БЭМЗ полищук доки / 2 / Наименование проверяемых КИ
.docНаименование проверяемых КИ |
Номер ТУ или ГОСТ |
Контролируемые параметры, пункты требований ТУ или ГОСТ |
Проверочная аппаратура |
Объём проверки |
Методика проверки |
Гарантийный срок |
Примечание |
||||
Счётчик СЭО 6005 |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Конденсатор керамический ЧИП (корпус 0805) |
|
|
Е7-15
|
1% |
Визуально Измерить величину емкости |
25 лет |
|
||||
Конденсатор керамический ЧИП (корпус 1206) |
|
|
|||||||||
Конденсатор танталовый ЧИП |
|
|
|||||||||
Конденсатор К73-17-0,033мкФ-630В±10 % ОЖО.461.104 ТУ |
|
|
|||||||||
Конденсаторы электролитические |
|
|
|||||||||
Конденсатор К15-5-Н20-6,3кВ-150пФ±10 % ОЖО.460.147 ТУ |
|
|
|||||||||
Керамический ЧИП 0,1мкФ-X7R-10%-0805 |
|
|
|||||||||
Танталовый ЧИП 33мкФ-10В-тип С-10% (-40 - +105 ºC) |
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Микросхемы SMD |
|
Внешний осмотр
|
|
1% |
Визуально. Проверка на отсутствие мех. повреждений
|
25 лет |
|
||||
TNY253G (корпус SO8) |
|
|
|
||||||||
TL431ID5 (корпус SOT680-1) |
|
|
|
||||||||
LP2950CDT-3,3 (корпус D-PAK) |
|
|
|
||||||||
MSP430FE427IPМ (корпус PQFS 64) |
|
|
|
||||||||
74HC04D (корпус SO14) |
|
|
|
||||||||
ADM485AR (корпус SOIC8) |
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Литиевая батарея CR2032THE |
|
U |
Е7-15 |
1% |
Измерить напряжение батареи |
25 лет |
|
||||
Индикатор жидкокристаллический ИЖЦ 1-9,5/7Ф |
|
|
B7-27A/1 |
визуально |
25 лет |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Дроссели |
|
1. Внешний осмотр. 2. LH |
Е7-15 |
1% |
визуально, измерить величину индуктивности
|
25 лет |
|
||||
ЧИП 1мкГн-1210-10 % |
|
|
|||||||||
ЕС24-101К (100мкГн) |
|
|
|||||||||
ЕС24-100К (10мкГн) |
|
|
|||||||||
ЧИП 1мкГн-1210-10 % |
|
|
|||||||||
ЧИП 10мкГн-1210-10 % |
|
|
|||||||||
Наименование проверяемых КИ |
Номер ТУ или ГОСТ |
Контролируемые параметры, пункты требований ТУ или ГОСТ |
Проверочная аппаратура |
Объём проверки |
Методика проверки |
Гарантийный срок |
Примечание |
|
|
|
|
|
|
|
|
Резисторы SMD ±100 ppm (размер 0805) |
|
|
Е7-15 B7-27A/1
|
1% |
визуально, измерить величину сопротивления
|
25 лет |
|
Резисторы SMD ±100 ppm (размер 1206) |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Варистор SIOV-S14K390 |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Варистор SIOV-S07K30 |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Трансформатор импульсный ОТИБ.671152.011 |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Оптопара PS2501L-1 (корпус SO4 SMD) |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Диод ЧИП US1M (корпус SMA) |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Диод ЧИП 10BQ030 (корпус SMB) |
|
|
|
||||
Диод ЧИП US1M (корпус SMA) |
|
|
|
||||
Индикатор единичный АЛ307БМ аА0.336.076 ТУ |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Диод L-53F3C |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Диод ЧИП 10BQ060 (корпус SMB) |
|
|
|
||||
Диод ЧИП 10BQ030 (корпус SMB) |
|
|
|
||||
Диод ЧИП SMAJ6.0CA-TR (корпус SMA) |
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
Фототранзистор L-53P3C |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Транзистор BC847B (SOT23 SMD) |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Вилка PLS 2-G |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Вилка ВН-14 |
|
|
|
||||
Вилка PLS 2-G |
|
|
|
||||
Вилка PLS 1-G |
|
|
|
Наименование проверяемых КИ |
Номер ТУ или ГОСТ |
Контролируемые параметры, пункты требований ТУ или ГОСТ |
Проверочная аппаратура |
Объём проверки |
Методика проверки |
Гарантийный срок |
Примечание |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Линейка цанговая SIP-16 |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Джампер MJ-C-6.47-G |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Резонатор кварцевый KX-26T 32768Гц - 20ppm |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
АМД «Блик» |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Конденсаторы керамические SMD размер 0805 |
|
|
Е7-15
|
1% |
Визуально Измерить величину емкости
|
25 лет |
|
|||
Конденсатор К73-17-400 В-0,33 мкФ±10% -ОЖО.461.104 ТУ
|
|
|
||||||||
Микросхема CD4011BM (SMD корпус SO-14) Гнездо DC1,4/3,4 |
|
Внешний осмотр
|
|
1% |
Визуально. Проверка на отсутствие мех. повреждений
|
25 лет |
|
|||
Диод BAS16 (SMD корпус SOT23) |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|||
Тиристор ВТ151-800R |
|
|
|
|||||||
Диод FR 157 |
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Индикатор единичный АЛ307ГМ аАО.336.076 ТУ |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
|||
Транзисторы Транзистор BC847B (SMD корпус SOT23) КТ973А аАО.336.453 ТУ Транзистор BC857B (SMD корпус SOT23) КТ816Б аАО.336.186 ТУ |
|
|
|
|||||||
Наименование проверяемых КИ |
Номер ТУ или ГОСТ |
Контролируемые параметры, пункты требований ТУ или ГОСТ |
Проверочная аппаратура |
Объём проверки |
Методика проверки |
Гарантийный срок |
Примечание |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Конденсатор керамический алюминиевый |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
Визуально.
|
25 лет |
|
||
Резисторы SMD размер 0805 ±100 ppm |
|
Внешний вид Rном |
B7-15 B7-27A/1 |
1% |
визуально, измерить величину сопротивления
|
25 лет |
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Резистор переменный СП3-400ДМ-0,125-22 кОм ± 20%-А-12,5 ТУ 6110-001-59529701-2006
|
|
Внешний вид Rном |
B7-15 B7-27A/1 |
1% |
визуально, измерить величину сопротивления |
25 лет |
|
||
АСКВ |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Конденсаторы керамические К10-17б
|
|
Внешний осмотр Сном |
Е7-15 |
1% |
Визуально Измерить величину емкости |
25 лет |
|
||
Конденсаторы электролитические алюминиевые |
|
Внешний осмотр |
|
1% |
Визуально. |
25 лет |
|
||
Микросхемы ATTINY2313-20PU (DIP-20)-DD6 LM78L05-DA1 К561ИЕ8 бКО.348.457-14ТУ-DD5 К561ЛА7 бКО.348.457-11ТУ-DD2, DD4 К561ЛЕ6 бКО.348.457-05ТУ-DD3 К561ТЛ1 бКО.348.457-16ТУ-DD1 |
|
Внешний осмотр
|
|
1% |
Визуально. Проверка на отсутствие мех. повреждений
|
25 лет |
|
||
Резисторы ОЖО.468.372 ТУ C2-33 |
|
Внешний вид RH |
B7-15 B7-27A/1 №890G |
1% |
визуально, измерить величину сопротивления
|
25 лет |
|
||
Наименование проверяемых КИ |
Номер ТУ или ГОСТ |
Контролируемые параметры, пункты требований ТУ или ГОСТ |
Проверочная аппаратура |
Объём проверки |
Методика проверки |
Гарантийный срок |
Примечание |
Транзистор КТ361А2 ФЫО.336.201ТУ/02 Транзистор КТ815А аАО.336.185ТУ |
|
Внешний осмотр
|
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Диод 1N4001 Диод 1N4148 |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Резонатор кварцевый - НС49-S-4000Мгц |
|
Внешний осмотр
|
|
1% |
визуально |
25 лет |
|
Семисегментный индикатор Y10561-G-О-О-W |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Примечание: допускается замена поверочной аппаратуры на другую с аналогичными метрологическими характеристиками |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|