Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

3152

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
15.11.2022
Размер:
3.15 Mб
Скачать

зисторов, конденсаторов и т.п). Если структура электрической схемы не позволяет этого сделать (например, параллельное соединение кон-

денсатора и резистора), методика проверки узлов и требований к то-

пологии, связанные с этой проверкой, должны быть определены до начала разработки топологии.

59

Таблица 4.2 - Конструктивные и технологические ограничения при проектировании МСБ.

Элемент топо-

Содержание

Номер

ограничения

мм,

логии

ограничения

при использовании

 

 

 

м

 

ф

мф

эи

та

 

 

 

 

 

 

 

 

1

2

3

 

4

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Точность

из-

 

 

 

 

 

 

 

готовления

 

 

 

 

 

 

 

линейных

 

 

 

 

 

 

 

 

размеров

 

 

 

 

 

 

 

 

пленочных

 

 

 

 

 

 

 

элементов

и

 

 

 

 

 

 

 

расстояний

0.0

 

0.0

0.0

0.0

0.0

 

между

ними

 

 

1

 

1

1

1

1

 

и других при

 

 

 

 

 

 

 

 

 

расположе-

 

 

 

 

 

 

 

нии

пленоч-

 

 

 

 

 

 

 

ных

элемен-

 

 

 

 

 

 

 

тов

в

одном

 

 

 

 

 

 

 

слое; мм

 

 

 

60

 

 

 

 

Минимально

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

допустимые

 

 

 

 

 

 

 

расстояния

 

 

 

 

 

 

 

между

пле-

 

 

 

 

 

 

 

ночными

 

0.3

 

0.1

0.3

0.1

0.5

 

элементами,

 

 

 

 

 

 

 

расположен-

 

 

 

 

 

 

 

ными

в

од-

 

 

 

 

 

 

 

ном слое, мм

 

 

 

 

 

 

 

Минимально

 

 

0.1

 

0.1

0.0

 

допустимый

 

 

 

5

5

 

 

 

 

 

 

размер

рези-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

стора, в мм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.3

 

0.1

0.3

 

0.1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Продолжение таблицы 4.2

1

 

2

 

3

4

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Макси-

 

 

 

 

 

 

 

мально

до-

 

 

 

 

 

 

пустимое

10

100

30

100

 

 

соотноше-

 

 

 

 

 

 

 

 

ние

разме-

 

 

 

 

 

 

ров, L/a

 

 

 

 

 

 

 

Макси-

 

 

 

 

 

 

 

мально

до-

 

 

 

 

 

 

пустимое

 

 

 

 

 

 

расстояние

 

 

 

 

 

 

между

 

 

 

 

 

 

 

пленочны-

 

 

 

 

 

 

ми элемен-

0.2

0.1

0.2

0.1

 

 

тами

 

рас-

 

 

 

 

 

 

положен

 

 

 

 

 

 

ными

в

 

 

 

 

 

 

разных

 

 

 

 

 

 

 

слоях,

С,

 

 

 

 

 

 

мм

 

 

 

 

 

 

 

 

Перекры-

 

 

 

 

 

 

тия для со-

 

 

 

 

 

 

вмещения

 

 

 

 

 

 

пленочных

 

 

 

 

 

 

элементов,

0.2

0.1

0.2

0.1

 

 

располо-

 

 

 

 

 

 

женные в

 

 

 

 

 

 

разных

 

 

 

 

 

 

 

слоях, l, мм

 

 

 

 

 

Минимальное расстояние от пленочных элементов до края платы

,мм

0.5

0.2

0.5

0.4

0.2

Продолжение таблицы 4.2

1

2

3

4

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

мальная

 

 

 

 

 

 

ширина

0.1

0.05

0.1

0.1

0.0

 

пленочных

5

 

 

 

 

 

 

проводни-

 

 

 

 

 

 

ков l ,мм

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

мально до-

 

 

 

 

 

 

пустимое

 

 

 

 

 

 

расстояние

 

 

 

 

 

 

между кра-

0.2

0.1

0.2

0.1

0.1

 

ем его кон-

 

 

 

 

 

 

тактной

 

 

 

 

 

 

площадки,

 

 

 

 

 

 

j,мм

 

 

 

 

 

61

62

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

мально до-

 

 

 

 

 

 

пустимые

 

 

 

 

 

 

расстояния,

 

 

 

 

 

 

мм, между

 

 

 

 

 

 

краями ди-

0.1

0.1

0.1

0.1

-

 

электрика

 

 

 

 

 

 

и нижней

 

 

 

 

 

 

обкладкой

 

 

 

 

 

 

конденса-

 

 

 

 

 

 

тора ,f

 

 

 

 

 

 

Между края-

 

 

 

 

 

 

ми верхней и

 

 

 

 

 

 

нижней об-

 

 

 

 

 

 

кладками

 

 

 

 

 

 

конденсатора,

 

 

 

 

 

 

g

 

 

 

 

 

 

 

0.2

0.2

0.2

0.2

0.2

 

 

 

 

 

 

 

Продолжение таблицы 4.2

1

2

3

4

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

Между

 

 

 

 

краем

ди-

 

 

 

электрика

 

 

 

и соедине-

 

 

 

нием выво-

 

 

 

да конден- 0.3

0.3

0.3

0.3 0.3

сатора

с

 

 

 

другим

 

 

 

 

пленочным

 

 

 

элементом,

 

 

 

h

 

 

 

 

Между

 

 

 

 

краем

ди-

 

 

 

электрика

 

 

 

инижней

 

обкладкой

 

0.12

0.2

0.2

0.2

0.2

 

конденса-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тора в мес-

 

 

 

 

 

 

те вывода

 

 

 

 

 

 

верхней

 

 

 

 

 

 

 

обкладки, с

 

 

 

 

 

 

От пленоч-

 

 

 

 

 

 

но-

 

 

 

 

 

 

 

го конден-

 

 

 

 

 

 

 

са-

 

 

 

 

 

 

 

тора до

 

0.5

0.5

0.5

0.5

0.5

 

приклеи-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ваемых на-

 

 

 

 

 

 

весных

 

 

 

 

 

 

 

компонен-

 

 

 

 

 

 

 

тов, z

 

 

 

 

 

 

 

Минимальная

 

 

 

 

 

 

площадь пе-

 

 

 

 

 

0.5

 

рекрытия

 

0.5*

0.5*

0.5*

0.5*

 

63

*

 

обкладок

 

0.5

0.5

0.5

0.5

0.5

 

конденсато-

 

 

 

 

 

 

ров L*B, мм2

 

 

 

 

 

 

Максималь-

 

 

 

 

 

 

ное отклоне-

 

 

 

 

 

 

ние емкости

0.1

0.1

0.1

0.1

 

 

конденсатора

 

 

2

2

2

2

 

 

от номиналь-

 

 

ного значе-

 

 

 

 

 

 

ния, %

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Продолжение таблицы 4.2

1

 

2

3

4

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

мальное

 

 

 

 

 

 

расстояние

 

 

 

 

 

 

от

прово-

 

 

 

 

 

 

лочного

 

 

 

 

 

 

проводника

 

 

 

 

 

 

или

ввода

 

 

 

 

 

 

до

края

 

 

 

 

 

 

контактной

 

 

0.2

 

 

 

площадки

 

 

 

 

 

 

или до края

 

 

 

 

 

 

пленочного

 

 

 

 

 

 

проводника

 

 

 

 

 

 

не

защи-

 

 

 

 

 

 

щенного

 

 

 

 

 

 

изоляцией,

 

 

 

 

 

 

К, мм

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мальные

 

 

 

 

 

 

 

 

размеры

 

 

 

 

 

 

 

 

контакт-

 

 

 

 

 

 

 

 

ных

 

пло-

 

 

 

 

 

 

 

 

щадок

до

 

 

 

 

 

 

 

 

монтажа

 

 

 

 

 

 

 

 

навесных

 

 

0.2

 

 

 

 

компонен-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тов

с

ша-

 

 

 

 

 

 

 

 

риковыми

 

 

 

 

 

 

 

 

или

 

стол-

 

 

 

 

 

 

 

 

биковыми

 

 

 

 

 

 

 

 

выводами,

 

 

 

 

 

 

 

 

мм, m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мальные

 

 

 

 

 

 

 

 

размеры

 

 

 

 

 

 

 

 

контакт-

 

 

 

 

 

 

 

 

ных пло-

 

 

0.2*0.2

 

 

 

 

щадок для

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

контроля

 

 

 

 

 

 

 

 

электриче-

 

 

 

 

 

 

 

 

ских пара-

 

 

 

 

 

 

 

 

метров, мм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Продолжение таблицы 4.2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

2

 

3

4

 

5

6

7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Макси-

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мальная

 

 

 

 

мальные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

длина

гиб-

 

 

 

расстояния,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

кого

выво-

 

 

 

мм

,

от

 

 

 

 

 

 

 

 

 

да без

до-

3.0

 

 

края навес-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

полнитель-

 

 

 

ного

 

ком-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ного

креп-

 

 

 

понента до

 

 

 

 

0.4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ления

 

 

 

 

 

края

 

дру-

0.4

 

0.4

0.4

0.4

0.4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

гой

платы,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

g для

дру-

0.4

 

0.4

 

0.4

0.4

 

 

мальные

 

 

 

 

гого

 

ком-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

расстояния,

 

 

 

понента

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мм,

между

 

 

 

края

 

кон-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

контакт-

 

 

 

 

тактной

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ными

пло-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щадками

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

для

монта-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Продолжение таблицы 4.2

 

жа

навес-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ных

 

ком-

 

 

1

 

2

 

3

 

4

5

6

7

 

 

плектов

с

0.6*0.35

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

шариковы-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ми

 

или

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

столбико-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

выми

вы-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

водами

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

пленочным

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

резистом

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

диэлектри-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ком

 

кон-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

денсатора,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

65

 

 

 

 

 

 

 

66

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

площадки

 

 

 

 

 

 

предназна-

 

 

 

 

 

 

ченной для

0.6

0.6

0.6

0.6

0.6

 

приварки

 

 

 

 

 

 

пленочных

0.4

0.4

0.4

0.4

0.4

 

проводов,

 

 

 

 

 

 

S

прово-

 

 

 

 

 

 

лочного

0.2

0.2

0.2

0.2

0.2

 

проводника

 

 

 

 

 

 

Луженого

 

 

 

 

 

 

пленочного

 

 

 

 

 

 

элемента

 

 

 

 

 

 

Мини-

 

 

 

 

 

 

 

мальные

 

 

 

 

 

 

размеры

 

 

 

 

 

 

контакт-

 

 

 

 

 

 

ных

 

пло-

 

 

 

 

 

 

щадок

для

 

 

 

 

 

 

приварки

 

 

 

 

 

 

проволоч-

 

 

 

 

 

 

ных

 

про-

 

 

 

 

 

 

водников

 

 

 

 

 

 

или

прово-

 

 

 

 

 

 

лочных

 

 

 

 

 

 

выводов

0.15

0.15

0.15

0.15

0.1

 

навесных

*0.1

*0.1

*0.1

*0.1

5*0

 

компонен-

 

 

 

 

.1

 

тов

 

при

0.2*

0.2*

0.2*

0.2*

 

 

диаметре

0.2

0.2

0.2

0.2

0.2

 

проволоки,

 

 

 

 

*

 

мм

 

 

0.2*

0.2*

0.2*

0.2*

0.2

 

для

 

1-го

0.3

0.3

0.3

0.3

 

 

пров.

 

 

 

 

 

0.2

 

 

 

 

 

 

 

 

*

 

0.03

для

 

 

 

 

0.3

 

2-х пров.

 

 

 

 

 

 

для

 

3-х

 

 

 

 

 

 

пров.

 

 

 

 

 

 

Окончание таблицы 4.2

1

2

 

3

4

5

6

7

 

для

1-го

0.2*

0.2*

0.2*

0.2*

0.2*

 

пров.

 

0.15

0.15

0.15

0.15

0.15

 

 

 

0.25

0.25

0.25

0.25

0.25*

 

0.04

для

*

*

*

*

0.25

 

2-х пров.

0.25

0.25

0.25

0.25

 

 

 

 

 

 

 

 

0.25*

 

для

3-х

0.25

0.25

0.25

0.25

0.4

 

пров.

 

* 0.4

* 0.4

* 0.4

* 0.4

 

 

 

 

 

 

 

 

0.25*

 

 

 

0.25

0.25

0.25

0.25

0.2

 

для

1-го

* 0.2

* 0.2

* 0.2

* 0.2

 

 

пров.

 

 

 

 

 

0.3*

 

 

 

0.3*

0.3*

0.3*

0.3*

0.3

 

 

 

0.3

0.3

0.3

0.3

 

 

0.05

для

 

 

 

 

0.3*

 

2-х пров.

0.3*

0.3*

0.3*

0.3*

0.5

 

 

 

0.5

0.5

0.5

0.5

 

 

для

3-х

 

 

 

 

 

 

пров.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При проработке первого варианта топологии обычно не удается получить приемлемую конфигурацию слоев. Работа над следующими вариантами топологии сводится к устранению недостатков первого варианта для того, чтобы чертеж отвечал всем конструктив- но-технологическим требованиям и ограничениям приведенным в табл.4.2.

После выбора окончательного варианта топологии с эскизного чертежа убирают изображения навесных компонентов и вычерчивают чертеж платы (оригинал) и чертежи слоев микросхемы для эле-

ментов (резистивный слой, диэлектрический слой, проводящий слой и т.д.), необходимые для изготовления комплекта фотошаблонов и масок в соответствии с примерами приложения 5.

Оценка качества топологии сводится к анализу сформированной топологической структуры и проведения проверочных расчетов с

целью ее оптимизации и выяснения степени удовлетворения предъ-

явленным требованиям.

67

Сразу после размещения всех элементов и компонентов необходимо оценить правильность выбора размеров подложки и возможность их уменьшения. Если размеры не изменяются, то необходимо проанализировать разработанную топологию с целью придания вычерченным элементам более простых форм, получения более равномерного размещения элементов на плате, обеспечения удобства при проведении сборочных операций, увеличения размеров контактных площадок, расширения допусков на совмещение слоев и увеличения расстояний между элементами. Следует отметить, что не всегда число слоев, определяемых по топологическому чертежу, соответствует количеству нанесений пленок и количеству необходимых фотооригиналов (шаблонов). Так, во избежание ослабления жесткости свободной маски может возникнуть необходимость распределения проводников на два слоя и изготовления с учетом должного перекрытия двух отдельных масок. С другой стороны, с целью уменьшения числа напылений можно совместить в одной операции изготовление различных элементов (например, проводников или части их – с обкладками конденсаторов, диэлектрика кондеснсатора – с изоляцией пересечений, если эти элементы изготавливаются из одних и тех же материалов).

Для проверки топологии на соответствие электрическим требованиям для высокочастотных схем производят оценку индуктивноемкостных связей в наиболее важных участках микросхемы, а для проверки на соответствие условиям эксплуатации– тепловой расчет и расчет надежности. Подробно эти вопросы изложены в следующем разделе учебного пособия.

4.3 Конструктивно-технологическая реализация корпусов

В зависимости от эксплуатационных требований корпуса микросхем различных типоразмеров /7,8, с.3/ могут быть реализованы в разных конструктивно-технологических вариантах, приведенных в табл.4.3. Следует также иметь в виду, что при сравнительно легких требованиях эксплуатации (некоторые виды бытовой радио-

аппаратуры и измерительные приборы для лабораторных исследова-

68

ний) вместо корпусной защиты микросхем от влияния эксплуатационных воздействий может использоваться бескорпусная защита, которая основывается на применении неорганических и полимерных материалов (эпоксидных и кремнийорганических смол, полиуретанов, полиэфиров и полисульфидов). Покрытие осуществляется распылением, окунанием, заливкой или путем литьевого прессования. Наиболее широко применяемые для этих целей материалы и методы их нанесения приведены в табл .4.3.

Для корпусной защиты широко применяются металлостеклянные, металлокерамические, стеклянные, керамические, металлополимерные, полимерные корпуса.

Металлостеклянные (рис.4.1) и металлокерамические корпуса (рис.4.2) состоят из металлической крышки и металлического основания, а также стеклянных керамических деталей, в которые впаяны или впрессованы металлические круглого или прямоугольного сечения выводы. На рис 4.3 изображена другая конструкция металлостеклянного корпуса, в которой в качестве изоляторов в металлическом основании применены стеклотаблетки для изоляции групп выводов. Для обеспечения качественных металлостеклянных спаев подбирают сочетаемые материалы таким образом , чтобы температурные коэффициенты линейного расширения стекла и металла были одинаковыми или близкими. Такие корпуса герметизируются созданием ва- куум-плотного соединения крышки с вваренным в диэлектрик фланцем за счет пайки или сварки. Монтажная площадка, контактные площадки и выводы таких корпусов имеют золотое покрытие толщиной 2…5 мкм для обеспечения монтажа компонентов эвтектической пайкой и улучшения паяемости выводов при сборке.

69

Таблица 4.3 - Материалы для бескорпусной защиты МСБи методы их нанесения.

Тип микро-

Назначение за-

Защитные

Методы

схемы

щиты

материалы

нанесения

 

 

 

материа-

 

 

 

лов

Тонкопленоч-

Защита МСБбы-

Лаки ФП-

Распыле-

ные

тового назначе-

525, УР-231;

ние из

 

ния

эмаль ФП-

пульвери-

 

 

545. Эла-

затора, по-

 

 

стичные

гружение,

 

 

компаунды

полив. За-

 

 

типа “Вик-

ливка.

 

 

синд”,

 

 

 

КТ-102

 

Толстопле-

Защита МСБ об-

Тиксотроп-

Погруже-

ночные

щепромышлен-

ный компа-

ние с ме-

 

ного и бытового

унд Ф-47.

ханиче-

 

назначения

Порошковые

ской виб-

 

 

компаунды

рацией.

 

 

ПЭП-177,

Напыле-

 

 

ПЭК-19

ние в элек-

 

 

 

тростати-

 

 

 

ческом по-

 

 

 

ле, вихре-

 

 

 

вое напы-

 

 

 

ление.

 

Стабилизация

Легкоплав-

Вакуумное

 

параметров МСБ

кие халько-

напыление

 

на стадии произ-

генидные

 

 

водства

стекла

 

70

Рис.4.1- Конструкция металлостеклянного корпуса

Рисунок 4.2 - Конструкция металлокерамического корпуса

71

72

Рисунок 4.3- Конструкция металлокерамического корпуса

73

корпусов имеют золотое покрытие толщиной 2 ... 5 мкм для обеспечения монтажа компонентов эвтектической пайкой и улучшения паяемости выводов при сборке. Если золочение монтажной площадки не осуществляется, то Для монтажа микросхемы в корпус эвтектическую пайку но применят, а используют только клей холодного отверждения. Для изготовления металлостеклянных и металлокерамических корпусов применяются дефицитные материалы: золото, никель - кобальтовые сплавы, поэтому они применяются для микросхем специального назначения, дорогостоящих ГИЗ, МСБ, ВИС и СБИС с большим числом выводов. В стеклянных корпусах (рис. 4.4) основание формируют из стекла; в процессе изготовления основания в него впаивают выводы. Крышки таких корпусов могут быть как стеклянными, так и металлическими. Керамические корпуса (рис. 4.5) изготавливает из двух-трех слоев керамики, на которые наносят методами толстопленочной технологии проводящие дорожки и контактные площадки внутри и снаружи корпуса. После прессования многослой-

ной структуры осуществляют обжиг, в результате которого формиру-

74

ется монолитное тело керамического корпуса с встроенными проводящими дорожками. Внешние плоские металлические выводы прямоугольного сечения приваривают к внешним контактным площадкам сбоку (рис. 4.5 а) или поверх (рис. 4.5 б) основания корпуса. Керамические корпуса по сравнению с металлостеклянными и металлокерамическими корпусами имеют более высокое тепловое сопротивление, но менее надежны из-за большей хрупкости керамического основания и крышки, если она выполняется тоже из керамики. Керамические корпуса, показанные на рис.4.6 и называемые микрокорпусами или кристаллодержателями, представляют собой керамическую пластину с встроенными внутри металлическими дорожками и расположенными по периметру контактными площадками (выводами). Такая конструкция позволяет уменьшить размеры, увеличить стойкость к механическим воздействиям, улучшить схемотехнические ха-

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]