
- •Квантовые и оптоэлектронныеприборыиустройства
- •СмирновЕ.А.
- •Введение
- •Оптическоеизлучение
- •1.1.Свойства оптического излученияиспособыегоописания
- •Особенности оптическогоизлучения
- •Оптическиепереходы
- •Спонтанноеизлучение
- •Вынужденноеизлучение
- •Вынужденноепоглощение
- •СвязьмеждукоэффициентамиЭйнштейна
- •АнализсоотношениймеждукоэффициентамиЭйнштейна
- •Ширинаиформалинийизлучения
- •Естественнаяширинаиформалинийизлучения
- •Однородноеуширениелинииизлучения
- •Неоднородноеуширениелинииизлучения
- •ДифференциальныеиинтегральныекоэффициентыЭйнштейна
- •2.Усилениеоптическогоизлучения
- •Прохождениеоптическогоизлучениячерезвещество
- •Инверсиянаселенностейиактивныесреды
- •Коэффициентусиленияактивнойсреды
- •Схемысозданияинверсиинаселенностей
- •Насыщениеусилениявактивнойсреде
- •Параметрнасыщенияактивнойсреды
- •Генерациялазерного излучения
- •Принципработылазера
- •Условиестационарнойгенерациилазера
- •Насыщениеусилениявлазере
- •Выходная(энергетическая)характеристикалазера
- •Пороговоеусловиегенерации
- •Пороговаямощностьнакачки
- •Графикэнергетическойхарактеристикилазера
- •Оптическиерезонаторы
- •Особенностиоптическихрезонаторов
- •Основныетипыоптическихрезонаторов
- •Устойчивостьоптическихрезонаторов
- •Собственныеколебанияоптическогорезонатора
- •Продольныемоды
- •Методыселекциипродольныхмод
- •Поперечныемоды
- •Методыселекциипоперечных модлазера
- •Кпдлазеров
- •КпДтвердотельныхлазеров
- •КпДнакачкиТтл
- •КпДактивнойсредыТтл
- •КпДоптическогорезонатораТтл
- •КпДгазоразрядных лазеров
- •КпДнакачкиГрл
- •КпДактивнойсредыиоптическогорезонатораГрл
- •КпДинжекционныхполупроводниковыхлазеров
- •Мощность(энергия)накачкилазера
- •Основные типы лазеров
- •Газоразрядныелазеры
- •Гелий-неоновыелазеры
- •Контрольныевопросы
- •Молекулярныелазерына углекисломгазе
- •Контрольныевопросы
- •Лазерына парахметаллов
- •Контрольныевопросы
- •Твердотельныеижидкостные лазеры
- •Контрольныевопросы
- •Инжекционныеполупроводниковыелазеры
- •Списоклитературы
Методыселекциипродольныхмод
Процедура уменьшения числа продольных мод, или выделенияединственной моды, называется их селекцией. Существует многообразие эф-фективныхметодов селекции, которые в различной степениобеспечиваютснижение числа одновременно генерируемых лазеромпродольных мод. Рас-смотрим некоторые из них. В соответствии с (5.4) сокращение числа про-дольных мод может быть достигнуто двумя способами: либо увеличениеммежмодового интервала Δνq, либо уменьшениемширины зоны генерацииΔνген.
Метод прореживания спектра частот собственных колебаний ОР.Метод основан на увеличении межмодового интервала Δνq=c/2nLзa счетуменьшениядлиныоптическогорезонаторалазераотначальнойLдозна-
ченияL'<L(рис.5.3).Витогесокращаетсячислопродольныхмодлазера
N=Δνген/Δνq=ΔνгенnL/с.
Усиление
Усиление
νq– 1
νq νq+1 ν
Рис.5.3.Сокращениечислапродольных модвкороткомрезонаторе
УменьшаяL, можно повысить Δνqдо величины, сравнимой с ширинойзоныгенерации, идостаточно простореализовать одночастотный режим.НоодновременносуменьшениемLснижаетсякоэффициентусиленияза
один проходG1= exp (χус– χп)Lи, как негативное следствие, падает гене-рируемая лазером мощность. Естественно, что применение метода прорежи-ванияспектра планируетсяеще наэтапе разработкилазера.
Методы уменьшения зоны генерации.Сокращать∆νгенможно за счетпонижения температуры активной среды и уменьшения превышения усиле-ниянадпотерями.
Температурное сжатие зоны генерации. Метод основан на темпе-ратурной зависимостиширины контура усиления АС ∆νАС=f(T). При по-нижениитемпературысокращается∆νАС,стремяськестественнойширине
линии ∆νе(рис. 5.4,а), и, соответственно, уменьшаетсяширина зоны генера-циипрификсированном уровнепотерь(рис.5.4,б).
ΔνАС Усиление
ΔνАС
Δνе
T1 Т2 Т
νq –1νq νq +1
а б
Рис.5.4.Температурноесжатие:а–контураусиления;б–зоныгенерации
При пониженной температуреТ1<Т2усиление для продольных мод синдексами (q– 1) и(q+ 1) окажется меньше уровня потерь и они будут по-давлены.Температурныйметодселекциивнешнепрост,нодаетэффектлишь
при охлаждении АС до криогенных значенийТ1, что крайне затрудняет тех-ническуюреализацию.
Сжатиезоныгенерацииприсниженииусиления.Уменьшаяусиле-
ниеАС за счет снижения мощности накачкидо значенияРнак2<Рнак1принеизменном уровне потерь УП1, можно сократить зону генерациии пода-витьнежелательныемоды.Вслучае,изображенномнарис.5.5,усиление
превышает потери только на частоте νq,и в спектре лазера будет присут-ствоватьодна продольная мода.
Усиление
νq–2νq–1 νq νq+1 νq+2 ν
Рис.5.5.Сжатиезоныгенерации приснижениипревышения усилениянадпотерями
Прииспользованииданногометодаселекцииприходитсямиритьсясозначительнымуменьшениемвыходноймощностиизлучениялазера.
Сжатиезоныгенерацииприувеличенииуровняпотерь.Повыше-ниеуровняпотерьотзначенияУП1доУП2(рис.5.5)принеизменноймощ-
ности накачкиРнак1сопровождается значительным сокращением ширинызоны генерации. В результате подавления слабых мод, для которых коэффи-циентпревышенияменьшеединицы,лазерперейдетводночастотныйрежим
генерации на частоте νq. Принудительный рост потерь сокращает число мод,для которых выполняется условие генерации, и тем самым увеличивает сте-пень монохроматичностиизлучения. Но, как и в предыдущем случае, вслед-ствие уменьшения превышения падает и уровень мощности лазерного излу-чения. Возрастание потерь при фиксированном уровне потребляемой мощно-сти дополнительно приведет к уменьшениюКПД лазера. Рассматриваемыйметод является экономически невыгодным, но используется на практике всилу простоты реализации, например, путем разъюстировки зеркал оптиче-ского резонатора.
Методы внутрирезонаторной селекции.Существуетнесколько ме-тодов получения одночастотного режима, базирующихся на использованиивнутрирезонаторных селективныхэлементов.
Метод селективно поглощающей ячейки. Поглощающая ячейка свеществом, имеющим узкую линию пропускания в пределах контура усиле-ния используемой АС, помещается в ОР. При этом длину ОР необходимоподстроить так, чтобы одна из частот генерации лазера совпадала с линиейпропускания ячейки. Уровень потерь для селектируемой моды окажется ми-нимальным,чтообеспечитодночастотныйрежимгенерации.
Метод поглощающей пленки. Данный метод предполагает исполь-зование тонкой (меньшей, чем λ/100) поглощающей пленки, устанавливае-мой в узел селектируемой моды (рис. 5.6). Поскольку в узле напряженностьэлектрического поля волны равна нулю, потери энергии для выбранной модыбудут минимальны. Для остальных продольных мод, фаза которых в плоско-сти пленки отличается от нуля, условие генерации выполняться не будет из-зарезкоговозрастанияуровняпотерь.Вэтомметодезасчетнарушенияусловий генерации для нежелательных продольных мод возникает перекачкадополнительнойэнергии вселектируемуюмоду.
Рис.5.6.Селекцияспомощьюметаллическойпленки
Техническая реализация методавесьма сложна и требует использова-ния системы обратной связи, основанной на регулировании длины оптиче-скогорезонатора.
Метод внутрирезонаторного интерферометра. Суть способа се-лекции заключается в использовании короткого пассивного оптического ре-зонатора – интерферометра Фабри–Перо (ИФП). Простейшим вариантом та-кого ИФП является плоскопараллельная пластина, помещаемая в ОР лазера.ЧастотныйспектрИФПможетбытьрассчитанпо(5.2),(5.3)заменойдлиныLОР лазера на длину интерферометраLИФП. ПосколькуLИФП<<L, то спектрпропусканияинтерферометра является существенно прореженным по срав-нениюсоспектромизлучениялазера,илегкообеспечиваетсяусловие
∆νИФП> ∆νген. ИФП обладает конечной прозрачностью только для тех частотизлучения лазера, которые совпадают с его собственными резонансными ча-стотами. Если одна из резонансных частот (полос пропускания) ИФП попа-дает в зону генерации и совпадает с какой-либо продольной модой лазера, тореализуется одночастотный режим работы. Иными словами, внутрирезона-торный ИФП представляет собой узкополосный оптический фильтр, которыйиз всего набора генерируемых продольных мод лазера вырезает одну. В об-щем случае интерферометры строятся на основе двух параллельных отража-ющихповерхностей,например,зеркалсконечнымпропусканием.
Селекция с помощью сложных резонаторов.Идея методов данноготипа базируется на создании с помощью дополнительных зеркалкороткихоптических резонаторов,сопряженных сосновным резонаторомлазера. Каки в случае использования внутрирезонаторного ИФП, короткие ОР имеютпрореженныеспектры,когдасоседниемодыразнесенынаотносительнобольшие спектральные интервалы. В таком лазере, состоящем из трех резо-нансных систем: активной среды, основного и вспомогательного оптическихрезонаторов,генерациявозможнатольконаобщейчастоте(рис.5.7).
Усиление
Усиление
νq –2 νq –1 νq νq+1 νq +2 ν
ν'q–
1
P
ν'q ν'q+1 ν
νq ν
Рис.5.7.Одночастотныйрежимвсложномрезонаторе
Прецизионной подстройкой длины резонатора можно добиться совпа-дения одной из мод вспомогательного ОР с селектируемойпродольной мо-дой лазера, располагающейся в зоне генерации, и создать условия для воз-никновенияодночастотногорежима генерации.
Метод трехзеркального резонатора.Три зеркала образуют два оп-тических резонатора: основной ОР имеет длинуLи включает зеркала З1и З2(рис.5.8).Межмодовыйинтервалосновного ОР составляет∆νq=c/2L.
Активнаясреда
З1 З2
Рис.5.8.Трехзеркальныйрезонатор
РезонансныечастотывспомогательногокороткогоОР,имеющегодли-нуL'<<LиобразованногозеркаламиЗ2иЗ3,сдвинутыотносительнодруг
друганавеличину
'
=c/2L'>>Δq(рис.5.7).Лазернаягенерацияпроисхо-
q
q
дитнаобщейчастоте=q='.Метод резонатора Фокса–Смита.Общая идея метода совпадает спредыдущим пунктом, но техническая реализация одночастотного режимасущественно разнится (рис. 5.9). Отличия заключаются в использовании све-тоделителя (СД), помещенного внутрь основного резонатора, и измененииходалучейвовспомогательномОР.Направленияраспространениялучейв
основном резонаторе(З1, З2) сохраняются. В короткомрезонаторе (З2,З3)лучи изламываютсяподпрямымугломс помощьюСД.
З3
45°
СД
З1 Потери З2
Рис.5.9.Резонатор Фокса–Смита
Существуют и внерезонаторные методы селекции, основанные на се-лекции выбранной продольной моды из числа уже сформированных спек-тральных составляющих лазерного излучения. С точки зрения КПД внерезо-наторные методы проигрывают внутрирезонаторным, так как в них произво-дится селекция выходного многочастотного излучения лазера, покинувшегооптический резонатор. При реализации же внутрирезонаторных методов всяэнергия возбуждения АС направляется на формирование одной единственноймоды. Чаще всего внерезонаторная селекция осуществляется с помощью ин-терферометраФабри–Перо.
ЕслисеткурезонансныхчастотИФПсмещатьвозвратно-поступательно за счет периодического изменения его длины, то можно осу-ществить контроль спектрального состава излучения лазера и его отображе-ние на экране осциллографа или монитора. Такой ИФП называется сканиру-ющиминтерферометром.