- •Средства автоматизированного проектирования реабилитационной техники. Список экзаменационных вопросов.
- •1. Автоматизация каких процедур проектирования возможна с помощью сапр? Классификация сапр по сфере применения.
- •2. Возможности сапр в области разработки биотехнических (радиоэлектронных систем).
- •Системы автоматизированного проектирования и конструирования (сапр) медицинской техники, определения, назначение, применение, история и тенденции развития. Обзор сапр.
- •Основные этапы проектирования: от технического задания до конструкторской документации (место и роль сапр).
- •5. Сквозное проектирование. Иерархический принцип проектирования в сапр.
- •6. Роль моделирования при проектировании медицинской техники. Моделирование электрических, тепловых, механических, гидро- и аэродинамических процессов.
- •7. Виды анализа электронных принципиальных схем: временной, частотный, по постоянному току, по переменному току, тепловой, Монте-Карло и др.
- •8. Программа схемотехнического моделирования MicroCap, её версии, возможности и основные особенности. Виды анализа.
- •Во временной области (Transient)
- •В частотной области (ac)
- •Анализ статических характеристик (dc)
- •9. Анализ по постоянному току в MicroCap на примере двухкаскадного усилителя на биполярных транзиторах. Задание рабочей точки.
- •10. Анализ во временной области в MicroCap на примере двухкаскадного усилителя на биполярных транзисторах. Задание коэффициента усиления.
- •11. Анализ нелинейных искажений в MicroCap на примере двухкаскадного усилителя на биполярных транзисторах. Нелинейность характеристик электронных элементов.
- •12. Тепловой анализ в MicroCap на примере двухкаскадного усилителя на биполярных транзисторах. Температурные зависимости электронных элементов.
- •13. Частотный анализ в MicroCap на примере фильтров первого и второго порядка. Лачх, фчх, групповая задержка.
- •14. Анализ Монте-Карло в MicroCap на примере режекторного фильтра. Разброс параметров электронных элементов.
- •15. Оптимизация параметров в MicroCap на примере полосового фильтра. Оптимум функций.
- •16. Основные этапы конструирования печатных плат с использованием сапр.
- •17. Виды корпусов радиоэлектронных элементов. Основные параметры моделей радиоэлектронных элементов. Особенности разработки моделей конструктивных элементов в сапр.
- •1. Простые корпуса для пассивных элементов:
- •2. Сложные корпуса для многовыводных полупроводниковых приборов и интегральных микросхем:
- •3. Различные нестандартные корпуса для компонентов неправильной формы (индуктивности, переключатели).
- •18. Основы виды и этапы работы в сапр Circuit Maker.
- •1) Разработка схемотехнического файла
- •2) Разводка печатной платы
- •19. Создания библиотек корпусов и посадочных мест в сапр Circuit Maker.
- •20. Подготовка принципиальной схемы для разработки печатной платы. Преобразование принципиальной схемы в плату в сапр Circuit Maker.
- •21. Расположение электронных компонентов на печатной плате. Основные принципы и правила.
- •22. Трассировка печатных плат, основные принципы и правила. Подготовка к трассировке. Автоматическая и ручная трассировка в сапр Circuit Maker. Работа со слоями печатной платы.
- •1) Формат dxf
- •2) Создание Gerber файлов
- •3) Создание файлов в формате n/c drill
- •25. Подготовка технической документации. Основные правила и рекомендации. Гост.
- •1. Классификация сапр по целевому назначению.
- •Математическое обеспечение сапр.
- •3. Программное обеспечение сапр
- •Сапр схемотехнического моделирования.
- •5. Процедура моделирования электронных схем в программе pspice.
- •6. Функциональные возможности среды pSpice.
- •7. Модели электронных компонентов.
- •8. Сапр схемотехнического моделирования MicroCap.
- •9. Программы автоматической трассировки печатных плат.
- •10. Применение сапр при проектировании и производстве протезно-ортопедических изделий.
- •11. Технологии быстрого прототипирования.
- •12. Печать методом послойного наплавления.
- •Рабочая платформа
- •Управление
- •13. Пакеты программ для проектирования печатных плат радиоэлектронных средств.
- •14. Пакеты программ для твердотельного параметрического моделирования.
- •15. Опишите и приведите примеры специализированных сапр.
5. Процедура моделирования электронных схем в программе pspice.
PSpice (Personal Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) – программа симуляции аналоговой и цифровой логики, описанной на языке SPICE. Разработана компанией MicroSim и используется в автоматизации проектирования электронных приборов.
Современные версии поддерживают множество улучшений: автоматическая оптимизация схемы, шифрование, редактор моделей, поддержка параметризованных моделей, несколько внутренних алгоритмов решения ДУ, перезапуск с контрольных точек.
Процедура моделирования электронных схем:
1) Создание принципиальной схемы;
2) Моделирование;
3) Представление результатов моделирования в удобной для пользователя форме.
Для создания графического изображения принципиальных схем служат редакторы Schematics и Capture.
Перед началом моделирования проверяется правильность соединения элементов схемы. Программа может выявить только простейшие ошибки, такие как «висящий» узел, к которому подключен только один элемент, или отсутствие заземления.
Для представления результатов расчетов в удобной для пользователя форме служит графический постпроцессор Probe. Он выводит на экран графики результатов моделирования и выполняет их математическую обработку.
Алгоритм функционирования SPICE в виде блок-схемы, иллюстрирующей функционирование и связь отдельных модулей программы, показан на рисунке
6. Функциональные возможности среды pSpice.
Возможны следующие виды анализа:
1) Bias – расчет рабочей точки нелинейной резистивной цепи постоянного тока (режим большого сигнала);
2) DC – анализ резистивных цепей постоянного тока (расчет узловых напряжений, токов и напряжений ветвей);
3) AC – расчет частотных характеристик линейных цепей (режим малого сигнала, анализируется линейная цепь);
4) Transient – расчет переходных процессов в нелинейных цепях при действии сигналов произвольной формы;
5) Fourier Analysis – анализ спектров сигналов, полученных в режиме Transient;
6) Parametric Sweep – режим вариации параметров цепи;
7) Sensitivity – расчет характеристик чувствительности линейных цепей к вариациям параметров компонентов в режимах постоянного и переменного тока (метод наихудшего случая);
8) Noise Analysis – анализ спектральной плотности мощности шума на входе и выходе схемы;
9) Вероятностный анализ разброса параметров методом Монте-Карло.
7. Модели электронных компонентов.
Электронные компоненты в программах компьютерного моделирования представляются в виде схем замещения или моделей. Достоверность результатов моделирования зависит от того, насколько точно модель учитывает характеристики реального электронного прибора. Разумеется, нельзя с помощью программы компьютерного моделирования исследовать результат действия какого-либо эффекта, присущего электронному прибору, если этот эффект не учитывается в его модели.
Micro-Cap имеет встроенные модели для большинства электронных компонентов: диодов, биполярных транзисторов, полевых транзисторов с управляющим p-n-переходом, МОП-транзисторов, линий передачи с распределенными параметрами, связанных индуктивных катушек и т.д. Аналоговые интегральные схемы, такие как операционные усилители или компараторы, представляются подсхемами, которые называют макромоделями.
Например, модель резистора:
Сопротивление резистора может быть представлено числом или выражением. Выражение может включать в себя одну или несколько переменных, являющихся функциями времени. С другой стороны, переменные выражения могут быть зависимыми от локальных параметров схемы, например, от напряжения в каком-либо узле электронной схемы. Задание сопротивления резистора посредством выражения (второй вариант) используется для моделирования во временной области, например, при исследовании переходных процессов.
Из-за некоторых ограничений Micro-Cap исследование моделей резисторов будет производиться за счет добавления к идеальному резистору дополнительных компонентов – последовательной индуктивности и параллельной емкости.
