
- •Квантовые и оптоэлектронныеприборыиустройства
- •СмирновЕ.А.
- •Введение
- •Оптическоеизлучение
- •1.1.Свойства оптического излученияиспособыегоописания
- •Особенности оптическогоизлучения
- •Оптическиепереходы
- •Спонтанноеизлучение
- •Вынужденноеизлучение
- •Вынужденноепоглощение
- •СвязьмеждукоэффициентамиЭйнштейна
- •АнализсоотношениймеждукоэффициентамиЭйнштейна
- •Ширинаиформалинийизлучения
- •Естественнаяширинаиформалинийизлучения
- •Однородноеуширениелинииизлучения
- •Неоднородноеуширениелинииизлучения
- •ДифференциальныеиинтегральныекоэффициентыЭйнштейна
- •2.Усилениеоптическогоизлучения
- •Прохождениеоптическогоизлучениячерезвещество
- •Инверсиянаселенностейиактивныесреды
- •Коэффициентусиленияактивнойсреды
- •Схемысозданияинверсиинаселенностей
- •Насыщениеусилениявактивнойсреде
- •Параметрнасыщенияактивнойсреды
- •Генерациялазерного излучения
- •Принципработылазера
- •Условиестационарнойгенерациилазера
- •Насыщениеусилениявлазере
- •Выходная(энергетическая)характеристикалазера
- •Пороговоеусловиегенерации
- •Пороговаямощностьнакачки
- •Графикэнергетическойхарактеристикилазера
- •Оптическиерезонаторы
- •Особенностиоптическихрезонаторов
- •Основныетипыоптическихрезонаторов
- •Устойчивостьоптическихрезонаторов
- •Собственныеколебанияоптическогорезонатора
- •Продольныемоды
- •Методыселекциипродольныхмод
- •Поперечныемоды
- •Методыселекциипоперечных модлазера
- •Кпдлазеров
- •КпДтвердотельныхлазеров
- •КпДнакачкиТтл
- •КпДактивнойсредыТтл
- •КпДоптическогорезонатораТтл
- •КпДгазоразрядных лазеров
- •КпДнакачкиГрл
- •КпДактивнойсредыиоптическогорезонатораГрл
- •КпДинжекционныхполупроводниковыхлазеров
- •Мощность(энергия)накачкилазера
- •Основные типы лазеров
- •Газоразрядныелазеры
- •Гелий-неоновыелазеры
- •Контрольныевопросы
- •Молекулярныелазерына углекисломгазе
- •Контрольныевопросы
- •Лазерына парахметаллов
- •Контрольныевопросы
- •Твердотельныеижидкостные лазеры
- •Контрольныевопросы
- •Инжекционныеполупроводниковыелазеры
- •Списоклитературы
Кпдлазеров
Любой лазер, вне зависимости от типа активной среды и способа накач-ки, может быть представлен в виде трех основных составляющих: источниканакачки, активной среды и оптического резонатора. В соответствии с этимобщийКПД лазера можетбытьнайденкак
0накАСОР,
гдеηнак–КПДнакачки,определяющийдолюмощностинакачки,затрачен-
ную на возбуждение АС; ηАС– КПД активной среды, показывающий, какаядоля мощности возбуждения АС преобразовывается в излучение когерент-ныхквантов;ηОР–КПДоптическогорезонатора,устанавливающийсоотно-
шениемеждувыходноймощностьюизлучениялазераимощностьюизлуче-
ниякогерентных квантов,циркулирующих врезонаторе.
Отдельные составляющие полного КПД определяются в соответствии стипом АС и используемой системой накачки. Методики расчета КПД твердо-тельных, газоразрядных и полупроводниковых лазеров имеют свои особен-ности.
КпДтвердотельныхлазеров
В твердотельных лазерах (ТТЛ) используется оптический метод накач-ки АС. Процесс преобразования энергии накачки импульсного ТТЛ в энер-гию выходного излучения лазера может быть представлен в виде структур-ной схемы (рис. 6.1). Источником оптической накачки обычно служат газо-разрядные лампы импульсного или непрерывного режима. Для повышенияэффективности использования излучения ламп накачки (ЛН) и концентрацииего в области активной среды ТТЛ применяются специальные осветители сзеркальнымиидиффузнымиотражающимипокрытиями.ДляТТЛнепре-рывногорежиматермин «энергия»заменяетсятермином«мощность».
Энергия оптическогоизлучения лампынакачки
ЭнергияоптическогоизлученияЛН,сконцентрированная
наповерхностиАС
ЭнергиянакачкиТТЛ
ηЛН ηосв
ηизл
Пороговаяэнергиявозбужденияактивнойсреды
Рис.6.1.ТрансформацияэнергийнакачкивизлучениеТТЛНа рис. 6.1 отдельным блоком выделена пороговая энергия возбужденияWп АС, которую необходимо передать активной среде для выхода лазера напороггенерации.
КпДнакачкиТтл
Основываясь на схеме трансформации энергии накачки, для КПД накач-киТТЛимеем
нак
ЛНосвизл,
(6.1)
гдеηЛН–КПДлампынакачки,характеризующийдолюэнергиинакачки,
преобразовываемой в энергию оптического излучения ЛН; ηосв– КПД осве-тителя, определяющий долю энергии оптического излучения ЛН, сконцен-трированногонаповерхностиАС;ηизл–КПДизлучения,зависящийотсте-
пенисогласованияспектровпоглощенияАСиизлученияЛН.
В качестве источников оптической накачки импульсных ТТЛ чаще все-го используются трубчатые газоразрядные лампы с ксеноновым наполнени-ем.Серийновыпускаетсябольшойассортиментимпульсныхксеноновыхламп, благодаря чему всегда удается подобрать излучатель с требуемыми па-раметрами: энергией вспышки, длительностью и частотой повторения им-пульсов, длиной светящейся части. Сильноточный импульсный разряд в ксе-нонеформируетинтенсивноеоптическоеизлучение,близкоекбелому.Вы-
ходизлученияксеноновыхламп,определяющийηЛН,зависитотэнергииразряда, его электрических параметров, геометрии и наполнения разрядногопромежутка.Типичными являютсязначения ηЛН=0,4...0,6.
Накачка АС ТТЛ непрерывного режима на основе кристаллов иттриево-алюминиевогогранатапроизводитсяобычнокриптоновымилампамидугово-
го режима с электрической мощностью 2...6 кВт и протяженностью светя-щейсячасти40…100мм.Иногдаиспользуютсяртутныелампывысокогодавления и линейные галогенные лампы накаливания (1...2 кВт). Достоинстваламп накаливания – простота и компактность схемы включения, недостаток –низкий выход полезного излучения. В газоразрядных лампах накачки излу-чающей частью является положительный столб (ПС) разряда, на долю кото-рого, например, в криптоновых лампах, приходится порядка 90 % потребля-емойлампоймощности.ЭтадоляназываетсяэлектрическимКПДлампы
накачки и обозначается ηэл. Мощность положительного столбаРПСразрядарасходуется на формирование резонансного (ηр) и нерезонансного (ηнр) из-лучений, нагрев газа в объеме лампы (ηV) и стенок прибора (ηст). Величиныηр, ηнр, ηVи ηстзависят от давления, плотности тока и рода газа. Сумма пер-выхдвухсоставляющих(ηр+ηнр)определяетдолюоптическогоизлучения.
Сумма ηVи ηстхарактеризует долюPПС,идущую на нагрев прибора. ДляКПД газоразрядной лампы накачкис учетом прозрачности оболочки лампыτоб= 0,9...0,95получимηЛН=ηэл(ηр+ηнр)τоб.
Следующая составляющая КПД накачки – КПД осветителя ηосвво мно-гом определяется используемыми техническими решениями. Важными мо-ментами здесь являются соотношение между размерами осветителя и диа-метрами активных элементов ТТЛ и ламп накачки, форма отражающей по-верхности, характер и уровень отражения. Существуют методики расчета,обеспечивающиекоэффициентравномерностиоблученияповерхностиак-
тивногоэлементанауровне0,7…0,9изначенияηосвпорядка0,5...0,8.
РешающеевлияниеназначениеηнакТТЛоказываетегопоследняясо-
ставляющая–ηизл.КПДизлученияопределяетсястепеньюсогласованияспектра излучения ЛН со спектром поглощения (возбуждения) АС. Оценкавеличиныηизлбазируетсянапонятииредуцированноймощности–мощно-
стиоптическогоизлучениятогоилииногоисточника,пересчитанной(приве-
денной)сучетомспектральнойчувствительностиобъектаоблучения:
2
Iред
Iλdλ,
1
гдеλ1,λ2–граничныезначениядлинволндиапазоначувствительностиАС;
νλ–относительная спектральная чувствительность активной среды (объектаоблучения);Iλ–спектральнаяплотностьмощностиизлучения.Вычисления
Iредмогутпроводитьсяграфоаналитическимиметодами,еслиизвестныспек-тральныефункцииIλ=f(λ) иνλ=f(λ)(рис. 6.2).
Рис.6.2.КопределениюКПДизлученияТТЛ
ПлощадьS1, ограниченная спектральной функциейIλред= νλIλи осьюдлин волн, определяет интегральную по λ редуцированную плотность мощ-ностиIред.КПДизлучениядлясплошногоспектраизлученияможноопреде-
Iλ
0
νλ
1
0
лить как
изл
Iред
Iизл
4
Iλdλ
3 .
2
Iλd
1
Длялинейчатогоспектраинтегрированиезаменяетсясуммированием:
m
I
i1 ,
изл
n
I
i1
гдеn–числолинийвспектреизлучений,mизкоторыхпопадаетвполосупоглощенияАС.
Привыборетипалампнакачкипреждевсегоисходятизусловия
обеспечениямаксимальногоηизл.