
книги из ГПНТБ / Электронно-зондовый микроанализ [сборник]
..pdfЭкспериментальная техника рентгеновского микроанализа |
27 |
на, а Шинода [95] отмечает, что функция Уэйбулла позволяет дос тигнуть хорошего согласия с полученными им данными.) Методы бездисперсионного анализа успешно применены в различных ка чественных и количественных исследованиях [96—98]. Например, Кимото и Герт [99] сравнивают данные анализа В/(а-излучения, полученные бездисперсионным методом, с данными, полученными с использованием кристаллов. Несмотря на то что анализ бора свя зан с особыми трудностями, отмечена более высокая максимальная интенсивность ^„-излучения (в 30 раз), чем при использовании кристаллов.
Существует анализ спектров на основе метода дифференциаль ных фильтров Росса. В работе [100] рассмотрено применение двух симметричных сбалансированный фильтров, обеспечивающих до вольно высокое значение отношения интенсивностей «пропущен ного» и «поглощенного» излучения в диапазоне 2—8 Â (изготовле ние фильтров подробно освещено в работе [101]). Кастен и Пикуар [102] применили этот метод к мягкому излучению (ОКа, N/(a и
т. д.). Эти авторы показали, например, что можно получить отноше ние сигнал — фон, равное 100, при использовании двух счетчиков с фильтрами для кислорода и азота соответственно, причем такой метод превосходит многие дисперсионные методы с кристаллами. Зарегистрированные интенсивности (число импульсов в секунду) превышали в несколько раз значения интенсивностей, полученные с использованием стеарата каприновой кислоты при анализе мяг кого рентгеновского излучения*.
Г. Детекторы рентгеновского излучения
Вмикроанализаторах наиболее широкое применение в качестве детекторов получили газовые пропорциональные счетчики отпаян ного типа с ксеноновым наполнением для жесткого излучения и проточного типа с тонким входным окном и аргон-метановым напол нением для более мягкого излучения. На рис. 9, а представлена
зависимость эффективности регистрации от длины волны рент геновского излучения. Специальные требования для ультрамягкого излучения будут рассмотрены позднее. Счетчик этого типа исполь зуется не только для детектирования рентгеновского излучения, отраженного от кристалла, но и обеспечивает эффективную дискри минацию по нежелательным длинам волн, например отражения в высоких порядках, при помощи дискриминации по амплитудам им пульсов. Общие принципы работы пропорциональных счетчиков, распределение импульсов по амплитудам, появление «паразитных»
*В связи с широким использованием длинноволнового рентгеновского излучения существующие таблицы длин волн устарели. Дэвидсон и Уайкоф
[103]приводят данные по L- и М-спектрам в диапазоне 2—85 Д . Выполнены также измерения L-, М - и У-излучения плутония [104— 106].
28 |
Д . П ул , П . Мартин |
максимумов утечки и поглощения, связанного с составом газа, мерт вое время и т. д. подробно обсуждены в работах [107, 108]. В рабо те [109] рассмотрено появление максимумов утечки и их значение.
В идеальном случае такой детектор должен обеспечивать вели чину выходного импульса, амплитуда которого пропорциональна энергии поглощенного рентгеновского кванта; однако благодаря статистическому разбросу «разрешающая способность» распределе ния амплитуд импульсов (которая определяется как полная шири на на высоте, равной половине максимальной, деленная на среднюю
Р и с . 9. а —- Эффективность счета пропорциональных и сцинтилляционных счетчиков в зависимости от длины волны рентгеновского излучения.
1 — сцинтилляционный счетчик; 2 — проточный аргоновый пропорциональный счетчик; 3 —
|
отпаянный |
счетчик с ксеноновым наполнением. |
|
|
|
||
б — Разрешающая |
способность проточного |
(аргон — метан) |
|
пропор |
|||
ционального |
и кремниевого детекторов в зависимости |
от энергии |
рентге |
||||
новского излучения |
(сцинтиллятор — кристалл иодида |
натрия, |
активиро |
||||
|
|
ванный таллием). |
|
|
|
|
|
1 — сцинтилляционный счетчик; 2 — проточный газовый пропорциональный счетчик; |
3—полу |
||||||
|
проводниковый Si ( U ) -счетчик; 4 — кремниевый счетчик. |
|
|
||||
амплитуду) |
изменяется |
в зависимости |
от подводимой |
энергии. |
Относительная разрешающая способность может быть рассчитана
приближенно по формуле (2,3&Vn /N)- 100, где N — число пер
вичных ионов, образующихся на один поглощенный фотон падаю щего рентгеновского излучения. Для аргон-метанового наполнения
N = E l 26 (Е — энергия рентгеновского |
излучения, эВ), следова |
тельно, разрешающая способность равна |
1203Г У Е . Зависимость |
рассчитанной таким образом разрешающей способности от энергии рентгеновского излучения показана на рис. 9, б. Практически раз
решающая способность, близкая к значениям, полученным из этого графика, может быть достигнута (см., например, работу [ПО]) при
Экспериментальная техника рентгеновского микроанализа |
29 |
условии чистоты и постоянного по длине диаметра проволоки, вы сокой степени чистоты газа, высокой стабилизации напряжения и давления газа, выбора оптимального режима работы. Высокая раз решающая способность имеет важное значение не только при бездисперсионном анализе, она существенна также для обычной спектро метрии с применением кристаллов. Амплитуды шумов электронных устройств не должны влиять на разрешающую способность счет чика. Импульсы рентгеновского излучения на выходе последнего усилителя должны регистрироваться осциллографом с большой скоростью записи; для излучения средней жесткости, например FeÄa , уровень шумов должен быть не больше 2% амплитуды им пульса, а для мягкого излучения, например С К а, — менее 10%.
Средняя амплитуда импульсов может изменяться в зависимости от интенсивности излучения, т. е. скорости счета, в результате воз никновения внутри счетчика оболочки положительных ионов, обра зующихся из-за плохого согласования параметров во внешних це пях и при работе с очень высокими коэффициентами газового усиле ния. Вогел и Фергасон [111] указывают, что этот эффект может вызвать в счетчике промышленного микроанализатора сдвиг мак симума на 25% при скорости счета 20 000 имп/с, тогда как в счетчи ке, разработанном ими, при скорости счета 28 000 имп/с этот сдвиг пренебрежимо мал [111]. Влияние больших сдвигов амплитуды им пульса проявляется в смещении максимума распределения относи тельно окна дискриминатора по амплитудам импульсов, что приво дит к нелинейной счетной характеристике системы. Если ширина окна не будет правильно отрегулирована, оно становится неэффек тивным. В предельных случаях наблюдаемая скорость счета может понижаться с увеличением тока зонда [112]. Данный эффект обсуж дался различными авторами [113— 116], предложившими решить этот вопрос выбором диаметра проволоки, плотности газа, газового усиления и т. д. Однако удовлетворительное решение можно найти, исходя из разработки соответствующей внешней цепи, которая обеспечит возможность использования счетчика в оптимальном для него режиме, без высокого коэффициента усиления счетчика для достижения уровня сигнала, превышающего уровень шумов в электронных устройствах. Это показал Десброух [117], который ввел предусилитель с низким уровнем шумов непосредственно к детекторам; таким образом, были устранены паразитные емкости соединительного кабеля с удаленными предусилителями; в резуль тате произошло ослабление сигнала и повышение уровня шумов. Другим источником сдвига максимума является изменение харак теристик усилителя при высоких скоростях счета вследствие на копления импульсов; в этом отношении выбор приемлемых усилите лей имеет важное значение.
При устранении нелинейности счетной характеристики, вызывае мой сдвигами максимума, эффект, связанный с мертвым временем
30 |
Д . |
П ул , П . Мартин |
|
|
в детекторе и цепях, |
сохраняется. Генрих [112] подтверждает, что |
|||
истинная скорость счета N может быть вычислена по измеренной |
||||
скорости счета N' и |
мертвому времени т из соотношения |
N — |
||
= N'/(\—N*т); при правильном расчете т должно |
составлять 1— |
|||
2 мкс и просчетами |
можно |
пренебрегать до |
скорости |
счета |
~10 000 имп/с. Существует способ определения мертвого времени, который включает точное измерение тока зонда [112]. В работе [118] описывается метод, не требующий измерения тока зонда и ос нованный на сравнении двух линий, в сплаве и в чистом эталоне. Однако в данном случае необходимо довольно точное измерение интенсивности линий, чего практически трудно достигнуть на прак тике, поэтому метод Генриха [112] более приемлем. При измере ниях с использованием двух счетчиков поправки на мертвое время составили 0,5 и 6% при 50000 имп/с (т = 1,3-10_6 и т = 12-10~6 с
соответственно); это подчеркивает необходимость проверки характе ристик используемой аппаратуры [118]. Для современных микроана лизаторов, допускающих скорости счета 50 000 имп/с или выше, требуется точное определение и учет мертвого времени, в противном случае будут возникать большие погрешности.
Конкретные требования для анализа в области ультрамягкого рентгеновского излучения (от ~10 до -— 100 Â) рассмотрены в ряде работ. Изготовление и характеристики пропускания окон приемле мо малой толщины из нитроцеллюлозы или других материалов для пропорциональных счетчиков описаны в работах [64, 66, 119]. Существует метод, при котором слой материала для окна в раство ренном состоянии «застывает» на поверхности воды. При капельном нанесении раствора на вращающийся диск толщина окна изменяет ся от малой в середине до более значительной во внешней зоне, где расположена соответствующая перегородка; такой способ изготов ления окон намного упрощает работу по сравнению с вышерассмот ренным вариантом [120]. Сравнительные преимущества обычного проточного газа (90% аргона + 10% метана) относительно чистого метана или других смесей рассмотрены в ряде работ [119, 321, 122]. Лукирский и Брытов [119], а также другие авторы [121] изучили вопросы, связанные с работой при пониженном давлении, что мо жет оказаться необходимым при использовании весьма тонких окон для счетчиков. В условиях пониженного давления мягкое рентге новское излучение проникает ближе к анодной проволоке, обеспе чивается более высокий коэффициент газового усиления при дан ном напряжении и поэтому можно работать при более низком напря жении, число пробоев при этом уменьшается. Однако для стабильной работы счетчика существенно четкое регулирование давления.
В диапазоне длин волн, представляющих интерес для микро анализа, используются также несколько других типов рентгенов ских детекторов. Сцинтилляционные счетчики обладают прочной конструкцией и просты в управлении, но имеют более низкую раз
Экспериментальная техника рентгеновского микроанализа |
31 |
решающую способность по сравнению с пропорциональными счет чиками [124, 125]. Запаянные фотоэлектронные умножители мож но использовать в области длин волн С З Â . Счетчики Гейгера, ис пользовавшиеся ранее в микроанализаторах, были заменены, так как амплитуда импульса от них не пропорциональна энергии фото нов. Однако Хенке [126] и Лукирский [119] обсуждают их преиму щества в области мягкого рентгеновского излучения. В этой области длин волн также применяют вакуумные электронные умножите-
Р и с. 10. Спектры чистых элементов, полученные с помощью бездисперсионного спектрометра, оснащенного полупроводниковым счетчиком, в электронно-зондовом рентгеновском микроанализаторе (отношения пик/фон
приведены в скобках; время интегрирования 100 с) [129].
ли, хотя и требуется высокий вакуум (>10~6 мм рт. ст.). Эти детек торы, сцинтилляторы с ускорением электронов, магнитные элект ронные умножители и канальные умножители кратко рассмотрены в работах [123, 127].
Важный класс пропорциональных детекторов образуют полу проводниковые кремниевые или германиевые детекторы, обладаю щие высокой эффективностью и более высокой по энергии разре шающей способностью для излучения средней жесткости по сравне нию со сцинтилляционными детекторами (например, 11% дляFe/(a при 6,4 кэВ в промышленном приборе). Практический недостаток детекторов этого типа заключается в том, что обычно необходимо их охлаждение жидким азотом. В работе [129] рассмотрено приме нение этих детекторов для бездисперсионной дискриминации по
32 |
Д . П ул , П . Мартин |
длинам волн в микроанализаторе; показано, что максимумы Д'-из- лучения соседних элементов с атомным номером больше 20 четко разделяются (рис. 10). Принципиальное ограничение рабочей об ласти вызывается сравнительно большим вкладом шумов электрон ных устройств, которые начинают влиять на разрешающую способ ность системы при низких энергиях. Таким образом, несмотря на возможность уменьшения полуширины линии распределения до <0,1 кэВ при 3—4 кэВ, полуширина линии распределения для системы в целом остается ~ 0 ,5 кэВ из-за шумов электронных уст ройств*. На рис. 9, б приведены кривые, построенные на основе дан
ных [130] для разрешающей способности кремниевого детектора отдельно и для полной экспериментальной системы счетчика; как видно, при энергиях рентгеновского излучения 5 кэВ и выше дости гается двух-трехкратное повышение разрешающей способности по сравнению с газовым пропорциональным счетчиком.
В настоящее время в большинстве микроанализаторов газовые пропорциональные счетчики используют как для бездисперсионных методов, так и для применения с кристаллическими спектрометра ми; они удобны в эксплуатации, обеспечивают приемлемую раз решающую способность и работают в пределах всего диапазона длин волн, представляющего интерес. Полупроводниковые счетчи ки имеют, по-видимому, преимущества для бездисперсионного ана лиза излучений с энергиями выше нескольких килоэлектронвольт. Появилось сообщение о детекторе лавинного типа, предназначенном для работы при комнатной температуре; такой детектор мог бы най ти применение в кристаллических спектрометрах, где его более низкая разрешающая способность не является большим недостат ком, а отсутствие системы охлаждения обеспечивает требуемую подвижность детектора [131].
Д . Система регистрации
Наиболее высокая чувствительность и точность микроанализа достигается при работе зонда в статическом режиме, когда регистра ция счета импульсов производится от какой-нибудь одной точки на поверхности образца. Это объясняется статической природой кван тов. При сканировании объекта электронным зондом вдоль линии или по площади чувствительность и точность понижаются, так как время, затраченное на регистрацию интенсивности импульсов в каждой точке образца, мало. Точность можно повысить, уменьшая скорость сканирования или выполняя ряд анализов по точкам [132]. На рис. 11 показаны кривые изменения концентрации от глубины проникновения для диффузионной пары. Анализ поверхности об-
* В настоящее время разрешающая способность полупроводниковых счетчиков составляет 150—200 эВ для энергии квантов регистрируемого излу чения от 1,5 до 30 кэВ. — Прим. ред.
Экспериментальная техника рентгеновского микроанализа |
33 |
Р и с . 11. Сканирование электронным |
зондом вдоль границы раздела |
Fe/(Fe+24,2% |
Ni) [132]. |
□сканирование № 1; Д сканирование № 2; 0 сканирование № 3.
разца вдоль некоторой линии по точкам с успехом может быть про веден при помощи шагового устройства [133]; шаг может быть задан с требуемой для построения кривой точностью [134] (этот процесс был автоматизирован [135]). Запись общего числа отсчетов при про ведении анализа по точкам не представляет труда. Для накопления импульсов используется подходящая пересчетная схема; результа ты записываются или выводятся в печатном виде. При линейном сканировании объекта электронным зондом запись интегральной интенсивности в зависимости от положения зонда на поверхности образца обеспечивает получение соответствующих данных для коли чественного анализа. Такая же информация может быть представле на на экранах электронно-лучевых трубок при сканировании. На рис. 12 показана многоканальная запись; концентрационные кри вые распределения двух элементов записаны одновременно на мик роанализаторе, оснащенном двумя спектрометрами. Сканирование по площади дает наглядную картину на экране электронно-луче-
2— 584
34 |
Д . П ул , П . Мартин |
вой трубки в виде световых пятен, которые соответствуют квантам рентгеновского излучения, испускаемым различными участками поверхности образца: отдельные пятна сливаются и передают об щую картину распределения элемента по поверхности. Для полу чения количественной информации о распределении выбранного элемента Мелфорд [49] использовал метод «повышения контрастнос ти», при котором «высвечиваются» зоны с концентрацией, превы шающей определенный уровень. Генрих [136] разработал метод «построения контуров» — выделение зон в пределах выбранного приращения концентрации. Один из возможных способов получе-
Р и с . 12. Сегрегация хрома к поверхности раздела между расплавом ни кель — хром и основным веществом (глинозем).
Одновременная запись линий СтКа и А1/Са> Интенсивность (в произвольных единицах, по вер
тикали) в зависимости от расстояния (мкм) по обе стороны от поверхности раздела.
ния полной количественной трехмерной информации — изометри ческая индикация X , Y и концентрации. Это можно осуществить с помощью самописца в двух координатах Х ~ Y или осциллографа
(рис. 13).
Одновременное представление распределения нескольких эле ментов в одной и той же области достигается наложением снимков, которые получают при сканировании в рентгеновских лучах раз личных элементов исследуемого образца; каждому элементу соот ветствует изображение определенного цвета [138, 139]. Это позво-
Экспериментальная техника рентгеновского микроанализа |
35 |
Р и с . 13. Диффузия в образцы ниобиевых проволок, помещенных в олово.
Можно наблюдать следующие фазы: ниобий (сечения проволок), N b 3Sn и олово, а — изобра жение в поглощенных электронах; 6 — N b La -линия, регистрируемая с помощью бездиспер-
снонного N e -счетчика и 40Х40-канального запоминающего |
устройства |
на сердечниках, |
верти |
|||
кальное положение |
и яркость построены |
в зависимости от интенсивности |
сигнала; |
в — |
||
N b L a -излучение |
(бездисперсионно-детектируемое), трехпозиционная |
карта |
концентраций, |
|||
яркость возрастает с повышением концентрации ниобия; |
г — карта двух уровней концентра |
|||||
ции для того же сигнала, белые участки — распределение фазы N b gSn. |
Ускоряющее напряже |
|||||
ние 20 кВ. Поверхность |
сканирования 440X440 мкм2 |
[137]. |
|
|
ляет наглядно проследить взаимное распределение элементов по изменению характерных цветов. Тайзен [140] применил цветовые методы для иллюстративных целей. Ранее упоминалась возмож ность использования изображений в отраженных электронах для определения положения искомого участка образца в сканирующем микроанализаторе. Такое изображение содержит информацию как о химическом составе образца, так и о топографии его поверхности; интерпретация этих данных затруднительна. Стереоскопический детектор позволяет отдельно получить эти два типа информации, что облегчает ее обработку [141].
2*
36 |
Д . П ул , П . Мартин |
Е . Ошибки эксперимента
Данные для количественного анализа обычно получают в виде отношения интенсивностей k\ оно равно максимальной скорости
счета (минус фон) для выбранной линии характеристического спект ра образца, деленной на максимальную скорость счета для 100,%-ного эталона, при одинаковых условиях эксперимента. Ошиб ки эксперимента при определении k часто могут быть значительны
ми. Например, Белк [142] опубликовал данные, полученные в ре зультате 10 анализов двух фаз хорошо отожженного образца, со держащего Cu, Ni и Sn; поправки на поглощение при определении искомых концентраций были минимальны. Стандартные отклоне ния для данных по составу лежат в пределах 2—3 %, тогда как сум марная концентрация элементов для одной из фаз изменялась от 92,3 до 104,5 вес. %. Столь же вызывающие недоумение данные были приведены на Бостонской конференции; среднеквадратичное откло нение результатов, полученных различными авторами, достигло 18%! Не все наблюдаемые изменения концентрации обязательно обусловлены ошибками эксперимента — некоторые из них могут быть отнесены за счет последующей обработки, однако не подлежит сомнению тот факт, что для получения воспроизводимых и точных результатов необходимо уделять самое тщательное внимание работе прибора. Возможные источники ошибок эксперимента будут ука заны в последующих разделах, некоторые из них были рассмотрены в обзорных работах [63, 143].
1. Нестабильность зонда
Некоторые требования, предъявляемые к стабилизации напряже ния и тока зонда, уже были упомянуты. Стабильность современных приборов столь высока, что погрешности, обусловленные этими причинами, как правило, минимальны. В этом можно легко убе диться, повторив измерения одной и той же линии для одного об разца. В некоторых приборах применена стабилизация тока зонда для обеспечения того, чтобы одинаковый заряд проходил через об разец за выбранный фиксированный период времени отсчета им пульсов. Эта система обычно требует постоянного пространственно го распределения плотности тока зонда около оси колонны, для чего в свою очередь необходимо фиксированное положение источника электронов. Описано устройство, управляющее положением нити накала, так что данное требование выполняется [144]. Оптимизация параметров электронной пушки для достижения оптимальной воз можной комбинации тока и стабильности зонда рассмотрена в ра боте [145].