Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

2072

.pdf
Скачиваний:
21
Добавлен:
07.01.2021
Размер:
2.9 Mб
Скачать

рок), что приводит к увеличению электропроводности ПП. У металлов это явление незаметно, так как они обладают огромной электропроводностью из-за высокой концетрации свободных электронов (10 22 см 3). Изменение электропроводности металлов под действием света незначительно.

Внекоторых ПП приборах за счет внутреннего фотоэффекта возникает ЭДС, которую принято называть фотоЭДС. Эти приборы используют как источники электрического тока.

Вопределенных условиях при рекомбинации электронов и дырок в ПП возникают фотоны. Такие приборы могут работать как источники светового излучения. Их называют светодиодами.

При совместном использовании светодиодных источников света и фотоприемников (фотодиодов, фототранзисторов, фототиристоров) получают приборы, называемые оптронами. Их часто выполняют в виде интегральных микросхем.

Фоторезисторы

Фоторезистор – это ПП прибор, сопротивление которого изменяется под действием света (рис. 8.3).

2

Ф3

Ф

BL1 1

a

R1

+

Е

-

б

Uвых

Рис. 8.3. Устройство (а) и схема включения фоторезистора (б): 1 – диэлектрическая пластина; 2 – тонкий слой фоточувствительного ПП; 3 – контакты

Если световой поток Ф 0, то фоторезистор обладает довольно боль-

шим (темновым) сопротивлением RT 104 107 Ом. Под действием светового облучения с достаточной энергией фотонов в ПП образуются подвижные «электрон-дырки», а сопротивление прибора уменьшается. Фоторезисторы обладают линейной вольт-амперной характеристикой (рис. 8.4). Кратность изменения сопротивления фоторезисторов под действием света достигает 500.

Основные недостатки: значительная зависимость сопротивления от температуры и сравнительно большая инерционность из-за медленной ре-

101

I

Ф2 Ф1>Ф2>Ф3>0

Ф1

Ф3 Ф=0

0

U

комбинации электронов и дырок после прекращения облучения. Поэтому фоторезисторы используют там, где интенсивность светового излучения может меняться с частотой не выше нескольких сотен герц.

В чистых ПП энергия фотона, поглощаемая валентным электроном, должна быть больше ширины запрещенной зоны Wз . В примес-

Рис. 8.4. Вольт-амперная характерис-

ных ПП для ионизации атомов при-

тика фоторезистора

меси необходима меньшая энергия.

 

Поэтому для изготовления фоторе-

зисторов используют в основном примесные ПП: сернистый кадмий, сернистый свинец, селенистый кадмий, селенистый теллур и др.

Фотодиоды

Фотодиодом (ФД) называют ПП диод, обратный ток которого изменяется под воздействием света. Он имеет двухслойную структуру, содержащую один pn-переход (рис. 8.5) и изготовленную на основе германия, кремния, арсенида галлия и др. ФД получили разнообразное применение в измерительной аппаратуре, вычислительной технике, автоматике. Различают два основных режима работы ФД: фотодиодный (с внешним источником питания) и фотогальванический, или фотогенераторный (без внешнего источника питания).

n

Al

 

 

А

BL1

 

p

 

 

 

Ф

 

К

б

а

Рис. 8.5. Фотодиод: а – устройство; б – условное графическое и позиционное обозначение в схемах

Работа в фотодиодном режиме

При обратном смещении pn-перехода через неосвещенный ФД протекает небольшой обратный ток, называемый темновым током IT . Этот ток

102

создается движением неосновных носителей, преодолевающих потенциальный барьер при данной температуре. Под воздействием света в n-области ПП образуются пары «электрон – дырка», что приводит к увеличению обратного тока (рис. 8.6).

Ф

BL1

 

p_n-переход

 

_

Iф

 

 

 

 

 

 

 

 

-

Е

 

 

 

 

 

 

 

 

-

+

Uобр RH

uвых

_

p

-

 

 

 

 

-

 

 

 

Е

 

-

 

 

 

+

-

-

 

 

 

-

 

а

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

2

+

 

Iф

+

 

+ ++

n

uвых

+ + +

 

 

+

 

 

Uобр

RH

б

Рис. 8.6. Работа фотодиода в фотодиодном режиме: а – схема включения ФД;

б– перемещение носителей зарядов в ФД (1 – неосновные носители, 2 – образование пар «электрон – дырка» под действием света)

Семейство вольт-амперных характеристик ФД IФ f Uобр при

Ф const показано на рис. 8.6. При Ф 0 (затемненный режим) характеристика имеет такой же вид, как обратная ветвь ВАХ обычного диода. С ростом Ф растет обратный ток через ФД IФ .

Величина IФ слабо зависит от Uобр , так как количество носителей за-

рядов, проходящих через pn-переход в обратном направлении, определяется в основном величиной светового потока Ф. Однако увеличение обратного напряжения может привести к пробою фотодиода.

Световая характеристика ФД – это зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении на ФД (см. рис. 8.6).

IФ f Ф при Uобр const.

Темновой ток IT весьма мал, особенно у кремниевых фотодиодов. Световые характеристики ФД практически линейны, причем их наклон мало зависит от приложенного напряжения Uобр.

Спектральная характеристика показывает зависимость спектральной чувствительности S от длины волны светового излучения (рис. 8.7). Кремниевый ФД имеет максимум чувствительности в области красного и

103

инфракрасного излучения. Германиевые ФД чувствительны к более широкому спектру световых волн и могут полностью перекрывать по чувствительности видимую и инфракрасную области спектра.

Uобр, В 8

4 2

0

Iф Uобр=15 В

Ф=0

 

 

 

 

Ф1

 

40

Uобр=1 В

 

 

 

Ф2>Ф1

Ф2 60

Iт

Ф

Iф, мкА 0

а

б

Sl/Sl max

1 Si

Ge 0,75

0,5

0,25

l

0 0,4 0,8 1,2 мкм

в

Рис. 8.7. Характеристики фотодиода: а – семейство вольт-амперных характеристик в фотодиодном режиме; б – световые характеристики; в – спектральные характеристики германиевого и кремниевого ФД

Работа фотодиода в фотогальваническом режиме

При отсутствии света и разомкнутой цепи нагрузки на pn-переходе фотодиода создается потенциальный барьер (рис. 8.8, а). Под действием света в n-области генерируются пары «электрон – дырка». Двигаясь хаотически во всех направлениях, часть образовавшихся дырок подходит к переходу, где их захватывает поле потенциального барьера и перебрасывает в p-область, то есть идет экстракция дырок. Электроны остаются в n-области, куда их отталкивает поле барьера. Таким образом, в p-области происходит накопление дырок, в n-области – электронов, а на зажимах ФД возникает фотоЭДС EФ , величина которой нелинейно зависит от светово-

го потока Ф (рис. 8.8, б).

104

Потенциальный

Ф

Генерация пар

 

 

 

барьер р

n -

 

 

 

 

"электрон

дырка"

 

 

 

перехода

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-

 

 

Ф

_ BL1

 

 

 

-

 

 

 

RH

 

 

-

 

 

 

 

Uф

+

 

-

 

 

 

 

Iф

 

 

-

 

 

 

+

 

 

p

-

n

 

 

 

 

Iф

 

-

 

 

 

 

в

 

 

Uф

 

 

 

 

 

 

 

RH

 

 

 

 

 

 

 

а

мА, Iф

Т=Т1

 

 

 

 

 

 

 

 

20

Линия предельного значения

 

 

 

 

 

Еф2,Т2

 

 

фотоЭДС

 

 

10

(контактной разности потенциалов)

В

 

Еф1,Т2

 

 

Uф

 

0

 

 

-60

-30

 

1,0

1,5 В

 

 

 

Еф2,Т1

 

 

Т, Ф=0

 

 

Еф1,Т1

 

 

T2, Ф=0

 

-10

Нагрузочная линия

Т1, Ф1

 

 

 

 

фотодиода

T2, Ф1

 

 

Iкз при T=T1,Ф=Ф2

Т1, Ф2

 

 

Iкз приT=T2,Ф=Ф2

T2, Ф2

 

-20

Т >Т

1

 

 

2

 

 

 

мкА

Ф2>Ф1

Iкз при T=T2, Ф=Ф1

Iкз при T=T1, Ф=Ф1

б

Рис. 8.8. Работа фотодиода в фотогальваническом режиме: а – разделение возбужденных светом носителей заряда под действием поля рп-перехода; б – вольт-амперная характеристика фотодиода при различной температуре T1 и T2 ; в – схема включения фотодиода; в – нагрузочная характеристика ФД (Iкз1, Iкз2 , Iкз3, ЕФ1, ЕФ2 , ЕФ3

– токи короткого замыкания и фотоЭДС при световых потоках Ф1, Ф2 , Ф3 )

При подключении нагрузки в цепи ФД потечет ток IФ , то есть происходит непосредственное преобразование световой энергии в электрическую. При коротком замыкании ФД, когда сопротивление нагрузки Rн 0, ток ФД Iкз линейно растет с ростом Ф.

105

Главное достоинство ФД – высокое быстродействие. Они могут работать при частотах изменения светового потока до сотен мегагерц. ФотоЭДС EФ имеет величину около нескольких долей вольта, а величина тока

– сотни микроампер на люмен.

Кремниевые фотодиоды, фотоЭДС которых достигает 0,5 В, используют в качестве преобразователей солнечной энергии в электрическую. Применяя последовательно-параллельное соединение ФД, создают солнечные батареи, КПД которых 20 %, а мощность в настоящее время достигает нескольких киловатт. Солнечные батареи – основные источники энергии на спутниках Земли, космических кораблях, автоматических метеостанциях. Область их применения непрерывно расширяется.

На рис. 8.8, в показано семейство ВАХ ФД и изображена нагрузочная линия ФД при работе в фотогальваническом режиме. Для передачи максимальной мощности в нагрузку необходимо выполнять условие Rн Ri ФД ,

где Ri ФД EФ Iкз – внутреннее сопротивление ФД в фотогальваническом

режиме.

Вольт-амперная характеристика фотодиода приближенно может быть определена следующим выражением:

 

 

eU

 

 

 

 

I I

ekT

1

I

L

,

 

S

 

 

 

 

где I – ток во внешней цепи; IS – ток насыщения через неосвещенный рп-переход; e – заряд электрона; U – внешняя разность потенциалов на рп-переходе; k – постоянная Больцмана; T – абсолютная температура; IL – ток, созданный возбужденными светом носителями.

На рис. 8.8 показано семейство кривых, отражающих зависимость тока от напряжения. При отсутствии освещения IL 0 вольт-амперная характеристика аналогично обычному диоду проходит через начало координат. Кривые, показанные на рисунке, соответствуют определенным значениям освещенности, а следовательно, IL. Точки пересечения каждой вольтамперной характеристики с осью токов соответствуют режиму короткого замыкания rн 0 , а точки пересечения с осью напряжений – режиму холостого хода rн . Приняв I 0, можно найти напряжение холостого хода:

 

 

kT

 

IL

 

Uхх

 

 

 

 

 

e

ln

IS

1 .

 

 

 

 

106

Мощность Р, выделяющаяся на нагрузке вентильного фотоэлемента, определяется произведением IнUн . Наибольшая мощность определяется на нагрузке при некотором ее оптимальном значении, которое соответствует наибольшему КПД, достигающем 10 %. Около 30 % энергии падающего светового потока теряется бесполезно в результате отражения падающего излучения от поверхности преобразователя и поглощается в полупроводнике, не вызывая образования пар «электрон – дырка». Остальная часть энергии светового потока превращается в потенциальную энергию носителей тока. При движении электронов и дырок внутри преобразователя происходят потери энергии за счет рекомбинации созданных пар, а также за счет утечки фотоэлектронов и фотодырок через поверхностное сопротивление. В результате всех потерь только небольшая часть энергии излучения идет на создание ЭДС, которая вызывает ток при подключении к преобразователю внешней нагрузки.

Фототранзисторы

Фототранзистор (ФТ) – это фотоэлектрический прибор, имеющий структуру транзистора, ток которого зависит от светового потока. ФТ устроен подобно биполярному транзистору и содержит области эмиттера, базы, коллектора, причем вывод от базы может отсутствовать. Конструкция, условное графическое и позиционное обозначение, схемы включения ФТ показаны на рис. 8.9, ФТ может иметь как прп-, так и рпр-структуру. Кристалл ПП помещают в корпус, имеющий прозрачное окно для облучения светом.

 

n

 

 

Ф

IК

IК

 

 

 

R

Э

p p

 

Э

VT1 К

Rн

Ф

К

Ф

 

 

 

 

 

VT1 EК

Б

 

 

 

Б

VT1 EК

 

 

 

 

Rб

 

а

 

 

б

 

Eсм

 

 

 

 

_ +

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

г

Рис. 8.9. Фототранзистор: а – структура ФТ; б – условное графическое обозначение ФТ типа рпр; в – схема включения ФТ с общим эмиттером и свободной базой; г – схема включения ФТ с общим эмиттером и источником смещения в базовой цепи

Рассмотрим принцип действия ФТ рпр-типа в схеме со свободной базой. В части «база – коллектор» ФТ можно рассматривать как фотодиод,

107

а вместе с эмиттером он получает дополнительные свойства, значительно увеличивающие его чувствительность к световому потоку.

При Ф 0 протекает очень малый ток коллектора. Это обусловлено тем, что лишь небольшое число дырок преодолевает барьер перехода «эмиттер – база», частично доходит до перехода «база – коллектор» и за счет экстракции попадает в область коллектора, образуя темновой ток IT (рис. 8.10). Этот ток тем больше, чем выше температура. Другие дырки накапливаются в области базы, образуя объемный положительный заряд. Это увеличивает потенциальный барьер эмиттерного перехода и препятствует дальнейшему росту темнового тока через транзистор.

Пара "электрон - дырка"

Ф

 

I'к

Iф

 

 

+

 

- + -

 

+

 

 

- +

+

+

Э

 

+

- +

+

+

- +

+

+

 

+

- +

+

 

 

- +

-

+

 

 

+ - +

 

+

 

+

- +

 

+

 

+ p

- +

- n +

 

Iт

 

 

Б

 

 

 

Eк

RH

 

 

+

 

 

 

 

 

 

 

 

++

Iк=I'к+Iф+Iт

+

K

+

I'к

-p Iф

Iт

Рис. 8.10. Физические процессы в фототранзисторе

При облучении базовой области в ней за счет световой энергии разрушаются ковалентные связи и образуются электронно-дырочные пары. Дырки за счет экстракции втягиваются полем коллекторного перехода, создавая ток IФ , как в фотодиоде. Однако этим процесс не ограничивается. Электроны, освобожденные фотонами света из ковалентных связей, накапливаются в базе n-типа около эмиттерного перехода и понижают его потенциальный барьер. В результате увеличивается количество дырок, инжектируемых из эмиттера в базу. Их экстракция из базы в коллектор вызывает дополнительный ток I'K , который много больше тока IФ . В схеме с общим эмиттером общий ток коллектора фототранзистора со свободной базой:

108

IK I'K IФ IT IФ IФ IT IФ 1 IT ,

где – коэффициент усиления по току.

Вольт-амперная характеристика ФТ – это зависимость тока коллек-

тора IK от напряжения Uкэ при Ф const (рис. 8.11). Световые характе-

ристики ФТ

IK f Ф при Uкэ const

линейны. Спектральная чувствительность ФТ

S IK Ф при const

зависит от материала и примесей в ПП. По чувствительности ФТ перекрывают видимую и инфракрасную области спектра. Граничная частота ФТ составляет около 105 Гц.

IК

Ф4>Ф3>Ф2>Ф1

Ф4

 

 

Ф3

 

Ф2

 

Ф1

0

Ф=0 UКЭ

IТ - темновой ток

 

Рис. 8.11. Вольт-амперная характеристика фототранзистора

Фототиристоры

Фототиристор – ПП прибор, имеющий четырехслойную структуру с выводами (рис. 8.12). Фототиристор, как и обычный тиристор, имеет структуру рпрп и три pn-перехода. При указанной полярности источника постоянного напряжения Ea, подключаемого к тиристору через резистор нагрузки, два крайних перехода (П1, П3) оказываются под прямым напряжением, а средний (П2) – под обратным.

Величина рабочего напряжения Uак выбирается так, чтобы неосвещенный тиристор был закрыт. Включение тиристора осуществляется световым потоком Ф.

Фототиристор устроен так, что свет падает на внутренние слои p2 и n1, в которых за счет энергии фотонов происходит образование пар «электрон – дырка». Дырки из области n1 переходят за счет экстракции в область p2 , а электроны из области p2 переходят в область n1.

При этом с ростом Ф возрастает ток во внешней цепи.

При определенной величине светового потока тиристор включается. Вольт-амперные характеристики фототиристора I f Uак при Ф const аналогичны ВАХ обычного тиристора (рис. 8.13), но каждая из них соответствует определенной величине светового потока Ф.

109

 

 

 

Ф

 

 

+

p2

 

+

+

 

 

А

 

+

 

 

+++

 

p1

n1

+

 

 

+

П3

UАК

П1

П2

 

 

 

RH

+

EА

 

 

а

n2

К

Ф

VS1

б

Рис. 8.12. Фототиристор: а – структура и схема включения; б – условное графическое и позиционное обозначение в схемах

I Ф321

Ф3 Ф2 Ф1 Ф=0

UАК

0

Рис. 8.13. Семейство вольт- -амперных характеристик

В закрытом состоянии сопротивление фототиристора составляет 106 108 Ом, в открытом – десятые доли Ома.

Фототиристоры широко используют

всиловой преобразовательной технике

впаре со светоизлучающими диодами. Это позволяет осуществлять гальваническую развязку высоковольтной цепи тиристора и низковольтной цепи управления.

Светоизлучающие диоды

Светоизлучающий диод или светодиод (СД) – ПП прибор с одним pn-

переходом, в котором осуществляется непосредственное преобразование электрической энергии в энергию светового излучения. Принцип действия СД основан на излучении света pn-переходом некоторых полупроводников. Излучение возникает в связи с рекомбинацией электронов и дырок, инжектируемых через pn-переход при прямом напряжении на диоде. СД имеет двухслойную структуру (рис. 8.14). При отсутствии напряжения на pn-переходе так же, как в обычном диоде, образуется потенциальный барьер за счет диффузии подвижных носителей зарядов.

В чистых и примесных ПП наряду с генерацией электронно-дырочных пар происходит и обратный процесс – рекомбинация электронов и дырок с

110

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]