Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Диденко А.Н. Сверхпроводящие волноводы и резонаторы

.pdf
Скачиваний:
21
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
9.47 Mб
Скачать

Авторы с запасом

берут

100 Вт [135,

136]. Для

Э Т О Г О

потребуется применение

ожижителя

мощностью

около

200 кВт.

 

 

 

 

Сверхпроводящие волноводы и резонаторы целесооб­

разно использовать

и в качестве ускоряющих устройств

электронных и протонных синхротронов на большие энергии. Увеличение к. п. д. ускоряющей системы позво­ ляет повысить максимальную энергию электронов. Типичным является корнельсшй электронный синхро­ трон на 10 ГэВ. В нем потери мощности в стенках резо­ наторов в 6 раз превышают потери на синхротрониое излучение. Поскольку потерн на излучение l^W~<y"' . то значит, что при использовании сверхпроводящих резо­ наторов, когда потери в стенках будут малы по сравне­

нию с_ потерями

на

излучение,

можно

повысить

энергию

в j / 6 раз,

т.

е.

без переделки ускорителя

повысить

энергию до 15 ГэВ.

 

 

 

 

Наконец,

сверхпроводящие

волноводы могут быть

использованы

для

высокочастотной

сепарации

частиц

высоких энергии, что позволяет работать с растянутыми во времени пучками вторичных частиц и является очень важным на современном этапе развития физики высо­ ких энергий.

Обычно сепаратор состоит из двух или трех волноводных секций, разделенных между собой пространства­ ми дрейфа. Возбуждаемые в волноводах волны типа ЕНц имеют большую поперечную составляющую элек­ трического поля. Если размеры волновода подобрать так, чтобы фазовая скорость волн Е Н И равнялась скорости движения частиц одного сорта, то, подбирая размеры сепараторов таким образом, чтобы смещение по фазе

частиц второго сорта относительно этой

волны

равня­

лось 2лп,

на выходе сепаратора можно

получить

чистый

пучок частиц.

 

 

 

К настоящему времени наиболее разработанным

является

проект сверхпроводящего

высокочастотного

сепаратора Брукхэйвенской Национальной

лаборатории

[137—139]. Сепаратор предназначен для разделения

частиц с импульсами в

диапазоне

от 4,5

от 19

ГэВ/с,

где с — скорость света.

С учетом

того,

что

потери

в сверхпроводниках уменьшаются с увеличением длины волны, найдено, что АО П т = 24 см. Сепаратор представ­ ляет собой 2 секции длиной по 3 м каждая, расположен­ ные на расстоянии 33 м друг от друга. Ненагруженная

190

добротность таких свинцовых СВЧ структур

при

7 = 2 К

равна Qo= 1,5 - 109. Так как нагрузка пучком

здесь мала,

то при оптимальном согласовании 'Qa=Q0/2.

В

каждой

секции сепаратора будет рассеиваться в стенках

50 Вт.

Это означает, что такие сепараторы позволят сепариро­ вать пучки длиной 100 мс и больше.

6.4. Использование сверхпроводящих резонаторов для определения свойств полупроводников и диэлектриков

Сверхпроводящие резонаторы могут быть использо­ ваны также в качестве высокочувствительных систем для изучения небольших изменений свойств полупровод­ никовых и диэлектрических материалов, обусловленных различными внешними воздействиями (143, 144]. Это объясняется следующим. Диэлектрические и полупро­ водниковые материалы, помещенные в резонатор, вызы­ вают изменение резонансной частоты и добротности. Чрезвычайно низкое поверхностное сопротивление сверх­ проводника, как уже отмечалось, приводит к тому, что такие резонансные полости имеют очень высокие доб­ ротности и очень узкую резонансную кривую. Поэтому, используя сверхпроводящие резонаторы, можно опреде­ лять даже малые изменения частоты и добротности. Более того, если диэлектрическая проницаемость полу­ проводников и диэлектриков изменяется под воздейст­ вием каких-либо факторов, то по изменению добротно­ сти во времени можно определить временное изменение свойств таких материалов.

Достоинством измерения свойств диэлектриков и по­ лупроводников с помощью сверхпроводящих резонато­ ров является высокая точность определения различных величин и возможность измерения свойств не только кристаллических, но и порошкообразных образцов, по­ скольку при таком способе не нужно заботиться об изготовлении хороших омических контактов.

Коротко напомним основные положения влияния диэлектрического образца на свойства резонатора. Если полупроводниковый или диэлектрический образец с ди­ электрической постоянной еое = ео(е'—te") вносится в ре­ зонатор, то смещение частоты этого резонатора можег

191

быть определено по формуле [143)

 

 

\ s „ £ W

 

 

 

рез

 

где/о — первоначальная частота резонатора;

/ч — часто­

та

резонатора после

внесения возмущающего

тела; Е и

Л1

— напряженности

электрического и магнитного полей.

Отношение интегралов характеризует меру энергии, за­ пасенную в образце. Обычно она называется фактором заполнения и обозначается через С7<д>. Если, как обычно, e'>s", то

Ц ^ І = ^ 0 < Д ) .

(6.6а)

Эта формула позволяет определить не только е ди­ электрика, но и его изменение под воздействием различ­ ных факторов. Если сначала диэлектрическая постоян­ ная равнялась е/, а затем стала гг, то вызванное этим изменение резонансной частоты может быть определено по формуле

Если изменяется г", то это приводит к изменению поглощенной мощности, а значит, и к изменению доброт­ ности резонатора. В [145] было показано, что с помощью сверхпроводящих резонаторов могут быть исследованы диэлектрические потери, для которых tg о д « Ю - 9 , и из­ мерены дефекты плотности порядка одного дефекта на 1010 атомов.

Сверхпроводящие резонаторы могут быть использо­ ваны, в частности, для измерения фотодиэлектрического эффекта в полупроводниках. Оказывается [136, 137], что перераспределение свободных и связанных носителей между уровнями в полупроводнике под действием внешнего электромагнитного поля приводит к измене­ нию е, и поэтому может быть изучено с помощью сверх­ проводящих резонаторов. Если к какому-то уровню энер­

гии со энергией

ионизации

Ш%

добавлен

один носител

с поляризующим

зарядом

ео, то он

вызовет

следующее

192

изменение диэлектрической постоянной [133]:

Д е = - ^

(6-8)

Здесь CÙ — частота падающей волны, вызывающей изме­ нение е; —время релаксации носителя; т* — эффек­ тивная масса носителя;

«02 = 4 . (6.9)

Отделив мнимую и действительную части, можно запи­ сать, что

А

е '

=

- ^

 

 

= ^ - В ' ,

 

(6.10

 

 

«

Е о

[cog

— со»]* +

( C û / / p ) 2

' » 4

 

'

A s "

=

-4^

5

~

 

= -4-В".

(6.11)

Еслвоздействие

приводит

к появлению не

одного,

а п носителей тока, то общее изменение е может

быть

определено простым

суммированием:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

S e ' = Ä S Ä f c ß ' k '

 

 

( 6 Л 0 а )

 

 

 

Ä e

" = Ä 2 J f t

k ß " k -

 

 

( 6 Л 1 а )

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

Значок к у

коэффициентов

В'

и Ö" означает,

что они

относятся к уровням с разной энергией ионизации

ШІН •

Если плотность падающего светового потока

Ф, коэф­

фициент конверсии аК ои, время жизни носителя t

и объ­

ем образца

V,

 

то плотность

оптически

генерируемых

носителей

« = акоиФ^ж/V.

Подставляя

значение п

в (6.10) и (6.11), можно получить выражения для изме­ нений Ае' « Де" исследуемых полупроводников. При таких низких температурах шумы из-за термически гене­ рируемых носителей будут практически исключены и не будут влиять на е.

При

использовании

сверхпроводящих . резонаторов,

в [143] было получено

большое количество эксперимен­

тальных

данных о влиянии света на свойства полупро-

13—231

 

193

водников. На рис. 6.6 изображена

одна

из

применяемых

при этом схем. Рабочая частота

была

выбрана

около

0,9 іГГц,

добротность

 

резонатора

 

без

испытываемых

образцов

была

равна

примерно

107. Образец, который

 

 

 

 

 

 

 

подвергался

 

испытанию,

 

 

 

 

 

 

 

располагался

на

конце

цен­

 

 

 

 

 

 

 

трального

стержня

резона­

К мано­

 

 

вакууму

тора.

 

Высокочастотная мощ­

 

 

ность

вводилась

и

выводи­

метру

 

 

 

 

 

=

 

f f =

à

лась

с

помощью

емкостных

 

 

 

 

штырей.

В

качестве

источ­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ников

света

использовались

 

 

 

 

 

 

 

или

решетчатые,

или

приз­

 

 

 

 

 

 

 

матические

монохроматоры

 

 

 

 

 

 

 

или лазеры. Свет от этих

 

 

 

 

 

 

 

источников

подавался

в ре­

 

 

 

 

 

 

 

зонатор

 

с

помощью

свето­

 

 

 

 

 

 

 

вода. Если надо было испы­

 

 

 

 

 

 

 

тывать

влияние

инфракрас­

 

 

 

 

 

 

 

ного

 

света,

то световод

за­

 

 

 

 

 

 

 

менялся

 

полой

трубкой из

 

 

 

 

 

 

 

нержавеющей

стали.

Изме­

 

 

 

 

 

 

 

рения

проводились

при тем­

 

 

 

 

 

 

 

пературе 4,2 К и ниже.

 

 

 

 

 

 

 

 

С

 

помощью

таких

уст­

Рис. 6.6. Схема установки для

ройств

удалось

определить

время

 

релаксации,

 

время

определения

изменения

свойств

жизни свободных

носителей,

полупроводников под

действи­

расположение

уровня

Фер­

 

ем света:

 

 

 

/ — световод;

2 — азот;

3 — гелий:

ми,

 

плотность

свободных

4 — полупроводник;

5 — резонатор;

носителей,

плотность

лову­

6 — четвертьволновый

штырь; 7 и 8—

внешний

н

внутренний

 

сосуды

шек,

 

их

глубину,

заполне­

Д ы о а р а ;

9 — коаксиальные

линии.

ние,

поперечное

сечение

за­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

хвата

для

большого

коли­

чества полупроводников, таких, как Si, GaAs, CdS,

CdTe.

С помощью такой же установки

 

можно

определить и

tgôfl

для

различных

диэлектриков.

Был

исследован

tgод для жидкого гелия, кремнезема, тефлона и показа­

но,

что чувствительность измерения

tg ô n может

дости­

гать

Ю - 9 . В [145] были исследованы

аналогичным

мето­

дом потери в NaCl и KCl при 40 М Г ц < / < 1000 МГц и 1,8 К < 7 ' < 4 , 2 К. В качестве резонансной структуры использовался спиральный резонатор, имеющий боль­ шую широкополосность.

194

Подробное исследование-различных полупроводников показало, что их диэлектрическая постоянная изменяет­ ся не только под действием света, но и под действием ядерного излучения [144]. Это может быть использовано для конструирования детекторов и дозиметров ядерного излучения. На самом деле, если в схеме, приведенной на рис. 6.6, полупроводник, помещенный в резонатор, будет облучаться каким-нибудь источником ядерного излуче­ ния, то атомы будут ионизоваться и в полупроводнике создадутся дополнительные носители тока. Это приве­ дет к изменению частоты и добротности используемого резонатора и позволит определить мощность ядерного излучения.

Измерения были проведены с помощью свинцового резонатора на частоте 380 МГц с использованием кри­ сталла сульфида кадмия CdS, иа который падало излу­ чение от радиоактивного источника С1 4 с мощностью дозы 1 мкКи (микрокюри). По результатам эксперимен-

Л/,кГц

О W a ВО t,MUh О 20 à ЬО SO' і.тн

Рис. 6.7. Зависимость частоты резонатора от времени облучения при

использовании источника с

мощностью

дозы излучения 1 мкКи (а)

и

100 мкКи

(б).

тов построен рис. 6.7,а. Из рисунка видно, что в этом

случае

существует линейная зависимость между сдви­

гом по

частоте и временем нахождения радиоактивного

источника в резонаторе, т. е. временем облучения. На­ клон прямой равен 4 кГц/мин. Если использовать источ­ ник большей мощности, то, начиная с какого-то времени, зависимость перестает быть линейной. На рис. 6.7,6 изображена зависимость сдвига частоты от времени при использовании источника С1 4 с мощностью дозы излу­ чения 100 мкКи.

Наклон

кривой сначала равен примерно 100 Гц/мин,

а через 20

мин зависимость начинает отличаться от

13*

195

линейной. Таким образом, данное устройство может быть использовано как дозиметр только малых потоков ядерного излучения.

Достоинством данного типа дозиметров является то, что они позволяют измерять дозу потоков радиации очень малой энергии (примерно 6 эВ), при которой все существующие дозиметры или не могут быть использо­ ваны вообще, или дают большую ошибку.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Техника сверхпроводящих волноводов и резонаторов вступила во второе десятилетие своего развития. Про­ шло 10 лет с того момента, как группой ученых Стэнфордского университета было предложено использовать сверхпроводники в качестве высокочастотных ускоряю­ щих систем ускорителей для улучшения параметров ускоренных частиц [172]. Первые работы были выполне­ ны с резонаторами, изготовленными из свинца. Интерес к свинцу объяснялся тем, что этот металл, во-первых, •имеет сравнительно высокую критическую температуру и, во-вторых, может быть просто получен с такой чисто­ той, которая необходима для создания высокодобротных систем. Однако после выяснилось, что низкие критиче­ ские магнитные поля этого сверхпроводника не позво­ ляют конструировать на его основе сверхпроводящие системы, предназначенные для работы на высоком уров­ не мощности. Поэтому, начиная с 1967 года, все большее внимание уделяется созданию сверхпроводящих волно­ водов и резонаторов из ниобия. К настоящему времени накопилось достаточно экспериментальных фактов, под­ тверждающих перспективность именно этого сверхпро­ водника.

Прошедшее десятилетие было десятилетием разра­ ботки различных технологических приемов, позволяю­ щих получить сверхпроводники с малым поверхностным сопротивлением в диапазоне СВЧ и сохранить высокую чистоту поверхностного слоя в течение длительного вре­ мени. Проведенная работа показала, что, применяя опе­ рации химической полировки, электрополировки, высоко­ температурного отжига в вакууме, можно получить резо­ наторы, добротность которых в диапазоне частот 1 — 10 ГГц равна 10і 0 —10й . Для того чтобы эти добротно­ сти не изменялись в течение длительного времени, необ­ ходимо хранить сверхпроводящие СВЧ системы в высо-

197

ком вакууме или очищенные поверхности подвергать анодированию.

В настоящее время разработаны достаточно эффек­ тивные технологические операции, позволяющие как по­ лучать сверхчистые сверхпроводники, так и сохранять чистоту их поверхностен при длительной эксплуатации. Этим объясняется тот факт, что в последние годы во многих лабораториях работы по сверхпроводящим вол­ новодам и резонаторам приобрели широкий размах.

Так, в лаборатории высоких энергий Стэнфордского университета в настоящее время ведутся работы по сооружению сверхпроводящего электронного линейного ускорителя длиной 150 м. Предполагалось, что на этом ускорителе будет получена энергия 2 ГэВ [132]. Сейчас считают, что при однократном прохождении энергия электронов на выходе ускорителя будет 1 ГэВ. Однако уже подготовлен туннель заворачивания пучка с целью его последующего ускорения в тон же ускоряющей структуре. При этом энергия частиц может быть увели­ чена до 2 ГэВ. В качестве рабочей частоты выбрана /=1,3 ГГц. Ускоряющие секции представляют собой отрезки бипериоднческих структур длиной 0,8 м, состоя­ щие из пяти полных, двух укороченных ячеек и двух концевых полуячеек (рис. 6.3). Размеры концевых ячеек выбраны таким образом, чтобы длина укороченной ячей­ ки и концевой полуячейки равнялась длине полной ячей­ ки. Из таких ячеек с помощью индиевых прокладок собирают или секцию предускорителя длиной 2,4 м или секции самого ускорителя длиной 5,6 м, которые разме­ щают затем в шестиметровых гелиевых резервуарах.

Используемый материал — ниобий. Наиболее сущест­ венной примесью является тантал. Количество основных примесей не превышает 100 ррм (частей на миллион). Что касается тантала, то обычно его примесь составляет

300 ррм,

а

иногда даже

1000

ррм.

Поскольку тантал

переходит

в

сверхпроводящее

состояние при

Г=4,48 К,

то при температурах 2 К

он не очень

сильно

влияет на

величину поверхностного сопротивления.

 

Секции изготовляют из листового ниобия по следую­

щей технологии. Сначала

из

листа

ниобия

толщиной

5 мм методом гидроформирования изготавливают полу­ ячейки. Затем их обрабатывают иа токарном станке и сваривают электронным пучком (к настоящему времени освоена сварка внутри секций, и поэтому полуячейки

198

сваривают не только снаружи, но и изнутри). Для свар­ ки электронным пучком используются источники высокогонапряжения (более 50 кВ).

После этого секции подвергают химической полиров­

ке 'и затем

 

высокотемпературному отжигу при

7 = 2173 К

в высоковакуумной

печи

при давлении ~ 1 0 ~

6 — Ю - 7 Па

(10_ s —10~

9

мм. рт.

ст.)

в течение нескольких часов.

Затем снова химически полируют в растворе, состоящем

из 6 вес. ч. 70%

H N 0 3 и 4 вес. ч. 40%

H F

при Г = 273К,

и опять отжигают при Г=2173°К.

После

этого

можно

поверхность

электрополировать

в

растворе

I T 2 S O 4 и

HF

и затем анодировать в растворе

N H 3

при

Т = 293К

для

образования

на

поверхности

пленки

Nb2Os

как

это

делается в Карлсруэ. Однако авторы '[172] считают,

что

достаточно хорошие результаты можно получить, если после высокотемпературного отжига секции хранить

ввакууме.

ВАргонской национальной лаборатории (США) при разработке спиральных замедляющих систем из ниобия используется несколько другая технология '[160, 161]. Сначала поверхность ниобия подвергают химической полировке, затем производят вакуумный отжиг, электро­ полировку и оксидирование. Такая последовательность позволяет получить перед оксидированием более глад­ кую поверхность ниобия и, таким образом, в конечном счете уменьшить толщину защитного слоя.

Фирма «Сименс» (ФРГ) продолжает совершенство­ вать технологию нанесения на ниобий защитных пленок анодированием. Именно эта фирма предложила аноди­ рование как метод защиты поверхности сверхпроводя­ щих резонаторов при их хранении в атмосфере воздуха при нормальных температурах. К настоящему времени сотрудниками фирмы установлено [173], что наилучшие результаты могут быть получены, если использовать сначала электрополировку, затем анодирование, а потом оксиполирование, т. е. попеременное анодирование и растворение образовавшейся пленки. Это позволяет полу­ чить хорошие результаты и восстанавливать защитный слой при его разрушении.

Более совершенная технология используется при создании отклоняющих секций сепаратора протонного синхротрона на 30 ГэВ в Женеве [174]. Ячейки, из кото­ рых собирают волнозоды, изготавливают из кусков нио­ бия, затем сваривают по внешнему диаметру. Длина

199

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ