книги из ГПНТБ / Электронно-зондовый микроанализ [сборник]
..pdfЭлектронно-зондовый микроанализ в металлургии |
249 |
флуоресцентно возбуждает аналитическую линию NiKa)> атомный номер и поглощение при определении состава металлической фазы не представляет трудности, поскольку имелись хорошо проанализи рованные эталоны. В случае окисленных сплавов Ni — Pt необ ходимо учитывать две особенности (рис. 19). По мере того как электронный зонд приближается к границе металл — NiO, хотя кон центрация никеля уменьшается до очень малой величины, флуорес-
ПаЪающие
электроны
Р и с . 19. Внутреннее окисление сплавов N i— Pt (флуоресценция затруд няет проведение точного анализа).
центное возбуждение аналитической линии Ni/Ca характеристичес ким (PtК а) и непрерывным спектром становится заметным вплоть до
10 мкм по обе стороны от границы. Влияние этого эффекта при из мерении градиента концентрации никеля можно практически свести к минимуму путем определения концентрации платины. Однако и в этом случае исследователь не гарантирован от ошибки, посколь ку очень часто в приповерхностном слое могут находиться мелкие частицы NiO (рис. 19). Это, естественно, приводит куменьшению из меряемой концентрации платины и увеличению определяемого содержания никеля. Чтобы избежать и этой ошибки, необходимо проводить многократное измерение по точкам состава вдоль линий, параллельных границе металл — NiO, с последующей статистичес кой обработкой.
3. Микросегрегации
На практике очень часто по границам зерен можно наблюдать сегрегацию примеси. Классическим примером служит коррозия границ зерен нержавеющей стали, изученная Филибером [58].
250 |
Дж. ГоАьдстейн |
Для объяснения того, что коррозия нержавеющей стали происходит именно по границам зерен, большинство исследователей-металлур- гов предполагали наличие обедненной хромом зоны около границ, обусловленное выделением карбидов. Попытка показать при по мощи рентгеновского микроанализа наличие этой зоны в нержавею щей стали 18 : 8 окончилась неудачей. Такой исход эксперимента можно было предвидеть, поскольку слой карбидов по границам зерен является тонким, а толщина зоны, не содержащей хрома, повидимому, меньше 1 мкм. Более успешными оказались исследова ния, выполненные на нержавеющей стали, содержащей 36 0% Ni
и 11,0% Сг. Результаты показали, что действительно существует зона по границам зерен, обедненная хромом и обогащенная нике лем. Это объясняется тем, что в процессе роста слоя карбиды «от бирают» хром из окружающего аустенита и «отдают» ему никель.
4. Кинетика роста
Выяснение механизмов влияния примесных элементов на кине тику реакции разложения, происходящей при зарождении новой фазы и ее диффузионного роста, было основным вопросом исследо вания металловедения в течение почти 100 лет. Массоперенос леги рующих добавок из первичной фазы в фазу распада может во многих случаях контролировать скорость роста новой фазы. В настоя щее время при помощи рентгеновского микроанализа стало воз можным изучение способа переноса массы в различных материалах
иокончательное объяснение этого процесса.
Висследовании подобного типа изучен перепад концентрации легирующих элементов между первичным аустенитом и доэвтектоидным ферритом или бейнитом в особо чистых сплавах Fe — С — X [65J. Исследованы образцы сталей с двумя разными концентрациями углерода при различном времени отжига и температурах между Ms (начальная мартенситная температура) и Ае3 (темйература доэвтектоидного превращения у — а + у)- После соответствующей тер
мообработки образовавшийся феррит был размягчен легким трав лением, а состав феррита и аустенита определялся рентгеновским микроанализом. Известное содержание X в аустените может служить
вкачестве внутреннего стандарта для определения состава. Изме рения состава феррита выполнены по крайней мере на трех различ
ных кристаллах. Упоминавшийся выше критерий Стьюдента t
был использован для определения отклонений от среднего состава аустенита и феррита для каждого образца. Для сталей, содержащих Si, Со, Mo, А1, Сг и Си независимо от--содержания углерода в об разце, определялась суммарная (без разделения легирующих эле
ментов) концентрация примеси. |
В сталях, содержащих |
Mn, Ni |
|
и Pt, |
концентрация X в феррите значительно меньше, чем в аусте |
||
ните |
при высоких температурах |
реакции. На рис. 20, б |
показан |
Электронно-зондовый микроанализ в металлургии |
251 |
концентрационный профиль, записанный в никелевой стали через кристалл феррита, в котором произошло перераспределение леги рующих элементов. Кристалл феррита (1) показан на рис. 20, а.
Концентрационные профили в прилегающем аустените с противо положных сторон кристалла феррита зависят от природы межфаз ной границы аустенит (у) — феррит (а). Предполагают, что плос-
Р и с. 20. Кристаллы феррита (а) |
и их концентрационные профили [ #1 (б) |
и |
#2 (в)] [65]. |
Кристаллы протравлены в 2%-ном нитале. (X 250). Сплав получен при изотермическом прев ращении в стали, содержащей 0,11 %С и 3,28%Ni и выдержанной в течение 811 900 с при
734 СС .
кие грани с левой стороны границы у — а- имеют в основном дислокационную структуру; это мешает перемещению границы. Кроме того, здесь происходит значительное увеличение концентрации никеля (рис. 20, б). Можно ожидать, что плавная границах правой
стороны кристалла феррита обусловлена неупорядоченной струк-
252 |
Дж. Голъдстейн |
Р и с . 21. Структура распада в метеорите Butler. Хорошо наблюдаемые видманштедтовы структуры сформировались при остывании метеорита.
турой аустенита, которая не препятствует перемещению границы. Аустенит, прилегающий к этой границе, лишь ненамного больше обогащен никелем по сравнению с ферритом (рис. 20, б). На рис. 20, в
показан концентрационный профиль, записанный через крис
талл |
феррита (2 |
на рис. 20, |
а). Более ровная и более симметрич |
ная |
форма этого |
кристалла |
позволяет предположить, что в этом |
случае границы а — у имеют неупорядоченную структуру с обеих
сторон. Поэтому не следует ожидать существенного увеличения концентрации никеля в аустените на любой стороне кристалла феррита. Очевидно, что рентгеновский микроанализ незаменим при исследовании механизма роста, контролируемого разделением легирующих элементов.
Интересным примером использования рентгеновского микро анализа служит изучение роста видманштедтовой структуры желез ного метеорита [66]. Металлические метеориты представляют собой
Электронно-зондовый микроанализ в металлургии |
253 |
сплавы Fe — Ni. Часто в метеоритах наблюдается двухфазная структура: бедное никелем a -железо (камасит) и богатое Ni у-же- лезо (тенит), причем камасит появляется в видманштедтовой струк туре (рис. 21). В открытом космосе железные метеориты образуются сегрегацией расплавленного железо-никелевого сплава в теле ас тероида. Когда большое тело астероида остывает, металл кристал лизуется и камасит выделяется из первичной тенитовой фазы в форме видманштедтовой структуры и растет. Рост камасита контро лируется скоростью удаления никеля из камасита через межфазную
|
|
|
5000 |
|
|
|
|
4000 |
|
|
|
|
3000 |
'х |
|
|
|
|
Ч |
|
|
|
2000 . |
|
|
|
|
1000 |
3 |
|
|
|
о |
|
Р и с . 22. Распределение |
N i— Ge в видманштедтовой структуре метеорита |
|||
|
Butler |
[58]. |
|
|
Метеорит содержит 16 вес. % |
N1 и 20)0 млн-1 |
Ge; |
° данные дня Ge; • данные для N i. |
|
а — тенит; б — камасит; |
в — тенит. |
|
||
границу в тенит. Даже если рост камасита происходите течение ста миллионов лет, выделение никеля не заканчивается, а между камаситом и тенитом остаются градиент концентрации Fe — Ni и при месные элементы в обеих фазах. Распределение Ni и Ge в мете орите Butler показано на рис. 22. Результаты рентгеноспектраль ного микроанализа используются в данном случае для определения скорости охлаждения (остывания) метеоритов, когда видманштедтова структура уже сформировалась. Измерения градиентов кон центрации проведены в нескольких камасито-тенитовых зонах. Экспериментальные результаты сравнивались с теоретически вы численными градиентами концентрации для видманштедтовой структуры [66, 67]. Рассчитанные градиенты изменялись в соответ ствии с предполагаемой скоростью охлаждения. Совпадение экспе риментальных и расчетных значений градиента концентрации оп ределяет вычисленную скорость охлаждения. Скорость охлаждения в разных случаях изменяется от 0,5 до 500 °С за один миллион лет. Метеорит Butler охлаждался со скоростью 0,5 °С за один миллион лет [67].
254 |
Дж, Гольдстейн |
IV . Выводы
Рентгеновский микроанализ используется для решения боль шого числа металлургических задач. На промышленных предприя тиях все чаще применяется этот метод для того, чтобы охарактеризо вать различные материалы. Хотя исследования с помощью электрон ного зонда давно проводятся некоторыми учеными-металлургами, только недавно этот универсальный прибор стал широко при меняться. Электронный микроанализатор в настоящее время начи нает занимать такое же важное место в металлургических лабора ториях,, как и электронный микроскоп несколько лет назад.
|
|
|
|
С П И С О К ЛИТЕРАТУРЫ |
|
|||
1. |
Castaing R ., |
Thesis, Univ. of Paris, |
Q N E R A |
No. 55, 1951. |
|
|||
2. |
Heinrich K . F. J . , The Electron Microprobe (T. D. McKinley, K. F. J . Hein |
|||||||
|
rich |
and |
D. B. Wittry, eds), Wiley, New York, 1966, p. 841. |
|
||||
3. |
Heinrich K. F. J . , ASTM Spec. Tech. Publ. No. 349 (1963). |
|
||||||
4. |
Moll |
S. |
H ., |
Norelco Rept., 11, |
55 |
(1964). |
|
|
5i |
Duke |
M . |
B., |
Brett R., Geol. Surv. |
Res., B101— 103 (1965). |
|
||
6. |
Hanson A4., Constitution of Binary Alloys, McGraw-Hill, New York, 1958. |
|||||||
7. |
Duncumb |
P., Melford D. A ., |
Quantitative |
applications of |
ultra-soft |
|||
|
X-ray microanalysis in metallurgical problems. Actes Congr. Intern. Opti- |
|||||||
|
que Rayons X Micro-Analyse, 4th, Hermann, Paris, 1967. |
|
||||||
8. |
Holiday J . E ., Investigation of |
the carbon |
К emission band for stoichio |
|||||
|
metric and |
nonstoichiometric carbides. Applications of X-ray |
Analysis, |
|||||
|
Vol. |
10, |
Plenum Press, 1967. |
|
|
|
|
|
9.Holiday J . £ ., The Electron Microprobe (T. D. McKinley, K . F. J . Hein rich and D. B. Wittry, eds) Wiley, New York, 1966, p. 3.
10.Melford D. A ., J . Inst. Metals, 90, 217 (1962).
11. Heinrich К ■ |
F. J . , |
Scanning electron probe microanalysis, to be published |
in an ASTM |
Spec. |
Tech. Publ. (1966). |
12.Fleetwood M. J . , Higginson G. A4., Miller G. P ., Brit. J . Appl. Phys., 16, 645 (1965).
13.Duncumb P., The Electron Microprobe (T. D. McKinley, K. F. J . Hein
|
rich and |
D. |
B. Wittry, eds), Wiley, |
New York, 1966, |
p. 490. |
14. |
Schippert |
M. |
A ., Ogilvie R. E ., A combined electron |
microscope — elec |
|
|
tron microprobe, Advanced Metals Res. Corporation Rept., 1967. |
||||
15. |
Fuchs V . E ., |
Rev. Sci.-lnstr., 37, 623 (1966). |
|
||
16. |
Melford D . A ., Whittington К ■ R-, The application of the scanning microana |
||||
|
lyzer to particle counting and identification, Actes Congr. Intern. Opti- |
||||
|
que Rayons |
X Micro-Analyse, 4th, |
Hermann, Paris, |
1967. |
|
17. Dörfler G., Plockinger E., A new apparatus for the determination of phasecontents of metallic and nonmetallic samples by electron microprobe ana lysis, Actes Congr. Intern. Optique Rayons X Micro-Analyse, 4th, Hermann, Paris, 1967.
18. Moore G. A ., Wyman L. L ., Joseph H. A4., in Quantitative Metallography, (F. N. Rhines, ed.), McGraw-Hill, New York, 1964, Chap. 15.
19.Liebhafsky H. A ., Pfeiffer H. G., Zemany P. D ., Anal. Chem., 27, 1257 (1955).
20.Ziebold T. 0., Summer M . I. T., Course Notes (T. O. Ziebold and R. E. Ogil vie, ed.), 1965.
21.Michaelis R. E ., Yakowitz H,, Moore G. A ., J . Natl. Bur. Std. A 68, 343 (1964).
Электронно-зондовый микроанализ в металлургии |
255 |
22. |
Yakowitz |
Н ., |
Vieth Д . L ., |
Heinrich К- F. J . , Michaelis R. Е ., |
Natl. |
Bur. |
|||
|
Std. (U. |
S.), |
Misc. Publ., |
260— 10 (1965). |
|
|
|||
23. |
Goldstein |
J . |
/., |
Majeske F. J . , |
Yakowitz H ., in Applications of |
X-ray |
Ana |
||
|
lysis, Vol. |
10, |
Plenum Press, |
1967, p. 431. |
|
|
|||
24.Proschan F ., J . Amer. Statist. Assoc., 48, 550 (1953).
25.Ziebold T. О., M. I. T. Summer Course Notes (T. O. Ziebold and R . E . Ogilvie, eds), 1966.
26.Ziebold T. 0., Ogilvie R. E ., Anal. Chem ., 36, 322 (1964).
27.Goldstein J . /., Wood F ., Experimental procedure for trace determination with the electron probe. Natl. Conf. Electron Probe Microanalysis, 1st, College Park, Maryland, 1966.
28.Boltzmann L ., Ann. Physik, 53, 960 (1894).
29.Matano C ., Japan. Phys., 8, 109 (1933).
30.Ogilvie R. E ., ScD . Thesis. Mass. Inst. Technol. (1955).
31. |
Adda Y P h i l i b e r t J . , Compt. Rend., 742, |
3081 |
(1956). |
32. |
Adda Y ., Philibert J . , Mairy C., Compt. Rend., |
243, 1115 (1956). |
|
33. |
Hanneman R. E ., Ogilvie R. E ,, Gatos H. C ., Trans. Met. Soc. A IM E (Amer. |
||
|
Inst. Mining. Met. Petrol. Eng.), 233, 691 |
(1965). |
|
34. |
Goldstein J . /., Hanneman R. E ., Ogilvie |
R. E ., Trans. Met. Soc. A IM E |
|
|
(Amer. Inst. Mining, Met. Petrol. Eng.), 233, 812 (1965). |
||
35. |
Shewmon P. G., Diffusion in Solids, M cGraw -Hill, New York, 1963. |
||
36.Kirkaldy J . S ., Brown L. C., Can. Mez. Quart., 2, 89 (1963).
37.Ziebold T. 0., PhD . Thesis, Mass. Inst. Technol., 1965.
38.Fisher J . C ., J . Appl. Phys., 22, 74 (1951).
39. Whipple R. T. P ., Phil. M ag., 45, 1225 (1954).
40.Austin A . E ., Richard N. A ., J . Appl. Phys., 32, 1462 (1961).
41.Koffman D. M ., ScD Thesis. Mass. Inst. Technol., 1964.
42. Speich G. R ., Gula |
J . A ., Fisher R. M ., The Electron Microprobe (T. D. |
M cKinley, K . F. J . |
Heinrich and D. B. W ittry, eds), New York, 1966, p. 525. |
43.Maurice F ., Seguin R ., Henoc / ., Phenomena of fluorescence in diffusion couples, Actes Congr. Intern. Optique Rayons X Micro-Analyse, 4th, Her mann, Paris, 1967.
44.Ziebold T. О., M. S . Thesis. Mass. Inst. Technol., 1963.
45.Hanneman R. E ., Gen. Elect. Res. Develop. Center, private communica
tion.
46. Jost W., Diffusion in Solids, Liquids and Gases, Academic Press, New
York, 1952.
47.Goldstein J . /., Ogilvie R. E ., Metallurgical considerations for the determi nation of phase diagrams with the electron probe microanalyzer. Actes Congr. Intern. Optique Rayons X Micro-Analyse, 4th, Hermann, Paris,
48. |
1967. |
Kirianenko A ., Beyeler M ., Maurice F ., Mem. Sei. Rev. Met., |
|||||||||
Adda Y ., |
|||||||||||
49. |
58, 716 |
(1961). |
R. |
E ., |
Trans. A IM E , 218, |
439 (1960). |
|
|
|||
Peterson N. L ., Ogilvie |
|
|
|||||||||
50. |
Adda Y ., Beyeler M ., Kirianenko A ., Compt. Rend., 250, 115 (1960). |
||||||||||
51. |
Swindells |
N. , J . Inst. |
Metals, 90, 167 (1962). |
|
|
|
|||||
52. |
Rapperport E. |
J . , Smith M . F ., Trans. A IM E , 230, 6 (1964). |
|
|
|||||||
53. |
Reed S. J . B., |
Long J . |
V. |
P ., |
X-ray Optics and X-ray Microanalysis, A ca |
||||||
|
demic Press, |
New York, |
1963, p. |
317. |
|
|
|
||||
54. |
Goldstein |
J . /., Ogilvie |
R. |
E ., |
Trans. A IM E , 233, 2083 (1965). |
|
|
||||
55. |
Chalmers B ., Principles of Solidification, Wiley, New York, 1964. |
||||||||||
56. |
Kohn A ., |
Philibert J . , |
Mem. Sei. Rev. M et., 57, 291 (1960); |
Metal |
Treat. |
||||||
57. |
Drop Forging, 27, 327 (1960). |
|
H. A ., Trans. A IM E , 233, |
1926 |
(1965). |
||||||
Biloni H ., Bolling G. F ., |
Domian |
||||||||||
58. |
Philibert |
/ ., J . Inst. Metals, |
90, |
241 |
(1962). |
|
|
|
|||
59. |
Brody H. |
D. , |
Flemings |
M . C., |
Trans. |
A IM E , 236, |
615 (1966). |
|
|||
60. |
Bower T. |
F ., Brody H. |
D. , |
Flemings M . |
C., Trans. |
A IM E , 236, 624 (1966). |
|||||
256 |
|
|
|
|
Дж. Гольдстейн |
|
|||
61. |
Philibert |
J . , |
Crussard C ., |
J . |
Iron |
Steel |
Inst. (London), 183, 42 (1965). |
||
62. |
Lovering J . |
F. , |
Anderson |
C. A ., Science, |
147, |
734 (1965). |
|||
63. |
Wagner |
C ., |
J . |
Electrochem. |
Soc., |
99, |
369 |
(1952). |
|
64.Koopman N. G ., M. S. Thesis. Mass. Inst. Technol., 1963.
65.Aaronson H. , Domain H. A ., Trans. A IM E , 236, 781 (1966).
66.Goldstein J . /., Ogilvie R. E. , Geochim. Cosmochim. Acta, 29, 893 (1965).
67.Goldstein J . /., Short J . M ., Cooling rates of 27 iron and stony-iron meteo rites., Geochim. Cosmochim. Acta, 31, 1001 (1967).
68.Goldstein J . /., Science, 153, 975 (1966).
69.Сквайр Дж., Практическая физика, изд-во «Мир», 1971.
Содержание
Предисловие |
................................................................................................................................. |
|
|
|
|
|
|
|
|
5 |
||
Аппаратура |
и экспериментальная техника рентгеновского микроана |
|
||||||||||
лиза. Д. Пул, П. М а р т и н .............................................................................................. |
|
|
|
11 |
|
|||||||
I. |
Техника эксперим ента...................................................................................................... |
|
|
|
|
15 |
||||||
|
A . Электронно-оптическая |
колонна, ток зонда |
и разрешающая |
|
||||||||
|
Б. |
способность |
|
|
.................................................................................................................... |
|
|
|
|
|
15 |
|
|
Способ наблюдения объекта, угол выхода, спектрометры . |
. |
19 |
|||||||||
|
B . |
Идентификация |
рентгеновскогои з л у ч е н и я |
............................................. |
|
23 |
||||||
|
Г. |
Детекторы |
рентгеновского |
и з л у ч е н и я .................................................... |
|
|
27 |
|||||
|
Д . |
Системы р еги стр ац и и ............................................................................................. |
|
|
|
|
32 |
|||||
|
Е . |
Ошибки эксперим ента............................................................................................. |
|
|
|
|
36 |
|||||
|
|
1. |
Нестабильность з о н д а .................................................................................. |
|
|
36 |
||||||
|
|
2. |
Положение |
з о н д а ............................................................................................... |
|
|
|
|
37 |
|||
|
|
3. |
Состояние |
|
поверхности |
о б р а з ц а .............................................................. |
|
|
37 |
|||
|
|
4. |
Ориентация |
о б р а з ц а ......................................................................................... |
|
|
|
37 |
||||
|
|
5. |
Однородность э т а л о н а .................................................................................. |
|
|
38 |
||||||
|
|
6. |
Наложение |
|
линий |
........................................................................................ |
|
|
|
38 |
||
|
|
7. |
Сдвиг л и н и й ............................................................................................................. |
|
|
|
|
38 |
||||
|
|
8. |
Эффекты |
флуоресценции .................................................................... |
|
|
39 |
|||||
|
|
9. |
Загрязнение о б р а з ц а ......................................................................................... |
|
|
|
39 |
|||||
|
|
10. |
Изменения |
состава |
о б р а з ц а .................................................................... |
|
|
39 |
||||
|
|
11. |
Перегрев |
о б р а з ц а ............................................................................................... |
|
|
|
|
40 |
|||
|
|
12. |
Влияние детектора (газовыепропорциональные счетчики) |
|
40 |
|||||||
|
Ж - |
Статистическая |
|
неточность, |
предел чувствительности и точ |
|
||||||
|
|
ность ................................................................................................................................. |
|
|
|
|
|
|
|
|
41 |
|
|
3. |
Специальные |
|
приложения |
м и к р о ан а л и за |
.............................................. |
|
45 |
||||
II. |
Другие области |
|
п р и м е н е н и я .................................................................................. |
|
|
47 |
||||||
|
A . |
Измерение |
тока |
образца |
.................................................................................. |
|
|
47 |
||||
|
Б. |
Косселевская |
|
дифракция |
................................................................................ |
|
|
48 |
||||
|
B. |
Абсорбционный |
м и к р о а н а л и з ........................................................................... |
|
|
48 |
||||||
III . Сочетание электронной микроскопии и рентгеновского микро |
|
|||||||||||
|
анализа ................................................................................................................................. |
|
|
|
|
|
|
|
|
48 |
||
|
A . Комбинированные приборы.................................................................................. |
|
|
49 |
||||||||
|
Б. Электронно-микроскопические приставки................................................ |
|
|
49 |
||||||||
|
B. Приставки для микроанализа............................................................ |
|
|
50 |
||||||||
IV . Сравнение с |
другими микроаналитическими |
методами . . . |
|
50 |
||||||||
Список л и тер а тур ы |
.............................................................................................. |
|
|
|
|
. |
58 |
|||||
258 |
|
|
|
|
|
Содержание |
|
|
|
Влияние подготовки поверхности металлических образцов на точность |
|
||||||||
рентгеновского микроанализа. Дж. Халлерман, М. Пиклсимер . . |
66 |
||||||||
I. В в е д е н и е ......................................................................................................................... |
|
|
|
|
|
66 |
|||
II. |
Вопросы, связанные с подготовкой о б р а з ц о в ......................................... |
|
67 |
||||||
|
A . |
Необходимая |
и н ф о р м а ц и я .................................................................. |
|
|
67 |
|||
|
Б. |
Выбор анализируемого участка о б р а з ц а ................................. |
|
67 |
|||||
|
B. |
Подготовка |
образцов ................................................................................ |
|
|
68 |
|||
|
Г. |
Травление |
и п о л и р о в к а ................................................................................. |
|
|
69 |
|||
|
Д . П р и м е р ................................................................................................................. |
|
|
|
|
|
69 |
||
III. |
Влияние неровностей |
п о в е р х н о с т и ..................................................... |
|
|
73 |
||||
|
А . |
Геометрическая неровность .......................................................................... |
|
|
74 |
||||
|
Б. |
Неровности, вызванные царапинами и перетравлением . . |
79 |
||||||
IV . |
Влияния выщелачивания, осаждения, намазки |
итравления . . |
84 |
||||||
|
A. |
Намазка |
.................................................................................................................. |
|
|
|
|
85 |
|
|
Б . |
Выщелачивание, |
осаждение и т р а в л ен и е ......................................... |
|
87 |
||||
|
B. |
Влияние угла падения электронного з о н д а ........................................ |
|
88 |
|||||
V . |
Влияние пленок, |
полученных анодированием и испарением . . |
88 |
||||||
|
А. |
Анодированные п л е н к и ................................................................................. |
|
|
89 |
||||
|
Б. |
Пленки, полученные и сп арен и ем ............................................................. |
|
|
91 |
||||
V I. |
|
|
|
|
В ы в о д ы ...................................................................................... |
|
|
92 |
|
Список |
л и тер атур ы |
............................................................................................................ |
|
|
|
93 |
|||
Электронно-зондовый |
микроанализ. Зависимость |
между отношением |
|
||||||
интенсивностей и концентрацией. Я . Мартин, Д. |
П у л ........................... |
94 |
|||||||
I. |
|
|
Теоретические |
з а в и с и м о с т и .............................................................. |
|
|
96 |
||
|
A . Интенсивность первичного рентгеновского |
излучения . . . |
97 |
||||||
|
|
1. |
Тормозная |
способность ........................................................................... |
|
|
99 |
||
|
2. Сечение |
возбуждения Ѵ-серии характеристического излучения |
|
||||||
|
|
|
элемента А (сечение А -и зл у ч е н и я )............................................................... |
|
|
103 |
|||
|
3. |
Фактор обратного р а с с е я н и я ............................................................. |
|
|
108 |
||||
|
Б. Интенсивность первичного излучения.................................................... |
|
|
113 |
|||||
|
1. Экспериментальное определение f (у) |
|
|
115 |
|||||
|
2. |
Теоретическая |
оценка f ( у ) ............................................................................ |
|
|
119 |
|||
|
3. |
Метод Боровского и Р ы д н и к а ..................................................................... |
|
|
125 |
||||
|
4. Источники |
получения значений массовых |
коэффициентов |
|
|||||
|
|
|
поглощения |
рентгеновских л у ч е й ........................................................ |
|
|
127 |
||
|
B. Обзор теоретически обоснованных уравнений |
для поправок |
|
||||||
|
на атомный номер |
и поглощ ение.................................................................... |
|
|
129 |
||||
|
|
1. |
Метод Пула и |
Т о м а с ....................................................................................... |
|
|
130 |
||
|
|
2. |
Метод |
Т о м а с ....................................................................................................... |
|
|
130 |
||
|
|
3. |
Первый |
метод |
П е й с с к е р а .......................................................................... |
|
|
131 |
|
|
|
4. |
Второй |
метод |
П е й с с к е р а .......................................................................... |
|
|
131 |
|
|
|
5. |
Метод Данкамба и да К а з ы ............................................................................ |
|
|
131 |
|||
|
|
6. |
Первый |
метод Ш п р и н ге р а ............................................................................ |
|
|
132 |
||
|
|
7. |
Метод Филибера и Тиксье; второй метод Шпрингера . . |
133 |
|||||
|
|
8. |
Первый метод Тайзена; первый метод Т о н г а .................................... |
133 |
|||||
|
|
9. |
Второй |
метод |
Т а й з е н а ............................................................................ |
|
|
133 |
|
|
40. |
Второй |
метод Т о н г а ..................................................... |
|
|
134 |
|||
|
11. |
Метод |
Ильина и Л о с е в о й .......................................................................... |
|
|
134 |
|||