Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах

.pdf
Скачиваний:
42
Добавлен:
22.10.2023
Размер:
18.34 Mб
Скачать

400 Глава 10

шение содержания колец Ses при сплавлении селена с другими элементами обсуждалось в разд. 10.1. Напомним, что сера сущест­ венно менее эффективно снижает содержание колец, чем As или Те, п соответственно в этом случае имеет место более слабое уменьше­ ние подвижности при комнатной температуре (фиг. 10.10) (при содержании серы, равном 1 2 % , что не показано на этом графике, подвижность уменьшается примерно в 3 раза). Остается неясным, участвуют ли в процессе переноса электронные состояния, связан­ ные с кольцами Ses непосредственно, как предполагают Шоттмиллер и др. [451], или разрушение колец приводит к увеличению беспорядка где-то в другом месте, например разрушаются связи Se — Se в цепях.

Постоянство ED при сплавлении селена с указанными выше элементами наводит на мысль, что интервал энергий, занятый локализованными состояниями, у края зоны проводимости остает­ ся неизменным. Интерпретация данных по дрейфовой подвижно­

сти

электронов с позиций соотношения (7.11),

а именно

при

0 = 10 с м 2 - В " 1 - с - 1 иЛ г с ,

эффективной

плотности состояний

на

краю зоны по подвижности,

равной 102 0

с м - 3 ,

приводит к зна­

чению плотности дискретных уровней прилипания Nt в чистом Se,

примерно

равному 10

1 8 с м - 3 . Уменьшение \iD при сплавлении Se

с другими

элементами

можно связывать с увеличением Nt. Исходя

из этой модели, удалось определить, что увеличение Nt при сплав­ лении Se с As приблизительно равно числу введенных атомов As.

Перенос дырок. Предполагается, что дрейфовая подвижность дырок, так же как и подвижность электронов, ограничивается ловушками. Однако вычисление плотности ловушек, согласно упо­ мянутому выше соотношению, дает для чистого Se величину Nt « « 2 - 1 0 1 9 с м _ 3 . Ввиду столь высокой плотности, по-видимому, сле­ дует считать, что ловушки в этом случае распределены в некотором интервале энергий у края валентной зоны. Цепочечная структура селена, вероятно, придает существенно одномерный характер переносу в нем и позволяет также считать, что плотность состоя­ ний вблизи краев зон возрастает очень быстро [122]. Таким обра­ зом, можно ожидать, что энергетический интервал, занятый локализованными состояниями, в аморфном селене очень мал. Если предполагать, что наблюдаемая энергия активации дыроч­

ной

подвижности

( ~ 0 , 1 5

эВ

для

подложек, поддерживаемых

при

комнатной температуре) равна

этому интервалу, то в соот­

ветствии с

выражением (7.13)

значение [х0 равно примерно 10—

20 с м 2 - В - 1

- с - 1 . При сплавлении Se с 1 % Те дрейфовая подвижность

снижается

более

чем на

порядок

величины, достигая значения

~ 9 - 1 0 - 3 с м 2 - В - 1 - с - 1 (см. фиг. 10.10). Одновременно энергия акти-

Селен,

теллур и их сплавы

401

вации увеличивается до ~

0,26 эВ. Если эти изменения связывать

с увеличением интервала локализованных состояний, создаваемых разупорядочением, то вычисленное значение 0 для этого сплава будет равно примерно 30 с м 2 - В - 1 - с - 1 .

Можно ожидать, что сплавы Se с S и As при высокой концен­ трации последних будут вести себя аналогично. К сожалению, при введении этих добавок время жизни дырок уменьшается так быст­ ро (см. ниже), что в этих сплавах нельзя определить время пере­ носа достаточно точно.

При низких температурах маловероятно, что дырки, однажды захваченные на ловушки, будут снова возбуждаться в зону нелокализоваиных состояний. В этом случае дрейфовая подвижность должна отражать перенос, осуществляемый перескоками между локализованными состояниями. Табак [488] сообщает, что в амор­ фном Se при температуре ниже 200 К времена переноса становятся трудно определяемыми, и, например, при 178 К после того, как первые инжектированные носители заряда достигают противо­ положного электрода, через образец продолжает протекать при­ близительно около 4 0 % общего инжектированного заряда. Кроме того, значения подвижностей, определяемые при таких условиях переноса, становятся зависящими от электрического поля. Исполь­ зуя для определения подвижностей самые малые времена переноса и экстраполируя данные к нулевым электрическим полям, Табак находит, что ниже 200 К энергия активации ED такая же, как при температурах выше 200 К, и приходит к заключению, что зависимость времен переноса от электрического поля обусловлена зависимостью от поля времен нахождения носителей на ловушках. В противоположность Табаку Оуэн (частное сообщение), исполь­ зуя аналогичную процедуру, находит, что при уменьшении темпе­ ратуры наклон прямой на графике зависимости In u.D от ИТ умень­ шается, что, по его мнению, свидетельствует об изменении механизма переноса. По-видимому, в любом случае при низких тем­ пературах основная часть носителей проходит через образец посред­ ством перескоков; в таком случае следует ожидать сильной зави­ симости переноса от электрического поля (см. 7.8).

10.2.3.' В Р Е М Е Н А Ж И З Н И И Д Л И Н Ы ПРОБЕГА НОСИТЕЛЕЙ

Длина пробега носителей, инжектированных в образец,— это расстояние, которое проходит носитель под действием единицы поля до того момента, пока он не захватитсяиа глубокую ловушку или не рекомбинирует. Она равна произведению дрейфовой под­ вижности на время жизни носителя т. Использование низких полей в описанных выше экспериментах по дрейфовой подвижности может приводить к тому, что времена переноса будут порядка т или меньше. В этом случае импульсы сигналов становятся экспо-

2 6 - 0 1 1 4 2

402

Глава 10

ненциальными, и из их анализа можно получать значения т. Используя этот метод, Табак и Бартер [490] определили следующие значения времен жизни для дырок и электронов при комнатной температуре:

т д = 10—45 мкс, т э = 40—50 мкс.

Эти значения т дают соответственно длины пробега при комнат­ ной температуре, равные

1,3 — 6,3-10"°

с м 2

- В - 1 для дырок

и

 

 

2,4—3,1-10"' с м 2

- В -

1 для электронов.

Следует отметить, что время жизни и длина пробега дырок, полу­ ченные этим методом, в 20—100 раз больше предыдущих оценок, сделанных Хартке [229]. По-видимому, он использовал непод­ ходящий метод Гехта при анализе зависимости амплитуды импуль­ сов от электрического поля.

Интересно рассмотреть вопрос о влиянии легирования на вре­ мена жизни носителей. Следует, по-видимому, подчеркнуть, что

Ф н г. 10.11. Изменение времени жизни электронов и дырок в аморфном селе­ не при сплавлении его с различными элементами.

Данные получены из экспериментов по переходной фотопроводимости.

времена жизни контролируются глубокими уровнями и поэтому могут не коррелировать с подвижностями, которые контролируют­ ся мелкими ловушками. На фиг. 10.11 показано, что добавление As даже в малых количествах очень сильно снижает времена жизни дырок и одновременно увеличивает времена жизни электронов.

Время жизни дырок уменьшается также при сплавлении

селена

с S и Т1, но при сплавлении с Те и С1 оно меняется незначительно.

Время жизни электронов снижается

при введении С1 и,

возмож­

но, Те, добавление же Т1 или S на

времена жизни существенно

не влияет.

\

 

 

)

Селен, теллур и их сплавы

403

При малых временах жизни носителей заряда измерение дрей­ фовой подвижности становится затруднительным вследствие потери значительной доли инжектированных носителей за счет прилипа­ ния их на глубоких ловушках. Например, в системе As — Se перенос дырок не может наблюдаться в сплавах, содержащих от 2 до 6% As. При содержании As выше 6% сигнал переноса вновь появляется. Однако теперь сигналы имеют другой вид [451]. Они и не экспоненциальные (что соответствовало бы ограниченному времени жизни) и не линейно нарастающие (что означало бы пере­ нос тонкого слоя заряда). После начального быстрого переходного

участка

форма

сигнала

ста­

 

 

 

новится

 

логарифмической,

 

 

 

свидетельствуя о том, что эф­

 

 

 

фективное время переноса но­

 

 

 

сителей

примерно

на

пять

 

 

 

порядков

величины

больше

 

 

 

того,

которое

наблюдается

 

 

 

в чистом

аморфном Se. Фак­

 

 

 

тически это перенос такого же

 

 

 

типа,

какой

наблюдается

в

 

 

 

Se при низких

температурах

 

 

 

и в аморфных

A s 2 S 3

и As2 Se3

 

 

 

(см.

гл.

9).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10.2.4. И З М Е Р Е Н И Е Т О К О В ,

 

 

 

 

 

О Г Р А Н И Ч Е Н Н Ы Х

 

 

 

 

 

ПРОСТРАНСТВЕННЫМ

 

 

 

 

 

 

 

ЗАРЯДОМ

 

 

 

 

 

 

Из

измерений

вольтам-

 

 

 

перных характеристик в ус­

 

 

 

ловиях

токов,

ограниченных

 

 

 

пространственным

зарядом,

 

 

 

в аморфном

Se

Ланьон

и

 

6,8

 

Спир [309] и Хартке

[229] по­

 

 

 

V, В

 

лучили

данные

о плотности

 

 

Ф н г .

10.12. Токи, ограниченные про­

распределения ловушек вбли­

зи равновесного

уровня Фер­

странственным зарядом, в аморфном се­

 

лене.

 

ми в

этом

материале.

 

 

 

 

 

 

К р у ж к и

— экспериментальные данные

[229];

Экспериментальные резуль­

сплошная линия — теоретическая кривая

(.307].

таты Хартке для трех образ­ цов (толщиной порядка 2 мкм), полученные при комнатной темпера­

туре, показаны на фиг. 10.12. Один электрод (стекло, покрытое слоем S n 0 2 ) блокировал электроны, другой (Те или Аи) инжекти­ ровал дырки. При напряжении выше примерно 1 В число инжек­ тируемых дырок становится выше нормальной равновесной плот-

26*

404

Глава 10

 

поста и ток превышает то значение, которого можно было бы

ожи­

дать в случае омического поведения.

 

Вольтамперные характеристики

для токов, ограниченных

пространственным

зарядом, в случае

одного типа носителей и

раз­

личных видов распределения ловушек вблизи уровня Ферми были получены Хартке [229]. С экспериментальными результатами Хартке Ланьон [307] согласовал теоретическую кривую (фиг. 10.12), справедливую в случае экспоненциального распределения лову­

шек для дырок: N (Е) =

N (0)е~Е / л . Здесь Е измеряется

от края

валентной

зоны. Такой

характер изменения плотности

ловушек

с энергией при условиях токов, ограниченных

пространственным

зарядом, приводит к вольтамперной характеристике

следующе­

го

вида:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где ст0

проводимость

при дайной температуре,

VA

константа

(пропорциональная числу захваченных дырок при V = 0), L —

толщина образца. Таким образом, за омической областью ( / ~

V)

следует область, описываемая степенным законом вида /

~

VA+hT/kT.

Для аморфного селена

Ланьон

нашел,

что /

~

F 3 - 8 , т. е. А

=

=

2,8 кТ. Следует отметить,

что при

такой

интерпретации

из

эксперимента можно получить данные о характере распределения ловушек только в пределах нескольких десятых электронвольта в области, лежащей ниже равновесного уровня Ферми, и, конечно, трудно предполагать, что такое же распределение продолжается вплоть до края зоны по подвижности. Однако если это все же имеет место и плотность у края зоны порядка 102 0 с м ~ 3 - э В - 1 , то в соот­ ветствии с подгонкой Ланьона плотность состояний на уровпе

Ферми

(EF =

1 эВ) при V = 0 составляет около 102 0 е - 1 4 » 3 , т. е.

меньше

101 4

с м ~ 8 - э В - 1 .

Другие виды распределения ловушек также хорошо объясняют экспериментальные результаты. Сам Хартке предполагает, что при напряжении выше примерно 10 В наилучшая подгонка экспери­ мента к теории соответствует выражению J ~ V exp (const-V). Оно справедливо для токов, ограниченных пространственным за­ рядом, в случае однородного распределения ловушек по энергиям. С позиций такой интерпретации Хартке оценивает общую плот­ ность ловушек величиной порядка 1,5—9 • 1 0 1 4 с м - 3 , причем энер­

гии уровней распределены в. интервале по

крайней мере 0,15 эВ.

Мюллер и Мюллер [383] иашли, что log/ ~

F1'2.

10.3. ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА АМОРФНЫХ СЕЛЕНА И Т Е Л Л У Р А

На фиг. 10.13 для сравнения приведены края оптического поглощения аморфных селена и теллура и их кристалличе­ ских модификаций. Экспоненциальный участок края поглощения

Селен, теллур и их сплавы

405

в аморфном селене в соответствии с данными Хартке и Регенсбургера ([231]); см. также фиг. 7.27) описывается выражением

а = 7 ' 3 5 1 0 ~ 1 2 е х Р ( 0,058 з в ) 0 " " 1 -

Другие экспериментаторы находят несколько иные параметры. Край поглощения аморфного селена расположен между краями двух его кристаллических модификаций [425, 433]. Край поглоще­ ния аморфного теллура имеет наклон, примерно такой же, как

а - моноклинный

1,0 1,5 Энергия фотонов, эБ

Ф и г . 10.13. Края оптического поглощения в аморфном и кристаллическом теллуре и селене при комнатной температуре [482].

в случае аморфного селена, но существенно смещен относительно более крутого края тригонального теллура [214, 512] в сторону более высоких энергий. Моноклинная форма теллура неизвестна. Более сильное смещение края в теллуре при аморфизации по срав­ нению с селеном может быть связано с более сильным влиянием взаимодействия между цепями в этом материале.

Температурная зависимость края оптического поглощения в аморфном и жидком селене показана на фиг. 10.14. В жидком со­ стоянии (выше 400 К) изменение наклона края находится в соот-

406 Глава 10

ветствни с правилом Урбаха (7.61). При температуре ниже ком­ натной сдвиг края почти параллелен (Найтс, частное сообщение)

и соответствует температурному коэффициенту,

примерно

равно­

му 7 - 1 0 " 4 э В - К " 1 . В тригональном Se [433]

правило

Урбаха

 

Энергия

фотонов,

эВ

Ф и г . 10.14. Температурная

зависимость края

оптического поглощения

в аморфном

и.жидком

селене [458].

выполняется для Ш±_с вплоть до 77 К, но аналогичное значение для температурного коэффициента было получено для непрямого края, наблюдаемого при Щ\с.

Выше экспоненциального участка края спектральная зависи­ мость коэффициента поглощения в аморфном селене удовлетво-

Селен,

теллур

и

их сплавы

407

ряет соотношению

 

 

 

 

аЛсо «

е2 (Лео)2

~

(па> — Е0),

 

где 2?=2,05 эВ при комнатной температуре (фиг. 10.15). Это соотношение в противоположность общепринятому соотношению аЛсо~(/2С0Е0 )2 , по-видимому, обусловлено резким возрастанием

Энергия фотонов, эВ

Ф и г. 10.15. Крап оптического поглощения в аморфном селене при комнат­ ной температуре, представленный в виде зависимостей а, е 2 и е 2 (Йсо)2 от

Йсо [120].

плотности состояний на краях зон [120, 122], что вполне веро­ ятно вследствие одномерной природы структуры цепочечного типа.

Результаты экспериментов по электромодулированному отра­ жению в области края в аморфном и кристаллическом Se показаны на фиг. 10.16. Острые максимумы электроотражения, обнаружен­ ные для кристалла, в аморфном Se отсутствуют. Наблюдаемый размытый сигнал вблизи края имеет знак, противоположный знаку сигнала электроотражения, наблюдаемому в кристалле вблизи 2 эВ, и, кроме того, обнаружено, что он имеет противопо­ ложную температурную зависимость. Вайзер и Штуке [535] связы­ вают этот сигнал с экситонами Френкеля, локализованными на кольцах Se8 . Другое возможное объяснение состоит в том, что электрическое поле ( ~ 2 - 1 0 5 В-см"1 ) приводит просто к размытию

Энергия фотонов, эВ

Ф и г . 10.16. Спектры отражения и электроотраження [535], о — тритональный селен, % || с ; б — аморфный селен.

О

Z

4

6

8

10

О

Z

4

Б

8

10

 

 

Энергия фотонов, эВ

 

 

Энергия фотонов, эИ

 

Ф и г.

10.17.

Спектральная

зависимость

энергии е 2

[482].

а — в аморфном и кристаллическом селене; б — в аморфном и кристаллическом теллуре.

Селен, теллур и их сплавы

409

края поглощения, как это описывали Доу и Редфилд [139] (см. 7.6.1). Однако эксперименты по электропоглощению указывают на парал­

лельный сдвиг края [141, 484], аналогичный

обнаруженному

Коломийцем и др. [291] (см. 9.3) в аморфном As 2 S 3 ,

который авто­

ры интерпретируют как эффект Франца — Келдыша.

Спектры поглощения в селене и теллуре в области, лежащей за

краем основного поглощения в сторону высоких энергий, показа­ ны на фиг. 10.17. Основные характерные особенности спектров для кристаллов (тригональиых в обоих случаях) можно понять, исходя из рассчитанной зонной структуры [442, 509], изображен­ ной на фиг. 10.18. Группировка зон в три набора триплетов (обра­ зованных из атомных р-состояний) делит спектр поглощения на две части. Это наиболее очевидно в случае Se, в котором спек­ тральная зависимость е 2 имеет глубокий минимум вблизи 6 эВ для обоих основных направлений поляризации излучения относительно кристаллографической оси с (фиг. 10.19, а). У моноклинногоселена, обладающего кольцевой структурой, но с аналогичными расстояниями и углами между ближайшими соседними атомами, также имеется минимум вблизи этой энергии [314]. Эта характер­ ная особенность спектра остается и в аморфной фазе Se, так как в ней ближний порядок в форме колец и цепей сохраняется. Стоит

отметить, что

электронная зонная структура в

А-направлении

(Г — Z) зоны

Бриллюэна (фиг. 10.19, б) может

быть вычислена

также с помощью метода сильной связи для одной цепочки, и при этом получаются аналогичные результаты [392]. Однако наимень­ ший зазор находится в окрестности точки Н, а именно в направ­ лении от Г, соответствующем кристаллографической оси, которая ни параллельна, ни перпендикулярна оси с. Зонная структура в направлении Н — К существенно определяется взаимодействием между цепями. Различие между взаимодействием в кристалличе­ ском и аморфном состояниях, вероятно, ответственно за исчезно­ вение в аморфном селене сильного пика при 2 эВ, показанного для кристалла на фиг. 10.13 и 10.17.

За исключением этой особенности в области края, спектр поглощения в аморфном селене был успешно объяснен Крамером и др. [295] (см. также [294, 345]) на основе модели, допускающей невыполнение закона сохранения импульса, которая обсуждается в 7.6. Используя плотность состояний, соответствующую тригональному Se (фиг. 10.20, а), и учитывая выполнение закона сохранения импульса для междузониых переходов, эти авторы вычислили спектр, который очень хорошо согласуется с экспери­ ментальной кривой. В предположении постоянства значений матричных элементов можно достичь требуемого исчезновения тонкой структуры спектра, но для воспроизведения относительных высот двух размытых максимумов, которые видны на фиг. 10.17, необходимо использовать усредненные матричные элементы для

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ