
книги из ГПНТБ / Евдокимов, В. Д. Экзоэлектронная эмиссия при трении
.pdfОстановимся еще на одном важном вопросе - явлении переноса
материала при трении с одной поверхности |
на другую и перспективе |
||||
его исследования с помощью экзоэлекронной |
эмиссии. |
|
|
||
Перенос при внешнем трении подвергался |
систематическому |
изу |
|||
чению многими учеными, и наиболее обобщающие сведения содер |
|||||
жатся в монографиях В.Д. Кузнецова [283] |
, |
Д.Н. Гаркунова, И.В.Кра- |
|||
гельского, A.A. Полякова |
[284] , Из анализа |
этих работ можно |
сделать |
||
вывод не только о той существенной роли, которую играет |
перенос м а |
||||
териала в процессе трения |
и изнашивания, |
но |
и о больших |
трудностях |
экспериментального характера. Эти трудности значительно возрастают, когда приходится определять весьма малые количества перенесенного материала как в виде тончайших сплошных пленок, так и в виде дискретных следов, а применение радиоактивных изотопов нежелательно.
Установленные особенности возникновения экзоэлектронной эмиссии при трении [109, ПО] позволяют применить этот метод для изучения переноса материалов на рабочие поверхности. Речь прежде всего идет о том, что для возбуждения экзоэлектронной эмиссии с поверхности трения дополнительно необходимы кванты подсветки, энергия которых существенно отличается для различных металлов и может быть выде лена из спектра с помощью набора светофильтров. Так, например, конструкционные стали эмиттируют экзоэлетроны при освещении ртут ной лампой через фильтр УФС1, алюминий требует видимого света (фильтр БС12), а медь - УФС2,
Если на стальное кольцо 2 (рис. 28) с медного контротела 1 пере носятся при трении без смазки атомы меди, то, применяя фильтр УФС2, можно зафиксировать экзоэмиссию только с атомов меди, но не с д е формированной трением поверхности стали, требующей более коротковол новой ультрафиолетовой подсветки. Возникновение экзоэлектронной эмиссии с атомов меди и алюминия, перенесенных с контртела на стальную поверхность вращающегося кольца, показано на рис. 51. У в е личение эмиссионного потока в данных условиях отвечает накоплению меди или алюминия на поверхности трения стального кольца, что м о жет быть использовано при соответствующей тарировке для определе ния степени ее покрытия в процессе переноса при трении без смазки.
Подобная методика позволяет проводить исследования и с твердыми смазка"ми, если их составляющие [285] способны излучать экзоэлект - роны, а также определять эффективность применения пакетных подшип ников скольжения [286 ] . Описанный нами метод может быть применен и для изучения избирательного переноса меди в глицериновой среде [284 , 287], однако не в динамике трения, а после его прекращения и обезжиривания рабочих поверхностей. Глицериновое масло,так же как и любая другая жидкая фаза, покрывающая поверхность трения, экра нирует экзоэлектронную эмиссию.
В связи с рассматриваемым явлением переноса металлов при трении интересно остановиться и на субатомном механизме изнашивания, про исходящем в микроповерхностном слое деталей машин [288], Авторы
этой работы, применяя |
модель |
конфигурационной локализации электронов |
Г.В. Самсонова [289], |
предполагают, что взаимодействие пар при |
|
трении в общем случае |
должно |
усиливаться с понижением статистического |
111
Рис. 51. Перенос апюмішня (1) и меди (2) на поверхность об разцов из стали 45 при трении
без смазки |
(1,5 м/сек; на |
грузка 26,4 |
кГ) |
веса стабильных конфигураций у атомов обоих сопряженных металлов, обладающих различными энергетическими характеристиками, т.е. ког да одно тело является акцептором, а другое донором. Если же оба
тела имеют акцепторную или донорную способность, |
то взаимодействие |
их при трении должно уменьшаться. В первом случае |
это происходит |
из-за минимального нарушения электронного строения внешних элект ронных оболочек атомов металла, а во втором - вследствие создания слоя взаимно отталкивающихся электронов между двумя трущимися деталями. В результате применения материалов с повышенной донорной способностью (но при близких значениях этой характеристики) возни кает "электронная смазка" , которая уменьшает износ при трении сколь жения без жидкой смазки. При наличии жидкой смазки наименьший по
верхностный износ достигается в том случае, если сопряженные |
м а т е |
риалы имеют большой статистический вес атомов со стабильными |
кон |
фигурациями и характеризуются незначительной передачей нелокализованных электронов от одного элемента к другому.
Пластическая |
деформация изменяет |
электронную структуру металлов |
||
и энергетический спектр электронов. С |
электронным строением |
и |
с о с |
|
тоянием внешних |
электронных оболочек |
атомов металла связана |
и |
с в о |
бодная энергия, что в конечном итоге определяет характер протекания
разнообразных |
физико-химических процессов на поверхности |
металла |
и сказывается |
на электронном обмене и износостойкости. Поэтому и с |
|
следования, касающиеся субатомного механизма изнашивания |
и перено |
са материала при трении, представляют большой интерес. При дальней шем развитии этих работ возможно использование и экзоэлектронной эмиссии, которая поможет глубже разобраться в природе наблюдаемых явлений.
Выше было показано, что экзоэлектронная эмиссия чувствительна к изменению состояния поверхностных слоев, формируемых под воздей ствием силовых факторов трения. Эта особенность экзоэмиссии может быть, с нашей точки зрения, использована для определения степени улучшения свойств рабочих поверхностей при упрочнении трением или
пластической деформацией с помощью роликов, шариков й т. |
д. Как |
и з |
||
вестно |
[280, 291], |
выбор режимов упрочняющей технологии |
сопряжен |
|
с рядом |
трудностей. |
Увеличение степени пластической деформации |
сверх |
112
критической приводит к резкому ухудшению эксплуатационных свойств деталей машин и особенно их усталостной прочности и износостойкости.
Поэтому |
необходим активный контроль, который позволил бы в |
динами |
|
ке деформирования установить наивыгоднейший режим |
обработки |
и м о |
|
мент ее |
прекращения по времени или числу проходов |
упрочняющего |
инструмента. Очевидно, критерием перенаклепа должно быть изменение
интенсивности установившегося эмиссионного потока и характера |
его |
|||
"всплесков" на осциллограмме. Действительно, по некоторым нашим |
||||
наблюдениям перенаклеп и резкая потеря прочности поверхностных |
сло |
|||
ев сталей приводят к своеобразному изменению формы кривой интен |
||||
сивности экзоэлектронной эмиссии. |
Для нахождения |
количествен |
||
ных закономерностей необходимы дальнейшие исследования, |
которые п о з |
|||
волят связать режимы упрочняющей технологии и экзоэлектронную |
э м и с |
|||
сию с комплексом физико-механических свойств поверхностных и |
г л у |
|||
бинных слоев и их эксплуатационной надежностью. Эти |
исследования |
|||
можно проводить в динамических условиях упрочнения при отсутствии |
||||
жидкой среды или поэтапно, • особенно |
на больших деталях, с |
местным |
обезжириванием участков их упрочняемой поверхности, если применя ется смазка.
473 8
-U5 -
Глава ѴЛ.
ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ II ОКИСЛЕНИЕ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТРЕНИЯ
Вопросы окисления поверхностей трения находятся в центре внима ния многих исследователей [ 1 , 3 , 217 , 292]. Наиболее существенные результаты в этом направлении достигнуты в основном в последние годы.
Работами Б.И. Костецкого |
[1,4] показана |
роль кислорода в фор |
||
мировании свойств поверхностных слоев при |
их |
деформации |
трением |
|
и построена физическая модель |
окислительного |
изнашивания. |
Одновре |
менное протекание микропластической деформации и диффузии кисло рода в пластически деформируемые объемы металла приводит к образо ванию особого вида вторичных структур с локализацией разрушения в
тончайших поверхностных слоях. Физико-химическое взаимодействие метал ла с кислородом воздуха или с агрессивными компонентами смазки резко активизируется под воздействием силовых факторов трения. При
этом смазочная среда |
не только задерживает поступление кислорода |
в зону трения, но и |
изменяет состав и свойства поверхностных пле |
нок [ 4 ] . |
|
Однако в жидкой смазке содержится достаточное количество кисло рода, способного быстро окислять высокоактивные ювенильные поверх ности трения [293, 294]. В этом случае кислород в зону трения м о жет поступать из растворенного в масле воздуха и из продуктов окис ления самого масла. Как показано Г.В. Виноградовым и Ю.Я. Подоль
ским [293], достаточно |
следов |
кислорода в газовой фазе |
и масле, что |
бы резко изменились в |
лучшую |
сторону условия трения. |
Даже в глубо |
ком вакууме углеводородные смазки сохраняют работоспособность,так как содержат продукты окисления, поставляющие к поверхности трения кислород в химически связанном состоянии, который участвует затем в химических реакциях с активированной трением металлической по верхностью.
Скорость роста окисных пленок на металле очень высока [ 203 , 294, 295 ] . Достаточно долей секунды для образования пленки толщиной по рядка 10 Я. В динамических условиях трения процесс окисления уско ряется изт-за контактных температур и значительной степени деформации, которая характеризуется повышенной концентрацией дислокаций и ва кансий особенно в поверхностных слоях. При этом граница раздела металл - окисная пленка является барьером для прохождения и р а з -
114
рядки дислокаций. Эффективность этого барьера во многом зависит от параметров решеток основного металла и окисла [296] .
П.В, Назаренко и Ю.И. Короленко [ 297] установили, что окисные пленки толщиной до ЮоХ, выращенные на монокристаллах цинка, не оказывают заметного тормозящего действия на выход дислокаций. Од нако с дальнейшим увеличением толщины пленки возрастает ее способ ность блокировать выход дислокаций и затрудняется образование полос
скольжения. Очевидно, толщины пленок, не препятствующие |
прохожде |
|
нию дислокаций,будут отличаться для разных металлов. |
|
|
Окисная пленка, |
обладая значительной твердостью, прочностью |
|
и теплостойкостью |
[298], во многих случаях предохраняет |
основной |
материал от разрушения [296]. Эта особенность определяется сочета нием физико-механических свойств как самой окисной пленки, так и металла, на котором она сформирована. Влияние состава пленок на износостойкость различно, что особенно хорошо подтверждается на примере железа [ 1 , 2, 294j.,TaK, окислы железа F e 3 0 4 и FeO имеют лучшую адгезию к подслою, меньшую хрупкость, твердость и обеспечивают большую износостойкость, чем окись железа F e 2 0 3 , которая образует весьма крупнозернистую и хрупкую пленку , плохо приспособленную к кристаллическому рельефу поверхности трения и фактически являющуюся абразивом [294]. Окисные пленки препятству ют непосредственному контактированию металлических ювенильных
поверхностей трения, тем самым предохраняя |
их от схватывания. |
|||
Таким образом, окисление играет важдую роль в процессах внеш |
||||
него трения и изнашивания. В связи с этим |
особый интерес |
вызывает |
||
экзоэлектронная эмиссия, на которую влияют |
как деформация, сопро |
|||
вождающая |
трение, так и особенности процесса окисления, особенно |
|||
его тепловой эффект и толщина нарастающей |
окисной пленки. Поэтому |
|||
в настоящей главе исследуется взаимосвязь |
экзоэлектронной |
эмиссии |
||
и процесса |
окисления, а также |
влияние на эти процессы состояния |
||
поверхности |
трения и некоторых |
режимных факторов. |
|
1.Методы измерения толщины окисных пленок
Вданном разделе дается представление о всех основных методах измерения толщины окисных пленок на металлах. Желание авторов
не слишком увеличивать объем этой в общем-то вспомогательной час • ти привело к сжатому, почти конспективному описанию. И только те методы, которые, на наш взгляд, лучше всего подходят для исследова ния поверхностей трения и позволяют вести непрерывный контроль в динамике процесса, описаны более подробно.
Весовой метод основан на том, что протекание химической реакции на поверхности приводит к увеличению массы образца либо к уменьше нию массы неокисленного металла. Используют три варианта измерений.
1. Металлический образец взвешивают до и после окисления. По р а з ности весов, плотности окисла и площади поверхности образца оп ределяется толщина окисной пленки.
115
2. Образец на неокисляющейся подвеске прикреплен к весам, и и з менение его веса регистрируется непрерывно. Вместо коромысловых весов можно использовать проградуированные спирали из кварца, пирекса [299] или же горизонтально натянутую кварцевую нить [300], по деформации которых определяется привес образца.
3. Образец взвешивают, окисляют, удаляют с поверхности окисный слой и повторным взвешиванием определяют потерю в весе металла. Определив состав окалины химическим путем, можно рассчитать т о л щину окисла.
Первый и третий |
методы требуют тщательной подготовки образцов, |
|
но не обеспечивают должной чувствительности. Поэтому они не при |
||
годны для |
измерения |
тонких окисных пленок, а используются при и с |
следовании |
толстых слоев окалины, образующихся при высокотемператур |
ном окислении. Второй метод - взвешивание с непрерывным отсчетом изменения веса образца - дает лучшие результаты при использовании вакуумных микровесов. За отклонением коромысла весов или дефор мацией кварцевой пружины можно наблюдать в микроскоп, либо преоб
разовать эти величины в оптические |
или электрические |
сигналы с |
п о - |
||
кющью системы осветителей, легких |
зеркал и фотоэлементов. |
Подроб |
|||
нее с различными |
конструктивными |
решениями можно |
ознакомиться по |
||
монографиям [ 203, |
301] . |
|
|
|
|
Фотограйический метод заключается в определении |
количества |
м о |
|||
лекул перекиси водорода, образующихся при окислении |
металлов в а т |
||||
мосферных условиях , по плотности почернения фотоэмульсии. |
Фотогра |
||||
фическое действие |
свежезачнщенных |
металлических поверхностей |
и з |
вестно под названием эффекта Рассела. Молекулы перекиси водорода являются продуктом катодного процесса восстановления кислорода на окисляющейся поверхности в присутствии адсорбционной пленки влаги. Разработана методика определения количества образовавшихся, выде лившихся и восстановившихся молекул перекиси водорода. Зависимость между количеством выделившейся перекиси водорода и количеством о б
разовавшихся молекул окисла |
установлена экспериментально для А1> |
Zn , Cd, Mg, Bi и их сплавов |
[170, 171, 302]. Повышение чувствитель |
ности фотоэмульсии позволит расширить круг металлов и их сплавоіз, коррозию которых можно изучать этим методом.
Рассчитав количество молекул окисла по плотности почернения фо топластинки, можно оценить толщішу окисной пленки, считая ее р а в номерной по всей поверхности. Сложность заключается в том, что необходимо знать соотношение между истинной и видимой площадями
поверхности |
металла. Величина этого соотношения зависит от спосо |
ба зачистки |
образца. |
Кондѵктометрический метод. Электропроводность окислов намного меньше электропроводности металлов. При окислении толщина непрс— реагировавшего металла убывает, его сопротивление растет. Величи - ну сопротивления можно измерить с большой точностью. Метод удо бен для непрерывного исследования окисления. Образцы лучше всего применять в виде тонких лент или пленок на изолирующей подложке.
К сожалению, при комнатных температурах толщину пленок необходимо ограничивать величиной порядка 10 мкм, иначе относительные и з м е -
116
нения электропроводности |
будут |
меньше точности, обеспечиваемой м е |
|
тодом. |
|
|
|
Фотометрический метод |
Для более тонких пленок металла, |
толщи |
|
ной до 0,1 мкм, применим |
метод, |
основанный на изменении их |
опти |
ческого пропускания при окислении. Непрерывный или модулированный световой пучок проходит через пленку металла и попадает на фото
умножитель. Если отражающая способность |
образца не меняется с т о л |
|
щиной, то интенсивность проходящего |
света |
экспоненциально зависит |
от толщины неокислившегося металла |
[303]. |
|
Интерференционный метод . Пучок |
света, |
падающий на поверхность |
металла, покрытую диэлектрической (окисной) пленкой, отражается от границ пленка - воздух и металл - пленка. Накладываясь друг на друга, две световые волны создают интерференционную картину, кото
рая |
возникает при следующих |
толщинах |
окислов: |
|
|
|||||||
|
L = _ c o s 9 i ; |
4 |
cos*,; |
^ c o s c o , . . . , |
(7.1) |
|
||||||
где |
L - |
толщина |
пленки; |
Л - |
длина |
волны |
света в воздухе; |
n t - |
||||
показатель преломления |
пленки; |
<р і |
- |
угол |
преломления, |
связанный |
||||||
с углом падения |
ф |
соотношением |
sin ф/ sinç, = n, / п . |
Здесь |
n - |
|||||||
показатель |
преломления |
воздуха. |
|
|
|
|
|
|
||||
|
Оценим |
возможности |
метода, |
приняв при упрощении совф! « 1. |
Зная, |
что показатель преломления окисных пленок на алюминии, магнии, цинке
находится в пределах 1,6 -г 2 ,0 |
[304], |
определим минимальную величину |
|||
L |
при освещении |
фиолетовым светом ( |
Л = 4000 X). Получим |
L > 500А. |
|
Но |
окисляющиеся |
при комнатной |
температуре металлы имеют |
предель |
ные окисные пленки толщиной ~ 5оЯ. Следовательно, этот метод боль ше подходит для толстых слоев окалины, образующейся при высоко температурном окислении.
Метод, основанный на поглощении Фотоэлектронов в слое окисла. Интенсивность внешнего фотоэффекта на металлах зависит от толщины
покрывающего их окисного слоя. Установлено |
[304], |
что с ростом |
тол |
|||||||
щины |
окисла |
L |
фототок |
I |
убывает по закону |
|
|
|
||
I = I 0 e " L / L |
0 j |
|
|
|
|
|
(7.2) |
|
|
|
где |
- начальная |
интенсивность фототока; |
L 0 - |
характеристи |
- |
|||||
ческаяIQдлина пробега фотоэлектронов в окисле. Сопоставление |
затухаю |
|||||||||
щего фототока с толщиной нарастающей окисной пленки [175, 305] |
|
|||||||||
позволило оценить |
величины L |
для нескольких окислов: А12 0 3 - 8 А, |
||||||||
|
0 |
0 |
|
|
о |
|
по величине фототока |
|
||
MgO - 8 A, ZnO - 6,4А |
иСсІО - 12 А. Теперь |
|
||||||||
легко |
рассчитать |
толщину |
этих |
окислов для любого |
момента |
времени |
||||
L = L 0 l n ( I 0 / I ) . |
|
|
|
|
|
( ? - 3 ) |
|
Установка для измерения фототока с окисляющихся металлов, опи санная в работе [304], очень проста (рис. 52). Источником света я в ляется ртутная кварцевая лампа ПРК-4 со светофильтром УФС1. Свет
117
=6
г
Рис, 52. Схема измерения фототока при окислении металла
1 - |
обойма с |
сеткой; 2 |
- образец; |
3 - лампа |
ПРК-4; 4 - |
свето |
фильтр |
УФС-1 |
|
|
|
|
|
через |
латунную |
сетку-анод |
попадает на |
образец, |
закрепленный |
в обой |
ме из оргстекла. Фототок, протекающий через воздушный промежуток образец - сетка, создает падение напряжения на высокоомном сопро тивлении. Регистрирующим прибором служит самопишущий потенциометр ЗППВ - 51 . Промежуток времени между зачисткой образца и началом
измерений |
можно свести к 15-30 |
сек, |
что позволяет |
определить, более |
|||
ранние стадии |
окисления, чем в случае поляризационных измерений, |
||||||
где время |
подготовки до первого отсчета составляет |
1-3 |
мин. |
||||
На рис. |
53 |
показаны кривые |
роста |
окисного |
слоя |
на |
'Al, снятые |
оптическим |
поляризационным методом |
(3 мин. |
до первого отсчета) и |
фотоэлектрическим методом (30 сек. до начала регистрации). Толщина окисла во втором случае больше, так как зафиксированы важные первые минуты окисления. Измерения окисных пленок по поглощению фото электронов просты, надежны, обеспечивают высокую точность. Крайне
важным является |
правильный подбор длины волны источника |
света. |
|
||||
Квантовый выход |
фотоэффекта прямо пропорционален |
величине |
( h v - |
h v Q ) 2 |
|||
где hv 0 |
- энергия |
кванта, соответствующая |
порогу |
фотоэффекта. |
Если |
||
использовать подсветку с энергией квантов |
h\>, |
близкой к поро |
|||||
говому |
значению, то |
изменения величины работы выхода <р |
металла |
при увеличении толщины окисла значительно изменят величину кванто вого выхода. Тогда величина фототока будет зависеть от двух факто
ров: от поглощения электронов в окисле и от |
непостоянства |
порогового |
|||||||
значения hv0 »<p. |
Простая зависимость |
(7.2) |
будет нарушена, и р а с |
||||||
чет |
толщины |
окисла |
L |
по убыванию |
фототока очень осложнится. |
||||
Чем |
больше |
величина |
hv |
по сравнению |
с |
hvQ , |
тем меньше |
влияют |
слабые изменения работы выхода на затухание фототока. Так, на алю
минии |
за первые |
24 |
часа окисления ф |
меняется |
от 3,65 до 3,72 |
эв |
[306J. |
При точности |
измерений 5Я0% достаточно взять (hv --hvQ ) £ |
1,5эв, |
|||
тогда |
изменения |
hvQ |
за первые 8 часов окисления практически не |
|
||
повлияют на величину фототока. По спектральным |
характеристикам |
|
||||
фотоэффекта установлено, что для обеспечения максимальной точности |
||||||
измерений удобнее выбрать hv = 4,5ч5 |
эв. |
|
|
118
Рис. 53. Рост окисной пленки на алюминии, измеренный опти ческим поляризационным мето дом ( 1 ) и по поглощению фо тоэлектронов (2)
Врепя, час
Величина |
L n зависит |
от средней энергии фотоэлектронов, и, значит, |
от энергии |
квантов hv. |
Поэтому для измерения толщины окисла луч |
ше брать монохроматическое освещение. Но опыты [305] показали, что
при облучении светом сложного |
спектрального состава |
(лампа |
ПРК-4 |
с фильтром УФ.С1) соотношение |
(7.2) также достаточно |
строго |
выпол |
няется. |
|
|
|
Недостатком метода поглощения фотоэлектронов является влияние освещения на скорость окисления [303, 305, 307 ]. Для уменьшения этого влияния приходится уменьшать световой поток, что в свою оче редь снижает величину фототока и усложняет его измерение. Несом ненное преимущество этого метода - возможность исследования окис ления на ранних его стадиях.
Оптический поляризационный метод, разработанный Друде [308] и
Тронстадом |
[309], основан на том, что луч поляризованного |
света, |
|||
отраженный |
от |
металлической |
поверхности, изменяет поляризацию в |
||
зависимости от |
угла падения, |
оптических |
свойств металла, |
наличия |
|
на поверхности |
окисной пленки, а также |
от свойств окружающей с р е |
ды. Определяя при сопоставимых условиях•оптические свойства чис
той металлической |
поверхности и поверхности, покрытой |
окислом, мож |
но узнать толщину |
окисной пленки. |
|
В настоящее время оптический поляризационный метод |
получил |
широкое распространение. Значительный вклад в методику поляримет рических исследований окисления металлов и полупроводников внесен Вашичеком [310]. Ряд исследований по изучению окисления оптическим поляризационным методом проведен Т.Н. Крыловой [311] и В.В. Андре евой [295, 312 Л
Если луч монохроматического света,, поляризованный в плоскости под некоторым углом к плоскости падения, отражается от металлической поверхности, то две составляющие, на которые он разлагается , претер певают различное отставание фаз и уменьшение амплитуд. В результате
конец электрического |
вектора отраженной |
волны в течение периода к о |
лебаний описывает в |
пространстве эллипс, |
т.е. свет становится эллипти |
чески поляризованным. Отношение коэффициентов отражения этих двух составляющих 2ф и разность фаз между ними А можно выразить
119
через оптические постоянные двух сред у поверхности, от которой про
исходит отражение. Параметры эллиптической поляризации чистой |
м е |
|||
таллической |
поверхности |
2^ЙД и поверхности, покрытой |
охисной |
пленкой |
2щ Д можно |
определить |
экспериментально. Подставляя |
эти значения |
|
в формулы, приведенные |
ниже, можно вычислить толщину окисной |
плен |
||
ки и ее показатель преломления |
|
|
г |
- д - Â" |
• |
а |
_ г |
, |
А |
2ц> - |
2ф |
c o s 2 у - а |
2 |
L |
- A d - l / n ' |
) ' |
n t |
- |
t 1 |
+ |
Л - |
д |
a,sin2^ |
1 / c o s ф |
.
'
|
д _ l u |
|
^ Q S T s i n 2 9 ( c o s 3 |
g>- a) |
_ 1-х2 |
|
_ |
2x |
|
|||||||||
|
" Л |
|
( c o s 2 9 - a ) + a2 |
|
; |
a " n 2 ( ] + X J ) 2 ; |
* ' " n * ( 1 + x y ' |
|
||||||||||
Здесь |
L |
- |
толщина |
окисной |
пленки |
на |
металле; |
п ^ - показатель пре |
||||||||||
ломления |
пленки; |
X |
- |
длина |
волны |
падающего |
монохроматического |
|||||||||||
света; |
гі - |
показатель |
преломления |
металла; х _ коэффициент погло |
||||||||||||||
щения |
металла; |
Д и |
2 у - |
параметры |
эллипса |
для чистой |
металличес |
|||||||||||
кой поверхности; |
Д |
и 2 ^ - аналогичные параметры |
при наличии |
окис |
||||||||||||||
ной |
пленки, |
9 |
|
- угол |
падения |
луча на поверхность металла. |
_ |
|||||||||||
Оптические |
постоянные |
металла |
п |
и х |
выражаются |
через |
А и |
|||||||||||
2ф |
следующим |
образом: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
sin |
ф tgqicos 2ф |
|
|
|
. |
— |
„ _ |
|
|
|
|
|
|
|||
п |
= |
1 + c o s S |
зіп2ф |
; |
х = |
S l |
n Л |
1 « 2 |
^ |
|
|
|
|
|
|
|||
Для |
определения параметров |
эллиптической |
поляризации |
отраженного |
от металла света в экспериментальной установке необходимы следующие элементы.
П о л я р и з а т о р - для получения плоско-поляризованного |
света . |
Ори |
ентация поляризатора определяет угол наклона плоскости колебаний |
па |
|
дающего линейно—поляризованного света к плоскости падения |
іу и ха |
рактеризует относительное изменение амплитуд компонентов света. Ну левая установка поляризатора P Q должна быть параллельна плоскости падения.
К о мп е н с а т ор С е н а р м о н а - пластинка толщиной 1/4 Л или 3/4ЛЕсли оси пластинки будут параллельны осям эллипса, то прошедший через нее эллиптически поляризованный свет превратится в линейнополяризованный. Тогда его можно погасить анализатором. При юсти
ровке |
оси пластинки |
устанавпиваются под углом 45 |
к плоскости па |
||
дения, |
что значительно |
упрощает вычисления. А н а л и з а т о р |
необходим |
||
для измерения угла |
Ѳ, |
определяющего положение |
плоскости |
поляри |
зации превращенного линейно-поляризованного света. При установке
компенсатора |
под углом 45 2Ѳ = |
Д. При юстировке |
нулевое |
положение |
анализатора |
іА0 устанавливается |
перпендикулярно |
плоскости |
падения. |
Параметры эллиптической поляризации определятся тогда следующим образом:
2у = 2 ( Р 0 - Р) ; А - 270 - 2 ( А 0 - А ) .
120