
6.4. Фотогальванический эффект в p-nпереходе и его применения
Фотогальванический эффект заключается в возникновении электрического тока (фототока) при освещении полупроводникового p-nперехода, включенного в замкнутую цепь, или возникновении ЭДС на освещаемом образце при разомкнутой внешней цепи (фотоЭДС). Физическая природа фотогальванического эффекта связана с поглощением света полупроводником при одновременной генерации подвижных носителей – электронов и дырок.
Прибор, основанный на фотогальваническом эффекте, называется фотодиодом. Основой такого прибора является мелкий (глубиной 3…5 мкм)p+-n переход в эпитаксиальной пленкеSiилиGe(рис. 6.16,а). Небольшая глубинаp+-n перехода необходима для уменьшения поглощения светового потокаФ, достигающего перехода. С целью снижения объемного сопротивления кристалла эпитаксиальная пленкаn-типа проводимости выращивается на подложке сильно легированного кремния или германияn+типа проводимости.
Существуют два режима использования фотодиода: без внешнего питания - вентильный или фотовольтаический режим и с внешним питанием - фотодиодный режим. Фотодиоды, предназначенные для преобразования световой энергии в электрическую без внешнего питания, называют вентильными фотоэлементами.
Процессы, происходящие в p+-nпереходе под воздействием света иллюстрируются с помощью энергетической зонной диаграммы перехода, представленной на рис. 6.16,б. Свет с энергиейhνпопадает в полупроводник через специальное окно, созданное на поверхностиp+-слоя. В результате освещения вp+-nпереходе и прилегающих областях генерируются избыточные носители заряда – электроны и дырки.
Вентильный режим.Под воздействием внутреннего электрического поляЕвp+-nпереходе электроны будут перемещаться вn-область, а дырки – вp+- область, где происходит их накопление. При отсутствии источника обратного смещения накопление основных носителей заряда вp+и n- областях ведет к снижению потенциального барьера между этими областями до значения φк-Uхх, гдеUхх- величина фотоЭДС. Вp+-nпереходе появляется фототокjф, направление которого совпадает с направлением обратного теплового токаj0. В свою очередь снижение потенциального барьера в переходе на величинуUххприводит к увеличению диффузионного токаjдифнеосновных носителей заряда черезp+-nпереход. Сравнивая выражения (4.7) и (4.12), для величины этого тока получим соотношение
.
(6.14)
Диффузионный ток jдифнаправлен навстречу сумме токовjф+ j0. Поскольку, как уже отмечалось выше (п. 4.1.1) через изолированный полупроводник ток проходить не должен, между диффузионным и дрейфовым токами устанавливается динамическое равновесие, то есть
jдиф=jф +j0. (6.15)
Возможны несколько вариантов включения p+-nперехода во внешнюю электрическую цепь.
При коротком замыканиивнешних выводовp+-nперехода из выражений (6.14) и (6.15) следует, что величина фототока равна
.
(6.16)
При фиксированном значении освещенности поверхности полупроводникового перехода значение фототока jфявляется параметром.
При разомкнутых выводахp+-nперехода на выводах появляется фотоЭДСUф =Uхх, величина которой рассчитывается из соотношения (6.16):
.
(6.17)
Как
уже отмечалось, появление фотоЭДС на
выводахp-nперехода при освещении его светом носит
название фотовольтаического эффекта.
На рис. 6.17 представлены ВАХ фотодиода, работающего в вентильном режиме. Они расположены в 4 квадранте декартовой системы координат. На горизонтальной оси графиков отложены значения напряжения холостого хода Uхх, возникающего на разомкнутых выводах фотодиода (Rн=∞). По вертикальной оси отложены значения фототокаIф, протекающего в цепи при коротком замыкании выводов фотодиода (Rн=0 Ом).
Фотодиодный режим. При подключении к освещенному p+-n переходу источника обратного смещенияcнапряжениемUток в цепи будет равен
,
(6.18)
где
.
Подставляя значение jp-nв формулу (6.18), получим, что величина тока через освещенныйp+-nпереход определяется из выражения
.
(6.19)
При значениях обратного напряжения |U|>>φтравенство (6.19) можно записать в виде
.
(6.20)
Из формулы (6.20) следует, что при освещении p+-nперехода, находящегося под обратным смещением, величина обратного тока возрастает на величину фототокаjф.
На рис. 6.18 показано семейство ВАХ фотоэлемента, работающего в фотодиодном режиме. Поскольку на p-nпереход подается обратное напряжение смещения –U, то характеристики находятся в 3 квадранте декартовой системы координат. При последовательном подключении нагрузки междуp-nпереходом и источником питания, в нагрузке протекает фототок, пропорциональный интенсивности освещения.
В фотодиодном режиме за счет источника внешнего напряжения фототок iф примерно равен току короткого замыкания вентильного элемента, а падение напряжения от фототока на нагрузке Uф при любом сопротивлении нагрузки больше по величине, чем фотоЭДС в вентильном режиме.
На
рис. 6.19 представлен полный вид семейства
вольтамперных характеристик фотодиода,
построенных в соответствии с выражением
(6.19) для различных значений световых
потоков,Ф, падающих наp+-nпереход.
Видно, что при величине светового потока Ф0=0 ВАХ имеет обычный вид. ПриФ≠0 графики ВАХ смещаются вниз на отрезки, равные –jфi.
Фотодиодный режим реализуется при приложении к p-nпереходу обратного напряжения смещения. При последовательном подключении нагрузки междуp-nпереходом и источником питания, в нагрузке протекает фототок, пропорциональный интенсивности освещения.
Режим генерации фото ЭДС осуществляется без подключения внешнего напряжения. Ему соответствует квадрант 4 вольтамперной характеристики (рис. 6.19). Этот режим применяется в солнечных батареях (элементах).
Включение p-nперехода фотодиода в прямом направлении практически не используется (1 квадрант ВАХ).
Диодная оптопара.Оптопары, или оптроны, являются основными структурными элементами оптоэлектроники - одного из современных направлений функциональной микроэлектроники.
Простейший диодный оптрон состоит из трех элементов (рис. 6.20): фотоизлучателя 1, световода 2 и фотоприемника 3, заключенных в светонепроницаемый герметичный корпус. При подаче на вход электрического сигнала возбуждается фотоизлучатель. Световой поток по световоду попадает в фотоприемник, в котором вырабатывается выходной электрический сигнал. Существенной особенностью оптрона является то, что его элементы связаны оптически, а электрически вход и выход изолированы друг от друга. Благодаря этому легко обеспечивается согласование высоковольтных и низковольтных, а также высокочастотных и низкочастотных цепей. Условное обозначение диодного оптрона приведено на рис. 6.21, а его конструкция - на рис. 6.22.
Рис.6.20
Рис.6.21
Рис.6.22
1,2 - р и n области фотодиода; 3,4 - n и р области светодиода; 5 -световод на основе селенового стекла; 6,7 - контакты светодиода; 8,9 - контакты фотодиода.
В качестве фотоизлучателей оптронов получили распространение инжекционные светодиоды, в которых испускание света определяется механизмом рекомбинации электронов и дырок.
Контрольные вопросы и упражнения
1. Выведите закон Бугера-Ламберта.
2. Объясните механизмы собственного поглощения света в полупроводниках. Как происходят прямые и непрямые оптические переходы?
3. Перечислите другие виды поглощения света в полупроводниках. Дайте определение экситона.
4. Что такое внутренний фотоэффект?
5. Нарисуйте график зависимости фототока в полупроводнике от энергии падающего света, объясните его.
6. Объясните закономерности нарастания и спада фотопроводимости полупроводника.
7. В чем заключаются особенности мономолекулярной люминесценции полупроводников?
8. Объясните устройство и принцип действия электролюминесцентного индикатора.
9. Объясните сущность фотогальванического эффект в p-n переходе. Применения фотогальванического эффекта.
10. Поясните принцип действия и устройство интегрального оптрона.
11. Поясните процесс образования фототока диода.
12. Поясните принцип действия светодиода.
13. Почему оптроны используются для развязки электрических цепей?
P-n переход
- обратное смещение 210, 212
Внутренний фотоэффект 199
Закон
- Бугера-Ламберта 192
Коэффициент
- поглощения света 191
Люминесценция
- катодолюминесценция 207
- фотолюминесценция 206
- электролюминесценция 208
Носители заряда
- неравновесные 200
Оптопара
- диодная 213
- резисторная 205
Поглощение света
- кристаллической решеткой 198
- примесное 196
- свободными носителями заряда 197
- собственное 192
- экситонное 198
Фотогальванический эффект 209
Фотодиод 209
Фоторезистор 203