- •Методы электронной спектроскопии
- ••Спектроскопия — разделы физики и аналитической химии, посвящённые изучению спектров взаимодействия излучения (в
- •Электромагнитный спектр
- ••Прямая задача спектроскопии —
- ••Атомный и молекулярный спектральные анализы позволяют определять элементный и молекулярный состав вещества, соответственно.
- •Вид спектров
- ••Фраунгоферовы линии— это узкие полоски,
- •Спектральный терм-это группа энергетических состояний, характеризуемая одними и теми же величинами L и
- •Взаимное расположение термов одной электронной конфигурации определяется
- •Вероятность перехода атома из одного
- ••Линии, обусловленные переходом электрона на основной уровень, принято называть резонансными. Особое аналитическое значение
- •Основные узлы приборов в АЭС
- •Источники возбуждения спектров
- •Диспергирующий элемент
- •Приемники излучения
- •От способа оценки интенсивности
- •Содержание
- •Стилоскоп универсальный СЛУ
- •• Ширина спектральной линии(δλ или δν) -
- •Количественный анализ
Содержание |
Интенсивность |
ванадия, % |
линий |
0,15 |
1=4 |
0,30 |
2=4 |
0,50 |
3=4 |
Стилоскоп универсальный СЛУ
Test-Master PRO
стилоскоп СЛ-13
• Ширина спектральной линии(δλ или δν) -
это мера не монохроматичности, оптическое изображение щели прибора.
•Ширину спектральной линии определяют как расстояние δλ (δν) между точками контура спект- ральной линии, в которых интенсивность равна половине её максимального значения:
•δλ (δν)- определяется как естественная ширина и уширения, обусловленные эффектами Лоренца(ударное) , Доплера
•Уширение- за счет эффекта Штарка и Зеемана(расщепление в электрическом и магнитном поле)
•Величина δλ (δν)- 0.01-0.02 Å
J
3
2
1
Самообращение формы спектральной линии
l g J |
b=1 |
|
l g a
l g C
Количественный анализ
I r = NrArhνr Nr=N gr/g0 exp( -Er/kT) I r = N Ar gr/g0 hνr exp( -Er/kT)
При Т=const I r =DN ;
При стабильной работе источника возбужден6ия N =aC и I r =DaC
При увеличении концентрации вещества самопоглощение увеличивается
I =aCb b-коэффициент самопоглощения lgI = lga + blgC –уравнение Ломакина-Шайбе
• |
Sa = γ lgIa +const ; Sосн = γ lgI осн +const; |
• |
Sa - Sосн = ΔS = γ lgIa/ I осн |
•lgIa/ I осн = lga + blgC
•ΔS = γ lga + γ blgC
•В методе трех эталонов на одной фотопластинке
фотографируют спектры трех эталонов с известным содержанием элементов и спектр анализируемого образца. Измеряют почернение выбранных линий. Строят градуировочный график, по которому находят содержание изучаемых элементов.
•В случае анализа однотипных объектов применяют метод постоянного графика, который строят по большому числу эталонов. Затем в строго одинаковых условиях снимают спектр образца и одного из эталонов.
•В методе добавок пробу переводят в раствор и порции раствора добавляют известное количество определяемого элемента
•Рассчитывают:сх = сдоб Ix / ( Iх+доб – Iх),
• |
Методами эмиссионного |
|
спектрального анализа выполняется |
|
значительная часть анализов в |
|
металлургической промышленности. |
|
Анализируется исходное сырье и готовая |
|
продукция. Существенную роль этот |
|
метод играет для анализа природных и |
|
сточных вод, почвы, атмосферы и других |
|
объектов окружающей среды, а также в |
|
медицине, биологии и т.д. Метод |
|
характеризуется высокой |
|
чувствительностью |
• |
Средний предел обнаружения |
|
методами эмиссионной спектроскопии |
|
составляет 10-3-10-4% до 10-5%. |
|
Погрешность определения |
|
характеризуется в среднем величиной 1- |
|
2%. |