Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Квантовая и оптическая электроника

..pdf
Скачиваний:
23
Добавлен:
05.02.2023
Размер:
2.68 Mб
Скачать

 

 

 

 

 

 

261

 

 

 

Световой поток соз-

p

 

n

 

 

 

 

концен-

 

дает

градиент

 

 

 

трации

пар

неравновес-

 

 

Iф

ных

носителей

заряда.

 

 

 

Возникает

диффузион-

 

 

 

ное перемещение их от

 

 

освещенной

поверхно-

+

 

 

 

сти вглубь системы —

к

 

 

 

р-n-переходу

(см. рис.

Ф

 

 

11.4). Часть пар носите-

 

 

 

лей

рекомбинирует

в

L

 

L

объеме полупроводника,

 

 

диффузионная длин-

но большая часть носи-

ω

 

на

 

 

телей,

образовавшаяся

база

 

 

 

 

 

на расстоянии L c обеих

 

 

 

сторон перехода, диф-

 

Рис. 11.4

фундирует к барьерному

 

 

 

слою. Здесь, в области

 

 

 

потенциального барьера происходит разделение пар: основные

носители, для которых контактное поле —

тормозящее, остаются

в своем объеме, неосновные носители свободно переходят через р-

n-переход, втягиваясь ускоряющим их контактным полем в зону

перехода и образуют фототок (IФ).

 

 

 

Если Ф — падающий световой поток спектрального состава,

соответствующего области собственного поглощения hn ³ DE , то-

гда большая часть светового потока поглощается в наружном слое

(из-за большого коэффициента поглощения) p

полупроводника,

но некоторая часть проникает глубже во внутреннюю часть сис-

темы — n-область. Равновесие токов, текущих через переход, на-

рушается.

 

 

 

 

 

 

 

Если система разомкнута, то по мере перехода неосновных

носителей через барьер на границах p-n-перехода будут накапли-

ваться объемные заряды, препятствующие дальнейшему переходу

носителей: возникает фото-ЭДС. Полярность фото-ЭДС обратна

контактной разности потенциалов. Поток неосновных носителей

через освещенный переход снижает потенциальный барьер до тех

пор, пока возросший ток диффузии основных носителей не ском-

пенсирует фототок.

 

 

 

 

 

 

 

 

262

 

 

Предельная величина фото-ЭДС при больших освещенно-

стях равна контактной разности потенциалов системы, которая

при высокой степени легирования p- и n-области близка к

Е

 

 

 

UФ U K Eg / e ,

 

(11.6)

здесь Еg =

Е

ширина за-

p

 

n

прещенной

зоны,

е

заряд

Inp

 

Iф

электрона.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если

p-n-переход

замк-

 

 

Inn

нут, то при освещении в цепи

 

 

 

 

 

течет ток, направление которо-

 

UR

 

го соответствует потоку неос-

 

 

 

 

 

новных носителей (т.е.

совпа-

Ipp

 

Ipn

дает с направлением обратного

 

 

 

 

 

тока, текущего через переход

 

Rн

 

при подаче внешнего напря-

+

 

жения в запорном направле-

U R = IRH

 

нии).

 

 

 

 

 

 

На рис. 11.5 показана

 

Рис. 11.5

 

энергетическая схема осве-

 

 

 

щенного перехода.

 

 

 

 

 

Считаем, что число фотонов, поглощаемых в объеме наружного полупроводника в единицу времени, равно Ф/ hν , а количе-

ство генерируемых пар носителей определяется величиной η Ф . hν

Вэтом выражении η — квантовый выход внутреннего ФЭ

η= количество возбужденных пар носителей ≤ 1. (11.7)

кол-во поглощенных квантов излучения

Эффективность разделения носителей β определяется как

β = число пар носителей, дошедших до границы p-n-перехода ,

полное число генерированных пар

(11.8)

Эффективность разделения носителей зависит от толщины р- области: β = f (ω) и β ≈ 1, если ω < L .

Фототок соответствует количеству пар, подошедших к пере-

ходу

 

 

 

263

 

Iф

=

l

ηβФ = SλФ,

(11.9)

hν

 

 

 

 

где Sλ — коэффициент пропорциональности,

характеризует спек-

тральную чувствительность фотоэлемента.

Полный ток, протекающий во внешней цепи, будет определен следующим выражением

I = I

 

+ I

pn

+ I

np

I

pp

I

nn

=

U R

,

(11.10)

Ф

 

 

 

 

 

 

 

RH

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где UR — напряжение, возникающее на сопротивлении нагрузки при освещении ФЭ.

UR = UФ Uк.

Полярность этого напряжения соответствует прямому напряжению на переходе, вследствие чего оно вызывает увеличение диффузионных токов основных носителей через переход.

 

eU

R

 

 

 

 

Inn

= Inp exp

 

 

 

,

(11.11)

kT

 

 

 

 

 

 

 

eU

R

 

 

 

I pp

= I pn exp

 

.

(11.12)

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

Подставив (11.11) и (11.12) в полное значение тока I, полу-

чим

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I = IФ IS exp

eU R

−1 ,

 

(11.13)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

где IS

обратный ток через переход.

 

(КЗ) RH = 0 ,

U R = 0 и

 

В

режиме короткого замыкания

 

exp

eU R

= 1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ток по внешней цепи (ток КЗ ФЭ) определятся

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IКЗ = IФ = SλФ.

 

 

 

 

Зависимость тока от светового потока —

линейна. Фототок в

режиме КЗ не зависит от температуры.

 

 

 

 

 

 

Напряжение на фотогальваническом (ФГ) элементе получа-

ется

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT

 

 

IR I

 

 

 

kT

 

 

SλФ I

 

 

 

 

 

U R =

ln 1

+

 

 

=

ln

1+

.

(11.14)

 

 

 

 

IS

 

IS

 

 

 

 

 

e

 

 

 

e

 

 

 

264

В режиме холостого хода (ХХ) ток равен нулю (I = 0), а напряжение определяется следующим выражением

 

=

kT

 

Iф

U XX

 

ln 1

 

.

e

 

 

 

 

 

IS

Напряжение ХХ (фото-ЭДС) фотоэлемента изменяется при увеличении светового потока по логарифмическому закону. Только в области малых световых потоков

Iф

<< 1 и

U XX

=

kT

SλФ.

(11.15)

 

 

 

IS

 

 

e

 

При больших световых потоках рост фото-ЭДС замедляется, т.к. напряжение холостого хода не может быть больше контактной разности потенциалов, которая не превышает величины, соответствующей ширине запрещенной зоны полупроводника.

На рис. 11.6 показаны схемы включения ФЭ с электроннодырочным переходом в фотогальваническом (рис. 11.6, а) и фотодиодном (рис. 11.6, б) режимах.

p

n

Rн

 

a

Рис. 11.6 —

 

Ф

p

n

I1

+

 

I2 U

– Rн

При U > IR Н > kT

б

Схема включения ФЭ с электроннодырочным переходом

На рис. 11.6 введены обозначения токов:

 

 

e ( IRH )

 

 

(11.16)

I1 = IФ

IS

exp

 

−1 и

I

2 = IФ + IS .

kT

 

 

 

 

 

 

На рис. 11.7 приведены вольт-амперные характеристики освещенного и неосвещенного p-n-перехода.

265

 

I

 

 

II

I

 

1

 

 

0

б

Is

 

U

 

 

Rн

IФ

 

а

в

III

2

IV

Рис. 11.7 — Вольт-амперные характеристики неосвещенного и освещенного p-n-перехода

Отрезок О-а, отмеченный на рис. 11.7, показывает величину тока КЗ освещенного p-n-перехода (по направлению этот ток совпадает с обратным током диода). Отрезок О-б — соответствует UХХ, т.е. величине генерируемой им фото-ЭДС. Участок между точками а и б (IV квадрант) представляет собой вольт-амперную характеристику диода в ФГ-режиме.

Фотодиодный режим соответствует III квадранту (рис. 11.7). Семейство вольт-амперных характеристик ФД эквидистантно. Первая характеристика — цифра 1 на рис. 2.13 соответствует темновому току ФД, т.е. обратному току через не освещенный p- n-переход IT = IS . Вторая характеристика (2) — освещенному диоду. Эквидистантность заключается в том, что одному и тому же Ф соответствует одинаковое IФ.

11.2Параметры приемников излучения светового потока

Фотоприемник — это прибор, который поглощает энергию оптического излучения и преобразует её в электрическую с определенным КПД.

266

Классификация фотоприемников достаточно условна и может осуществляться по многим признакам.

1.По среде, в которой происходит движение фотоэлектронов или оптически генерированных пар носителей заряда. Различают вакуумные и твердотельные (полупроводниковые) фотоприемники. Вакуумные приборы в данном пособии рассматривать не будем.

2.По структуре полупроводникового материала фотоприемника. Приемники с однородной структурой полупроводника. Приемники с p-n-переходами.

Например: фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы и т.д.

3.Приборы с внутренним усилением фототока, лавинные фотодиоды, фототранзисторы, канальные фотоумножители и т.д.

4.По времени отклика на оптический сигнал и по частотным свойствам.

5.По области применения (фотометрия, солнечные элементы, оптоэлектронные схемы, волоконно-оптическая связь и т.д.

Оптическое излучение может характеризоваться световыми параметрами. Параметры оптического излучения, расчетные формулы, единицы величин и обозначения сведены в табл. 11.1.

Таблица 11.1 — Фотометрические параметры излучения

Энергетические параметры

Световые параметры

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-

Единица

 

-

Единица

 

 

Обозна чение

 

Обозна чение

 

Параметр

измере-

Параметр

измере-

Формула

 

ния

 

ния

 

 

 

 

 

 

 

 

Поток излуче-

Фе

Вт

Поток

Фе

лм

Ф = dW/dt,

ния

 

 

излуче-

 

 

где W

 

 

 

ния

 

 

энергия

 

 

 

 

 

 

излучения

 

 

 

 

 

 

 

Сила излуче-

IE

Вт/ср

Сила све-

Jϑ

кд×лм/ср

I =dФ/dW,

ния

 

 

та

 

 

где Ω — те-

 

 

 

 

 

 

лесный угол

 

 

 

 

 

 

 

Энергетиче-

Ме

Вт/м2

Свети-

Мϑ

лм/м2

М = dФ/dS,

267

Энергетические параметры

Световые параметры

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-

 

Единица

 

-

Единица

 

 

 

Окончание табл

. 11.1

 

 

 

 

 

 

 

измере-

Параметр

 

измере-

Формула

Параметр

Обозна чение

 

ния

Обозна чение

ния

 

 

 

 

 

 

ская свети-

 

 

 

мость

 

 

 

 

 

мость

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Энергетиче-

LE

 

Вт/ср×м2

Яркость

Lϑ

кд/м2

L =

dl

 

ская яркость

 

 

 

 

 

 

dS cos ϕ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Энергетиче-

Ее

 

Вт/м2

Освещен-

Еϑ

лк×лм/м2

Е =dФ/dS

ская освещен-

 

 

 

ность

 

 

 

 

 

ность

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Параметры фотоприемников. Важнейшим параметром фо-

топриемника является чувствительность. Она отражает изменения электрического состояния на выходе фотоприемника при подаче на его вход единичного оптического сигнала.

Всоответствии с характеризующим параметром различают

чувствительности фотоприемника к потоку излучения SФе, к световому потоку SФv, к облученности SEе и к освещенности SЕv.

Взависимости от измеряемого параметра на выходе фото-

приемника различают токовую SI и вольтовую чувствительности SU фотоприемника. Примеры определения статической чувствительности фотоприемника приведены в выражениях

 

SIФv = IФ / Фv ;

SIEv = IФ / Ev ;

 

SUФe = UФ / Фe ;

(11.17)

 

SUEe = UФ / Ee ,

где SIфv

токовая чувствительность к световому потоку;

SIеv — токовая чувствительность к освещенности;

SUфе — вольтовая чувствительность к потоку излучения;

SUеEv

вольтовая чувствительность к потоку облученности.

Дифференциальная чувствительность определяется отношением малых приращений измеряемых величин, например дифференциальная токовая чувствительность фотоприемника к освещенности

268

 

SIEv = IФ / Ev .

(11.18)

Чувствительность зависит от длины волны падающего излучения. Поэтому различают интегральную и монохроматическую (спектральную) чувствительность фотоприемника к немонохроматическому излучению заданного спектрального состава.

Квантовый выход внутреннего фотоэффекта h1 определяется числом неравновесных носителей (пар), созданных каждым поглощенным фотоном.

Скорость генерации неравновесных носителей G — определяется числом неравновесных носителей, возникающих в 1 см3 материала за 1 сек при его облучении

G( x) = h1

a ×Ф1

( х)

.

(11.19)

hn

 

 

 

В области собственного поглощения (h1=1) при Ф1 — co

nst ско-

рость генерации уменьшается с ростом частоты. Фототок и чувствительность пропорциональны G и имеют примерно ту же зависисмость от частоты — рис. 11.8, а.

Ф, Iф

S11

η1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ф

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Iм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

IФ

 

 

 

 

S1

Iм 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I м

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

 

 

 

 

t

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

hν

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

τ1

 

 

 

 

τ2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 11.8

а— зависимость S1 и η1 от энергии фотонов;

б— изменение фототока Iф со временем

Инерционность фотоприемников. Инерционность зависит от раз-

личных причин и может быть охарактеризована постоянными времени нарастания и спада фототока. Если фототок растет по закону

269

I

Ф

= I

мах

× 1

- exp ( -t / t

 

) ,

а

спадает

по

закону

 

 

 

1

 

 

 

 

 

I

Ф

= I

мах

× 1

- exp (-t / t

2

) , то t1 — постоянная времени нарастания, а t2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

постоянная времени спада (рис. 11,8, б).

Уодних приемников фототок полностью определяется величиной G(х) и объемом материала, в котором происходит поглощение света, у

других — величиной G(х)× Z(E), где Z(E) — коэффициент усиления, зависящий от напряженности поля Е.

Токи, идущие через фотоприемник в темноте и при освещении, испытывают шумовые (случайные) отклонения I от среднего значения тока I . Так как отклонения имеют разные знаки и их среднее значение равно DI = 0 , то мерой случайных отклонений является среднее значе-

ние квадрата отклонения DI 2 .

Вследствие хаотичности теплового движения свободных носителей (электронов) их концентрация в различных участках полупроводника изменяется со временем. Связанные с этим колебания возникающей ЭДС и тока пропорциональны температуре Т и определяют тепловой шум:

D

 

2 =

1

kT Df ,

(11.20)

I

 

 

 

 

R

 

где R — сопротивление образца, f — полоса частот.

Дробовой шум вызван колебанием числа электронов, проходящих через прибор при постоянном внешнем напряжении.

DI 2 = 2qI Df . (11.21)

Шум такого типа определяется случайным характером про- цессов генерации, рекомбинации и диффузии электронов и дырок.

Пороговая чувствительность. Это уровень светового потока

Фп, когда сигнал равен шуму, т.е.

 

ф2 = D

 

2

. Т.к. D

 

2

 

I

I

I

и Фп могут

зависеть от площади S приемника и полосы f , то

 

 

 

Фп

 

 

 

 

 

 

 

 

Фп =

 

 

 

 

 

,

 

 

 

 

 

(11.22)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S × Df

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Ф — приведенный пороговый поток.

270

Обнаружительная способность определяется следующим со-

отношением

D = 1Фп , D м, f , f ) , [ cм× Гц12Вт−1 ]. f ≈ 1 Гц. (11.23)

Рассмотрим некоторые типы фотоприемников.

11.3 Типы приемников излучения

Фоторезисторы. При освещении однородного полупроводника его электропроводность увеличивается. Это явление называется фотопроводимостью, а соответствующий прибор — фоторезистором. Схема наблюдения фотопроводимости показана на рис. 11.9, а.

 

x

Ф

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Iф

 

ЕС

 

 

 

 

 

а

 

y

 

U2>U1

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

G

R

 

 

 

 

U1

 

 

 

I

0

 

ЕV

 

 

 

 

 

 

 

Ф

 

 

 

 

 

 

а

б

в

 

Рис. 11.9 — Фотопроводимость:

а — схема наблюдения; б — фототок при различных световых потоках Ф и напряжениях U (Iф = f(Ф)U; в — переходы при собственной фотопроводимости

Если под действием света возникают только электроны в зоне проводимости, то добавочный ток (фототок):

Iф = qnфVd × S ,

(11.24)

где Vd — дрейфовая скорость (Vd = mE ), q

заряд электрона,

nф — концентрация неравновесных (избыточных) фотоэлектронов, µ — подвижность электронов, E — напряженность поля, S — сечение образца.