Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Евдокимов, В. Д. Экзоэлектронная эмиссия при трении

.pdf
Скачиваний:
23
Добавлен:
21.10.2023
Размер:
10.35 Mб
Скачать

Остановимся еще на одном важном вопросе - явлении переноса

материала при трении с одной поверхности

на другую и перспективе

его исследования с помощью экзоэлекронной

эмиссии.

 

 

Перенос при внешнем трении подвергался

систематическому

изу ­

чению многими учеными, и наиболее обобщающие сведения содер­

жатся в монографиях В.Д. Кузнецова [283]

,

Д.Н. Гаркунова, И.В.Кра-

гельского, A.A. Полякова

[284] , Из анализа

этих работ можно

сделать

вывод не только о той существенной роли, которую играет

перенос м а ­

териала в процессе трения

и изнашивания,

но

и о больших

трудностях

экспериментального характера. Эти трудности значительно возрастают, когда приходится определять весьма малые количества перенесенного материала как в виде тончайших сплошных пленок, так и в виде дискретных следов, а применение радиоактивных изотопов нежелательно.

Установленные особенности возникновения экзоэлектронной эмиссии при трении [109, ПО] позволяют применить этот метод для изучения переноса материалов на рабочие поверхности. Речь прежде всего идет о том, что для возбуждения экзоэлектронной эмиссии с поверхности трения дополнительно необходимы кванты подсветки, энергия которых существенно отличается для различных металлов и может быть выде ­ лена из спектра с помощью набора светофильтров. Так, например, конструкционные стали эмиттируют экзоэлетроны при освещении ртут ­ ной лампой через фильтр УФС1, алюминий требует видимого света (фильтр БС12), а медь - УФС2,

Если на стальное кольцо 2 (рис. 28) с медного контротела 1 пере ­ носятся при трении без смазки атомы меди, то, применяя фильтр УФС2, можно зафиксировать экзоэмиссию только с атомов меди, но не с д е ­ формированной трением поверхности стали, требующей более коротковол­ новой ультрафиолетовой подсветки. Возникновение экзоэлектронной эмиссии с атомов меди и алюминия, перенесенных с контртела на стальную поверхность вращающегося кольца, показано на рис. 51. У в е ­ личение эмиссионного потока в данных условиях отвечает накоплению меди или алюминия на поверхности трения стального кольца, что м о ­ жет быть использовано при соответствующей тарировке для определе­ ния степени ее покрытия в процессе переноса при трении без смазки.

Подобная методика позволяет проводить исследования и с твердыми смазка"ми, если их составляющие [285] способны излучать экзоэлект - роны, а также определять эффективность применения пакетных подшип­ ников скольжения [286 ] . Описанный нами метод может быть применен и для изучения избирательного переноса меди в глицериновой среде [284 , 287], однако не в динамике трения, а после его прекращения и обезжиривания рабочих поверхностей. Глицериновое масло,так же как и любая другая жидкая фаза, покрывающая поверхность трения, экра ­ нирует экзоэлектронную эмиссию.

В связи с рассматриваемым явлением переноса металлов при трении интересно остановиться и на субатомном механизме изнашивания, про­ исходящем в микроповерхностном слое деталей машин [288], Авторы

этой работы, применяя

модель

конфигурационной локализации электронов

Г.В. Самсонова [289],

предполагают, что взаимодействие пар при

трении в общем случае

должно

усиливаться с понижением статистического

111

Рис. 51. Перенос апюмішня (1) и меди (2) на поверхность об­ разцов из стали 45 при трении

без смазки

(1,5 м/сек; на ­

грузка 26,4

кГ)

веса стабильных конфигураций у атомов обоих сопряженных металлов, обладающих различными энергетическими характеристиками, т.е. ког ­ да одно тело является акцептором, а другое донором. Если же оба

тела имеют акцепторную или донорную способность,

то взаимодействие

их при трении должно уменьшаться. В первом случае

это происходит

из-за минимального нарушения электронного строения внешних элект­ ронных оболочек атомов металла, а во втором - вследствие создания слоя взаимно отталкивающихся электронов между двумя трущимися деталями. В результате применения материалов с повышенной донорной способностью (но при близких значениях этой характеристики) возни­ кает "электронная смазка" , которая уменьшает износ при трении сколь­ жения без жидкой смазки. При наличии жидкой смазки наименьший по ­

верхностный износ достигается в том случае, если сопряженные

м а т е ­

риалы имеют большой статистический вес атомов со стабильными

кон­

фигурациями и характеризуются незначительной передачей нелокализованных электронов от одного элемента к другому.

Пластическая

деформация изменяет

электронную структуру металлов

и энергетический спектр электронов. С

электронным строением

и

с о с ­

тоянием внешних

электронных оболочек

атомов металла связана

и

с в о ­

бодная энергия, что в конечном итоге определяет характер протекания

разнообразных

физико-химических процессов на поверхности

металла

и сказывается

на электронном обмене и износостойкости. Поэтому и с ­

следования, касающиеся субатомного механизма изнашивания

и перено­

са материала при трении, представляют большой интерес. При дальней­ шем развитии этих работ возможно использование и экзоэлектронной эмиссии, которая поможет глубже разобраться в природе наблюдаемых явлений.

Выше было показано, что экзоэлектронная эмиссия чувствительна к изменению состояния поверхностных слоев, формируемых под воздей­ ствием силовых факторов трения. Эта особенность экзоэмиссии может быть, с нашей точки зрения, использована для определения степени улучшения свойств рабочих поверхностей при упрочнении трением или

пластической деформацией с помощью роликов, шариков й т.

д. Как

и з ­

вестно

[280, 291],

выбор режимов упрочняющей технологии

сопряжен

с рядом

трудностей.

Увеличение степени пластической деформации

сверх

112

критической приводит к резкому ухудшению эксплуатационных свойств деталей машин и особенно их усталостной прочности и износостойкости.

Поэтому

необходим активный контроль, который позволил бы в

динами­

ке деформирования установить наивыгоднейший режим

обработки

и м о ­

мент ее

прекращения по времени или числу проходов

упрочняющего

инструмента. Очевидно, критерием перенаклепа должно быть изменение

интенсивности установившегося эмиссионного потока и характера

его

"всплесков" на осциллограмме. Действительно, по некоторым нашим

наблюдениям перенаклеп и резкая потеря прочности поверхностных

сло ­

ев сталей приводят к своеобразному изменению формы кривой интен­

сивности экзоэлектронной эмиссии.

Для нахождения

количествен­

ных закономерностей необходимы дальнейшие исследования,

которые п о з ­

волят связать режимы упрочняющей технологии и экзоэлектронную

э м и с ­

сию с комплексом физико-механических свойств поверхностных и

г л у ­

бинных слоев и их эксплуатационной надежностью. Эти

исследования

можно проводить в динамических условиях упрочнения при отсутствии

жидкой среды или поэтапно, • особенно

на больших деталях, с

местным

обезжириванием участков их упрочняемой поверхности, если применя­ ется смазка.

473 8

-U5 -

Глава ѴЛ.

ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ II ОКИСЛЕНИЕ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТРЕНИЯ

Вопросы окисления поверхностей трения находятся в центре внима­ ния многих исследователей [ 1 , 3 , 217 , 292]. Наиболее существенные результаты в этом направлении достигнуты в основном в последние годы.

Работами Б.И. Костецкого

[1,4] показана

роль кислорода в фор­

мировании свойств поверхностных слоев при

их

деформации

трением

и построена физическая модель

окислительного

изнашивания.

Одновре­

менное протекание микропластической деформации и диффузии кисло­ рода в пластически деформируемые объемы металла приводит к образо­ ванию особого вида вторичных структур с локализацией разрушения в

тончайших поверхностных слоях. Физико-химическое взаимодействие метал ­ ла с кислородом воздуха или с агрессивными компонентами смазки резко активизируется под воздействием силовых факторов трения. При

этом смазочная среда

не только задерживает поступление кислорода

в зону трения, но и

изменяет состав и свойства поверхностных пле ­

нок [ 4 ] .

 

Однако в жидкой смазке содержится достаточное количество кисло­ рода, способного быстро окислять высокоактивные ювенильные поверх­ ности трения [293, 294]. В этом случае кислород в зону трения м о ­ жет поступать из растворенного в масле воздуха и из продуктов окис­ ления самого масла. Как показано Г.В. Виноградовым и Ю.Я. Подоль­

ским [293], достаточно

следов

кислорода в газовой фазе

и масле, что ­

бы резко изменились в

лучшую

сторону условия трения.

Даже в глубо­

ком вакууме углеводородные смазки сохраняют работоспособность,так как содержат продукты окисления, поставляющие к поверхности трения кислород в химически связанном состоянии, который участвует затем в химических реакциях с активированной трением металлической по ­ верхностью.

Скорость роста окисных пленок на металле очень высока [ 203 , 294, 295 ] . Достаточно долей секунды для образования пленки толщиной по ­ рядка 10 Я. В динамических условиях трения процесс окисления уско ­ ряется изт-за контактных температур и значительной степени деформации, которая характеризуется повышенной концентрацией дислокаций и ва ­ кансий особенно в поверхностных слоях. При этом граница раздела металл - окисная пленка является барьером для прохождения и р а з -

114

рядки дислокаций. Эффективность этого барьера во многом зависит от параметров решеток основного металла и окисла [296] .

П.В, Назаренко и Ю.И. Короленко [ 297] установили, что окисные пленки толщиной до ЮоХ, выращенные на монокристаллах цинка, не оказывают заметного тормозящего действия на выход дислокаций. Од ­ нако с дальнейшим увеличением толщины пленки возрастает ее способ­ ность блокировать выход дислокаций и затрудняется образование полос

скольжения. Очевидно, толщины пленок, не препятствующие

прохожде­

нию дислокаций,будут отличаться для разных металлов.

 

Окисная пленка,

обладая значительной твердостью, прочностью

и теплостойкостью

[298], во многих случаях предохраняет

основной

материал от разрушения [296]. Эта особенность определяется сочета ­ нием физико-механических свойств как самой окисной пленки, так и металла, на котором она сформирована. Влияние состава пленок на износостойкость различно, что особенно хорошо подтверждается на примере железа [ 1 , 2, 294j.,TaK, окислы железа F e 3 0 4 и FeO имеют лучшую адгезию к подслою, меньшую хрупкость, твердость и обеспечивают большую износостойкость, чем окись железа F e 2 0 3 , которая образует весьма крупнозернистую и хрупкую пленку , плохо приспособленную к кристаллическому рельефу поверхности трения и фактически являющуюся абразивом [294]. Окисные пленки препятству­ ют непосредственному контактированию металлических ювенильных

поверхностей трения, тем самым предохраняя

их от схватывания.

Таким образом, окисление играет важдую роль в процессах внеш­

него трения и изнашивания. В связи с этим

особый интерес

вызывает

экзоэлектронная эмиссия, на которую влияют

как деформация, сопро­

вождающая

трение, так и особенности процесса окисления, особенно

его тепловой эффект и толщина нарастающей

окисной пленки. Поэтому

в настоящей главе исследуется взаимосвязь

экзоэлектронной

эмиссии

и процесса

окисления, а также

влияние на эти процессы состояния

поверхности

трения и некоторых

режимных факторов.

 

1.Методы измерения толщины окисных пленок

Вданном разделе дается представление о всех основных методах измерения толщины окисных пленок на металлах. Желание авторов

не слишком увеличивать объем этой в общем-то вспомогательной час • ти привело к сжатому, почти конспективному описанию. И только те методы, которые, на наш взгляд, лучше всего подходят для исследова­ ния поверхностей трения и позволяют вести непрерывный контроль в динамике процесса, описаны более подробно.

Весовой метод основан на том, что протекание химической реакции на поверхности приводит к увеличению массы образца либо к уменьше­ нию массы неокисленного металла. Используют три варианта измерений.

1. Металлический образец взвешивают до и после окисления. По р а з ­ ности весов, плотности окисла и площади поверхности образца оп­ ределяется толщина окисной пленки.

115

2. Образец на неокисляющейся подвеске прикреплен к весам, и и з ­ менение его веса регистрируется непрерывно. Вместо коромысловых весов можно использовать проградуированные спирали из кварца, пирекса [299] или же горизонтально натянутую кварцевую нить [300], по деформации которых определяется привес образца.

3. Образец взвешивают, окисляют, удаляют с поверхности окисный слой и повторным взвешиванием определяют потерю в весе металла. Определив состав окалины химическим путем, можно рассчитать т о л ­ щину окисла.

Первый и третий

методы требуют тщательной подготовки образцов,

но не обеспечивают должной чувствительности. Поэтому они не при­

годны для

измерения

тонких окисных пленок, а используются при и с ­

следовании

толстых слоев окалины, образующихся при высокотемператур­

ном окислении. Второй метод - взвешивание с непрерывным отсчетом изменения веса образца - дает лучшие результаты при использовании вакуумных микровесов. За отклонением коромысла весов или дефор­ мацией кварцевой пружины можно наблюдать в микроскоп, либо преоб­

разовать эти величины в оптические

или электрические

сигналы с

п о -

кющью системы осветителей, легких

зеркал и фотоэлементов.

Подроб­

нее с различными

конструктивными

решениями можно

ознакомиться по

монографиям [ 203,

301] .

 

 

 

 

Фотограйический метод заключается в определении

количества

м о ­

лекул перекиси водорода, образующихся при окислении

металлов в а т ­

мосферных условиях , по плотности почернения фотоэмульсии.

Фотогра­

фическое действие

свежезачнщенных

металлических поверхностей

и з ­

вестно под названием эффекта Рассела. Молекулы перекиси водорода являются продуктом катодного процесса восстановления кислорода на окисляющейся поверхности в присутствии адсорбционной пленки влаги. Разработана методика определения количества образовавшихся, выде­ лившихся и восстановившихся молекул перекиси водорода. Зависимость между количеством выделившейся перекиси водорода и количеством о б ­

разовавшихся молекул окисла

установлена экспериментально для А1>

Zn , Cd, Mg, Bi и их сплавов

[170, 171, 302]. Повышение чувствитель­

ности фотоэмульсии позволит расширить круг металлов и их сплавоіз, коррозию которых можно изучать этим методом.

Рассчитав количество молекул окисла по плотности почернения фо­ топластинки, можно оценить толщішу окисной пленки, считая ее р а в ­ номерной по всей поверхности. Сложность заключается в том, что необходимо знать соотношение между истинной и видимой площадями

поверхности

металла. Величина этого соотношения зависит от спосо­

ба зачистки

образца.

Кондѵктометрический метод. Электропроводность окислов намного меньше электропроводности металлов. При окислении толщина непрс— реагировавшего металла убывает, его сопротивление растет. Величи - ну сопротивления можно измерить с большой точностью. Метод удо ­ бен для непрерывного исследования окисления. Образцы лучше всего применять в виде тонких лент или пленок на изолирующей подложке.

К сожалению, при комнатных температурах толщину пленок необходимо ограничивать величиной порядка 10 мкм, иначе относительные и з м е -

116

нения электропроводности

будут

меньше точности, обеспечиваемой м е ­

тодом.

 

 

 

Фотометрический метод

Для более тонких пленок металла,

толщи­

ной до 0,1 мкм, применим

метод,

основанный на изменении их

опти­

ческого пропускания при окислении. Непрерывный или модулированный световой пучок проходит через пленку металла и попадает на фото­

умножитель. Если отражающая способность

образца не меняется с т о л ­

щиной, то интенсивность проходящего

света

экспоненциально зависит

от толщины неокислившегося металла

[303].

Интерференционный метод . Пучок

света,

падающий на поверхность

металла, покрытую диэлектрической (окисной) пленкой, отражается от границ пленка - воздух и металл - пленка. Накладываясь друг на друга, две световые волны создают интерференционную картину, кото­

рая

возникает при следующих

толщинах

окислов:

 

 

 

L = _ c o s 9 i ;

4

cos*,;

^ c o s c o , . . . ,

(7.1)

 

где

L -

толщина

пленки;

Л -

длина

волны

света в воздухе;

n t -

показатель преломления

пленки;

і

-

угол

преломления,

связанный

с углом падения

ф

соотношением

sin ф/ sinç, = n, / п .

Здесь

n -

показатель

преломления

воздуха.

 

 

 

 

 

 

 

Оценим

возможности

метода,

приняв при упрощении совф! « 1.

Зная,

что показатель преломления окисных пленок на алюминии, магнии, цинке

находится в пределах 1,6 -г 2 ,0

[304],

определим минимальную величину

L

при освещении

фиолетовым светом (

Л = 4000 X). Получим

L > 500А.

Но

окисляющиеся

при комнатной

температуре металлы имеют

предель­

ные окисные пленки толщиной ~ 5оЯ. Следовательно, этот метод боль­ ше подходит для толстых слоев окалины, образующейся при высоко­ температурном окислении.

Метод, основанный на поглощении Фотоэлектронов в слое окисла. Интенсивность внешнего фотоэффекта на металлах зависит от толщины

покрывающего их окисного слоя. Установлено

[304],

что с ростом

тол ­

щины

окисла

L

фототок

I

убывает по закону

 

 

 

I = I 0 e " L / L

0 j

 

 

 

 

 

(7.2)

 

 

где

- начальная

интенсивность фототока;

L 0 -

характеристи

-

ческаяIQдлина пробега фотоэлектронов в окисле. Сопоставление

затухаю­

щего фототока с толщиной нарастающей окисной пленки [175, 305]

 

позволило оценить

величины L

для нескольких окислов: А12 0 3 - 8 А,

 

0

0

 

 

о

 

по величине фототока

 

MgO - 8 A, ZnO - 6,4А

иСсІО - 12 А. Теперь

 

легко

рассчитать

толщину

этих

окислов для любого

момента

времени

L = L 0 l n ( I 0 / I ) .

 

 

 

 

 

( ? - 3 )

 

Установка для измерения фототока с окисляющихся металлов, опи­ санная в работе [304], очень проста (рис. 52). Источником света я в ­ ляется ртутная кварцевая лампа ПРК-4 со светофильтром УФС1. Свет

117

=6

г

Рис, 52. Схема измерения фототока при окислении металла

1 -

обойма с

сеткой; 2

- образец;

3 - лампа

ПРК-4; 4 -

свето­

фильтр

УФС-1

 

 

 

 

 

через

латунную

сетку-анод

попадает на

образец,

закрепленный

в обой­

ме из оргстекла. Фототок, протекающий через воздушный промежуток образец - сетка, создает падение напряжения на высокоомном сопро­ тивлении. Регистрирующим прибором служит самопишущий потенциометр ЗППВ - 51 . Промежуток времени между зачисткой образца и началом

измерений

можно свести к 15-30

сек,

что позволяет

определить, более

ранние стадии

окисления, чем в случае поляризационных измерений,

где время

подготовки до первого отсчета составляет

1-3

мин.

На рис.

53

показаны кривые

роста

окисного

слоя

на

'Al, снятые

оптическим

поляризационным методом

(3 мин.

до первого отсчета) и

фотоэлектрическим методом (30 сек. до начала регистрации). Толщина окисла во втором случае больше, так как зафиксированы важные первые минуты окисления. Измерения окисных пленок по поглощению фото­ электронов просты, надежны, обеспечивают высокую точность. Крайне

важным является

правильный подбор длины волны источника

света.

 

Квантовый выход

фотоэффекта прямо пропорционален

величине

( h v -

h v Q ) 2

где hv 0

- энергия

кванта, соответствующая

порогу

фотоэффекта.

Если

использовать подсветку с энергией квантов

h\>,

близкой к поро­

говому

значению, то

изменения величины работы выхода <р

металла

при увеличении толщины окисла значительно изменят величину кванто­ вого выхода. Тогда величина фототока будет зависеть от двух факто­

ров: от поглощения электронов в окисле и от

непостоянства

порогового

значения hv0 »<p.

Простая зависимость

(7.2)

будет нарушена, и р а с ­

чет

толщины

окисла

L

по убыванию

фототока очень осложнится.

Чем

больше

величина

hv

по сравнению

с

hvQ ,

тем меньше

влияют

слабые изменения работы выхода на затухание фототока. Так, на алю­

минии

за первые

24

часа окисления ф

меняется

от 3,65 до 3,72

эв

[306J.

При точности

измерений 5Я0% достаточно взять (hv --hvQ ) £

1,5эв,

тогда

изменения

hvQ

за первые 8 часов окисления практически не

 

повлияют на величину фототока. По спектральным

характеристикам

 

фотоэффекта установлено, что для обеспечения максимальной точности

измерений удобнее выбрать hv = 4,5ч5

эв.

 

 

118

Рис. 53. Рост окисной пленки на алюминии, измеренный опти­ ческим поляризационным мето ­ дом ( 1 ) и по поглощению фо­ тоэлектронов (2)

Врепя, час

Величина

L n зависит

от средней энергии фотоэлектронов, и, значит,

от энергии

квантов hv.

Поэтому для измерения толщины окисла луч­

ше брать монохроматическое освещение. Но опыты [305] показали, что

при облучении светом сложного

спектрального состава

(лампа

ПРК-4

с фильтром УФ.С1) соотношение

(7.2) также достаточно

строго

выпол­

няется.

 

 

 

Недостатком метода поглощения фотоэлектронов является влияние освещения на скорость окисления [303, 305, 307 ]. Для уменьшения этого влияния приходится уменьшать световой поток, что в свою оче­ редь снижает величину фототока и усложняет его измерение. Несом ­ ненное преимущество этого метода - возможность исследования окис­ ления на ранних его стадиях.

Оптический поляризационный метод, разработанный Друде [308] и

Тронстадом

[309], основан на том, что луч поляризованного

света,

отраженный

от

металлической

поверхности, изменяет поляризацию в

зависимости от

угла падения,

оптических

свойств металла,

наличия

на поверхности

окисной пленки, а также

от свойств окружающей с р е ­

ды. Определяя при сопоставимых условиях•оптические свойства чис ­

той металлической

поверхности и поверхности, покрытой

окислом, мож­

но узнать толщину

окисной пленки.

 

В настоящее время оптический поляризационный метод

получил

широкое распространение. Значительный вклад в методику поляримет­ рических исследований окисления металлов и полупроводников внесен Вашичеком [310]. Ряд исследований по изучению окисления оптическим поляризационным методом проведен Т.Н. Крыловой [311] и В.В. Андре­ евой [295, 312 Л

Если луч монохроматического света,, поляризованный в плоскости под некоторым углом к плоскости падения, отражается от металлической поверхности, то две составляющие, на которые он разлагается , претер­ певают различное отставание фаз и уменьшение амплитуд. В результате

конец электрического

вектора отраженной

волны в течение периода к о ­

лебаний описывает в

пространстве эллипс,

т.е. свет становится эллипти­

чески поляризованным. Отношение коэффициентов отражения этих двух составляющих 2ф и разность фаз между ними А можно выразить

119

через оптические постоянные двух сред у поверхности, от которой про­

исходит отражение. Параметры эллиптической поляризации чистой

м е ­

таллической

поверхности

2^ЙД и поверхности, покрытой

охисной

пленкой

Д можно

определить

экспериментально. Подставляя

эти значения

в формулы, приведенные

ниже, можно вычислить толщину окисной

плен­

ки и ее показатель преломления

 

 

г

- д - Â"

а

_ г

,

А

2ц> -

c o s 2 у - а

2

L

- A d - l / n '

) '

n t

-

t 1

+

Л -

д

a,sin2^

1 / c o s ф

.

'

 

д _ l u

 

^ Q S T s i n 2 9 ( c o s 3

g>- a)

_ 1-х2

 

_

2x

 

 

" Л

 

( c o s 2 9 - a ) + a2

 

;

a " n 2 ( ] + X J ) 2 ;

* ' " n * ( 1 + x y '

 

Здесь

L

-

толщина

окисной

пленки

на

металле;

п ^ - показатель пре ­

ломления

пленки;

X

-

длина

волны

падающего

монохроматического

света;

гі -

показатель

преломления

металла; х _ коэффициент погло­

щения

металла;

Д и

2 у -

параметры

эллипса

для чистой

металличес­

кой поверхности;

Д

и 2 ^ - аналогичные параметры

при наличии

окис­

ной

пленки,

9

 

- угол

падения

луча на поверхность металла.

_

Оптические

постоянные

металла

п

и х

выражаются

через

А и

следующим

образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

sin

ф tgqicos

 

 

 

.

„ _

 

 

 

 

 

 

п

=

1 + c o s S

зіп2ф

;

х =

S l

n Л

1 « 2

^

 

 

 

 

 

 

Для

определения параметров

эллиптической

поляризации

отраженного

от металла света в экспериментальной установке необходимы следующие элементы.

П о л я р и з а т о р - для получения плоско-поляризованного

света .

Ори­

ентация поляризатора определяет угол наклона плоскости колебаний

па ­

дающего линейно—поляризованного света к плоскости падения

іу и ха ­

рактеризует относительное изменение амплитуд компонентов света. Ну­ левая установка поляризатора P Q должна быть параллельна плоскости падения.

К о мп е н с а т ор С е н а р м о н а - пластинка толщиной 1/4 Л или 3/4ЛЕсли оси пластинки будут параллельны осям эллипса, то прошедший через нее эллиптически поляризованный свет превратится в линейнополяризованный. Тогда его можно погасить анализатором. При юсти­

ровке

оси пластинки

устанавпиваются под углом 45

к плоскости па ­

дения,

что значительно

упрощает вычисления. А н а л и з а т о р

необходим

для измерения угла

Ѳ,

определяющего положение

плоскости

поляри­

зации превращенного линейно-поляризованного света. При установке

компенсатора

под углом 45 2Ѳ =

Д. При юстировке

нулевое

положение

анализатора

іА0 устанавливается

перпендикулярно

плоскости

падения.

Параметры эллиптической поляризации определятся тогда следующим образом:

2у = 2 ( Р 0 - Р) ; А - 270 - 2 ( А 0 - А ) .

120

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ