальной плоскости объектива изготавливается путем напыления, что приводит к отставанию фазы прямого света на π / 2.
Фазово-контрастная микроскопия играет огромную роль в изучении живых клеток, клеточных культур и тонких тканевых эксплантатов
(переживающей ткани). При помощи фазово-контрастной микроскопии изучается влияние гистохимических фиксаторов на морфологию клеток,
влияние различных физико-химических факторов на изменение клеточных
64
микроструктур. Кроме этого, фазово-контрастная микроскопия играет незаменимую роль в изучении движения клеток и внутриклеточных органелл в нормальных условиях и при патологических процессах. Для цито- и гистохимии метод фазового контраста является мощным дополнительным инструментом для изучения морфологии клеток и тканей.
3.5.3. Интерференционная микроскопия
Явление интерференции представляет сложение двух когерентных волн,
в результате которого возникает третья волна. Амплитуда и фаза результирующей волны зависят от того, насколько одна из составляющих волн опережает другую, т.е. от величины разности хода Т, или сдвига фаз между ними - :
= 2 π T / λ , λ - длина волны света.
Амплитуда А результирующей волны |
при = 0 равна сумме амплитуд |
интерферирующих волн (а1+а2), а при = |
π равна (а1 - а2). Разность хода |
волн Т зависит от толщины микрообъекта(d) и разницы показателей преломления объекта (no) и среды (nc): Т=d(no-nc), поэтому сдвиг фаз связан
с |
параметрами |
микрообъекта |
иусловий |
измерения |
следующим |
|||
соотношением: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
= |
2 π d(no-nc) / λ |
|
|
|
|
|
|
Нетрудно |
видеть, что |
в основе интерференционной микроскопии и, |
|||||
рассмотренной |
|
выше |
фазово-контрастной |
микроскоп, лежиит |
||||
использование |
законов интерференции |
света для |
визуализации"фазовых" |
микрообъектов, т.е. для превращения "фазовых объектов" в "амплитудные объекты".
В случае интерференционного микроскопа для получения
интерференционного контраста используется следующая принципиальная схема (рис.71).

65
Рис. 71. Схема интерферометра
Свет от источника S |
в точке А раздваивается на два луча - АВD - опорный |
||||||||||||||||
луч (волна |
сравнения) и ACD - |
рабочий луч, |
который |
проходит |
через |
||||||||||||
изучаемый микрообъект (О). Оба луча в точке D интерферируют и образуют |
|||||||||||||||||
результирующий луч. В опорном |
лучеABD |
при |
помощи |
фазовой |
|||||||||||||
пластинки можно создать любую разность |
хода |
по сравнению с лучом в |
|||||||||||||||
плече |
ACD, |
в |
котором |
|
фаза |
волны |
изменяется объектом |
О. Как |
|||||||||
указывалось |
выше, "фазовый микрообъект" О приводит к незначительному |
||||||||||||||||
сдвигу фазы световой волны |
и |
если в луч ABD ввести фазовую пластинку |
|||||||||||||||
сдвигающую |
|
фазу |
опорного |
луча |
на π / 2, то |
такой |
микроскоп |
будет |
|||||||||
работать, как рассмотренный выше, |
фазово-контрастный микроскоп. Но в |
||||||||||||||||
отличие |
от |
фазово-контрастного |
микроскопа, |
в |
интерференционном |
||||||||||||
микроскопе |
|
образуется |
более |
|
качественное |
изображение |
объекта, |
||||||||||
лишенное недостатков (ореол вокруг |
|
микроструктур), |
характерное |
для |
|||||||||||||
фазово-контрастного микроскопа. Так как лучи АВD |
и АСD |
разнесены в |
|||||||||||||||
пространстве, в ход опорного луча AВD |
можно |
ввести компенсатор |
(К), |
||||||||||||||
при помощи |
которого можно |
плавно и |
непрерывно |
менять |
оптическую |
длину опорного луча, т.е. приводить к плавному изменению сдвига между
опорным лучом и лучом, в который помещен микрообъект. Если
компенсатор снабжен приспособлением для отсчета величины перемещения луча AВD, можно измерять разность хода луча (Т), вносимой объектом
влуче АСD. Таким образом, интерференционная микроскопия
позволяет |
не |
только получить качественный фазовый контраст, но и |
измерять сдвиг фаз, вносимых микроструктурами объекта. |
||
Колебания опорного и рабочего лучей описываются синусоидальными |
||
кривыми |
и, в |
результате их интерференции, возникает результирующая |
|
|
|
|
|
|
|
|
66 |
волна, |
период |
которой остается |
равным |
составляющим |
волнам, а |
|||
амплитуда |
зависит |
от сдвига фазы ( ), вносимого микрообъектом в луче |
||||||
AВD. |
При |
= 0, |
как указано выше, амплитуда результирующей волны |
|||||
будет максимальна, а при |
= π |
амплитуда уменьшается до нуля, затем |
||||||
при уменьшении |
до нуля амплитуда растет до максимума и т.д. Так как |
|||||||
освещенность |
в |
плоскости |
изображения |
пропорциональна |
квадрату |
|||
амплитуды, |
то в рассмотренном случае будет, соответственно, |
меняться |
контраст изображения интерференционной картины.
При помощи компенсатора интерференционного микроскопа можно
проводить количественные измерения оптической разности |
хода (Т) |
|||
опорного и дифрагированного на объекте лучей и, на основе этих |
||||
измерений, |
рассчитывать |
важные |
оптические |
характерис |
микрообъектов: |
показатель |
преломления |
микроструктур, |
толщину |
микрообъектов, |
вес сухого вещества в клетках. |
|
|
3.5.3.1. Определение показателя преломления
Показатель преломления клетки или внутриклеточной органгеллы, или ее фрагмента (nо), определяется по формуле:
nо = Т/d + nc,
где d - толщина объекта, а nс - показатель преломления среды. Так как точное измерение d на практике является практически невозможным,
проводится измерение Т1 и Т2 последовательно в двух средах с известными nс1 и nс2 и тогда можно использовать формулу:
nо = (Tnc1 - Tnc2) / (T2 - T1)
3.5.3.2. Определение толщины объекта
Из приведенного выше уравнения видно, что толщина микрообъектов
(d) равна:
d = Т / no - nc см
Если показатель преломления объекта (no) неизвестен, то измерения
Т1 и Т2 последовательно проводят, как в предыдущих измерениях, в двух
|
|
67 |
средах с показателями преломления nс1 |
и nс2 |
и при расчетах |
используют модифицированное уравнение : |
|
|
d = (T1 - T2) / (nc2 - nc1) cм |
|
|
3.5.3.3. Определение сухого вещества |
|
|
Измерения зависимости показателей преломления сывороточного альбумина и глобулина от концентрации показали, что эта зависимость описывается простым уравнением:
α = (nб - nс ) / C
где - α альфа ("удельный прирост показателя преломления"), nб -
показатель преломления белка, nс - показатель преломления среды, C -
количество граммов сухого белка в 100 мл раствора. В случае однородного преломляющего объекта толщиной d разность хода лучей
(Т) равна:
Т = (no - nc) d,
где no - показатель преломления микрообъекта, nc - показатель преломления среды.
Если представить живую клетку как белковую массу, погруженную в солевую среду, то, исходя из приведенных уравнений, можно записать:
Т = α C d
Как указывалось выше, концентрация С выражена в г на 100 мл раствора. Можно выразить концентрацию С через вес сухого вещества в клетке (М):
С= вес сухого белка в г/100 мл = 100 М в г /объем клетки
Вэтом случае можно записать уравнение связывающее разностьхода лучей (Т) с концентрацией сухого вещества в клетке:
Т= 100 α C d (M / объем клетки)
Учитывая, что объем клетки равен |
произведению |
площади клетки (S) |
на ее толщину, расчет сухого веса |
вещества в |
клетке (М) можно |
проводить по следующему уравнению: |
|
|

68
M = TS / 100 α (г / 1клетку)
Величина 100α (называется иногда χ [хи]) для разных биологически важных веществ колеблется в пределах от 0.14 до 0.20 и
зависит от химического строения вещества, рН раствора и от длины волны. Важно, что в последнее уравнение не входит величина толщины клетки, что измерять довольно трудно, а входит площадь клетки, что легче поддается прямому измерению.
3.5.4. Поляризационная микроскопия |
|
|
|
|||
Метод |
исследования |
микрообъектов |
в |
поляризованном |
свете |
|
используется для изучения |
анизатропных объектов, т.е. микрообъектов, у |
|||||
которых |
оптические |
свойства меняются |
в |
зависимости от |
направления |
|
плоскости |
поляризации |
света. Определение |
анизотропии микрообъектов |
позволяет судить об их структуре и физико-химических свойствах.
Как известно, плоско-поляризованные волны можно получить при помощи специальных оптических устройств - поляроидов или призм,
приготовленных из двоякопреломляющих материалов. На рис. 72 а
Рис.72. Принципиальная схема поляризационного микроскопа
представлена схема поляризационного микроскопа. Если после источника света (1) и коллекторной линзы осветителя (2) поставить первый поляроид - поляризатор (3), свет в конденсор (4) будет проходить плоскополяризованным и попадать на препарат (5), расположенный на вращающемся столике (6). После объектива (7) в оптической схеме
|
69 |
поляризационного микроскопа имеются компенсатор (8), второй поляроид – |
|
анализатор (9) и окуляр (10). Если ось поляризатора |
(плоскость |
поляризации) перпендикулярна оси анализатора, то поле зрения микроскопа |
|
в отсутствии двоякопреломляющего объекта выглядит равномерно - темным. |
|
Однако, если в плоскости препарата имеется двоякопреломляющий объект и |
|
его ось поляризации отлична от 0 градусов и 90 градусов, т.е. не |
совпадает с |
осями поляризатора и анализатора, такой объект будет виден на темном фоне |
|
||||||||||
как светящийся предмет. При вращении объекта, что достигается вращением |
|
||||||||||
поворотного |
столика |
|
микроскопа, |
яркость |
изображения |
объекта будет |
|
||||
изменяться и достигнет максимума при положении плоскости поляризации |
|
||||||||||
микрообъектов |
под 45 |
градусов |
относительно |
осей |
поляризатора |
и |
|||||
анализатора (рис.72 б). |
Измеряя поляризацию света, прошедшего через |
|
|||||||||
объект, можно точно вычислить вносимую объектом разность фаз и |
|
||||||||||
измерить, |
таким |
образом, |
его |
двойное |
лучепреломление. Обычно |
|
|||||
компенсатор, |
например, |
для метода Сенармона, устанавливается перед |
|
||||||||
анализатором и после того как объект установлен под 45 градусов |
|
||||||||||
относительно поляризатора и анализатора вращением компенсатора нужно |
|
||||||||||
достичь затемнения объекта целиком или его внутренней структуры и |
|
||||||||||
зафиксировать угол поворота компенсатора. |
Угол поворота |
компенсатора |
|
||||||||
обычно |
выражается |
в |
виде |
долей длин |
волн |
и |
эта величина |
|
запаздывания фаз (Г) между двумя составляющими волнами, возникшими в двоякопреломляющем объекте равна:
Г = d (nc - no),
где d - толщина микрообъекта, nc - показатель преломления среды, no - показатель преломления микрообъекта. Например, если обнаружено,
что Г = λ / 2, при λ = 550 нм, и толщине микрообъекта 10 мкм = 104 нм,
то nc - no равно: 225 нм / 104нм = 0,0225. Зная значение nc можно рассчитать значение no.
Микроскопия в поляризованном свете играет важную роль в изучении анизатропии внутриклеточных органелл и упаковке больших молекул, что
70
наряду с электронной микроскопией дает большую информацию о субмикроскопическом строении внутриклеточных органелл.
3.5.5. Ультрафиолетовая микроскопия
Микроскопия в ультафиолетовой области спектра практически не
отличается от микроскопии в видимой области спектра, за исключением
того, что при этом для освещения микрообъектов используется
ультрафиолетовый свет. В связи с этим, в ультрафиолетовых микроскопах
используется оптика, изготовленная из материалов, |
пропускающих |
||||
ультрафиолетовый свет, в основном, из разных марок кварцевого стекла. |
|||||
Можно отметить следующие главные достоинства и особенности |
|||||
ультрафиолетовой микроскопии: |
|
|
|
||
1). В ультрафиолетовой области спектра |
обладают специфическим |
||||
поглощением нуклеиновые кислоты (λ = 275-280 нм) и белки (λ = |
250-280 |
||||
нм). Поглощение глобулинов и нуклеиновых |
кислот |
перекрывается в |
|||
области 280 |
нм, однако, нуклеиновые кислоты поглощают в этой области в |
||||
10 раз |
сильнее, чем |
глобулины. Кроме |
поглощения, |
многие |
внутриклеточные соединения обладают выраженной собственной
флуоресценцией в ультрафиолетовой |
части спектра: витамин |
В12 - 305 |
|||
нм, витамин Е (α-токоферол) - 340 |
нм, |
эстрогены - 325-330 |
нм и т.д. |
||
Наиболее |
интенсивная флуоресценция |
обнаружена |
у |
белков, |
содержащих ароматические аминокислоты.
2). Как указывалось выше, разрешающая сила микроскопа зависит от
длины волны света, используемого при освещении препаратов, причем разрешение увеличивается при использовании света в коротковолновой
части спектра. Поэтому в ультрафиолетовой области спектра разрешение
микрообъектов выше, чем в видимой области спектра, например, при
длине волны 250 |
нм разрешение микроскопа |
увеличится вдвое |
по |
||
сравнению с длиной волны 500 нм. |
|
|
|
||
3). В связи с тем, что для человеческого глаза ультрафиолетовый |
свет |
||||
невидим, |
для |
наблюдения |
изображения |
в ультрафиолетовом |