Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

нанка3туннель (1)

.pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
18.01.2022
Размер:
651.73 Кб
Скачать

Министерство науки и высшего образования Российской Федерации Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования

ТОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ (ТУСУР)

Кафедра промышленной электроники (ПрЭ)

Лабораторная работа №3

«Исследование туннельного эффекта»

по дисциплине «Наноэлектроника»

Выполнили: студенты группы №368-1

Бубнов В.Р.

Жанаева С.Б. Чевгунов И.В.

 

 

 

 

 

 

Проверил:

 

 

 

 

Профессор каф. ПрЭ,

 

 

 

 

 

Сахаров Ю.В.

« _»

 

 

2020 г.

 

 

 

 

 

 

 

Томск 2020

Цель работы: изучение туннельного эффекта, исследование его вольтамперной характеристики и построение энергетической диаграммы p-n– перехода.

Экспериментальная установка

Рисунок 1 – Схема установки для снятия вольтамперной характеристики туннельного диода.

Туннельный диод (ТД) подключен в прямом направлении к регулируемому источнику постоянного тока (ИПТ) с низким внутренним сопротивлением. Сопротивление источника питания должно быть меньше отрицательного сопротивления диода на падающем участке вольтамперной характеристики. Ток диода контролируется цифровым вольтметром (V1), включенным в выходную цепь источника питания, а напряжение на диоде измеряется цифровым вольтметром (V2), включенным параллельно диоду.

Основные расчетные формулы

Положение уровня Ферми относительно зоны проводимости:

Положение максимума функции распределения электронов и дырок n(Е), p(Е) относительно уровня Ферми:

Концентрация носителей в зонах вырожденного р-n-перехода:

Вероятность туннелирования электронов через потенциальный барьер в туннельном диоде:

А) треугольной формы

Б) прямоугольной формы

Высота барьера:

Энергия электрона:

Величина электрического поля:

Результаты измерений

V, мВ

I, мА

V, мВ

I, мА

0,39

0,24

190,1

10,34

7,5

0,47

244,7

8,3

11,1

0,64

306,2

6,11

16,1

0,99

318,5

6,12

18,2

1,18

325,3

6,27

21,5

1,44

352,8

5,99

31,5

1,96

372,1

5,53

32,4

1,93

386,5

5,58

44,5

2,63

429

5,9

46,2

3

504

4,77

50,9

3,37

632

0,69

57,8

3,6

687

0,84

56,6

4

753

1,2

61,2

4,6

777

1,38

61

4,99

817

1,73

70,2

5,4

858

2,23

70,2

5,74

891

2,7

71,78

6,1

930

2,34

79,5

6,4

964

4,01

89,5

6,3

1000

4,76

108

7,3

1031

5,54

136,3

9,1

1065

6,31

164,7

10,1

1087

7,33

155

9,07

1114

8,53

163,4

9,8

1138

7,57

168,2

9,97

1153

8,82

174,2

10,11

1168

9,9

187,5

10,07

1196

11,6

Рисунок 2 – Зависимость тока от напряжения для туннельного диода.

Рисунок 3 – Энергетическая диаграмма p-n перехода.

Ширина запрещенной зоны германия при комнатной температуре Eg=0.67

эВ.

Ширина p-n-перехода туннельного диода l=2 нм.

Характерные точки вольтамперной характеристики туннельного диода:

Энергетическое расстояние между уровнем Ферми и энергией, соответствующей максимуму функции распределения электронов:

Энергетическое расстояние между уровнем Ферми и дном зоны проводимости:

Концентрация носителей в зонах вырожденного p-n-перехода:

Вероятность туннелирования электронов через потенциальный барьер в туннельном диоде:

А) треугольной формы

Б) прямоугольной формы

Где

– величина электрического поля.

Заключение

В лабораторной работе мы изучили туннельный эффект и вольтамперную характеристику туннельного диода. Вольтамперная характеристика реального диода имеет вид неравномерного графика, но соответствует ожидаемым результатам в целом. Коэффициенты прохождения, определяющие вероятность туннелирования меньше нормальных значений в несколько раз из-за малой величины высоты барьера и энергии частицы. Положение максимума функции распределения электронов и дырок n(Е), p(Е) относительно уровня Ферми отличается от действительного на сотые доли.

Соседние файлы в предмете Наноэлектроника