- •Конспект лекций
- •Оглавление
- •1. Полупроводниковые диоды
- •1.1. Конструктивно-технологические виды диодов
- •1 2 4 3 N Ge 1 - металлическая игла2 - кристалл полупроводника3 - металлизация
- •1.2. Выпрямительные диоды
- •1.3. Импульсные и высокочастотные диоды
- •1.4. Стабилитроны
- •1.5. Туннельные диоды
- •1.6. Варикапы
- •1.7. Свч диоды
- •1.8. Диоды Ганна
- •1.9. Лавинно-пролетные диоды
- •1.11. Варисторы
- •1.12. Термисторы, термоэлектрические приборы
- •1.13. Тиристоры, фототиристоры, оптопары
- •2. Биполярные транзисторы Общие сведения
- •2.1. Устройство и принцип действия биполярных транзисторов
- •2.2. Схемы включения транзисторов
- •2.3 Коэффициенты передачи тока
- •2.4. Зависимость коэффициентов усиления транзисторов от режима и температуры
- •2.5. Статические характеристики транзистора в схеме с оэ
- •2.6. Модель Эбберса-Молла
- •2.7. Транзистор как линейный четырехполюсник
- •2.8. Конструкции биполярных транзисторов
- •2.9. Биполярные транзисторы с гетеропереходами
- •3. Усилители на транзисторах
- •3.1. Классификация Режимы работы
- •3.2. Выбор рабочей точки
- •3.3 Стабильность рабочей точки
- •3.4. Расчет каскада на транзисторе в схеме с оэ по постоянному току
- •3.5 Транзисторный усилитель переменного напряжения
- •3.6 Амплитудно-частотная характеристика усилителя
- •3.7. Порядок расчета транзисторных усилителей
- •3.8. Эмиттерный повторитель
- •3.9. Усилители постоянного тока
- •3.10. Дифференциальный усилитель
- •4. Полевые транзисторы
- •4.1. Полевые транзисторы. Общие сведения
- •4.2. Полевые транзисторы с изолированным затвором
- •4.3. Статические характеристики
- •4.4. Основные параметры мдп-транзисторов
- •4.6. Полевые транзисторы с управляющим
- •4.7. Приборы с зарядовой связью
- •4.8. Полевые свч транзисторы на основе арсенида галлия
- •4.9. Полевые свч-транзисторы на гетероструктурах
- •5. Электронные приборы свч Общие сведения
- •5.1. Клистроны
- •5.2. Лампы бегущей и обратной волны
- •5.3. Магнетроны
- •6. Интегральные операционные усилители
- •6.1. Основные параметры оу
- •6.2. Обратные связи
- •6.3. Идеальный оу. Виртуальный ноль
- •6.4. Инвертированный усилитель
- •6.5. Неинвертирующий усилитель
- •6.6 Аналоговые интеграторы и дифференциатор
- •6.7. Инвертирующий сумматор и вычитатель
- •6.8. Логарифмический усилитель, компараторы
- •6.9. Избирательные усилители
- •Литература
1. Полупроводниковые диоды
1.1. Конструктивно-технологические виды диодов
Диодом называют электропреобразовательный прибор, содержащий один или несколько электрических переходов и имеющий два вывода.
По констструктивно-технологическим признакам различают следующие виды диодов.
Точечные диоды.p-n-переход образуется между контактом металлической иглы (сплав вольфрама с молибденом) и полупроводником (рис. 1.1) Слойp-типа образуется в полупроводнике в результате термодиффузии акцепторных примесей с конца металлической иглы под действием больших импульсов тока. Точечные диоды имеют малую площадь контакта, малую ёмкостьp-n-перехода, а прямые токи через них не превышают десятков миллиампер. Имеют большие токи утечки.
Сплавные диоды. Образуются вплавлением в кристалл полупроводникаn-типа сплава с акцепторной примесью (рис. 1.2): индия в германий и алюминия в кремний. В качестве базы выбирают полупроводникn-типа, т.к. подвижность носителей в нём выше.P-n-переходы сплавных диодов резкие или ступенчатые, могут пропускать токи до десятков ампер. Имеют большие ёмкостиp-n-перехода.
Микросплавные диодыполучают методом микровплавления в кристалл германия тонкой золотой проволочки с присадкой галлия на конце. У микросплавных диодов несколько больший по площадиp-n-переход, чем у точечных рис. 1.3.
Диффузионные диоды. У таких диодовp-nпереход изготавливают методом общей или локальной диффузии. Структуруn+-n-p-p+ типа (рис. 1.4) изготавливается методом общей многократной диффузии. Областьp-диффузияAlв пластинуn-кремния, областьp+- вторая диффузия бора вp-область,n+- диффузия фосфора вp-область. Омические контакты получают химическим осаждениемNiс последующим золочением.
Мезадиффузионные диоды.Для уменьшения ёмкостиp-n-перехода в высокочастотных диффузионных диодах используется мезаструктура (рис. 1.4), получаемая методом глубокого химического травления. Диаметрp-n-перехода уменьшается после травления до нескольких десятков микрометров.
При диффузии получается неравномерное распределение примеси по толщине слоя. Концентрация примеси с глубиной падает и в базе появляется тормозящее электрическое поле.
Эпитаксиальные диоды. Изготавливаются с использованием методов эпитаксии и локальной диффузии.
Эпитаксия - процесс наращивания микрокристаллических слоёв на подложку. Эпитаксия позволяет выращивать слои любого типа проводимости толщиной несколько микрон. P-n-переход создаётся, как правило, диффузией через окно в маске эпитаксиального слоя (рис. 1.6)
1 2 4 3 N Ge 1 - металлическая игла2 - кристалл полупроводника3 - металлизация
Рис. 1.1
1
4 2 3 n Si



сплав,
содержащий акцепторную примесь, кристалл
полупроводника, металлизация, p–область.
Рис. 1.2
1
4 Au+Ga 2 3 n Ge золотая
проволока, кристалл
полупроводника, металлизация, p
– область.



Рис. 1.3
Au
Ni Au Ni p+ p n-Si n+
Рис. 1.4
Планарные и планарно-эпитаксиальные диодыимеют поверхностную структуру, выводы от обеих областейp-n-перехода располагаются в одной плоскости. На подложкуn+кремния эпитаксиально наращивается слойn-типа, затем после окисления и фотолитографии проводят диффузию бора в окисел и получаютp+-области (рис. 1.7).
Для изготовления p-n-переходов может использоваться ионная имплантация, при которой легирование осуществляется бомбардировкой примесными ионами, ускоренными до высоких энергий.
Диоды с барьером Шотткиполучают напылением металла на хорошо очищенную поверхность полупроводника (рис. 1.8). Имеют малое падение напряжения в прямом направлении.
Для защиты от механических и климатических воздействий кристаллы с p-nпереходами помещают в корпуса: металлокерамические, стеклянные, керамические, металлостеклянные, металлопластмассовые, пластмассовые.
